JPH058476U - フアンクシヨンテスタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 プリント基板上に搭載された不良部品を正確
に特定し、効率の良い検査が行えるようにする。 【構成】 電気部品を実装したプリント基板４の検査を
行う場合、検査プローブ３ｂの一端にアース用接触ピン
３３を設けて、検査の際にこのピン３３とアース板３２
とを接触させると共に、アース板３２とプリント基板４
のアースポイント１９とを接続する。この結果、検査時
に検査プローブ３ｂにより検出される信号へのノイズの
印加が阻止されるため、低レベル信号を扱う場合でもそ
の正確な検出が可能となり、したがって的確に不良箇所
が特定できる。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、電気部品等が実装されたプリント基板上の良否を判定するファンク ションテスタに関する。

【０００２】

【従来の技術】

ファンクションテスタとして、本出願人は、先に特願昭６０ー８２２３７号に 記載された装置を提案している。この装置は図４に示すような構成を有している 。即ち、同図において、１はデジタイザであり、このデジタイザ１上に載置され る部品が実装されていないプリント基板またはこの基板の原図２における測定点 となるべき座標をカーソル１ａにより検出する。３はＸＹテーブルでＸＹ方向に モータを介して自在に移動するＸＹ移動機構３ａを有している。このＸＹ移動機 構３ａにはプローブ３ｂが上下動自在に取り付けられ、さらに基板４（即ち、基 準基板４ｒ及び検査基板４ｔ）を装着するための図示しないテーブルが設けられ ている。このＸＹ移動機構３ａに取り付けられたプローブ３ｂのＸＹ移動及びこ のプローブ３ｂの上下動は、図示しないドライバにより制御されている。プロー ブ３ｂは上述した上下動によりＸＹテーブル３に載置された基準基板４ｒ及び検 査基板４ｔに接離するように構成され、これが接触したときに接触点における測 定信号を取り出す。また、６は測定条件を測定点毎に設定する条件設定手段、７ は測定点から得られたアナログ信号を適当なサンプリング周期でＡ／Ｄ変換し格 納するトランジェントメモリ、８はトランジェントメモリ７に格納された検査基 板４ｔの測定データと予め設定され許容範囲が考慮された基準基板４ｒに関わる デジタルデータとを入力してこれらを比較することにより検査基板４ｔの良否を 判定するコンピュータ、９は検査基板４ｔの許容範囲を設定するキーボード、１ ０は記憶手段、１１は出力端末機、１８はアース線、１９はアースポイント、２ ０は信号線である。 また、図５は、ＸＹ移動機構の詳細な構成図であり、プリント基板４の検査が 開始されると、このプローブ３ｂはプリント基板４の上を前後左右方向へ移動し 、プリント基板４の所定の測定点の位置上に到達すると、このプローブ３ｂの先 端のピンがプリント基板の所定の測定点に接するまで下方向へ移動し、測定点に おける信号を検出する。

【０００３】 次に、この装置の動作について説明する。 （１）はじめに、基準基板４ｒ及び検査基板４ｔの測定点及び測定順序を設定 する。 即ち、デジタイザ１に基準基板４ｒまたは検査基板４ｔの原板２を載置し、カ ーソル１ａにより測定点及び測定順序を設定する。この設定は、測定点Ｎｉ（ｉ ＝１，２，３，・・・，ｎ）に対する測定点座標値Ｎｉ（ｘｉ，ｙｉ）という形 式で行われ記憶手段１０に書き込まれる。

【０００４】 （２）次に、基準基板４ｒの波形データを得る。 即ち、基準基板４ｒをＸＹテーブル３にセットし、（１）において設定した測 定点及び測定順序でプローブプローブ３ｂをＸＹ移動及び上下動させ基準基板４ ｒの各測定点における波形データを得る。この基準波形データは、条件設定手段 ６を介してトランジェントメモリ７に一時格納される。そして、この波形データ はコンピュータ８に読み出され、キーボード９からの許容範囲設定データととも に処理され、記憶手段１０に格納される。

【０００５】 （３）同様に、検査基板４ｔの波形データを得る。 即ち、（２）と同様の方法により検査基板４ｔの波形データを得ることができ る。

【０００６】 （４）基準基板４ｒの波形データと検査基板４ｔの波形データとを比較する。 それぞれの波形データは、記憶手段１０からコンピュータ８により読み出され 比較処理が行われる。この結果、検査基板４ｔの波形データが基準基板４ｒの波 形データの許容範囲にある場合は良と判定され、許容範囲を越えた場合は不良と 判定される。 このように、従来のファンクションテスタは、基準基板４ｒと検査基板４ｔと の各測定データを比較することにより、検査基板４ｔの良否を判定するようにし ている。

【０００７】

【考案が解決しようとする課題】

しかしながら、上記のファンクションテスタは、プローブ３ｂがプリント基板 ４（４ｒ，４ｔ）上を前後左右に移動するために、常時、最適なアースポイント １９を設けることが不可能となっており、図７に示すような、アース線１８と信 号線２０とを一体構成とした例えば同軸ケーブル３１を用いることはできない。 したがって図６に示すように、アース線１８と信号線２０間にループ２２が形成 され信号線２０にノイズが重畳され易くなる結果、低レベルの信号が正確に検出 できないという問題があった。

【０００８】

【課題を解決するための手段】

このような課題を解決するために、本考案は、プリント基板に対し上下，左右 へ移動すると共に一端に信号用接触ピン，他端にアース用接触ピンを備えたプロ ーブと、アース用接触ピンが接触されるアース板と、このアース板とプリント基 板のアースポイントとを接続する接続手段とを備えたものである。

【０００９】

【作用】

プローブにアース用接触ピンを設けアース板へ接触させるようにしたので、プ ローブによって検出される信号へのノイズの重畳が阻止される。

【００１０】

【実施例】

以下、本考案について図面を参照して説明する。 図１は、本考案に係るファンクションテスタの一実施例を示す構成図、また図 ２はプローブ３ｂの詳細な構成図である。図１，図２において、３２はアース板 、３３はアース用接触ピン、３４は信号用接触ピンである。即ち、プローブ３ｂ において、プリント基板４と接触する信号用接触ピン３４の反対側にアース板３ ２と接触するアース用接触ピン３３を設け、アース板３２とプリント基板４上の アースポイント１９とを接続するとともに、同軸ケーブル３１をアース用接触ピ ン３３及び信号用接触ピン３４と接続するようにしたものである。

【００１１】 すなわち、アース板３２は一様な導体で十分大きく形成されており、プリント 基板４からの輻射に対してもこれが阻止され、しかもアース用接触ピン３３に接 続された同軸ケーブル３１のアース線とプリント基板４上のアースポイント１９ とは同電位となっている。アース用接触ピン３３は、信号用接触ピン３４がプリ ント基板４上の測定点と接触している時には、常に、アース板３２と接触されて おり、この結果アースラインが短くなってノイズの信号線２０への重畳が低減さ れる。また、アース板３２を接地して大地と同電位となるようにすれば、さらに ノイズが低減される。

【００１２】 なお、上記アース用接触ピン３３は、上下に伸縮するような構造、或いは、図 ３に示すようなブラシ状の構造としても良く、常時、アース板３２へ接触させる ようにしても良い。 また、同軸ケーブル３１は、ツイストペア或いはシールド線で構成しても良く 、ノイズが重畳されないような線であれば何でも良い。 また、上記実施例では、プリント基板４が下側，アース板３２が上側となるよ うに配設したが、これらの上下関係は逆であっても良い。

【００１３】

【考案の効果】

以上説明したように、本考案は、プリント基板を検査する際に測定点の信号を 検出するプローブにアース用接触ピンを設けてアース板へ接触させるようにした ので、プローブにより検出される検出信号へのノイズの重畳が阻止され、この結 果低レベルの検出信号においてもその良否が正確に判定でき、したがってプリン ト基板上の不良部品が的確に特定できるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案に係るファンクションテスタの一実施例
を示す構成図である。

【図２】上記ファンクションテスタに用いられるプロー
ブの構成図である。

【図３】上記プローブの他の実施例を示す構成図であ
る。

【図４】従来のファンクションテスタのブロック図であ
る。

【図５】従来のファンクションテスタのＸＹ駆動機構部
の詳細な構成図である。

【図６】プリント基板から到来する信号の経路を説明す
る説明図である。

【図７】プリント基板からの信号に重畳されるノイズを
阻止するための原理を説明する説明図である。

【符号の説明】

３ｂ 検査プローブ ４ プリント基板 １８ アース線 １９ アースポイント ２０ 信号線 ３１ 同軸ケーブル ３２ アース板 ３３ アース用接触ピン ３４ 信号用接触ピン

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 【請求項１】 基準基板または検査基板をＸＹテーブル
   にセットし、ＸＹテーブル上を自在に移動するプローブ
   を前記各基板のそれぞれ対応する測定点に接触させて信
   号を取り出し、取り出した両信号を比較することにより
   前記検査基板の良否を判定するファンクションテスタに
   おいて、 前記プローブにアース用接触ピンを備えるとともに、該
   アース接触ピンが接触されるアース板と、このアース板
   と前記各基板のアースポイントを接続する手段とを備え
   たことを特徴とするファンクションテスタ。