JPH058525Y2 - - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は、プリント配線基板や各種電子部品
に点接触あるいは面接触させて回路チエツクを行
なうテスター、チエツカー、センサー等の測定端
子として使用されるピンプローブに関し、特にそ
の測定ピン（プローブピン）の改良に関するもの
である。

〔従来の技術〕

この種のピンプローブは、測定機器の取付ボー
ドなどに固定される円筒状のスリーブと、この固
定用スリーブに摺動自在に挿通され、先端が被測
定点に当接される測定ピンと、この測定ピンに巻
装され、その測定ピンを固定用スリーブに対して
軸方向に付勢するコイルスプリングとから構成さ
れている。そして測定に際しては、このピンプロ
ーブ、従つてその取付ボード等を被測定点の方向
へ移動させるか、もしくは被測定点すなわちプリ
ント配線基板等をピンプローブ側へ移動させるか
して、測定ピンの先端と被測定点とを当接し、さ
らにコイルスプリングの弾発力に抗して固定用ス
リーブと被測定点とを近付けて被測定点に先端が
当接した測定ピンをスリーブ内に退入させ、この
時のコイルスプリングの復元力によつて測定ピン
の先端を被測定点に適度の接触圧で押し付け、確
実な接触を得ようとするものである。

ところで、このピンプローブに使用される測定
ピンは、従来、ニツケル等の金属材料で製作され
ていた。あるいは、ニツケル、銅などで成形され
る金属基体の表面に、接触抵抗を下げ、また金属
腐食を防ぐ目的で、１〜5μ程度の厚さに金、ロ
ジウム等の貴金属をメツキしたりして測定ピンを
製作していた。

〔考案が解決しようとする問題点〕

従来の測定ピンは上記した通り金属材料で製作
されていたため、その製作は切削等の機械加工に
より行なわれていた。しかしながら、測定ピンは
通常直径0.5〜2.0mm、長さ20〜50mm程度の大きさ
であつて、しかも先端接触部は、被測定部の種
類、形状、性状などに対応して様々な形状に機械
加工される必要がある。このため、その加工には
相当数の工数が必要となり、製作が難しく、量産
化にも困難を伴い、コスト高の要因となる。特
に、先端接触部が複雑な形状、異形形状となる
程、工数が増える。

この考案は、機械加工によらないで比較的簡単
な工程により製作することができ、工数を大幅に
減らすことができるような測定ピンを有したピン
プローブを提供することを技術的課題とする。

〔問題点を解決するための手段〕

この考案は、導電性を備えたセラミツクス（陶
磁器）からなる基体の表面にメツキにより金属薄
膜を被着してピンプローブの測定ピンを構成した
ことを要旨とする。

〔作用〕

この考案に係るピンプローブにおける測定ピン
は、その基体がセラミツクスにより形成されてい
るので、複雑な形状、異形形状のものであつて
も、金型を製作しさえすれば後は少ない工数で比
較的簡単な工程により製作することができる。そ
して、基体の表面にはメツキにより金属薄膜が被
着されており、試験時においてはこの金属薄膜を
通つて電気が流れる。また、基体を構成している
セラミツクスは或る程度の硬さを有しているの
で、測定ピンの先端が尖鋭形状となつていても、
被測定点との当接によつて基体の稜角部が損傷し
たりすることがない。さらに、基体を構成するセ
ラミツクスは導電性を有しているので、繰り返し
使用している間に例え測定ピンの先端稜角部の金
属薄膜が一部剥がれるようなことがあつたとして
も、その剥離の程度が僅かであれば、その剥離部
分では基体を通して電気が流れるため、それによ
つて試験結果の信頼性が直ちに失われるといつた
ことはない。

〔実施例〕

以下、この考案の好適な実施例について図面を
参照しながら説明する。

図はこの考案の１実施例を示し、第１図はピン
プローブを一部縦断面で表わした図、第２図は第
１図の−′横断面図、第３図は測定ピンを切
断してその一部を示した斜視図である。これらの
図において、ピンプローブは測定ピン１、固定用
スリーブ２及びコイルスプリング３から構成され
ている。測定ピン１は円筒状の固定用スリーブ２
に摺動自在に挿通されており、固定用スリーブ２
が測定機器の取付基板４に固定されている。測定
ピン１には、コイルスプリング３が巻装され、コ
イルスプリング３の各端部はそれぞれ測定ピン１
の後端基部１０及び固定用スリーブ２の後端部に
固着されてその間にコイルスプリング３が介設さ
れている。このコイルスプリング３の作用によ
り、測定ピン１の先端当接部１２を被測定点に適
度の接触圧で押し当て、確実な接触状態が得られ
ることになる。すなわち、測定ピン１の先端当接
部１２を被測定点に当接しさらに押し付けると、
測定ピン１は矢印５で示した方向の反力を受け、
固定用スリーブ２に対して後退し、それに伴つて
コイルスプリング３が伸長するが、この時のコイ
ルスプリング３の弾発力によつて測定ピン１の先
端当接部１２を被測定点に押し付けるのである。
被測定点との当接を解除すれば、測定ピン１はコ
イルスプリング３の復元力によつて元の状態に復
帰する。尚、図中２２は固定用スリーブの抜止め
である。

そして、測定ピン１は、導電性セラミツクスか
らなる基体１４の全表面に、メツキにより金属薄
膜１６を被着形成した構造を有している。基体１
４を構成する導電性セラミツクスは、成形前の段
階においてセラミツクス原料、例えばアルミナな
どに鉄粉、銅粉等の金属粉やカーボンなどの導電
性材料を混入し、その素地を成形焼成してつくら
れる。このようにして基体１４に、例えば抵抗値
で言えば10^-3〜10⁵Ω程度となるように導電性を
具有させる。

上記のようにセラミツクスを用いて基体１４が
成形加工されるため、金型さえ作れば複雑な形
状、異形形状であつても容易に成形することがで
き、大量生産することが可能となる。また、セラ
ミツクスは或る程度の硬さを有しているので、測
定ピン１の先端を尖鋭形状に成形加工しても、そ
の先端稜角部が被測定点との当接によつて損傷し
たりすることがない。セラミツクスを導電性とす
るのは、ピンプローブを繰り返し使用している間
に測定ピン１の先端稜角部の金属薄膜１６の一部
が剥がれるよなことがあつても、その剥離程度が
僅かであれば、その剥離部分では基体を介して通
電状態が維持されるようにするためであり、ま
た、メツキ工程等の製作上の理由からである。

金属薄膜１６は、測定に際して通電路となる部
分であつて、接触抵抗の低い金属、例えばニツケ
ル、ニツケル−金、ニツケル−ロジウムなどを使
用して、１〜60μ、好ましくは40〜60μ程度の厚
さになるよう、メツキ（電気メツキ、蒸着メツキ
等）により基体１４の全表面に被着される。

この考案は以上のように構成されているが、こ
の考案の範囲は上記説明並びに図面の内容によつ
て限定されるものではなく、要旨を逸脱しない範
囲で種々の変形例を包含し得る。すなわち、基体
や金属薄膜の構成材料としては、上記した材料と
同様の効果が得られるものであれば何でもよく、
またピンプローブの構成、例えばコイルスプリン
グの巻装状態、固定用スリーブの形状、測定ピン
の断面形状なども上記実施例のものに限定されな
い。

〔考案の効果〕

この考案は以上のように構成されかつ作用する
ので、この考案に係るピンプローブにおいては、
測定ピンを少ない工数で、簡単に製作することが
でき、その量産化も容易に行なえる。特に測定ピ
ンの先端接触部の形状が複雑で、異形となるもの
程、従来品と比べた場合にその効果が著しい。そ
して、性能、すなわち測定ピンの接触抵抗につい
ても従来品と遜色がない。この考案は、このよう
な利点を有するピンプローブを提供し得たもので
ある。

【図面の簡単な説明】

図はこの考案の１実施例を示すものであつて、
第１図はピンプローブを一部縦断面で表わした
図、第２図は第１図の−′横断面図、第３図
は測定ピンを切断してその一部を示した拡大斜視
図である。 １……測定ピン、２……固定用スリーブ、３…
…コイルスプリング、４……取付基板、１４……
基体、１６……金属薄膜。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 １ 先端が被測定点に当接される測定ピンを固定
   用スリーブに摺動自在に挿通させるとともに、
   前記測定ピンにコイルスプリングを巻装して測
   定ピンを前記固定用スリーブに対し軸方向に弾
   発的に支持してなるピンプローブにおいて、前
   記測定ピンを、導電性セラミツクスからなる基
   体の表面にメツキにより金属薄膜を被着して構
   成したことを特徴とするピンプローブ。 ２ 導電性セラミツクスからなる基体はセラミツ
   クス原料に金属粉を混入して成形し焼成したも
   のである実用新案登録請求の範囲第１項記載の
   ピンプローブ。