JPH059733B2 - - Google Patents
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- JPH059733B2 JPH059733B2 JP56120414A JP12041481A JPH059733B2 JP H059733 B2 JPH059733 B2 JP H059733B2 JP 56120414 A JP56120414 A JP 56120414A JP 12041481 A JP12041481 A JP 12041481A JP H059733 B2 JPH059733 B2 JP H059733B2
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- Japan
- Prior art keywords
- inspected
- inspection device
- tip
- section
- shadow
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
- G01N21/95607—Inspecting patterns on the surface of objects using a comparative method
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ブラシの植毛あるいは櫛刃等の線状
物等の先端を加工する工程で、その加工先端部の
良否を自動的に検査する加工状態の検査装置に関
する。
物等の先端を加工する工程で、その加工先端部の
良否を自動的に検査する加工状態の検査装置に関
する。
一般に、ヘアブラシ等はそのブラシ植毛の先端
が頭皮を傷付けるのを防止するため、先端部に加
熱処理を施し球状に加工している。
が頭皮を傷付けるのを防止するため、先端部に加
熱処理を施し球状に加工している。
従来、この種の加工先端部の検査は、拡大レン
ズを介しての目視による検査、あるいは複数段の
ゲージを順次通過させて機械的に検査する等の方
法が行われている。これらの方法によれば工数が
大きく、検査速度が遅く、さらに検査精度が必ず
しも均一でない場合があり、製品にバラツキを生
じることがある。また、検査装置には先端部をそ
ろえて流入させなければならない等の欠点を有す
る。
ズを介しての目視による検査、あるいは複数段の
ゲージを順次通過させて機械的に検査する等の方
法が行われている。これらの方法によれば工数が
大きく、検査速度が遅く、さらに検査精度が必ず
しも均一でない場合があり、製品にバラツキを生
じることがある。また、検査装置には先端部をそ
ろえて流入させなければならない等の欠点を有す
る。
本発明はこの点を改良するもので、検査精度が
高く、しかも検査効率の良い加工状態の検出装置
を提供することを目的とする。
高く、しかも検査効率の良い加工状態の検出装置
を提供することを目的とする。
本発明は、先端が加熱処理された略球形状に加
工された線状の被検査材の加工状態を検査する検
査装置において、被検査材の陰影が結像する面に
配置された光電気変換手段と、この光電気変換手
段の平面に結像する陰影のパターン情報を電気的
に走査して電気信号として出力する信号出力手段
と、前記陰影のパターン情報から求めた被検査材
先端部の加工された部分の最大径と未加工部分の
径との差を求め、その差を基準値と比較し、その
差が許容される寸法精度内にあるか否かを演算判
定する情報処理手段とを備えたことを特徴とす
る。
工された線状の被検査材の加工状態を検査する検
査装置において、被検査材の陰影が結像する面に
配置された光電気変換手段と、この光電気変換手
段の平面に結像する陰影のパターン情報を電気的
に走査して電気信号として出力する信号出力手段
と、前記陰影のパターン情報から求めた被検査材
先端部の加工された部分の最大径と未加工部分の
径との差を求め、その差を基準値と比較し、その
差が許容される寸法精度内にあるか否かを演算判
定する情報処理手段とを備えたことを特徴とす
る。
また、被検査材が所定の結像位置に達したこと
を光学的に検査する手段を備え、この手段の出力
に同期して信号出力手段が動作するように構成す
ることが好ましい。
を光学的に検査する手段を備え、この手段の出力
に同期して信号出力手段が動作するように構成す
ることが好ましい。
また、被検査材を連続的に自動供給する手段を
備えることが好ましい。
備えることが好ましい。
本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第１図は、本発明一実施例の外観を示す要部構造
図である。第１図は、被検査材１と、この被検査
材１が通過する毎にパターン情報を発生する検知
装置２と、この検知装置２の発生するパターン情
報を信号線３を介して受取り、基準値と比較し許
容範囲内にあるか否かを判別して出力する制御部
５とで構成されている。
第１図は、本発明一実施例の外観を示す要部構造
図である。第１図は、被検査材１と、この被検査
材１が通過する毎にパターン情報を発生する検知
装置２と、この検知装置２の発生するパターン情
報を信号線３を介して受取り、基準値と比較し許
容範囲内にあるか否かを判別して出力する制御部
５とで構成されている。
第２図は、前記検知装置２および制御部５の詳
細図である。検知装置２には被検査材１が通過す
る幅薄の開口である検査口８が形成されている。
この検査口８のほぼ中央には、前記開口の下側に
設けられた光源９と、この光源９の出射光を前記
検査口８に投光する投光用レンズ１０と、この出
射光を受光する前記開口の上側に設けられた受光
用レンズ１１と、この受光用レンズ１１と光学的
に結合されたフオトダイオード１２とで構成され
た光学センサ部１３が設けられている。この光学
センサ部１３内のフオトダイオード１２の電気出
力は検出部１４に導かれている。この検出部１４
の出力は走査部１５およびランプ電源１６にそれ
ぞれ導かれている。
細図である。検知装置２には被検査材１が通過す
る幅薄の開口である検査口８が形成されている。
この検査口８のほぼ中央には、前記開口の下側に
設けられた光源９と、この光源９の出射光を前記
検査口８に投光する投光用レンズ１０と、この出
射光を受光する前記開口の上側に設けられた受光
用レンズ１１と、この受光用レンズ１１と光学的
に結合されたフオトダイオード１２とで構成され
た光学センサ部１３が設けられている。この光学
センサ部１３内のフオトダイオード１２の電気出
力は検出部１４に導かれている。この検出部１４
の出力は走査部１５およびランプ電源１６にそれ
ぞれ導かれている。
このランプ電源１６にはランプ１７が接続され
ている。このランプ１７の発する光線は投光用レ
ンズ１８に光学的に結合されている。この投光用
レンズ１８により前記検査口８を通過した光は受
光用レンズ１９に光学的に結合されている。この
ランプ１７、投光用レンズ１８および受光用レン
ズ１９からなる光学系は、前記光学センサ部１３
の出射光を遮断する被検査材１の先端部にこのラ
ンプ１７の出射光が照射される位置にそれぞれ設
けられている。この受光用レンズ１９の結像点に
は面状のマトリツクス状の光電気変換素子からな
る光電気変換部２０が配置されている。この光電
気変換部２０の走査入力には前記走査部１５の出
力が導かれている。この光電気変換部２０の電気
出力は並直列変換回路２１に導かれている。この
並直列変換回路２１は前記光電気変換部２０に一
体形成されている。この並直列変換回路２１の出
力は増幅部２２に導かれている。
ている。このランプ１７の発する光線は投光用レ
ンズ１８に光学的に結合されている。この投光用
レンズ１８により前記検査口８を通過した光は受
光用レンズ１９に光学的に結合されている。この
ランプ１７、投光用レンズ１８および受光用レン
ズ１９からなる光学系は、前記光学センサ部１３
の出射光を遮断する被検査材１の先端部にこのラ
ンプ１７の出射光が照射される位置にそれぞれ設
けられている。この受光用レンズ１９の結像点に
は面状のマトリツクス状の光電気変換素子からな
る光電気変換部２０が配置されている。この光電
気変換部２０の走査入力には前記走査部１５の出
力が導かれている。この光電気変換部２０の電気
出力は並直列変換回路２１に導かれている。この
並直列変換回路２１は前記光電気変換部２０に一
体形成されている。この並直列変換回路２１の出
力は増幅部２２に導かれている。
この増幅部２２の出力は信号線３を介して制御
部５内の受信部２３に導かれている。この制御部
２３の出力は記憶部２４に導かれている。この記
憶部２４には演算部２５が接続されている。この
演算部２５には基準値および制御プログラムが記
憶されたROM（Read Only Memory）２６が接
続されている。この演算部２５の出力はインタフ
エース部２７を介して信号線２８〜３０に導かれ
ている。
部５内の受信部２３に導かれている。この制御部
２３の出力は記憶部２４に導かれている。この記
憶部２４には演算部２５が接続されている。この
演算部２５には基準値および制御プログラムが記
憶されたROM（Read Only Memory）２６が接
続されている。この演算部２５の出力はインタフ
エース部２７を介して信号線２８〜３０に導かれ
ている。
第３図は、前記光電気変換部２０上に結像され
た被検査材１の先端部の陰影の一例を拡大して示
す図である。第３図でＡは先端部の最大径、Ｂは
先端からＣの長さを有する点の線径をそれぞれ示
している。
た被検査材１の先端部の陰影の一例を拡大して示
す図である。第３図でＡは先端部の最大径、Ｂは
先端からＣの長さを有する点の線径をそれぞれ示
している。
このような回路構成の本発明の特徴ある動作を
説明する。被検査材１は所定間隔を有してライン
上（図示せず）に配置される。このラインの移動
にしたがつて複数の被検査材１は第１図に示すよ
うに自動的に連続して検知装置２の検査口８に供
給されその先端部の検査が連続して自動的に行わ
れる。
説明する。被検査材１は所定間隔を有してライン
上（図示せず）に配置される。このラインの移動
にしたがつて複数の被検査材１は第１図に示すよ
うに自動的に連続して検知装置２の検査口８に供
給されその先端部の検査が連続して自動的に行わ
れる。
いま、被検査材１が検査口８を通過中に光学セ
ンサ部１３の位置に至ると、光源９から常時検査
口８に投光されている出射光が被検査材１により
遮断される。これにより、フオトダイオード１２
の出力は変化する。この変化を検出部１４が検出
し検出出力をランプ電源および走査部１５にそれ
ぞれ与える。
ンサ部１３の位置に至ると、光源９から常時検査
口８に投光されている出射光が被検査材１により
遮断される。これにより、フオトダイオード１２
の出力は変化する。この変化を検出部１４が検出
し検出出力をランプ電源および走査部１５にそれ
ぞれ与える。
これにより、ランプ１７が瞬間的に発光し、光
学センサ部１３に至つた被検査材１の先端部を照
射する。この照射光により受光用レンズ１９を介
して、光電気変換部２０の上に第３図に示すよう
な陰影が結像される。この結像は光電気変換部２
０の走査に同期して、第３図に斜線で示す陰影部
分は黒レベル信号に、第３図の白部分は白レベル
信号にそれぞれ変換される。このデイジタル信号
によりパターン情報は並直列変換部２１で直列信
号に変換され受信部２３でTTLレベル変換され
た後に記憶部２４の所定アドレスに記憶される。
学センサ部１３に至つた被検査材１の先端部を照
射する。この照射光により受光用レンズ１９を介
して、光電気変換部２０の上に第３図に示すよう
な陰影が結像される。この結像は光電気変換部２
０の走査に同期して、第３図に斜線で示す陰影部
分は黒レベル信号に、第３図の白部分は白レベル
信号にそれぞれ変換される。このデイジタル信号
によりパターン情報は並直列変換部２１で直列信
号に変換され受信部２３でTTLレベル変換され
た後に記憶部２４の所定アドレスに記憶される。
このパターン情報は演算部２５により読出さ
れ、第３図Ａに示す先端部最大径と同図Ｂに示す
線径とのデータが演算されるとともに、加工寸法
ｄが ｄ＝Ａ−Ｂ のように演算される。この加工寸法ｄはROM２
６内の基準値と比較演算され、許容範囲内にあれ
ばインタフエース部２７を介して信号線２８に
「良」表示が、許容範囲外にあれば「否」表示が
信号線２９にそれぞれ表示される。これにより、
「否」表示がなされた被検査材１は監視者の手操
作により、あるいは他の制御装置による自動操作
によりラインより除去される。
れ、第３図Ａに示す先端部最大径と同図Ｂに示す
線径とのデータが演算されるとともに、加工寸法
ｄが ｄ＝Ａ−Ｂ のように演算される。この加工寸法ｄはROM２
６内の基準値と比較演算され、許容範囲内にあれ
ばインタフエース部２７を介して信号線２８に
「良」表示が、許容範囲外にあれば「否」表示が
信号線２９にそれぞれ表示される。これにより、
「否」表示がなされた被検査材１は監視者の手操
作により、あるいは他の制御装置による自動操作
によりラインより除去される。
ここで、パターン情報により認識されるべきデ
ータは先端部の最大径Ａ、この先端よりＣの長さ
を有する部分の線径Ｂである。このため、前記光
電気変換部２０上に結像される場合に、その結像
位置は光電気変換部２０の結像面内にあればその
結像位置が一致していなくても検査に悪影響は生
じない。したがつて、被検査材１の先端は、検査
口８の通過時に完全にそろつていなくとも良い。
検査時に被検査材１の先端位置が大きくずれてい
て結像状態が光電気変換部２０上で大きくずれ、
パターン情報より前記ＡおよびＢが認識できない
ときには、信号線３０にその旨の表示がなされ
る。
ータは先端部の最大径Ａ、この先端よりＣの長さ
を有する部分の線径Ｂである。このため、前記光
電気変換部２０上に結像される場合に、その結像
位置は光電気変換部２０の結像面内にあればその
結像位置が一致していなくても検査に悪影響は生
じない。したがつて、被検査材１の先端は、検査
口８の通過時に完全にそろつていなくとも良い。
検査時に被検査材１の先端位置が大きくずれてい
て結像状態が光電気変換部２０上で大きくずれ、
パターン情報より前記ＡおよびＢが認識できない
ときには、信号線３０にその旨の表示がなされ
る。
以上説明したように本発明によれば、先端が加
熱処理され球状に加工される被検査材の加工状態
を検査する場合において、被検査材の通過を光セ
ンサ部で検出し、この検出時に光電気変換部上に
被検査材の先端部の陰影を結像させてパターン情
報を発生させ、このパターン情報から求めた被検
査材の先端の加工された最大径と未加工部分の径
との差を求め、その差を基準値と比較し、その差
が許容される寸法精度内にあるか否かを判別する
ことによつて先端部が加工された略長さが等しい
線状物を得ることができ、製品の品質を向上させ
ることができる。
熱処理され球状に加工される被検査材の加工状態
を検査する場合において、被検査材の通過を光セ
ンサ部で検出し、この検出時に光電気変換部上に
被検査材の先端部の陰影を結像させてパターン情
報を発生させ、このパターン情報から求めた被検
査材の先端の加工された最大径と未加工部分の径
との差を求め、その差を基準値と比較し、その差
が許容される寸法精度内にあるか否かを判別する
ことによつて先端部が加工された略長さが等しい
線状物を得ることができ、製品の品質を向上させ
ることができる。
この結果、加工前の被検査材の線径寸法にばら
つきがあつた場合に、線状物等の線径が小さいも
のはその長さが短く、線径が大きいものはその長
さが長くなり、このような線状物等を用いて例え
ばヘアブラシを製造した場合にその先端が不揃い
になつて使用感の悪いものが生ずることを防止で
きる。また、加工された部分の最大径と未加工部
分の線径との差を基準値と比較する単純なアルゴ
リズムで判定ができるため、その演算処理速度を
向上できる。
つきがあつた場合に、線状物等の線径が小さいも
のはその長さが短く、線径が大きいものはその長
さが長くなり、このような線状物等を用いて例え
ばヘアブラシを製造した場合にその先端が不揃い
になつて使用感の悪いものが生ずることを防止で
きる。また、加工された部分の最大径と未加工部
分の線径との差を基準値と比較する単純なアルゴ
リズムで判定ができるため、その演算処理速度を
向上できる。
第１図は本発明一実施例の外観を示す図。第２
図は前記実施例の詳細図。第３図は前記実施例の
結像状態を示す図。 １……被検査材、２……検査装置、３，２７〜
２９……信号線、５……制御部、８……検査口、
９……光源、１０，１８……投光用レンズ、１
１，１９……受光用レンズ、１２……フオトダイ
オード、１３……光学センサ部、１４……検出
部、１５……走査部、１６……ランプ電源、１７
……ランプ、２０……光電気変換部、２１……増
幅部、２３……記憶部、２４……演算部、２５…
…ROM、２６……インタフエース部。
図は前記実施例の詳細図。第３図は前記実施例の
結像状態を示す図。 １……被検査材、２……検査装置、３，２７〜
２９……信号線、５……制御部、８……検査口、
９……光源、１０，１８……投光用レンズ、１
１，１９……受光用レンズ、１２……フオトダイ
オード、１３……光学センサ部、１４……検出
部、１５……走査部、１６……ランプ電源、１７
……ランプ、２０……光電気変換部、２１……増
幅部、２３……記憶部、２４……演算部、２５…
…ROM、２６……インタフエース部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 先端が加熱処理された略球形状に加工された
線状の被検査材の加工状態を検査する検査装置に
おいて、 被検査材の陰影が結像する面に配置された光電
気変換手段と、 この光電気変換手段の平面に結像する陰影のパ
ターン情報を電気的に走査して電気信号として出
力する信号出力手段と、 前記陰影のパターン情報から求めた被検査材先
端部の加工された部分の最大径と未加工部分の径
との差を求め、その差を基準値と比較し、その差
が許容される寸法精度内にあるか否かを演算判定
する情報処理手段と を備えたことを特徴とする加工状態の検査装置。 ２ 被検査材が所定の結像位置に達したことを光
学的に検出する手段を備え、この手段の出力に同
期して信号出力手段が動作するように構成された
特許請求の範囲第１項記載の加工状態の検査装
置。 ３ 被検査材を連続的に自動供給する手段を備え
た特許請求の範囲第２項記載の加工状態の検査装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12041481A JPS5821148A (ja) | 1981-07-30 | 1981-07-30 | 加工状態の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12041481A JPS5821148A (ja) | 1981-07-30 | 1981-07-30 | 加工状態の検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5821148A JPS5821148A (ja) | 1983-02-07 |
| JPH059733B2 true JPH059733B2 (ja) | 1993-02-05 |
Family
ID=14785622
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12041481A Granted JPS5821148A (ja) | 1981-07-30 | 1981-07-30 | 加工状態の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5821148A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60106574A (ja) * | 1983-11-15 | 1985-06-12 | 凸版印刷株式会社 | 紙カップ不良品自動検出装置 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5055380A (ja) * | 1973-09-12 | 1975-05-15 | ||
| JPS5136164A (en) * | 1974-09-21 | 1976-03-26 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Tsukabutsutai no kenshutsuhanbetsusochi |
| JPS5491181A (en) * | 1977-12-28 | 1979-07-19 | Fujitsu Ltd | Pattern deffect discrimination |
| JPS5570702A (en) * | 1978-11-22 | 1980-05-28 | Yoshida Tsunehiro | Detector for screw pitch |
-
1981
- 1981-07-30 JP JP12041481A patent/JPS5821148A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5821148A (ja) | 1983-02-07 |
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