JPH0612977U - Ｉｃソケット - Google Patents

Ｉｃソケット

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Publication number
JPH0612977U
JPH0612977U JP5112792U JP5112792U JPH0612977U JP H0612977 U JPH0612977 U JP H0612977U JP 5112792 U JP5112792 U JP 5112792U JP 5112792 U JP5112792 U JP 5112792U JP H0612977 U JPH0612977 U JP H0612977U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
socket
probe
test terminal
hole
view
Prior art date
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Pending
Application number
JP5112792U
Other languages
English (en)
Inventor
光也 小沼
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu General Ltd
Original Assignee
Fujitsu General Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu General Ltd filed Critical Fujitsu General Ltd
Priority to JP5112792U priority Critical patent/JPH0612977U/ja
Publication of JPH0612977U publication Critical patent/JPH0612977U/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ＩＣソケットの外部にテスト端子を設ける。 【構成】 ＩＣソケットの枠１と、ＩＣのリード端子を
挿入する穴２と、プリント基板等に接続する足４とを備
える従来のＩＣソケットと、該ＩＣソケットの外部に引
き出して備えるテスト端子３とからなる。

Description

【考案の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
本考案は、測定機器のプローブを接続し易くするためのテスト端子を備えるＩ Ｃソケットに関する。
【０００２】
【従来の技術】
プリント基板にＩＣを実装する場合、ＩＣが着脱できるように、ＩＣソケット を使用し、ＩＣを装着することが有る。 図４は、従来のＩＣソケットにＩＣを装着した状態を示す断面図である。１は 下面に垂直に足４を備えると共に上面から下面に垂直に貫通する穴２を備え、該 穴２の内部に接触バネ６を備えるＩＣソケットの枠である。 尚、ＩＣの装着は、ＩＣ１０のリード１１を前記穴２に、前記接触バネ６に接 するように嵌入することにより行う。 動作を説明する。図４の状態で測定器のプローブを取り付ける場合、例えば、 逆Ｌ字状のプローブの先端をケースから押し出すようにしてリード１１に引っ掛 けた後、挟み付けて固定する。 しかし、実際はリード１１が小さく、しかも、ＩＣのリード１１がファインピ ッチ化しているため、隣接するリード１１の間隔も小さいので、上記の従来方法 ではプローブを固定し難く、また隣のリード１１とプローブが接触する等、プロ ーブ取り付けが困難であった。
【０００３】
【考案が解決しようとする課題】
本考案は、上記問題点に鑑みなされたもので、プローブを固定するためのテス ト端子を備えるＩＣソケットを提供することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、電気接続するための接触バネあるいは足の一部分 をＩＣソケットの外部に延長し引き出したテスト端子を備える。
【０００５】
【作用】
測定のためのプローブを、テスト端子の係止部に固定する。
【０００６】
【実施例】
以下、本考案によるＩＣソケットについて図を用いて詳細に説明する。 図１は、本考案によるＩＣソケットの外観斜視図である。１はＩＣソケットの枠 である。２は前記ＩＣソケットの枠１の上面と下面を垂直に貫通し、内部に接触 バネ等を備える穴である。３は１側を前記穴２の接触バネ等に接続すると共に、 他側を前記ＩＣソケットの枠１の外部に引き出したテスト端子である。４は１側 を前記穴２の接触バネ等に接続すると共に、他側を前記ＩＣソケットの枠１の下 面に垂直に備える足である。
【０００７】 図２は、本考案によるＩＣソケットの断面図である。５はテスト端子３の先端 に有るプローブの係止部である。６は前記穴２の内部に備える接触バネである。 図３は、本考案によるＩＣソケットの係止部の各種形状を表す図である。 （イ）は突起２０を備える形状の係止部断面図である。（ロ）は角穴２１を備え る形状の係止部正面図である。（ハ）は切り込み２２によるくびれ形状の係止部 正面図である。
【０００８】 動作を説明する。測定するリード１１に接続するテスト端子３の係止部５を、 例えば、ロジックアナライザー等測定器のプローブで挟み付け固定する。係止部 ５の形状はプローブが取り付け易くしかも外れ難い機能を備えるので、プローブ が確実に固定できる。 また、１本置きにジグザグにテスト端子３を設置しておけば、隣接するテスト 端子３との不用意な接触を防止できる。
【０００９】
【考案の効果】
テスト端子を備えることにより、測定器のプローブを確実に固定できるＩＣソ ケットを提供することができる。 特に、マイコンの動作チェックを行う場合など、ロジックアナライザーの多数 のプローブを接続する必要があるので、本考案のテスト端子を利用すれば、確実 に、しかも迅速にプローブ取り付け作業ができ、便利である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本考案によるＩＣソケットの外観斜視図であ
る。
【図２】本考案によるＩＣソケットの断面図である。
【図３】本考案によるＩＣソケットの係止部の各種形状
を表す図である。
【図４】従来のＩＣソケットにＩＣを装着した状態を示
す断面図である。
【符号の説明】
１ ＩＣソケットの枠 ２ 穴 ３ テスト端子 ４ 足 ５ 係止部 ６ 接触バネ １０ ＩＣ １１ リード ２０ 突起 ２１ 角穴 ２２ 切り込み

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項１】 半導体素子を着脱自在に実装するために
    使用するＩＣソケットにおいて、電気接続するための接
    触バネあるいは足の一部分をＩＣソケットの外部に延長
    し引き出したテスト端子を備えたことを特徴とするＩＣ
    ソケット。
  2. 【請求項２】 上記テスト端子が１本置きにジグザグ状
    に引き出されると共に、テスト端子の先端部に突起ある
    いは穴あるいは切り込み等からなる係止部を備える請求
    項１記載のＩＣソケット。
JP5112792U 1992-07-21 1992-07-21 Ｉｃソケット Pending JPH0612977U (ja)

Priority Applications (1)

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JP5112792U JPH0612977U (ja) 1992-07-21 1992-07-21 Ｉｃソケット

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JP5112792U JPH0612977U (ja) 1992-07-21 1992-07-21 Ｉｃソケット

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Publication Number Publication Date
JPH0612977U true JPH0612977U (ja) 1994-02-18

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ID=12878146

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JP5112792U Pending JPH0612977U (ja) 1992-07-21 1992-07-21 Ｉｃソケット

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JP (1) JPH0612977U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018524745A (ja) * 2015-05-22 2018-08-30 パワー フィンガープリンティング インコーポレイテッド サイドチャネル情報などの電力特性を用いる侵入検出及び分析用のシステム、方法及び機器

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018524745A (ja) * 2015-05-22 2018-08-30 パワー フィンガープリンティング インコーポレイテッド サイドチャネル情報などの電力特性を用いる侵入検出及び分析用のシステム、方法及び機器

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