JPH06138052A - 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置 - Google Patents
光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置Info
- Publication number
- JPH06138052A JPH06138052A JP34476491A JP34476491A JPH06138052A JP H06138052 A JPH06138052 A JP H06138052A JP 34476491 A JP34476491 A JP 34476491A JP 34476491 A JP34476491 A JP 34476491A JP H06138052 A JPH06138052 A JP H06138052A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- liquid crystal
- crystal display
- pattern
- data
- display
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 title claims abstract description 56
- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims abstract description 21
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 9
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 12
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 9
- 230000004397 blinking Effects 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 この発明は点滅画素の検出を行なうことがで
きるような光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置を提供
することを主要な特徴とする。 【構成】 パターンジェネレータ１０からパターンデー
タを発生し、可動ステージ２上の液晶ディスプレイ３に
そのパターンデータを表示させ、可動ステージ２を一方
方向に順次移動させ、液晶ディスプレイ３に表示された
パターンをＣＣＤユニット４によって読取る。パーソナ
ルコンピュータ５はＣＣＤユニット４の複数回の読取出
力を演算し、その結果と標準データとの一致を判別し、
不一致であれば検査した液晶ディスプレイ３が不良品で
あると判断して処理し、一致していれば良品の処理をす
る。
きるような光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置を提供
することを主要な特徴とする。 【構成】 パターンジェネレータ１０からパターンデー
タを発生し、可動ステージ２上の液晶ディスプレイ３に
そのパターンデータを表示させ、可動ステージ２を一方
方向に順次移動させ、液晶ディスプレイ３に表示された
パターンをＣＣＤユニット４によって読取る。パーソナ
ルコンピュータ５はＣＣＤユニット４の複数回の読取出
力を演算し、その結果と標準データとの一致を判別し、
不一致であれば検査した液晶ディスプレイ３が不良品で
あると判断して処理し、一致していれば良品の処理をす
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は光学式液晶ディスプレ
イ欠陥検査装置に関し、特に、液晶ディスプレイの画素
の欠陥を光学的に検査するような光学式液晶ディスプレ
イ欠陥検査装置に関する。
イ欠陥検査装置に関し、特に、液晶ディスプレイの画素
の欠陥を光学的に検査するような光学式液晶ディスプレ
イ欠陥検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】最近では、各種電子機器に液晶ディスプ
レイが多く用いられつつある。しかも、液晶ディスプレ
イに表示される情報量が多くなってきており、表示密度
の高い液晶ディスプレイが要求されている。表示密度を
高めるためには、液晶表示部の間の配線パターンを細く
する必要がある。ところが、パターン密度を高めると、
パターンのエッチング工程などで、隣接するパターン同
士が電気的に接続されてしまうことがある。このような
液晶ディスプレイの欠陥を検査する方法として、パネル
になった状態の液晶ディスプレイを点灯し、それを光学
的に読取って標準のデータと比較し、一致していなけれ
ば欠陥であると判別する方法が考えられる。
レイが多く用いられつつある。しかも、液晶ディスプレ
イに表示される情報量が多くなってきており、表示密度
の高い液晶ディスプレイが要求されている。表示密度を
高めるためには、液晶表示部の間の配線パターンを細く
する必要がある。ところが、パターン密度を高めると、
パターンのエッチング工程などで、隣接するパターン同
士が電気的に接続されてしまうことがある。このような
液晶ディスプレイの欠陥を検査する方法として、パネル
になった状態の液晶ディスプレイを点灯し、それを光学
的に読取って標準のデータと比較し、一致していなけれ
ば欠陥であると判別する方法が考えられる。
【０００３】従来は、このような欠陥を検出するため
に、目視で検査したり、電極にピンを立てて電流を流
し、接触の有無を調べるというプロービングの方法が用
いられていた。しかしながら、目視による方法では、検
査に長時間を要し、プロービングの方法では、その都度
電極にピンを立てる必要があり、検査に要する労力が多
大であった。
に、目視で検査したり、電極にピンを立てて電流を流
し、接触の有無を調べるというプロービングの方法が用
いられていた。しかしながら、目視による方法では、検
査に長時間を要し、プロービングの方法では、その都度
電極にピンを立てる必要があり、検査に要する労力が多
大であった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】そこで、テーブルの上
に液晶ディスプレイを載置し、テーブルを一方方向に移
動させながら液晶ディスプレイに検査のためのパターン
を表示し、イメージセンサを用いてそのパターンを読取
り、読取出力と標準データとを比較し、一致していれば
良品と判断し、一致していなければ不良品と判別して液
晶ディスプレイの欠陥を検査する方法が考えられる。と
ころが、欠陥画素の中には点滅している画素があり、デ
ータの取込みタイミングによっては欠陥画素と判定する
ときと、正常画素と判定するときがある。
に液晶ディスプレイを載置し、テーブルを一方方向に移
動させながら液晶ディスプレイに検査のためのパターン
を表示し、イメージセンサを用いてそのパターンを読取
り、読取出力と標準データとを比較し、一致していれば
良品と判断し、一致していなければ不良品と判別して液
晶ディスプレイの欠陥を検査する方法が考えられる。と
ころが、欠陥画素の中には点滅している画素があり、デ
ータの取込みタイミングによっては欠陥画素と判定する
ときと、正常画素と判定するときがある。
【０００５】それゆえに、この発明の主たる目的は、点
滅画素の検出を行なうことができるような光学式液晶デ
ィスプレイ欠陥検査装置を提供することである。
滅画素の検出を行なうことができるような光学式液晶デ
ィスプレイ欠陥検査装置を提供することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明は液晶ディスプ
レイの欠陥を検査するための光学式液晶ディスプレイ欠
陥検査装置であって、液晶ディスプレイを一方方向に移
動させるための可動ステージと、液晶ディスプレイに検
査のためのパターンを表示させる表示制御手段と、可動
ステージの上方から液晶ディスプレイの表示パターンを
読取るイメージセンサと、イメージセンサでの表示パタ
ーンの読取を液晶ディスプレイの１画素について複数回
行ない、その複数回のデータより液晶ディスプレイの欠
陥を判別する判別手段とを備えて構成される。
レイの欠陥を検査するための光学式液晶ディスプレイ欠
陥検査装置であって、液晶ディスプレイを一方方向に移
動させるための可動ステージと、液晶ディスプレイに検
査のためのパターンを表示させる表示制御手段と、可動
ステージの上方から液晶ディスプレイの表示パターンを
読取るイメージセンサと、イメージセンサでの表示パタ
ーンの読取を液晶ディスプレイの１画素について複数回
行ない、その複数回のデータより液晶ディスプレイの欠
陥を判別する判別手段とを備えて構成される。
【０００７】
【作用】この発明に係る光学式液晶ディスプレイ欠陥検
査装置は、点滅画素のデータを複数個取込んだ値を加算
あるいは平均し、その画素の値とすることにより、欠陥
の検出率を向上させる。
査装置は、点滅画素のデータを複数個取込んだ値を加算
あるいは平均し、その画素の値とすることにより、欠陥
の検出率を向上させる。
【０００８】
【実施例】図１はこの発明の一実施例の概略ブロック図
である。
である。
【０００９】図１を参照して、テーブル１の上に可動ス
テージ２が設けられる。可動ステージ２は液晶ディスプ
レイ３を一方方向および逆方向に移動させるものであっ
て、たとえばリニアモータあるいはボールねじによって
駆動される。可動ステージ２の上方にはＣＣＤユニット
４が設けられる。ＣＣＤユニット４は可動ステージ２に
よって一方方向に移動する液晶ディスプレイ３の表示パ
ターンを上方より読取るものであって、たとえばＣＣＤ
イメージセンサが用いられる。
テージ２が設けられる。可動ステージ２は液晶ディスプ
レイ３を一方方向および逆方向に移動させるものであっ
て、たとえばリニアモータあるいはボールねじによって
駆動される。可動ステージ２の上方にはＣＣＤユニット
４が設けられる。ＣＣＤユニット４は可動ステージ２に
よって一方方向に移動する液晶ディスプレイ３の表示パ
ターンを上方より読取るものであって、たとえばＣＣＤ
イメージセンサが用いられる。
【００１０】全体の制御を行なうためにパーソナルコン
ピュータ５が設けられる。パーソナルコンピュータ５は
ＣＣＤユニット４を制御するために、ＣＣＤ制御回路６
からＣＣＤ駆動回路７に制御信号を出力し、ＣＣＤ駆動
回路７はその制御信号に応じてＣＣＤユニット４を駆動
する。このとき、パーソナルコンピュータ５からは液晶
ディスプレイ３の１画素につき複数回データを読取る信
号が出力され、ＣＣＤユニット４は液晶ディスプレイ３
の１画素につき複数回の読取を行なう。ＣＣＤユニット
４の読取出力はパーソナルコンピュータ５に与えられ
る。さらに、パーソナルコンピュータ５はパルス発生器
８からパルス信号を発生させ、このパルス信号はテーブ
ル位置決めユニット９に与えられる。テーブル位置決め
ユニット９はそのパルス信号に応じて可動ステージ２を
一方方向に順次移動させ、可動ステージ２の位置決めを
行なう。パーソナルコンピュータ５はさらにパターンジ
ェネレータ１０から検査のための表示パターンデータを
発生させる。このパターンデータは液晶ディスプレイ駆
動回路１１に与えられる。液晶ディスプレイ駆動回路１
１は液晶ディスプレイ３を駆動し、与えられたパターン
データに応じてそのパターンを表示させる。
ピュータ５が設けられる。パーソナルコンピュータ５は
ＣＣＤユニット４を制御するために、ＣＣＤ制御回路６
からＣＣＤ駆動回路７に制御信号を出力し、ＣＣＤ駆動
回路７はその制御信号に応じてＣＣＤユニット４を駆動
する。このとき、パーソナルコンピュータ５からは液晶
ディスプレイ３の１画素につき複数回データを読取る信
号が出力され、ＣＣＤユニット４は液晶ディスプレイ３
の１画素につき複数回の読取を行なう。ＣＣＤユニット
４の読取出力はパーソナルコンピュータ５に与えられ
る。さらに、パーソナルコンピュータ５はパルス発生器
８からパルス信号を発生させ、このパルス信号はテーブ
ル位置決めユニット９に与えられる。テーブル位置決め
ユニット９はそのパルス信号に応じて可動ステージ２を
一方方向に順次移動させ、可動ステージ２の位置決めを
行なう。パーソナルコンピュータ５はさらにパターンジ
ェネレータ１０から検査のための表示パターンデータを
発生させる。このパターンデータは液晶ディスプレイ駆
動回路１１に与えられる。液晶ディスプレイ駆動回路１
１は液晶ディスプレイ３を駆動し、与えられたパターン
データに応じてそのパターンを表示させる。
【００１１】図２はこの発明の一実施例の具体的な動作
を説明するためのフロー図であり、図３は点滅画素の点
滅周期と取込タイミングの一例を示す図である。
を説明するためのフロー図であり、図３は点滅画素の点
滅周期と取込タイミングの一例を示す図である。
【００１２】次に、図１，図２および図３を参照して、
この発明の一実施例の具体的な動作について説明する。
まず、液晶ディスプレイ３を可動ステージ２の上にロー
ディングする。パーソナルコンピュータ５はパターンジ
ェネレータ１０からパターンデータを発生させる。この
パターンデータは、たとえば、市松模様などの明画素，
暗画素がほぼ同数となるような表示パターンが用いら
れ、液晶ディスプレイ駆動回路１１はそのパターンデー
タに応じて液晶ディスプレイ３に表示パターンを表示さ
せる。
この発明の一実施例の具体的な動作について説明する。
まず、液晶ディスプレイ３を可動ステージ２の上にロー
ディングする。パーソナルコンピュータ５はパターンジ
ェネレータ１０からパターンデータを発生させる。この
パターンデータは、たとえば、市松模様などの明画素，
暗画素がほぼ同数となるような表示パターンが用いら
れ、液晶ディスプレイ駆動回路１１はそのパターンデー
タに応じて液晶ディスプレイ３に表示パターンを表示さ
せる。
【００１３】パーソナルコンピュータ５はパルス発生器
８からパルス信号を発生させ、テーブル位置決めユニッ
ト９はそのパルス信号に応じて可動ステージ２を一方方
向に順次移動される。パーソナルコンピュータ５からの
制御信号によって、ＣＣＤ制御回路６からはＣＣＤの制
御信号が発生され、ＣＣＤ駆動回路７はその制御信号に
応じてＣＣＤユニット４を駆動する。ＣＣＤユニット４
は順次移動する可動ステージ２上の液晶ディスプレイ３
に表示されたパターンを上方より読取り、その読取出力
をパーソナルコンピュータ５に与える。このとき、ＣＣ
Ｄユニット４は液晶ディスプレイ３の１画素につき複数
回のデータを取込み、パーソナルコンピュータ５に出力
する。たとえば、図３に示すような点滅画素の場合で
は、またはのタイミングでサンプリングを行なった
ときの取込んだ場所データは正常画素のデータと同程度
であり、正常画素と判断する。また、またはのタイ
ミングでサンプリングを行なったときは、正常画素のデ
ータと欠陥画素のデータの中間または欠陥画素のデータ
と同程度となり、欠陥画素または異常画素と判断を行な
う。同一画素において正常に近いときと、欠陥に近いデ
ータを取込むことがあると正確な判定ができないため、
図３に示すように、とのタイミングで取込んだ２回
分の測定データ、またとのタイミングで取込んだ２
回分測定データなど、複数回の取込データをパーソナル
コンピュータ５に出力する。
８からパルス信号を発生させ、テーブル位置決めユニッ
ト９はそのパルス信号に応じて可動ステージ２を一方方
向に順次移動される。パーソナルコンピュータ５からの
制御信号によって、ＣＣＤ制御回路６からはＣＣＤの制
御信号が発生され、ＣＣＤ駆動回路７はその制御信号に
応じてＣＣＤユニット４を駆動する。ＣＣＤユニット４
は順次移動する可動ステージ２上の液晶ディスプレイ３
に表示されたパターンを上方より読取り、その読取出力
をパーソナルコンピュータ５に与える。このとき、ＣＣ
Ｄユニット４は液晶ディスプレイ３の１画素につき複数
回のデータを取込み、パーソナルコンピュータ５に出力
する。たとえば、図３に示すような点滅画素の場合で
は、またはのタイミングでサンプリングを行なった
ときの取込んだ場所データは正常画素のデータと同程度
であり、正常画素と判断する。また、またはのタイ
ミングでサンプリングを行なったときは、正常画素のデ
ータと欠陥画素のデータの中間または欠陥画素のデータ
と同程度となり、欠陥画素または異常画素と判断を行な
う。同一画素において正常に近いときと、欠陥に近いデ
ータを取込むことがあると正確な判定ができないため、
図３に示すように、とのタイミングで取込んだ２回
分の測定データ、またとのタイミングで取込んだ２
回分測定データなど、複数回の取込データをパーソナル
コンピュータ５に出力する。
【００１４】パーソナルコンピュータ５はＣＣＤユニッ
ト４の複数回の読取出力を演算し、その結果と標準デー
タとの一致を判別する。不一致であれば、検査した液晶
ディスプレイ３が不良品であると判断して処理し、一致
していれば良品の処理をし、その結果をプリンタに印字
したり、ＣＲＴディスプレイに表示させる。その後、パ
ーソナルコンピュータ５は可動ステージ２を逆方向に移
動させ、元の位置に戻ると液晶ディスプレイ３をアンロ
ーディングする。そして、上述の動作を繰返し、次の液
晶ディスプレイの検査を行なう。
ト４の複数回の読取出力を演算し、その結果と標準デー
タとの一致を判別する。不一致であれば、検査した液晶
ディスプレイ３が不良品であると判断して処理し、一致
していれば良品の処理をし、その結果をプリンタに印字
したり、ＣＲＴディスプレイに表示させる。その後、パ
ーソナルコンピュータ５は可動ステージ２を逆方向に移
動させ、元の位置に戻ると液晶ディスプレイ３をアンロ
ーディングする。そして、上述の動作を繰返し、次の液
晶ディスプレイの検査を行なう。
【００１５】なお、図１に示した実施例では、液晶ディ
スプレイ３として反射式のものを用いたが、これに限る
ことなく透過式のものであってもよい。その場合には、
テーブル１の下側に光源を設け、光源から液晶ディスプ
レイ３に光を照射するようにすればよい。
スプレイ３として反射式のものを用いたが、これに限る
ことなく透過式のものであってもよい。その場合には、
テーブル１の下側に光源を設け、光源から液晶ディスプ
レイ３に光を照射するようにすればよい。
【００１６】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、液晶
ディスプレイの１画素を複数回取込み、その複数回の読
取データを演算し、標準データと比較することにより液
晶ディスプレイ上の画素の点滅の欠陥を確実に検出する
ことができる。
ディスプレイの１画素を複数回取込み、その複数回の読
取データを演算し、標準データと比較することにより液
晶ディスプレイ上の画素の点滅の欠陥を確実に検出する
ことができる。
【図１】この発明の一実施例の概略ブロック図である。
【図２】この発明の一実施例の動作を説明するためのフ
ロー図である。
ロー図である。
【図３】点滅画素の取込タイミングによる画素データの
変化を示す図である。
変化を示す図である。
１ テーブル ２ 可動ステージ ３ 液晶ディスプレイ ４ ＣＣＤユニット ５ パーソナルコンピュータ ６ ＣＣＤ制御回路 ７ ＣＣＤ駆動回路 ８ パルス発生器 ９ テーブル位置決めユニット １０ パターンジェネレータ １１ 液晶ディスプレイ駆動回路
Claims (1)
- 【請求項１】 液晶ディスプレイの欠陥を検査するため
の光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置であって、 前記液晶ディスプレイを一方方向に移動させるための可
動ステージ、 前記液晶ディスプレイの検査のためのパターンを表示さ
せる表示制御手段、 前記可動ステージの上方から前記液晶ディスプレイの表
示パターンを読取るイメージセンサ、および前記イメー
ジセンサでの表示パターンの読取を前記液晶ディスプレ
イの１画素について複数回行ない、その複数回のデータ
より前記液晶ディスプレイの欠陥を判別する判別手段を
備えた、光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3344764A JPH0797086B2 (ja) | 1991-12-26 | 1991-12-26 | 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3344764A JPH0797086B2 (ja) | 1991-12-26 | 1991-12-26 | 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06138052A true JPH06138052A (ja) | 1994-05-20 |
| JPH0797086B2 JPH0797086B2 (ja) | 1995-10-18 |
Family
ID=18371801
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3344764A Expired - Lifetime JPH0797086B2 (ja) | 1991-12-26 | 1991-12-26 | 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0797086B2 (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63182696A (ja) * | 1987-01-23 | 1988-07-27 | 松下電器産業株式会社 | 液晶表示装置の欠陥検出方法 |
| JPS63246795A (ja) * | 1987-04-01 | 1988-10-13 | 日本電信電話株式会社 | 表示試験装置 |
-
1991
- 1991-12-26 JP JP3344764A patent/JPH0797086B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63182696A (ja) * | 1987-01-23 | 1988-07-27 | 松下電器産業株式会社 | 液晶表示装置の欠陥検出方法 |
| JPS63246795A (ja) * | 1987-04-01 | 1988-10-13 | 日本電信電話株式会社 | 表示試験装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0797086B2 (ja) | 1995-10-18 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6958619B2 (en) | Inspecting apparatus and inspecting method for circuit board | |
| US6842026B2 (en) | Inspecting apparatus and inspecting method for circuit board | |
| JP3163909B2 (ja) | 安全試験の自動化装置 | |
| JP3887660B2 (ja) | 液晶表示装置の検査システム及び検査方法 | |
| US6850087B2 (en) | Method of testing liquid crystal display cells and apparatus for the same | |
| JPH06138052A (ja) | 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置 | |
| JPH09203765A (ja) | ビジュアル併用型基板検査装置 | |
| JP5145768B2 (ja) | ディスプレイ試験装置 | |
| KR20070101669A (ko) | 마운팅 플레이트 어셈블리의 비전 검사장치 및 검사방법 | |
| JPH05172760A (ja) | 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置 | |
| JP3270336B2 (ja) | 液晶ディスプレイの画質検査装置及びその検査方法 | |
| JPH0611455A (ja) | 光学式液晶カラーディスプレイ欠陥検査装置 | |
| CN118914237B (zh) | 一种用于车灯瑕疵检测的自动化系统及检测方法 | |
| JPH0483107A (ja) | 配線パターン検査装置 | |
| JPH04244931A (ja) | 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置 | |
| JP2004045052A (ja) | 画像データ検査装置および画像データ検査方法 | |
| JPH05172759A (ja) | 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置 | |
| JP2000214423A (ja) | 液晶表示装置の検査方法および検査装置 | |
| JPH06138051A (ja) | 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置 | |
| JP2793518B2 (ja) | 表示装置の検査装置 | |
| JPH04244932A (ja) | 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置 | |
| JPH04244929A (ja) | 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置 | |
| JP2842486B2 (ja) | 透明モールドｉｃ検査装置 | |
| JP3053653B2 (ja) | 光学式液晶ディスプレイ欠陥検査装置 | |
| JPS6122254B2 (ja) |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19960402 |