JPH0620234B2 - 画像情報読取装置のシェーディング特性測定方法 - Google Patents

画像情報読取装置のシェーディング特性測定方法

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JPH0620234B2 JP62258059A JP25805987A JPH0620234B2 JP H0620234 B2 JPH0620234 B2 JP H0620234B2 JP 62258059 A JP62258059 A JP 62258059A JP 25805987 A JP25805987 A JP 25805987A JP H0620234 B2 JPH0620234 B2 JP H0620234B2
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、画像情報が記録されている記録媒体に光ビー
ムを走査させて上記画像情報を含む光を得、こ光を検出
して画像情報を読み取る装置におけるシェーディング特
性を測定する方法に関するものである。
(従来の技術) 画像情報が記録された記録媒体に光ビームを走査させ
て、その記録媒体からの反射光、透過光あるいは発光光
を検出することにより画像情報の読取りを行なう画像情
報読取装置が、従来より例えばコンピュータの画像入力
部、ファクシミリの画像読取部等において使用されてい
る。またこの種の画像情報読取装置の1つとして例えば
特開昭56−11397号に示されるように、人体等の
放射線画像情報が蓄積記録されている蓄積性蛍光体シー
トに励起光ビームを照射し、この励起光照射を受けたシ
ートの箇所から発せられる発光光(輝尽発光光)を検出
して、上記放射線画像情報を担う画像信号を得るように
した放射線画像情報読取装置も知られている。
上記のような画像情報読取装置においては、例えば上記
特開昭56−11397号にも示されている通り、効率
良く光検出を行なうために、光検出器を集光体に接続し
て使用することが多い。すなわち導光性材料からなる集
光体の一端を光の入射端面とする一方他端を出射端面と
し、この出射端面に光電子増倍管等の光検出器を接続
し、集光体をその入射端面が記録媒体上の光ビーム走査
線に沿って延びるように配置しておけば、各走査点から
発せられる光は上記入射端面から集光体内に入射し、効
率良く集光されて光検出器まで導かれるようになる。
ところが上述のように集光体を介して光を検出する場合
には、集光体のシェーディング(すなわち例えば集光体
端部等において導光効率が悪い部分が生じること)によ
り、光検出器の出力が変化してしまうことがある。
一方光検出器の一つとして、例えば特開昭62−166
66号に示されるように、記録媒体上の主走査ラインに
沿って延びる十分に長い受光面を有する長尺の光電子増
倍管が知られているが、このような長尺の光電子増倍管
においては、光電子増倍管長手方向に亘る受光感度ムラ
が認められる。
さらには、光ビームを走査させるガルバノメータミラー
等の光偏向器の速度変動や、光ビームを記録媒体上に導
く光学系の光反射率、光透過率のムラにより、読取光の
強度が主走査方向に亘って変動することがある。
以上述べたようなことが1つでも起きると、光検出器の
出力が光ビーム主走査位置毎に変動することになる(以
下、このことを総体的に読取装置のシェーディングと称
する)。このようなシェーディングが起きると当然なが
ら、記録媒体からの光を正しく検出することが不可能と
なる。
上述の不具合を解決するために、記録媒体からの光の読
取りに先行して光ビーム主走査方向に亘る読取装置のシ
ェーディング特性を求めておき、上記光を読み取る際
に、光検出器から得られた読取信号を、シェーディング
による光検出器の出力変動を解消するように上記シェー
ディング特性に応じて補正することが考えられている。
(発明が解決しようとする問題点) ところが以上述べたような光検出器の出力変動は、前述
した読取装置側の種々の要因の他に、例えば蓄積性蛍光
体シートからの放射線画像情報読取りにあっては、蓄積
性蛍光体シート自体の感度ムラや、放射線画像記録(撮
影)時の放射線照射ムラ等によっても生じる。このよう
な読取装置以外に係る要因は、例えば使用する蓄積性蛍
光体シートが変わる、放射線照射源が変換される、等に
よって随時変化することが多いから、このような要因ま
でも含めて前記シェーディング特性を求めるようにする
と、例えばこのシェーディング特性を求めたときの放射
線照射ムラ特性に対して、実際の放射線画像情報読取り
時の放射線照射ムラ特性がいわば正反対のものとなって
しまうようなことも起こりうる。このようなことになる
と、せっかく上述のような補正を行なってもそれが逆効
果となり、読取信号が大幅に不正なものとなってしま
う。
このようなことを考慮すると上記の補正は、画像情報読
取装置に起因するシェーディング特性のみに基づいて行
なった方が却って良い場合も多い。
そこで本発明は、画像情報読取装置のみに起因するシェ
ーディング特性を正確に測定することができる方法を提
供することを目的とするものである。
(問題点を解決するための手段) 本発明の画像情報読取装置のシェーディング特性測定方
法は、テスト用記録媒体に一様なテスト画像情報を記録
し、該記録媒体に対して光ビームを走査させて前記画像
信号を得る操作を、該記録媒体上の所定ラインが光ビー
ム主走査方向、および副走査方向に延びるように記録媒
体の向きを変えて2回行ない、 上記所定ラインが光ビーム主走査方向にあるときの光検
出器出力を対数変換して得られた信号の該所定ラインに
沿った分布A(x)、および上記所定ラインが光ビーム
副走査方向にあるときの光検出器出力を対数変換して得
られた信号の該所定ラインに沿った分布B(x)[xは
上記所定ライン上の画素位置]をそれぞれ求め、 これらの信号分布の差A(x)−B(x)から光ビーム
主走査方向に沿ったシェーディング特性を求めることを
特徴とするものである。
(作 用) 読取装置自体に起因する主走査方向シェーディング特性
をf(x)とし、先に述べたような蓄積性蛍光体シート
自体の感度ムラや、放射線画像記録(撮影)時の放射線
照射ムラ等の読取装置以外による光検出器の出力変動特
性をg(x)、前記一様なテスト画像情報による一様信
号成分をkとすると、記録媒体上の所定ラインが光ビー
ム主走査方向に延びるようしたときの該ラインに沿った
画像信号分布A(x)は、 A(x)=log{k・f(x)・g(x)} である。
一方、上記所定ラインが光ビーム副走査方向に延びるよ
うにした場合は、このラインがずっと同じ主走査位置に
あるから、該ラインに沿った画像信号B(x)は、読取
装置の主走査方向シェーディング特性のの影響を受けな
い。すなわち、 B(x)=log{k・g(x)} である。したがって A(x)−B(x) =log{k・f(x)・g(x)} −log{k・g(x)} =log f(x) となり、画像画像信号A(x)とB(x)とから、シェ
ーディング特性f(x)が求められる。
(実施例) 以下、図面に示す実施例に基づいて本発明を詳細に説明
する。
第1図は本発明方法によりシェーディング特性が測定さ
れる画像情報読取装置を示すものである。この画像情報
読取装置は一例として、本出願人が既に特開昭55−1
2429号、同56−11395号等において提案した
蓄積性螢光体シートを用いる放射線画像情報記録再生シ
ステムにおいて、上記蓄積性螢光体シートから発せられ
る輝尽発光光を読み取る放射線画像情報読取装置であ
る。放射線画像情報が蓄積記録された蓄積性螢光体シー
ト10は、エンドレスベルト等のシート搬送手段11によ
り、副走査のために矢印v方向に搬送される。またレー
ザ光源12から射出された励起光としてのレーザビーム13
は、ガルバノメータミラー等の光偏向器14によって偏向
され、蓄積性螢光体シート10を上記副走査方向vと略直
角な方向uに主走査する。こうしてレーザビーム13が照
射されたシート10の箇所からは、蓄積記録されている放
射線画像情報に応じた光量の輝尽発光光15が発散され、
この輝尽発光光15は集光体16を介して、光電子増倍管17
によって光電的に検出される。本例において光電子増倍
管17としては、蓄積性蛍光体シート10上のレーザビーム
主走査ラインに沿って延びる十分に長い光検出面を備え
た長尺の光電子増倍管が用いられている。
この光電子増倍管17の出力をログアンプ20によって対数
変換増幅して得られた信号Sは、スイッチ21、シェーデ
ィング補正回路22(これらについては後に詳述する)を
通してA/D変換器23に送られ、そこでデジタル化され
る。こうして得られたデジタルの読取画像信号Sdは画
像処理回路24において階調処理、周波数処理等の処理を
受けた後、例えばCRT、光走査記録装置等の画像再生
装置25に入力される。上記読取画像信号Sdは前記輝尽
発光光15の光量を担持するものであるから、この読取画
像信号Sdを用いれば、蓄積性螢光体シート10に蓄積記
録されていた放射線画像が上記画像再生装置25により可
視像として再出されうる。なお読取画像信号Sdは、上
述のように直ちに画像再生装置25に入力する他、例えば
磁気ディスクや磁気テープ等の記録媒体に一時記録して
おくようにしてもよい。
ここで、長尺の光電子増倍管17は、その長手方向に亘る
感度ムラを有していることが多く、また光偏向器14が速
度変動を有することも多い。そのような場合光電子増倍
管17の出力は、同じ光量の輝尽発光光15に対してもビー
ム主走査位置によって変動してしまう。このような光電
子増倍管17の出力変動は、その他例えば、輝尽発光光15
を光電子増倍管17に導く集光体が複雑な形状をしていて
導光効率にムラがある場合や、さらには光偏向器14と蓄
積性蛍光体シート10との間に長尺のレーザビーム反射ミ
ラーが設けられ、そのミラーに反射率ムラが有る場合等
にも生じる。
以下、このようなシェーディングの特性を測定し、それ
に基づいて信号Sを補正する点について説明する。先に
述べたようにして放射線画像情報の読取りを行なうのに
先立って予め、1枚のテスト用蓄積性蛍光体シート10T
が用意され、該シート10Tには所定量の放射線が一様照
射される。このテスト用蓄積性蛍光体シート10Tは第1
図の装置において、前述の放射線画像情報読取りの場合
と同様の処理にかけられる。このときテスト用蓄積性蛍
光体シート10Tはまず第2図(1)に示すように、所定ラ
インLがレーザビーム主走査方向uに延びる向きにして
読取処理にかけられる。そしてこのときの光電子増倍管
17出力をログアンプ20によって対数変換増幅して得られ
た信号Sは、スイッチ21を切り換えてシェーディング
特性測定回路26に送られる。シェーディング特性測定回
路26はこの信号Sから、上記ラインLにつての信号を
抽出し、そのラインLに沿った分布A(x)を求める。
(xはラインL上の画素位置を示す)。なおこの分布A
(x)は、上記ラインLと平行な複数のラインについて
の信号Sを抽出し、それらの平均値から求めてもよ
い。こうして求められる信号分布A(x)は例えば第3
図(1)に示すようなものとなり、この分布A(x)はシ
ェーディング特性測定回路26の内部メモリに記憶され
る。
その後テスト用蓄積性蛍光体シート10Tには、その蛍光
体の励起波長領域の光が照射される。それにより、上記
読取処理後も該シートテスト用蓄積性蛍光体シート10T
に残存していた放射線エネルギーが放出される。その後
このテスト用蓄積性蛍光体シート10Tには再度前記所定
量の放射線が一様照射され、次いで該シート10Tは上記
と同様の読取処理にかけられる。この場合テスト用蓄積
性蛍光体シート10Tは、第2図(2)に示すように、前述
の場合と向きを90゜変えて読取処理かけられる。つま
りこのときテスト用蓄積性蛍光体シート10Tは、所定ラ
インLが副走査方向vに延びる状態に配置される。この
ときのログアンプ20の出力信号Sも、スイッチ21を介
してシェーディング特性測定回路26に送られる。シェー
ディング特性測定回路26はこの信号Sから、上記ライ
ンLについての信号を抽出し、そのラインLに沿った分
布B(x)を求める。こ分布B(x)は例えば第3図
(2)に示すようなものとなる。
そしてシェーディング特性測定回路26は、先に求めて内
部メモリに記憶されていた信号Sの分布A(x)を読
み出し、上記信号Sの分布B(x)との差 C(x)=A(x)−B(x) を求める。読取装置自体に起因する主走査方向シェーデ
ィング特性をf(x)、蓄積性蛍光体自体の感度ムラ
や、放射線画像記録(撮影)時の放射線照射ムラ等の読
取装置以外に起因する光電子増倍管17の出力変動特性を
g(x)とし、前記所定量の放射線照射によりテスト用
蓄積性蛍光体シート10Tに蓄積された放射線エネルギー
による信号成分をkとすると、先に説明した通り、 A(x)=log{k・f(x)・g(x)} B(x)=log{k・g(x)} である。すなわち、第2図(1)の状態で読取りを行なう
場合は、読取装置自体に起因する主走査方向シェーディ
ング特性と、それ以外つまりテスト用蓄積性蛍光体シー
ト10Tの感度ムラや、該シート10Tへの放射線照射ムラ
等に起因する光電子増倍管17の出力変動特性の双方が重
畳して信号Sに現われるのに対し、第2図の(2)の状
態で読取りを行なう場合はラインLが常に同じ主走査位
置にあるから、読取装置自体に起因する主走査方向シェ
ーディング特性は信号Sに現われない。
したがって C(x)=A(x)−B(x)=log f(x) となる。この特性log f(x)は、メモリ27に記憶さ
れる。
前述のようにして蓄積性蛍光体シート10からの放射線画
像情報を読み取る際、シェーディング補正回路22はログ
アンプ20の出力信号Sを受けるとともに、メモリ27から
上記特性log f(x)を示す情報Dfを受け、 S(x)−log f(x) なる減算を行なう。この減算は同一の位置xについての
信号毎に行なわれる。真の放射線画像情報をR(x)と
すると、 S(x)=log{R(x)・f(x)・g(x)} であるから、 S(x)−log f(x) =logR(x)+log g(x) となる。読取装置以外に起因する光電子増倍管17の出力
変動特性g(x)が無視できる程度のものである場合、
この減算処理を行なうことにより、ほぼ真の放射線画像
情報のみを担持する信号S′が得られる。したがってこ
の信号S′に基づいて前述のように放射線画像を再生す
れば、読取装置のシェーディングの影響を受けない高品
質の放射線画像が得られる。
なお第1図中に破線で示すようにメモリ28を設け、読取
装置以外に起因する光電子増倍管17の出力変動特性g
(x)を別途測定してこのメモリ28に特性log g
(x)を記憶させておき、放射線画像情報読取り時に、
前述の特性log f(x)を示す情報とともにlog g
(x)を示す情報Dgをメモリ28から読み出し、シェー
ディング補正回路22において、 S(x)−{log f(x)+log g(x)} なる減算を行なうようにしてもよい。この場合、該減算
の結果はlog R(x)となるので、読取装置に起因す
る出力変動、特性f(x)、およびそれ以外に起因する
出力変動特性g(x)の双方の影響が排除された読取画
像信号S′が得られる。
以上、蓄積性蛍光体シートから放射線画像情報を読み取
る装置に適用された実施例について説明したが、本発明
はこの種の放射線画像情報読取装置のみならず、記録媒
体から画像情報を担って生じる反射光、透過光等を読み
取るその他の画像情報読取装置においても適用されうる
ものである。
(発明の効果) 以上詳細に説明した通り本発明のシェーディング特性測
定方法によれば、画像情報読取装置自体に起因するシェ
ーディング特性を正確に測定することが可能となり、そ
の結果このシェーディング特性を自動的に補償して、画
像情報を担った光を正しく読み取ることが可能となり、
記録媒体に記録された画像情報を正確に再生することが
可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明方法によりシェーディング特性を測定
する放射線画像情報読取装置を示す概略図、 第2図は、本発明方法において画像情報読取りにかけら
れるテスト用記録媒体の向きを説明する説明図、 第3図は、テスト用記録媒体に対する読取処理によって
得られた読取信号の分布状態例を示すグラフである。 10……蓄積性蛍光体シート 10T……テスト用蓄積性蛍光体シート 13……レーザビーム、14……光偏向器 15……輝尽発光光、16……集光体 17……光電子増倍管、20……ログアンプ 21……スイッチ 22……シェーディング補正回路 26……シェーディング特性測定回路 27、28……メモリ A(x)、B(x)……読取信号の分布特性 L……テスト用蓄積性蛍光体シート上のライン S、S、S……光電子増倍管の出力を対数変換増幅
した信号

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】画像情報が記録されている記録媒体上に光
    ビームを2次元的に走査させて前記画像情報を含む光を
    得、この光を光検出器によって光電的に検出して前記画
    像情報を担う画像信号を得る画像情報読取装置のシェー
    ディング特性を測定する方法であって、 テスト用記録媒体に一様なテスト画像情報を記録し、該
    記録媒体に対して前記光ビームを走査させて前記画像信
    号を得る操作を、該記録媒体上の所定ラインが光ビーム
    主走査方向、および副走査方向に延びるように記録媒体
    の向きを変えて2回行ない、 上記所定ラインが光ビーム主走査方向にあるときの光検
    出器出力を対数変換して得られた信号の前記所定ライン
    に沿った分布A(x)、および上記所定ラインが光ビー
    ム副走査方向にあるときの光検出器出力を対数変換して
    得られた信号の該所定ラインに沿った分布B(x)[x
    は上記所定ライン上の画素位置]をそれぞれ求め、 これらの信号分布の差A(x)−B(x)から前記画像
    情報読取装置の光ビーム主走査方向に沿ったシェーディ
    ング特性を求めることを特徴とする画像情報読取装置の
    シェーディング特性測定方法。
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