JPH06148491A - 光走査系における光軸微調整装置 - Google Patents

光走査系における光軸微調整装置

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JPH06148491A
JPH06148491A JP31556192A JP31556192A JPH06148491A JP H06148491 A JPH06148491 A JP H06148491A JP 31556192 A JP31556192 A JP 31556192A JP 31556192 A JP31556192 A JP 31556192A JP H06148491 A JPH06148491 A JP H06148491A
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JP
Japan
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optical
scanning
light
fine adjustment
adjustment device
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Application number
JP31556192A
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English (en)
Inventor
Hideki Wakai
秀樹 若井
Hiroshi Inahata
弘 稲畑
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Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
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Publication date
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Publication of JPH06148491A publication Critical patent/JPH06148491A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B41/00—After-treatment of mortars, concrete, artificial stone or ceramics; Treatment of natural stone
    • C04B41/45—Coating or impregnating, e.g. injection in masonry, partial coating of green or fired ceramics, organic coating compositions for adhering together two concrete elements
    • C04B41/52—Multiple coating or impregnating multiple coating or impregnating with the same composition or with compositions only differing in the concentration of the constituents, is classified as single coating or impregnation

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Structural Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Mounting And Adjusting Of Optical Elements (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 走査同期光の経路を正確にかつ容易に微調整
できる光走査系における光軸微調整装置を提供する。 【構成】 画像信号の出力のタイミングを検出するため
の走査同期光の光路を有する光走査系において、前記走
査同期光の通過領域が周辺の空間と異なる屈折率を有
し、かつ、前記走査同期光に対する入射面と射出面とを
備えた光学部材を備え、前記光学部材が走査平面に対し
垂直な軸上において回動可能に配置されている光軸微調
整装置。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、画像信号の出力のタ
イミングを検出するための走査同期光の光路を有する光
走査系に関するものである。
【0002】
【従来の技術】例えばレーザプリンタのパターン発生部
は、光走査系(光学ユニット)を備えている。光走査系
では画像信号の出力タイミングを調整するために走査同
期光が用いられている。走査同期光は光源から画像信号
に先だって発射され、SOS同期信号用のセンサに検出
される。走査同期光は通常その経路上に配置された小型
の反射鏡を経てセンサに検出される構成になっている。
【0003】光源及び反射鏡の取付け角度に誤差があっ
たり、あるいは、両者の位置関係に誤差が生じている場
合には、走査同期光の経路にずれが生じ、同期光はセン
サに正しく検出されなくなってしまう。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】一般にレーザプリンタ
においては、走査同期光が前記センサに入射してから実
際の印字情報が送られるまでの時間間隔は回路系によっ
て所定の値に定められている。
【0005】走査同期光がセンサに正しく入射せず、そ
の結果、走査同期光の検出時間に見かけ上のずれが生じ
た場合には、紙面上で印字開始位置がずれてしまう。そ
して最悪の場合には紙面外に印字が行われる恐れもあ
る。
【0006】従来、このような走査同期光の経路のずれ
は、装置内に固定されている反射鏡の取付け角を調整す
ることによって修正していた。この方法では、反射鏡の
取付け精度を高めかつ取付け角の調整を念入りに行うこ
とによって、ある程度の精度を得ることはできる。しか
し、反射鏡の取付け角が僅かにずれただけでもセンサ位
置での光路が大きく変化してしまうので、同期光の経路
を正確に微調整することは困難であった。
【0007】以上のような従来技術の問題点に鑑み、本
発明は、走査同期光の光路をきわめて正確にかつ容易に
微調整することが可能な光軸微調整装置を提供すること
を目的としている。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明は、画像信号の
出力のタイミングを検出するための走査同期光の光路を
有する光走査系において、前記走査同期光の通過領域が
周辺の空間と異なる屈折率を有し、かつ、前記走査同期
光に対する入射面と射出面とを備えた光学部材を備え、
前記光学部材が走査平面に対し垂直な軸上において回動
可能に配置されていることを特徴とする光軸微調整装置
を要旨としている。
【0009】
【実施例】以下、図面を参照して、本発明の実施例を説
明する。
【0010】図1は本発明の光軸微調整装置を備えたレ
ーザプリンタを概念的に示す平面図である。
【0011】レーザプリンタ1は、光走査系3及び光走
査系3により生じた走査光束により走査される感光体4
を備えており、光走査系3には、光源5、回転多面鏡
6、結像光学系12、同期手段2などが設けられてい
る。
【0012】光源5としては例えば半導体レーザ5を用
いることができる。光源5からは回転多面鏡6の偏向面
に向けてレーザ光が発射される。レーザ光によって走査
同期信号及び画像信号が送られる。
【0013】本実施例では回転多面鏡6は6つの偏向面
を有している。回転多面鏡6は例えば毎分3000〜3
0000回転程度の高速で回転し、レーザ光を直線的に
走査する。
【0014】回転多面鏡6と感光体4の間には、結像光
学系12が配置されている。結像光学系12は第1レン
ズ7と第2レンズ8から構成されている。第1レンズ7
はfθ特性を有する走査レンズ(fθレンズ)であり、
第2レンズ8はシリンドリカルレンズである。
【0015】光走査系3の有効走査域外には、同期光検
出光学系2が配置されている。同期光検出部2は反射鏡
9、光学素子10、同期光検出センサ11で構成されて
いる。
【0016】光源5から出た同期光は回転多面鏡6の1
つの偏向面で反射され、反射鏡9及び光学素子10を経
て同期光検出センサ11に入射し検出される。光学素子
10は反射鏡9とセンサ11の間に配置され、走査方向
Xまたは走査面に垂直な軸の回りに回転移動可能であ
る。光学素子10の回転軸は図1〜3では紙面に垂直で
ある。
【0017】光学素子10は、周辺の空間と異なる屈折
率を有していて、走査同期光に対する入射面と射出面を
備えている。光学素子10の形状は図示例では平行平板
であるが、その他の形状にしてもよい。本実施例では、
光学素子10が光軸微調整装置を構成している。
【0018】光源1から出たレーザ光Lは回転多面鏡6
の1つの偏向面に導かれる。その反射面で反射されたレ
ーザ光は結像光学系12を通り、回転多面鏡6の回転に
ともなって、図1に示すように感光体4上を走査する。
感光体4は感光ドラムであって、レーザ光はその感光面
13に結像される。光軸微調整装置によって走査同期光
の経路を正しく調整することによって同期を正確に行う
ことができ、従って紙面上の所定位置に正しく印字を行
うことができる。
【0019】次に、図2及び図3を参照して光軸の微調
整方法について説明する。
【0020】まず、図2を参照する。反射鏡9が矢印B
のように回転し、その結果、光路に誤差が生じると、入
射したレーザ光LがL2 やL3 のように反射し、そのま
まではセンサ11に正しく検出されなくなる。そこで反
射光がL2 のようにずれた場合には、光学素子10を二
点鎖線のように回転移動する。そして光学素子10を通
過したレーザ光がL′2 の経路を通ってセンサ11に正
しく検出されるようにするのである。また、反射光がL
3 のようにずれた場合には、光学素子10を一点鎖線の
ように回転させ、レーザ光がL′3 の経路を通ってセン
サ11に入射するように調整する。いずれの場合にも、
光学素子10を矢印Dのように回転移動させてレーザ光
の経路を調整することができる。
【0021】次に、図3を参照する。反射鏡9が矢印C
のように平行移動し、その結果、誤差が生じた場合に
も、反射光がセンサ11に正しく検出されなくなる。そ
こで、光学素子10を矢印Eのように回転移動させ、反
射光がL2 のようにずれた場合には光学素子10を二点
鎖線の位置に動かし、また反射光がL3 のようにずれた
場合には光学素子10を一点鎖線の位置に動かす。この
ようにすることによって、レーザ光が経路L′を通って
センサ11に正しく検出されるようにする。
【0022】図2と図3のいずれの場合にも、光学素子
10の角度を比較的大きく動かして、レーザ光の経路を
微調整することができる。従って、光軸調整を高精度で
しかもきわめて容易に行うことができる。なお、実際の
光路のずれは一般に図2と図3のずれの両方を含むと考
えられるが、このような複合的なずれも同様に光学素子
10の回転移動によって修正できる。
【0023】なお、図4に示すように平行平板の厚みを
t、屈折率をn、レーザ光の入射角をi、透過レーザ光
のずれ幅をdとすると、ずれ幅dの値は次の計算式で求
めることができる。
【0024】 t〔tan(i)−tan{sin-1(sini/n)}〕
【0025】
【発明の効果】この発明によれば、光学素子を回転移動
させることによって、走査同期光の光軸を正確にしかも
容易に微調整することができる。
【0026】なお、本発明は前述の実施例に限定されな
い。例えば回動可能な第二の光学素子を第一の光学素子
の上流又は下流に設けてもよい。ただし、両者の回転軸
は互いに直交するように配置するのが好ましい。この場
合には、第二の光学素子を回動させることによって、同
期光の他方向へのずれ、すなわち図1で紙面に直交する
方向のずれも微調整することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による光軸微調整装置を備えたレーザプ
リンタを概念的に示す図。
【図2】光軸調整方法を示す説明図。
【図3】光軸調整方法を示す説明図。
【図4】光軸のずれを説明するための図。
【符号の説明】
1 レーザプリンタ 2 同期光検出光学系 3 光走査系 4 感光体 5 光源 6 回転多面鏡 7 第1レンズ 8 第2レンズ 9 反射鏡 10 光学素子 11 同期光検出センサ 12 結像光学系 13 感光面 ◆

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 画像信号の出力のタイミングを検出する
    ための走査同期光の光路を有する光走査系において、前
    記走査同期光の通過領域が周辺の空間と異なる屈折率を
    有し、かつ、前記走査同期光に対する入射面と射出面と
    を備えた光学部材を備え、前記光学部材が走査平面に対
    し垂直な軸上において回動可能に配置されていることを
    特徴とする光軸微調整装置。
JP31556192A 1992-11-02 1992-11-02 光走査系における光軸微調整装置 Pending JPH06148491A (ja)

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JP31556192A JPH06148491A (ja) 1992-11-02 1992-11-02 光走査系における光軸微調整装置

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JP31556192A JPH06148491A (ja) 1992-11-02 1992-11-02 光走査系における光軸微調整装置

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JPH06148491A true JPH06148491A (ja) 1994-05-27

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ID=18066832

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JP31556192A Pending JPH06148491A (ja) 1992-11-02 1992-11-02 光走査系における光軸微調整装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6768568B2 (en) 1998-03-19 2004-07-27 Pentax Corporation Scanner having a light beam incident position adjusting device

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6768568B2 (en) 1998-03-19 2004-07-27 Pentax Corporation Scanner having a light beam incident position adjusting device
US6825962B2 (en) 1998-03-19 2004-11-30 Pentax Corporation Scanner having a light beam incident position adjusting device
US6850348B2 (en) 1998-03-19 2005-02-01 Pentax Corporation Scanner having a light beam incident position adjusting device
US7158269B2 (en) 1998-03-19 2007-01-02 Pentax Corporation Scanner having a light beam incident position adjusting device

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