JPH06201662A - 探傷信号判別装置 - Google Patents
探傷信号判別装置Info
- Publication number
- JPH06201662A JPH06201662A JP4359878A JP35987892A JPH06201662A JP H06201662 A JPH06201662 A JP H06201662A JP 4359878 A JP4359878 A JP 4359878A JP 35987892 A JP35987892 A JP 35987892A JP H06201662 A JPH06201662 A JP H06201662A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- flaw
- signal
- marker
- inspected
- flaw detector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 雑音に災されずに傷信号の判定レベルを引下
げて小さな有害傷を見落さないようにする。 【構成】 被検査材の１の進路に沿って探傷機３、４、
５及びマーカー６を順に配列し、各探傷機で得た傷信号
をそれぞれ遅延装置１３、１４、１５によって遅延さ
せ、同じ傷に起因して各探傷機が得た傷信号が同時刻に
各遅延装置から出力されるように遅延装置１３、１４、
１５の遅延時間を選び、遅延装置１３、１４、１５の出
力の２以上の論理積に基いてマーカー６を制御した。
げて小さな有害傷を見落さないようにする。 【構成】 被検査材の１の進路に沿って探傷機３、４、
５及びマーカー６を順に配列し、各探傷機で得た傷信号
をそれぞれ遅延装置１３、１４、１５によって遅延さ
せ、同じ傷に起因して各探傷機が得た傷信号が同時刻に
各遅延装置から出力されるように遅延装置１３、１４、
１５の遅延時間を選び、遅延装置１３、１４、１５の出
力の２以上の論理積に基いてマーカー６を制御した。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、探傷機の検査結果に
基いて被検査材に傷の位置を示すマーキングを施す装置
に関する。
基いて被検査材に傷の位置を示すマーキングを施す装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、材料を探傷機によって検査し、検
査結果に基いて材料に傷の位置を示すマーキングを施こ
すことが行われている。そのために、探傷機に後続して
マーカーを配置し、被検査材が探傷位置からマーキング
位置へ移動するに要する時間だけ探傷信号を遅延させ、
これによってマーカーを制御していた。そして、複数種
類の探傷機を継続的に配置し、異なる検査を実施する場
合にも、各探傷機は相互に関連なく上述のようなマーキ
ングを行っていた。
査結果に基いて材料に傷の位置を示すマーキングを施こ
すことが行われている。そのために、探傷機に後続して
マーカーを配置し、被検査材が探傷位置からマーキング
位置へ移動するに要する時間だけ探傷信号を遅延させ、
これによってマーカーを制御していた。そして、複数種
類の探傷機を継続的に配置し、異なる検査を実施する場
合にも、各探傷機は相互に関連なく上述のようなマーキ
ングを行っていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】探傷機によって検出さ
れる傷信号の波高は、傷の形態が多様なために一定せ
ず、判定レベルに達しない傷でも有害な場合があり、そ
れらが見逃されることがある。これを防ぐには、材料の
表面状態を改善し、探傷機に入る材料の位置や姿勢を高
度に管理し、信号中の雑音を極力減らした上で、判定レ
ベルを低く設定することが必要になるが、そのためには
多額の経費がかかると共に虚報率を高めることにもな
る。この発明は、上述のような多額の経費を要する装置
を採用することなく、信頼性の高い探傷結果を得ること
を目的とするものである。
れる傷信号の波高は、傷の形態が多様なために一定せ
ず、判定レベルに達しない傷でも有害な場合があり、そ
れらが見逃されることがある。これを防ぐには、材料の
表面状態を改善し、探傷機に入る材料の位置や姿勢を高
度に管理し、信号中の雑音を極力減らした上で、判定レ
ベルを低く設定することが必要になるが、そのためには
多額の経費がかかると共に虚報率を高めることにもな
る。この発明は、上述のような多額の経費を要する装置
を採用することなく、信頼性の高い探傷結果を得ること
を目的とするものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】この発明においては、被
検査材の進路に沿って複数種類の探傷機が順に配列さ
れ、最後にマーカーが置かれている。各探傷機には、上
記被検査材がそこからマーカー位置に到達するに要する
時間だけ探傷信号を遅延させる信号遅延装置が附属して
いる。上記マーカーには、上記各信号遅延装置の遅延出
力の複数のものの論理積が供給され、これに基いて上記
マーカーは作動するよう構成されている。上記信号遅延
装置としては、電算機のメモリを利用することも可能で
ある。
検査材の進路に沿って複数種類の探傷機が順に配列さ
れ、最後にマーカーが置かれている。各探傷機には、上
記被検査材がそこからマーカー位置に到達するに要する
時間だけ探傷信号を遅延させる信号遅延装置が附属して
いる。上記マーカーには、上記各信号遅延装置の遅延出
力の複数のものの論理積が供給され、これに基いて上記
マーカーは作動するよう構成されている。上記信号遅延
装置としては、電算機のメモリを利用することも可能で
ある。
【０００５】
【作用】上述の装置においては、被検査材の各探傷機に
よる探傷信号は、各信号遅延装置によって遅延時間が調
整される結果、各探傷機による同じ部位の探傷信号が同
時に各信号遅延装置から出力され、その時点で上記部位
はマーカー位置に到達している。そして、マーカーは複
数の信号遅延装置の出力の論理積によって作動させられ
る。
よる探傷信号は、各信号遅延装置によって遅延時間が調
整される結果、各探傷機による同じ部位の探傷信号が同
時に各信号遅延装置から出力され、その時点で上記部位
はマーカー位置に到達している。そして、マーカーは複
数の信号遅延装置の出力の論理積によって作動させられ
る。
【０００６】被検査材から得られる傷信号や疑似傷信号
は、探傷機の種類によって感度が異なる。そして、有害
な傷の場合は、何れの種類の探傷機で探傷した場合に
も、或る程度のレベルの傷信号が現われる。従って、上
述のようにして同一部位から異なる種類の探傷機によっ
て得た探傷信号の論理積を得れば、判定レベルを引下げ
ても軽度の傷の信号や疑似傷信号が有害な傷と誤判別さ
れる危険が少なくなり、多額の経費をかけないでも有害
傷を見逃がす事態を少くすることができる。
は、探傷機の種類によって感度が異なる。そして、有害
な傷の場合は、何れの種類の探傷機で探傷した場合に
も、或る程度のレベルの傷信号が現われる。従って、上
述のようにして同一部位から異なる種類の探傷機によっ
て得た探傷信号の論理積を得れば、判定レベルを引下げ
ても軽度の傷の信号や疑似傷信号が有害な傷と誤判別さ
れる危険が少なくなり、多額の経費をかけないでも有害
傷を見逃がす事態を少くすることができる。
【０００７】
【実施例】図１において、被検査材１は経路２上を進行
し、経路２に沿って例えば超音波探傷機、漏洩磁気探傷
機、渦流探傷機などの異なる種類の探傷機３、４、５が
順に配列され、更にその後続位置にマーカー６が設けら
れている。また、各探傷機にそれぞれ接近して、被検査
材１の進行速度に応じた周期のクロック信号を生ずる発
信器７、８、９が設けられている。
し、経路２に沿って例えば超音波探傷機、漏洩磁気探傷
機、渦流探傷機などの異なる種類の探傷機３、４、５が
順に配列され、更にその後続位置にマーカー６が設けら
れている。また、各探傷機にそれぞれ接近して、被検査
材１の進行速度に応じた周期のクロック信号を生ずる発
信器７、８、９が設けられている。
【０００８】各探傷機３、４、５の探傷信号は、それぞ
れ波高判定回路１０、１１、１２、において設定レベル
を越える部分が取出され、シフトレジスタ１３、１４、
１５に入力されており、これらシフトレジスタはそれぞ
れ発信器７、８、９が発するクロック信号によって駆動
されている。各シフトレジスタの遅延時間は、探傷機
３、４、５によって検出された傷１６による傷信号が、
傷１３がマーカー６に位置に到達した瞬間に一斉に出力
されるように選ばれている。
れ波高判定回路１０、１１、１２、において設定レベル
を越える部分が取出され、シフトレジスタ１３、１４、
１５に入力されており、これらシフトレジスタはそれぞ
れ発信器７、８、９が発するクロック信号によって駆動
されている。各シフトレジスタの遅延時間は、探傷機
３、４、５によって検出された傷１６による傷信号が、
傷１３がマーカー６に位置に到達した瞬間に一斉に出力
されるように選ばれている。
【０００９】そして、シフトレジスタ１３の出力はアン
ドゲート１７、１８、１９に、シフトレジスタ１４の出
力はアンドゲート１７、１９、２０に、シフトレジスタ
１５の出力はアンドゲート１７、１８、２０にそれぞれ
与えられ、これらアンドゲート１７、１８、１９、２０
の出力はオアゲート２１で綜合されてマーカー６に供給
されている。マーカー６はオアゲート２１から信号が与
えられた瞬間に、ノズル２２よりペイントを噴射して被
検査材１に傷１６の位置にマーキングを行なう。
ドゲート１７、１８、１９に、シフトレジスタ１４の出
力はアンドゲート１７、１９、２０に、シフトレジスタ
１５の出力はアンドゲート１７、１８、２０にそれぞれ
与えられ、これらアンドゲート１７、１８、１９、２０
の出力はオアゲート２１で綜合されてマーカー６に供給
されている。マーカー６はオアゲート２１から信号が与
えられた瞬間に、ノズル２２よりペイントを噴射して被
検査材１に傷１６の位置にマーキングを行なう。
【００１０】上述の装置においては、アンドゲート１
７、１８、１９、２０は傷１６によって得られた傷信号
の２種類以上を互に参照し合って、２種類以上に波高判
定回路１０〜１２の判定レベルを越えた傷信号が同時に
存在していた場合に、作動信号を作ってマーカー６に供
給し、マーキング動作を行なわせる。
７、１８、１９、２０は傷１６によって得られた傷信号
の２種類以上を互に参照し合って、２種類以上に波高判
定回路１０〜１２の判定レベルを越えた傷信号が同時に
存在していた場合に、作動信号を作ってマーカー６に供
給し、マーキング動作を行なわせる。
【００１１】ここで、波高判定回路１０、１１、１２に
おける判定レベルを引下げると、微細な有害傷に基く傷
信号を拾い出せるようになるが、その反面に雑音から多
くの疑似傷信号も拾い出すことになる。しかし、傷信号
は複数の探傷機が同じ位置で検出するのに対し、疑似傷
信号は不規則に発生するから、アンドゲート１７、１
８、１９、２０によってふるい落すことができる。な
お、探傷機の種類が違うと、傷信号や雑音の現われ方も
違うので、各波高判定回路１０、１１、１２における判
定レベルは個別に調節される。更に、探傷機だけでな
く、直径や肉厚などの寸法検査機を列べる場合にも、そ
の検査信号を探傷信号と同時処理をすることができる。
おける判定レベルを引下げると、微細な有害傷に基く傷
信号を拾い出せるようになるが、その反面に雑音から多
くの疑似傷信号も拾い出すことになる。しかし、傷信号
は複数の探傷機が同じ位置で検出するのに対し、疑似傷
信号は不規則に発生するから、アンドゲート１７、１
８、１９、２０によってふるい落すことができる。な
お、探傷機の種類が違うと、傷信号や雑音の現われ方も
違うので、各波高判定回路１０、１１、１２における判
定レベルは個別に調節される。更に、探傷機だけでな
く、直径や肉厚などの寸法検査機を列べる場合にも、そ
の検査信号を探傷信号と同時処理をすることができる。
【００１２】
【発明の効果】以上のように、この発明によるときは、
微細な有害傷を検出できるように判定レベルを引下げて
も、雑音に基く疑似傷信号は除去することができるの
で、多額の経費を要せずに信頼性の高い探傷結果を得る
ことができるのである。
微細な有害傷を検出できるように判定レベルを引下げて
も、雑音に基く疑似傷信号は除去することができるの
で、多額の経費を要せずに信頼性の高い探傷結果を得る
ことができるのである。
【図１】この発明の実施例のブロック図である。
１ 被検査材 ２ 進行経路 ３ 探傷機 ４ 同上 ５ 同上 ６ マーカー ７ クロック信号発信器 ８ 同上 ９ 同上 １３ シフトレジスタ（信号遅延装置） １４ 同上 １５ 同上 １７ アンドゲート（論理積回路） １８ 同上 １９ 同上 ２０ 同上
Claims (1)
- 【請求項１】 被検査材の進路に沿って順に配列された
複数種類の探傷機及びマーカーと、各探傷機ごとに設け
られ上記被検査材料の特定部分が当該探傷機に到達して
から上記マーカーに到達するまでの所要時間だけ当該探
傷機の探傷信号を遅延させる信号遅延装置と、この信号
遅延装置の複数のものの出力の論理積に基いて上記被検
査材に傷の位置を示すマーキングを施こすための作動信
号を上記マーカーに供給する手段とよりなる探傷信号判
別装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4359878A JPH06201662A (ja) | 1992-12-29 | 1992-12-29 | 探傷信号判別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4359878A JPH06201662A (ja) | 1992-12-29 | 1992-12-29 | 探傷信号判別装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06201662A true JPH06201662A (ja) | 1994-07-22 |
Family
ID=18466766
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4359878A Pending JPH06201662A (ja) | 1992-12-29 | 1992-12-29 | 探傷信号判別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06201662A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116674300A (zh) * | 2023-05-24 | 2023-09-01 | 常州润来科技有限公司 | 一种基于铜管探伤结果的自动喷墨标记系统及方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5167180A (ja) * | 1974-12-09 | 1976-06-10 | Sumitomo Metal Ind | |
| JPS6128860A (ja) * | 1984-03-29 | 1986-02-08 | Sanyo Tokushu Seikou Kk | 回転型探傷装置 |
-
1992
- 1992-12-29 JP JP4359878A patent/JPH06201662A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5167180A (ja) * | 1974-12-09 | 1976-06-10 | Sumitomo Metal Ind | |
| JPS6128860A (ja) * | 1984-03-29 | 1986-02-08 | Sanyo Tokushu Seikou Kk | 回転型探傷装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN116674300A (zh) * | 2023-05-24 | 2023-09-01 | 常州润来科技有限公司 | 一种基于铜管探伤结果的自动喷墨标记系统及方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 19980512 |