JPH0653984U - ファンクションテスタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 常時最適なアースポイントを確保し、微小レ
ベルの信号も正確に検出するファンクションテスタを提
供する。 【構成】 プリント基板に対して上下，左右へ移動する
とともに信号用接触ピン，アース用接触部を備えたプロ
ーブと、ＸＹ駆動機構とＸＹテーブルの中間位置にプロ
ーブがプリント基板に接触したときにアース用接触部が
接触するように設けられ且つプリント基板のアースポイ
ントに接続された網目状導体とを備えた。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、電気部品等が実装されたプリント基板の良否を判定するファンクシ ョンテスタに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】

従来のこの種のファンクションテスタは、図３に示すような構成を有しており 、図において１はデジタイザで、このデジタイザ上に部品を実装していないプリ ント基板か或いはこの基板の原図２を載置し、カーソル１ａにより測定点となる べき座標を指示して入力する。３はＸＹテーブルで、ＸＹ方向にモータを介して 自在に移動するＸＹ移動機構３ａを有している。このＸＹ移動機構３ａには検査 プローブ３ｂが上下動自在に取り付けられており、さらに検査する基板４を装着 するための図示しないテーブルが設けられている。このＸＹ移動機構３ａに取り 付けられた検査プローブ３ｂの上下動は、図示しないドライバにより制御されて いる。検査プローブ３ｂは上述した上下動によりＸＹテーブル３に載置された検 査基板４に接離するように構成され、これが接触したときに接触点における測定 信号を取り出す。また、６は測定条件を測定点毎に設定する条件設定手段、７は 測定点から得られたアナログ信号を適当なサンプリング周期でＡ／Ｄ変換し格納 するトランジェントメモリ、８はトランジェントメモリ７に格納された検査基板 ４の測定データを予め設定された許容範囲が考慮された基準基板に関わるデータ とを入力してこれらを比較することにより検査基板の良否を判定するコンピュー タ、９は検査基板４の許容範囲を設定するキーボード、１０は記憶手段、１１は 出力端末機、１８はアース線、１９はアースポイント、２０は信号線である。

【０００３】 また、図４は、ＸＹ移動機構の詳細な構成例であり、検査プリント基板４の検 査が開始されると、このプローブ３ｂはプリント基板４の直下を前後左右方向に 移動し、プリント基板４の所定の測定点に接するまで上方向へ移動し、測定点に おける信号を検出する。

【０００４】 次に、この装置の動作について説明する。 先ず、検査プリント基板４の測定点および測定順序を設定する。すなわち、デ ジタイザ１に基準基板または検査基板の原板を載置し、カーソル１ａにより基準 点，測定点および測定順序を設定する。この設定は、測定点Ｎｉ（ｉ＝１，２， ３，・・・・，ｎ）に対する測定点座標値Ｎｉ（ｘｉ，ｙｉ）という形式で行わ れ、記憶手段１０に書き込まれる。 次に、基準となる良品基板の波形データを得る。すなわち、良品基板をＸＹテ ーブル３にセットし、上述の操作で設定した測定点および測定順序で検査プロー ブ３ｂをＸＹ移動および上下動させ、良品基板の各測定点における波形データを 得る。得られた基準波形データは、条件設定手段６を介してトランジェントメモ リ７に一時格納される。そして、この波形データはコンピュータ８に読み出され 、キーボード９からの許容範囲設定データと共に処理され、記憶手段１０に格納 される。 次に、検査基板４をＸＹテーブル３にセットし、上記と同様の方法により検査 基板４の波形データを得る。 これら、得られたそれぞれの波形データは、記憶手段１０からコンピュータ８ により読み出され、比較処理が行われる。この結果、検査基板４の波形データが 基準となる良品基板のの波形データの許容範囲にある場合は良と判定され、許容 範囲を越えた場合は不良と判定される。

【０００５】 このように、従来のファンクションテスタは、基準良品基板と検査基板４との 各測定データを比較することにより、検査基板４の良否を判定するよう構成され ている。

【０００６】

【考案が解決しようとする課題】

しかしながら、上記のファンクションテスタにおいては、プローブ３ｂが測定 すべきプリント基板上を前後左右に移動するために、常時最適なアースポイント １９を設けることが不可能となっており、図６に示すような、アース線１８と信 号線２０とを一体構成とした、例えば同軸ケーブル３１を用いることはできなか った。従って、図５に示すように、アース線１８と信号線２０との間にループ２ ２が形成されてしまい、これにより信号線２０がノイズを拾い易くなり、その結 果微小レベルの信号が正確に検出できなくなるという問題が生じていた。

【０００７】 本考案はこれらの問題を解決するためになされたもので、常時最適なアースポ イントを確保し、微小レベルの信号も正確に検出するファンクションテスタを提 供することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】

上記課題を解決するために本考案のファンクションテスタは、プリント基板に 対して上下，左右へ移動するとともに信号用接触ピン，アース用接触部を備えた プローブと、ＸＹ駆動機構とＸＹテーブルの中間位置にプローブがプリント基板 に接触したときにアース用接触部が接触するように設けられ且つプリント基板の アースポイントに接続された網目状導体とを備えたものである。

【０００９】

【作用】

プローブがプリント基板に接触した際に、プローブのアース用接触部がアース ポイントに接続された網目状導体に接触し、これによりプローブによって検出さ れる信号へのノイズの影響が阻止される。

【００１０】

【実施例】

以下図面を参照して、本考案のファンクションテスタを説明する。 図１は本考案のファンクションテスタの一実施例の構成を示す外観図、図２は ＸＹ駆動機構及び検査プローブの詳細な構成図である。図において、３はＸＹテ ーブル，３ａはＸＹ移動機構，３ｂは検査プローブ，３１は同軸ケーブル，３２ は網目状導体，３３は導電性部材からなるアース用接触部，３４は接触用プロー ブ，４は検査用基板である。

【００１１】 先ず図１を参照して、本考案のファンクションテスタの構成を説明する。 ＸＹ移動機構３ａは、ＸＹテーブル上を図示しない駆動手段を介して第１の方 向に移動する摺動バー３７と、この摺動バー３７に沿って第２の方向に移動する キャリッジ３５とで構成され、検査プローブ３ｂはこのキャリッジ３５に装着さ れてＸＹテーブル３上の任意の位置に移動可能に構成される。また、検査基板４ は、ＸＹテーブル３上に着脱自在に載置され、検査プローブ３ｂの接触用プロー ブ３４は、キャリッジ３５によって上昇することにより、この検査基板４に対し て接触し、下降することにより離反するよう構成される。 網目状導体３２は、導電性のワイヤ等を網目状に形成したもので、検査基板４ とＸＹテーブル３の間に設けられて、その端部は図示しないファンクションテス タ本体のアースポイントに接続されており、検査基板４のアースポイントもこの ファンクションテスタ本体のアースポイントに接続して、双方が同電位となるよ うに構成される。

【００１２】 次に図２を参照して、検査プローブの検査動作及び移動動作を説明する。 検査プローブ３ｂは摺動バー３７に沿って移動可能に設けられるキャリッジ３ ５に保持されており、アクチュエータ３６によりキャリッジ３５のガイド部材に 沿って上下動可能に構成されている。また、検査プローブ３ｂには基板４に接触 することにより信号を検出する接触プローブ３４と、網目状導体３２に接触する アース用接触部３３が設けられており、これらはそれぞれ信号線２０，アース線 １８に接続されている。

【００１３】 この検査プローブ３ｂを移動する場合は、アクチュエータ３６により検査プロ ーブ３ｂを最下端まで降下させ、ＸＹ移動機構により所望の位置へ移動させる。 この検査プローブ３ｂが最下端まで下降した状態においては、検査プローブ３ｂ は網目状導体３２に接触しない、即ち接触用プローブ３４が網目状導体３２の下 側に位置づけられるように構成され、この状態でＸＹテーブル３上を移動する。

【００１４】 検査基板４より信号を検出する場合は、キャリッジ３５を所望の位置に位置づ けた後、アクチュエータ３６により検査プローブ３６を上昇させる。この時、接 触用プローブ３４は網目状導体３２の網目部分を通過して検査基板４に到達し、 接触する（図２においては、点線で示される。）。この時、検査プローブ３ｂの アース用接触部３３は網目状導体３２に接触し、これにより検査基板４のアース ポイントに接続される。

【００１５】 なお上記網目状導体は、使用する検査プローブの形状等により設計時に任意の 形状で形成することができる。

【００１６】

【考案の効果】

以上詳述したように本考案のファンクションテスタによれば、常時最適な最適 なアースポイントを確保することができるので、微小レベルの検出信号において もその良否が正確に判定でき、プリント基板上の不良部品が正確に特定できると いう効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案に係るファンクションテスタの一実施例
を示す外観図である。

【図２】上記ファンクションテスタのＸＹ移動機構及び
検査プローブの構成図である。

【図３】従来のファンクションテスタのブロック図であ
る。

【図４】従来のファンクションテスタのＸＹ駆動機構部
の構成図である。

【図５】プリント基板から到来する信号の経路を説明す
る説明図である。

【図６】ノイズを阻止するための原理の説明図である。

【符号の説明】

３ ＸＹテーブル ３ａ ＸＹ移動機構 ３ｂ 検査プローブ ３１ 同軸ケーブル ３２ 網目状導体 ３３ アース用接触部 ３４ 接触用プローブ ３５ キャリッジ ３６ アクチュエータ ３７ 摺動バー

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 検査基板をＸＹテーブルに載置し、ＸＹ
   テーブル上を自在に移動するプローブを前記基板の測定
   点に接触させて信号を検出し、検出した信号に基づいて
   前記検査基板の良否を判定するファンクションテスタに
   おいて、 上記プローブにアース用接触部を設けるとともに、前記
   プローブが上記検査基板に接触する際に前記アース用接
   触部に接触するように上記検査基板とＸＹテーブルの中
   間位置に設けられ且つ上記検査基板のアースポイントに
   接続された網目状導体とを備えたことを特徴とするファ
   ンクションテスタ。