JPH06103697B2 - コンパクトicのワイヤボンディング構造体 - Google Patents

コンパクトicのワイヤボンディング構造体

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JPH06103697B2
JPH06103697B2 JP63157400A JP15740088A JPH06103697B2 JP H06103697 B2 JPH06103697 B2 JP H06103697B2 JP 63157400 A JP63157400 A JP 63157400A JP 15740088 A JP15740088 A JP 15740088A JP H06103697 B2 JPH06103697 B2 JP H06103697B2
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はコンパクトICのワイヤボンディング構造体に関
し、特に、配線基板と外部リードとを2ワイヤを使用し
てネールヘッド金ワイヤボンディングで接続するのに好
適のワイヤボンディング構造体に関する。
[従来の技術] 従来、ネールヘッド金ワイヤボンディングにより、配線
基板の同一ボンディングパッドから2ワイヤを使用して
外部リードの同一ボンディングパッドへボンディング接
続する場合は、第4図に示すように2ワイヤ4のいずれ
も配線基板1側のボンディングパッド2にボールボンデ
ィング接続点4aを設け、外部リード側のボンディングパ
ット3にステッチボンディング接続点4bを設けている。
[発明が解決しようとする課題] しかしながら、上述した従来のワイヤボンディング構造
体の場合は、配線基板と外部リードとを接続する2ワイ
ヤ4のいずれも配線基板側にボールボンディング接続点
4aを設け、外部リード側にステッチボンディング接続点
4bを設けたボンディングワイヤ構造となっているため、
ボンディング接続されたワイヤ4の張り形状及び接続点
の構造が2ワイヤ4について同一である。このため、ワ
イヤ4が半導体装置の製造工程中等において、熱的及び
機械的ストレスを受けた場合に、これらのストレスに対
する耐力は2ワイヤ4とも同等である。従って、断線す
る場合は、2ワイヤ4が同時に切断されるという問題点
がある。
本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであって、
熱的及び機械的ストレスを分散させることができ、半導
体装置製造工程におけるワイヤ断線を低減することがで
きるコンパクトICのワイヤボンディング構造体に関す
る。
[課題を解決するための手段] 本発明に係るコンパクトICのワイヤボンディング構造体
は、コンパクトICの配線基板側ボンディングパッドと外
部リード側ボンディングパッドとを2ワイヤにより接続
するコンパクトICのワイヤボンディング構造体におい
て、前記ワイヤの一方は配線基板側ボンディングパッド
及び外部リード側ボンディングパッドに夫々ボールボン
ディング接続点及びステッチボンディング接続点を有
し、他方の前記ワイヤは前記配線基板側ボンディングパ
ッド及び前記外部リード側ボンディングパッドに夫々ス
テッチボンディング接続点及びボールボンディング接続
点を有することを特徴とする。
[作用] 本発明においては、配線基板側のパッドにボールボンデ
ィング接続点とステッチボンディング接続点とを設け、
外部リード側のパッドにも同様にボールボンディング接
続点とステッチボンディング接続点とを設けてある。そ
して、一方のパッドのボール及びステッチボンディング
接続点と他方のパッドの夫々ステッチ及びボールボンデ
ィング接続点とを夫々ワイヤにより接続してある。
このように、配線基板側及び外部リード側の双方にボー
ル及びステッチボンディング接続点を設けた2ワイヤで
接続することにより、製造工程で熱的及び機械的ストレ
スが印加されても、このストレスはボンディング接続構
造が異なる2ワイヤに分散される。これにより、ワイヤ
断線不良の発生を低減できる。
[実施例] 次に、本発明の実施例について添付の図面を参照して説
明する。第1図は本発明の第1の実施例を示す平面図、
第2図は同じくそのII−II線による縦断面図である。配
線基板1側のボンディングパッド2と、外部リード側の
ボンディングパッド3との間に、2本のワイヤ6,7が配
設されている。ボンディングワイヤ6は配線基板側ボン
ディングパッド2にボールボンディング接続点6aにより
接続され、外部リード側ボンディングパッド3にステッ
チボンディング接続点6bにより接続されている。一方、
ボンディングワイヤ7は配線基板側ボンディングパッド
2にステッチボンディング接続点7bにより接続され、外
部リード側ボンディングパッド3にボールボンディング
接続点7aにより接続されている。
このようなワイヤボンディング構造を有するため、半導
体装置の製造工程で熱的・機械的ストレスを受けた場合
に、ボンディング接続構造が異なる2ワイヤ6,7にこれ
らのストレスを分散させることができ、製造工程中のワ
イヤ断線等の発生を低減することができる。
第3図は本発明の第2の実施例を示す平面図である。第
3図において、第1図と同一物には同一符号を付して説
明を省略する。この実施例は第1の実施例に対し、配線
基板1側のボンディングパッド2と、外部リード側ボン
ディングパッド3との相対的配置関係及びそのパッド内
のボンディング接続点の位置を変更した点が異なる。
これにより、ボールボンディング接続点6a,7a及びステ
ッチボンディング接続点6b,7bにより接続されたボンデ
ィングワイヤ16,17はその長さが相互に異なる。
また、各ボンディングパッド2,3内において、ボンディ
ング接続点の位置がワイヤ16のボンディング接続点6a,6
bと夫々ワイヤ17のボンディング接続点7b,7aとで異な
る。
このような構造により、各ワイヤ16,17に印加される熱
的及び機械的ストレスを更に一層分散させることができ
る。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明は配線基板側の1個のボン
ディングパッドと外部リード側の1個のボンディングパ
ッドとの間を、一方のパッドにボールボンディング接続
し、他方のパッドにステッチボンディング接続した構造
のワイヤと、逆に一方のパッドにステッチボンディング
接続し、他方のパッドにボールボンディング接続した構
造のワイヤとで接続することにより、半導体装置製造工
程で受ける熱的・機械的ストレスをボンディング接続構
造が異なる2ワイヤに分散させることでき、製造工程中
のワイヤ断線不良を低減できるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例を示す平面図、第2図は
第1図のII−II線による断面図、第3図は本発明の第2
の実施例を示す平面図、第4図は従来のコンパクトICの
ワイヤボンディング構造を示す平面図である。 1;配線基板、2;配線基板側ボンディングパッド、3;外部
リード側ボンディングパッド、4,6,7;ワイヤ、4a,6a,7
a;ボールボンディング接続点、4b,6b,7b;ステッチボン
ディング接続点

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】コンパクトICの配線基板側ボンディングパ
    ッドと外部リード側ボンディングパッドとを2ワイヤに
    より接続するコンパクトICのワイヤボンディング構造体
    において、前記ワイヤの一方は配線基板側ボンディング
    パッド及び外部リード側ボンディングパッドに夫々ボー
    ルボンディング接続点及びステッチボンディング接続点
    を有し、他方の前記ワイヤは前記配線基板側ボンディン
    グパッド及び前記外部リード側ボンディングパッドに夫
    々ステッチボンディング接続点及びボールボンディング
    接続点を有することを特徴とするコンパクトICのワイヤ
    ボンディング構造体。
JP63157400A 1988-06-25 1988-06-25 コンパクトicのワイヤボンディング構造体 Expired - Lifetime JPH06103697B2 (ja)

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JPH027446A JPH027446A (ja) 1990-01-11
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JP5683403B2 (ja) * 2011-08-01 2015-03-11 日立オートモティブシステムズ株式会社 半導体装置
JP6196092B2 (ja) * 2013-07-30 2017-09-13 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置

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