JPS5821148A - 加工状態の検査装置 - Google Patents
加工状態の検査装置Info
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- JPS5821148A JPS5821148A JP12041481A JP12041481A JPS5821148A JP S5821148 A JPS5821148 A JP S5821148A JP 12041481 A JP12041481 A JP 12041481A JP 12041481 A JP12041481 A JP 12041481A JP S5821148 A JPS5821148 A JP S5821148A
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
- G01N21/95607—Inspecting patterns on the surface of objects using a comparative method
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- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ブラシの植毛あるいは櫛刃等の線状物等の先
端を加工する工種・で、その加工先端部の良否を自動的
に検査する加工状態の検査装置に関する。
端を加工する工種・で、その加工先端部の良否を自動的
に検査する加工状態の検査装置に関する。
一般ニ、ヘアブラシ等はそのブラシ植毛の先端が頭皮を
傷付けるのを防止するため、先端部に加熱処理を施し球
状に加工している。
傷付けるのを防止するため、先端部に加熱処理を施し球
状に加工している。
従来、この種の加工先端部の検査は、拡大レンズを介し
ての目視による検査、あるいは複数段のゲージを順次通
過させて機械的に検査する等の方法が行われている。こ
れらの方法によれば工数が大キク、検査速度が遅く、さ
らに検査精度が必ずしも均一でない場合があり、製品に
バラツキを生じることがある。また、検査装置には先端
部をそろえて流入させなけ牡ばならない等の欠点を有す
る。
ての目視による検査、あるいは複数段のゲージを順次通
過させて機械的に検査する等の方法が行われている。こ
れらの方法によれば工数が大キク、検査速度が遅く、さ
らに検査精度が必ずしも均一でない場合があり、製品に
バラツキを生じることがある。また、検査装置には先端
部をそろえて流入させなけ牡ばならない等の欠点を有す
る。
禾発明はこの点を改良するもので、検査精度が高く、し
かも検査効率の良い加工状態の検出装置を提供すること
を目的とする。
かも検査効率の良い加工状態の検出装置を提供すること
を目的とする。
本発明は、被検査材の通過する位置に配置され被検査材
を照射する光学的手段と、被検査材の陰影が結像する面
に配置さｔた面状に配列された７トリツクス状のエレメ
ントからなる光電気変換手段と、この光電気変換部の平
面に結像する陰影のパターン情報を電気的に走査して電
気信号として出力する信号出力手段と、この手段の出力
信号を一時記憶する記憶手段と、この記憶手段に記憶さ
ｎた前記陰影のパターン情報をあらかじめ設定さｎた基
準パターン情報と比較してこれが許容さ扛る寸法精度内
で一致するか否かを演算判定する情報処理手段とを備え
たことを特徴とする。
を照射する光学的手段と、被検査材の陰影が結像する面
に配置さｔた面状に配列された７トリツクス状のエレメ
ントからなる光電気変換手段と、この光電気変換部の平
面に結像する陰影のパターン情報を電気的に走査して電
気信号として出力する信号出力手段と、この手段の出力
信号を一時記憶する記憶手段と、この記憶手段に記憶さ
ｎた前記陰影のパターン情報をあらかじめ設定さｎた基
準パターン情報と比較してこれが許容さ扛る寸法精度内
で一致するか否かを演算判定する情報処理手段とを備え
たことを特徴とする。
また、被検査材が所定の結像位置に達したことを光学的
に検査する手段を備え、この手段の出力に同期して信号
出力手段が動作するように構成することか好ましい。
に検査する手段を備え、この手段の出力に同期して信号
出力手段が動作するように構成することか好ましい。
また、被検査材を連続的に自動供給する手段を備えるこ
とが好ましい。
とが好ましい。
本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第１図は、本発明一実施例の外観を示す要部構造図であ
る。第１図は、被検査材１と、この被検査材１が通過す
る毎にパターン情報を発生する検知装置２と、この検知
装置２の発生するパターン情報を信号線３を介して受取
り、基準パターンと比較し許容範囲内にあるか否かを判
別して出力する制御部５とで構成さｎている。
る。第１図は、被検査材１と、この被検査材１が通過す
る毎にパターン情報を発生する検知装置２と、この検知
装置２の発生するパターン情報を信号線３を介して受取
り、基準パターンと比較し許容範囲内にあるか否かを判
別して出力する制御部５とで構成さｎている。
第２図は、前記検知装置２および制御部５の詳細図であ
る。検知装置２には被検査材１が通過する帳簿の開口で
ある検査口８が形成されている。
る。検知装置２には被検査材１が通過する帳簿の開口で
ある検査口８が形成されている。
この検査口８のほぼ中央には、前記開口の下側に設けら
ｎた光源９と、この光源９の出射光を前記検査口８に投
光する投光用レンズ１０と、この出射光を受光する前記
開口の上側に設けられた受光用レンズ１１と、この受光
用レンズ１１と光学的に結合さｎたフォトダイオード１
２とで構成さｎた光学センサ部１３が設けられている。
ｎた光源９と、この光源９の出射光を前記検査口８に投
光する投光用レンズ１０と、この出射光を受光する前記
開口の上側に設けられた受光用レンズ１１と、この受光
用レンズ１１と光学的に結合さｎたフォトダイオード１
２とで構成さｎた光学センサ部１３が設けられている。
この光学センサ部１３内のフォトダイオード１２の電気
出力は検出部１４に導かれている。この検出部１４の出
力は走査部１５およびランプ電源１６にそれぞれ導かれ
ている。
出力は検出部１４に導かれている。この検出部１４の出
力は走査部１５およびランプ電源１６にそれぞれ導かれ
ている。
このランプ電源１６にはランプ１７が接続さｎている。
このランプ１７の発する光線は投光用レンズ１８に光学
的に結合されている。この投光用レンズ１８により前記
検査口８を通過した光は受光用レンズ１９に光学的に結
合されている。このランプ１７、投光用レンズ１８およ
び受光用レンズ１９からなる光学系は、前記光学センサ
部１３の出射光を遮断する被検査材１の先端部圧このラ
ンプ１７の出射光が照射さする位置にそれぞれ設けら牡
ている。この受光用レンズ１９の結像点には面状のマト
リックス状の光電気変換素子からなる光電気変換部２０
が配置されている。この光電、気変換部２０の走査入力
には前記走査部１５の出力が導かれている。この光電気
変換部２０の電気出力は並直列変換回路２１に導かｎで
いる。この並直列変換回路２１は前記光電５気変換部２
０に一体形成されている。この並直列変換回路２１の出
力は増幅部２２に導かれている。
的に結合されている。この投光用レンズ１８により前記
検査口８を通過した光は受光用レンズ１９に光学的に結
合されている。このランプ１７、投光用レンズ１８およ
び受光用レンズ１９からなる光学系は、前記光学センサ
部１３の出射光を遮断する被検査材１の先端部圧このラ
ンプ１７の出射光が照射さする位置にそれぞれ設けら牡
ている。この受光用レンズ１９の結像点には面状のマト
リックス状の光電気変換素子からなる光電気変換部２０
が配置されている。この光電、気変換部２０の走査入力
には前記走査部１５の出力が導かれている。この光電気
変換部２０の電気出力は並直列変換回路２１に導かｎで
いる。この並直列変換回路２１は前記光電５気変換部２
０に一体形成されている。この並直列変換回路２１の出
力は増幅部２２に導かれている。
この増幅部２２の出力は信号線３を介して制御部５内の
受信部２３に導かれている。この制御部２３の出力は記
憶部２４に導かれている。この記憶部２４には演算部２
５が接続されている。この演算部２５には基準パターン
および制御プログラムが記憶されたＲ ＯＭ （Ｒｅａ
ｄ ０ｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ ） ２６が接続されてい
る。
受信部２３に導かれている。この制御部２３の出力は記
憶部２４に導かれている。この記憶部２４には演算部２
５が接続されている。この演算部２５には基準パターン
および制御プログラムが記憶されたＲ ＯＭ （Ｒｅａ
ｄ ０ｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ ） ２６が接続されてい
る。
この演算部２５の出力はインタフェース部ｎを介Ｉ７て
信号線２８〜３０に導かれている。
信号線２８〜３０に導かれている。
第３図は、前記光電気変換部２ｏ上に結像された被検査
材１の先端部の陰影の一例を拡大して示す図である。第
３図でＡは先端部の最大径、Ｂは先端からＣの長さを有
する点の線径をそれぞれ示している。
材１の先端部の陰影の一例を拡大して示す図である。第
３図でＡは先端部の最大径、Ｂは先端からＣの長さを有
する点の線径をそれぞれ示している。
このようガ回路構成の本発明の特徴ある動作を説明する
。被検査材１は所定間隔を有してライン上（図示せず）
に配置される。このラインの移動にしたがって複数の被
検査材１は第１図に示すように自動的に連続して検知装
置２の検査口８に供給されその先端部の検査が連続して
自動的に行ゎれる。
。被検査材１は所定間隔を有してライン上（図示せず）
に配置される。このラインの移動にしたがって複数の被
検査材１は第１図に示すように自動的に連続して検知装
置２の検査口８に供給されその先端部の検査が連続して
自動的に行ゎれる。
いま、被検査材１が検査口８を通過中に光学センサ部１
３の位誼に至ると、光源９から常時検査口８に投光され
ている出射光が被検査材１により遮断される。これによ
り、フォトダイオード１２の出力は変化する。この変化
を検出部１４が検出し検出出力をランプ電源および走査
部１５にそれぞれ与える。
３の位誼に至ると、光源９から常時検査口８に投光され
ている出射光が被検査材１により遮断される。これによ
り、フォトダイオード１２の出力は変化する。この変化
を検出部１４が検出し検出出力をランプ電源および走査
部１５にそれぞれ与える。
これにより、ランプ１７が瞬間的に発光し、光学センサ
部１３に至った被検査材１の先端部を照射する。この照
射光によシ受光用レンズ１９を介して、光電、気変換部
２０の上に第３図に示すような陰影が結像される。この
結像は光電気変換部２０の走査に同期して、第３図に斜
線で示す陰影部分は黒レベル信号に、第５図の白部分は
白レベル信号にそれぞれ変換される。このディジタル信
号によシバターン情報は並直列変換部２１で直列信号に
変換され受信部２３でＴＴＬレベル変換された後に記憶
部２４の所定アドレスに記憶される。
部１３に至った被検査材１の先端部を照射する。この照
射光によシ受光用レンズ１９を介して、光電、気変換部
２０の上に第３図に示すような陰影が結像される。この
結像は光電気変換部２０の走査に同期して、第３図に斜
線で示す陰影部分は黒レベル信号に、第５図の白部分は
白レベル信号にそれぞれ変換される。このディジタル信
号によシバターン情報は並直列変換部２１で直列信号に
変換され受信部２３でＴＴＬレベル変換された後に記憶
部２４の所定アドレスに記憶される。
このパターン情報は演算部２５により読出され、第３図
Ａに示す先端部最大径と同図Ｂに示す線径とのデータが
演算されるとともに、加工寸法ｄがａ＝Ａ−Ｂ のように演算される。この加工寸法ｄ ｉＪ ＲＯＭ
２５内の基準パターンと比較演算され、許容範囲内にあ
ればインタフェース部ｎを介して信号線２８に「良」表
示が、許容範囲外にあれば「否」表示が信号線２９にそ
れぞれ表示される。これにより、「否」表示がなされた
被検査材１は監視者の手操作により、あるいは他の制御
装置による自動操作によりラインより除去される。
Ａに示す先端部最大径と同図Ｂに示す線径とのデータが
演算されるとともに、加工寸法ｄがａ＝Ａ−Ｂ のように演算される。この加工寸法ｄ ｉＪ ＲＯＭ
２５内の基準パターンと比較演算され、許容範囲内にあ
ればインタフェース部ｎを介して信号線２８に「良」表
示が、許容範囲外にあれば「否」表示が信号線２９にそ
れぞれ表示される。これにより、「否」表示がなされた
被検査材１は監視者の手操作により、あるいは他の制御
装置による自動操作によりラインより除去される。
ここで、パターン情報により認識されるべきデータは先
端部の最大径Ａ、この先端よりＣの長さを有する部分の
線径Ｂである。このため、前記光電気変換部２０上に結
像される場合に、その結像位置は光電気変換部２０の結
像面内にあればその結像位置が一致してい、なくても検
査に悪影響は生じない。したがって、被□検査材１の先
端は、検査口８０通過時に完全にそろっていなくとも良
い。検査時に被検査材１の先端位置が大きくずれていて
結像状態が光電気変換部２０上で大きくずれ、パターン
情報より前記ＡおよびＢが認識でき方いときには、信号
線３０にその旨の表示がなされる。
端部の最大径Ａ、この先端よりＣの長さを有する部分の
線径Ｂである。このため、前記光電気変換部２０上に結
像される場合に、その結像位置は光電気変換部２０の結
像面内にあればその結像位置が一致してい、なくても検
査に悪影響は生じない。したがって、被□検査材１の先
端は、検査口８０通過時に完全にそろっていなくとも良
い。検査時に被検査材１の先端位置が大きくずれていて
結像状態が光電気変換部２０上で大きくずれ、パターン
情報より前記ＡおよびＢが認識でき方いときには、信号
線３０にその旨の表示がなされる。
なお、上記実施例は加工寸法の検査を先端部の最゛大径
と所定位置の線径との差より行う場合を示したが、パタ
ーン情報より先端部の球形状のゆがみ等を検出ｔ、、こ
れをＲＯＭ内の基準パターンと比較して高精度の検査を
行うこともできる。さらに、線状材料の先端部の検査に
限られるものでな（ＲＯＭの内容を交換して、基準パタ
ーンを変えることにより多種類の検査を同様に行うこと
ができる。また、線状材料に限られるものでなく照射光
により光電気変換部上に鮮明に結像する材料であれば同
様の検査を行うことができる。
と所定位置の線径との差より行う場合を示したが、パタ
ーン情報より先端部の球形状のゆがみ等を検出ｔ、、こ
れをＲＯＭ内の基準パターンと比較して高精度の検査を
行うこともできる。さらに、線状材料の先端部の検査に
限られるものでな（ＲＯＭの内容を交換して、基準パタ
ーンを変えることにより多種類の検査を同様に行うこと
ができる。また、線状材料に限られるものでなく照射光
により光電気変換部上に鮮明に結像する材料であれば同
様の検査を行うことができる。
以上説明したように本開明によれば、被検査材の通過を
光センサ部で検出し、この検出時に光電気変換部上に被
検査材の先端部の陰影を結像させてパターン情報を発生
させ、このパターン情報の演算結果を基準パターンと比
較【−で加工寸法が許容範囲内にあるか否かを判別する
こととした。
光センサ部で検出し、この検出時に光電気変換部上に被
検査材の先端部の陰影を結像させてパターン情報を発生
させ、このパターン情報の演算結果を基準パターンと比
較【−で加工寸法が許容範囲内にあるか否かを判別する
こととした。
したがって、被検査材の検査を自動的に連続的に、し７
かも高速に行うことができる。また、検査はパターン情
報の演算結果を用いて行うため、検査精度も任意に選ぶ
ことができる。さらに、ゲージ等も必要とせず検査工数
を少なくすることができる。また、検査精度も均一とガ
り製品の品質も向上させることができる等の効果を有す
る。
かも高速に行うことができる。また、検査はパターン情
報の演算結果を用いて行うため、検査精度も任意に選ぶ
ことができる。さらに、ゲージ等も必要とせず検査工数
を少なくすることができる。また、検査精度も均一とガ
り製品の品質も向上させることができる等の効果を有す
る。
第１図は本発明一実施例の外観を示す図。
第２図は前記実施例の詳細図。
第３図は前記実施例の結像状態を示す図。
１・・・被検査材、２・・・検査装置、３．２７〜２９
・・・信号線、５・・・制御部、８・・・検査口、９・
・・光源、１０．１８・・・投光用レンズ、１１．１９
・・・受光用レンズ、１２・・・フォトダイオード、１
３・・・光学センサ部、１４・・・検出部、１５・・・
走査部、１６・・・ランプ電源、１７・・・ランプ、２
０・・・光電気変換部、２１・・・増幅部、２３・・・
記憶部、２４・・・演３１ 部、 ２５・・・ＲＯＭ、
２６・・・インタフェース部。 特許出願人 花王石鹸株式会社 代理人 弁理士 井 出 直 孝
・・・信号線、５・・・制御部、８・・・検査口、９・
・・光源、１０．１８・・・投光用レンズ、１１．１９
・・・受光用レンズ、１２・・・フォトダイオード、１
３・・・光学センサ部、１４・・・検出部、１５・・・
走査部、１６・・・ランプ電源、１７・・・ランプ、２
０・・・光電気変換部、２１・・・増幅部、２３・・・
記憶部、２４・・・演３１ 部、 ２５・・・ＲＯＭ、
２６・・・インタフェース部。 特許出願人 花王石鹸株式会社 代理人 弁理士 井 出 直 孝
Claims (3)
- （１）被検査材の通過する位置に配置さｎ被検査材を照
射する光学的手段と、被検査材の陰影が結像する面に配
置された面状に配列さ牡たマトリックス状のエレメント
から力る光電気変換手段と、この光電気変換手段の平面
に結像す不陰影のパターン情報を電気的に走査して電気
信号として出力する信号出力手段と、この手段の出力信
号を一時記憶する記憶手段と、この記憶手段に記憶され
た前記陰影のパターン情報をあらかじめ設定さｎた基準
パターン情報と比較してこれが許容される寸法精度内で
一致するか否かを演算判定する情報処理手段とを備えた
加工状態の検査装置。 - （２）被検査材が所定の結像位置に達したことを光学的
に検出する手段を備え、この手段の出力に同期して信号
出力手段が動作するように構成された特許請求の範囲第
（１）項記載の加工状態あ検査装置。 - （３）被検査材を連続的に自動供給する手段を供えた特
許請求の範囲第（２）項記載の加工状態の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12041481A JPS5821148A (ja) | 1981-07-30 | 1981-07-30 | 加工状態の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12041481A JPS5821148A (ja) | 1981-07-30 | 1981-07-30 | 加工状態の検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5821148A true JPS5821148A (ja) | 1983-02-07 |
| JPH059733B2 JPH059733B2 (ja) | 1993-02-05 |
Family
ID=14785622
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12041481A Granted JPS5821148A (ja) | 1981-07-30 | 1981-07-30 | 加工状態の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5821148A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60106574A (ja) * | 1983-11-15 | 1985-06-12 | 凸版印刷株式会社 | 紙カップ不良品自動検出装置 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5055380A (ja) * | 1973-09-12 | 1975-05-15 | ||
| JPS5136164A (en) * | 1974-09-21 | 1976-03-26 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Tsukabutsutai no kenshutsuhanbetsusochi |
| JPS5491181A (en) * | 1977-12-28 | 1979-07-19 | Fujitsu Ltd | Pattern deffect discrimination |
| JPS5570702A (en) * | 1978-11-22 | 1980-05-28 | Yoshida Tsunehiro | Detector for screw pitch |
-
1981
- 1981-07-30 JP JP12041481A patent/JPS5821148A/ja active Granted
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5055380A (ja) * | 1973-09-12 | 1975-05-15 | ||
| JPS5136164A (en) * | 1974-09-21 | 1976-03-26 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Tsukabutsutai no kenshutsuhanbetsusochi |
| JPS5491181A (en) * | 1977-12-28 | 1979-07-19 | Fujitsu Ltd | Pattern deffect discrimination |
| JPS5570702A (en) * | 1978-11-22 | 1980-05-28 | Yoshida Tsunehiro | Detector for screw pitch |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60106574A (ja) * | 1983-11-15 | 1985-06-12 | 凸版印刷株式会社 | 紙カップ不良品自動検出装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH059733B2 (ja) | 1993-02-05 |
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