JPH0592763U - Icテスタのピンコントロール回路 - Google Patents
Icテスタのピンコントロール回路Info
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- JPH0592763U JPH0592763U JP4023592U JP4023592U JPH0592763U JP H0592763 U JPH0592763 U JP H0592763U JP 4023592 U JP4023592 U JP 4023592U JP 4023592 U JP4023592 U JP 4023592U JP H0592763 U JPH0592763 U JP H0592763U
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 従来回路のレジスタ6・7、制御回路8の代
わりに、ドライバ3を採用し、構成部品が少なく制御の
簡単な回路を提供する。 【構成】 レジスタ2にはCPU1の測定ピンデータの
出力がセットされ、シーケンサ5にはレジスタ2の出力
とCPU1の出力が入力される。ドライバ3の入力には
シーケンサ5の出力が接続され、ドライバ3の出力には
レジスタ2の入力が接続される。
わりに、ドライバ3を採用し、構成部品が少なく制御の
簡単な回路を提供する。 【構成】 レジスタ2にはCPU1の測定ピンデータの
出力がセットされ、シーケンサ5にはレジスタ2の出力
とCPU1の出力が入力される。ドライバ3の入力には
シーケンサ5の出力が接続され、ドライバ3の出力には
レジスタ2の入力が接続される。
Description
【0001】
この考案は、多ピンのDUTを並列測定する機能をもつICテスタにおいて、 ピン番号・測定ユニット数・測定DUT数をもとに測定ピンを選択するピンコン トロール回路についてのものである。
【0002】
次に、従来技術によるICテスタのピンコントロール回路の構成を図3により 説明する。図3の1はCPU、2と4と6と7はレジスタ、8は制御回路、9は シーケンサである。なお、図3は1ピン分の回路であり、ICテスタではピン数 ×DUT数分の同じ回路をもつ。ただし、シーケンサ9は各ピンについて共用す ることができる。
【0003】 次に、図3の作用を図4のフローチャートにより説明する。ステップ41でC PU1から測定するピン情報のうち、このピンに対応するものがレジスタ2へ転 送される。ステップ42でシーケンサ9からの制御信号9H、9J、9Fにより レジスタ2・6・7がリセットされる。ステップ43でレジスタ2の内容はシー ケンサ9からの制御信号9Gによりレジスタ6へ転送される。
【0004】 レジスタ7は信号マスク用のレジスタでJ−Kフリップフロップで構成される 。レジスタ7の出力7KははじめはLレベルである。ステップ44、45でレジ スタ6とレジスタ7およびシーケンサ9からの制御信号9Lによって制御回路8 は、このピンが選択されたとき、測定ピン選択信号出力8Dを「H」レベルとし て、レジスタ4へシーケンサ9からの制御信号9Eによって転送する。
【0005】 レジスタ4にデータHが書き込まれると、レジスタ4の出力4AはHレベルと なる。レジスタ4の出力4Aはレジスタ7のJ入力となっており、またレジスタ 7のK入力は同じくレジスタ7の反転出力と接続されるため、このときHレベル となっている。1回のピンの選択が終了すると、シーケンサ9は制御信号9Iを 送り、レジスタ7の出力7KはHレベルとなり、レジスタ7のK入力はLレベル となる。
【0006】 制御回路8はレジスタ7の7K出力がLレベルのときだけ、レジスタ6の出力 6Mとシーケンサ9からの制御信号9Lによりピン選択信号8DをHレベルにす る。このため、この時点でレジスタ7はピン選択をマスクすることになり、1度 選択されたピンは再度選択されることはない。
【0007】
図3では、レジスタ6・7、制御回路8を用いてICテスタのピンコントロー ルをするので、ハードウェア的に回路が大きくなり、制御も複雑である。この考 案は、図3のレジスタ6・7、制御回路8の代わりに、ドライバを採用すること により、構成部品が少なく制御の簡単なICテスタのピンコントロール回路の提 供を目的とする。
【0008】
この目的を達成するため、この考案では、CPU1の測定ピンデータの出力が セットされるレジスタ2と、レジスタ2の出力とCPU1の出力が入力されるシ ーケンサ5と、シーケンサ5の出力が入力に接続され、出力をレジスタ2の入力 に接続するドライバ3とを備える。
【0009】
次に、この考案によるICテスタのピンコントロール回路の構成を図1により 説明する。図1の2はドライバ、5はシーケンサであり、レジスタ2、レジスタ 4は図3と同じものである。図1は図3のレジスタ6、レジスタ7、制御回路8 、シーケンサ9の代わりに、ドライバ3とシーケンサ5を使用したものである。 シーケンサ5はシーケンサ9と性能は同じであるが、出入する信号線が少ない。 レジスタ2の出力2Cはシーケンサ5に接続され、CPU1の測定モード信号出 力1Bはシーケンサ5に接続される。
【0010】 ドライバ3の入力はシーケンサ5と接続され、ドライバ3の出力はデータバス 1Aを通してシーケンサ5から信号がレジスタ2へ出力される。シーケンサ5か らの制御信号5Aはレジスタ2のクロック入力へ接続される。レジスタ4の入力 は、シーケンサ5の制御信号5Dと接続され、レジスタ4のクロック入力はシー ケンサ5の制御信号5Eと接続され、レジスタ4のリセット入力はシーケンサ5 の制御信号5Fと接続される。
【0011】 次に、図1の作用を図2のフローチャートにより説明する。ステップ21でC PU1からICテスタで測定するピンの情報のうちこのピンに対応するものがレ ジスタ2へ書き込まれる。ステップ22で、シーケンサ5からの制御信号5Fに よりレジスタ4がクリアされる。
【0012】 ステップ23で、シーケンサ5はレジスタ2に書き込まれた内容を信号2Cを 通しとり込む。ステップ24で、シーケンサ5はレジスタ2へ書き込まれたデー タとピン番号、測定ユニット数、測定DUT数をもとに、測定ピン選択信号5D に、ピンが選択されたときは「H」レベル、ピンが選択されないときには「L」 レベルを出力して制御信号5Eの信号によりレジスタ4へ書き込む。
【0013】 ステップ25、26で測定モード信号1Bにより、このピンのレジスタ2に書 かれた値をピンが選択されたときにクリアするのか、無条件でクリアするのか、 クリアしないのかを決める。ステップ27でシーケンサ5はドライバ3を通じて レジスタ2へ「L」レベルを送り、シーケンサ5からの制御信号5Aによりレジ スタ2へ書き込む。
【0014】
次に、図1の実施例の構成を図5により説明する。図5は1ピン分の構成図で ある。図5では、レジスタ2・4にFFを使用し、ドライバ3にHC244のう ち1ピン分を使用する。シーケンサ5にはマイクロコンピュータを使用する。1 0はゲートである。
【0015】 シーケンサ5の制御信号5AはCPU1からのレジスタ2に対する書き込み信 号、制御信号5LはCPU1からレジスタ2に対するIOライト信号、制御信号 5EはCPU1からレジスタ4に対する書き込み信号、制御信号5Fとしてはレ ジスタ4のクリア信号を使用する。制御信号5Cはシーケンサ5のデータバスを 使用する。CPU1の出力は、レジスタ2の入力へ接続され、CPU1からの書 き込み信号5Mはゲート10からレジスタ2のクロック入力へ接続される。
【0016】 シーケンサ5からのデータバス5Cは、レジスタ2の出力、レジスタ4の入力 、ドライバ3の入力へ接続される。ドライバ3の出力は、シーケンサ5からの制 御信号により、レジスタ2の入力へ接続される。レジスタ4のクロック入力へは 、シーケンサ5の制御信号5E、レジスタ4のリセット入力Rへはシーケンサ5 の制御信号5Fが接続される。
【0017】 次に、図5の作用を図6のフローチャートにより説明する。ステップ31でC PU1によりICテスタで測定するピンの情報のうち、このピンに対応するもの が、CPU1からの書き込み信号5Mによりレジスタ2へ書き込まれる。たとえ ば、信号ありのとき「H」、信号なしのときは「L」が転送される。
【0018】 ステップ32で制御信号5Fによりレジスタ4をクリアし、ステップ33でシ ーケンサ5はレジスタ2に書き込まれたデータをデータバス5Cからとり込む。 ステップ34でデータバス5C上に、ピンが選択されたときは「H」レベル、ピ ンが選択されないときには「L」レベルを出力して制御信号5Eによりレジスタ 4へ書き込む。
【0019】 ステップ35でシーケンサ5は、測定モード信号1Bの値が「H」レベルのと きは、データバス5C上に「L」レベルを出し、制御信号5Lでドライバ3を介 して、レジスタ2の入力は「L」レベルを出力し、制御信号5Aによりレジスタ 2へ「L」を書き込む。これにより、レジスタ2の内容はクリアされる。
【0020】
この考案によれば、従来回路のレジスタや制御回路の代わりに、ドライバを採 用したので、構成部品が少なく制御の簡単なピンコントロール回路を提供するこ とができる。シーケンサとしてCPUを使えばソフトウェアが利用できるので、 より少ないスペースでピンのコントロール回路を実現できる。
【図1】この考案によるICテスタのピンコントロール
回路の構成図である。
回路の構成図である。
【図2】図1のフローチャートである。
【図3】従来技術によるICテスタのピンコントロール
回路の構成図である。
回路の構成図である。
【図4】図3のフローチャートである。
【図5】この考案による実施例の構成図である。
【図6】図5のフローチャートである。
1 CPU 2 レジスタ 3 ドライバ 4 レジスタ 5 シーケンサ
Claims (1)
- 【請求項1】 多ピンの測定ピンと、そのピン数より少
ない測定ユニットをもつICテスタにおいて、 CPU(1) の測定ピンデータの出力がセットされるレジ
スタ(2) と、 レジスタ(2) の出力とCPU(1) の出力が入力されるシ
ーケンサ(5) と、 シーケンサ(5) の出力が入力に接続され、出力をレジス
タ(2) の入力に接続するドライバ(3) とを備えることを
特徴とするICテスタのピンコントロール回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4023592U JPH0592763U (ja) | 1992-05-20 | 1992-05-20 | Icテスタのピンコントロール回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4023592U JPH0592763U (ja) | 1992-05-20 | 1992-05-20 | Icテスタのピンコントロール回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0592763U true JPH0592763U (ja) | 1993-12-17 |
Family
ID=12575063
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4023592U Pending JPH0592763U (ja) | 1992-05-20 | 1992-05-20 | Icテスタのピンコントロール回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0592763U (ja) |
-
1992
- 1992-05-20 JP JP4023592U patent/JPH0592763U/ja active Pending
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