JPH0623977Y2 - プローブカード - Google Patents
プローブカードInfo
- Publication number
- JPH0623977Y2 JPH0623977Y2 JP20128387U JP20128387U JPH0623977Y2 JP H0623977 Y2 JPH0623977 Y2 JP H0623977Y2 JP 20128387 U JP20128387 U JP 20128387U JP 20128387 U JP20128387 U JP 20128387U JP H0623977 Y2 JPH0623977 Y2 JP H0623977Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe
- movable plate
- substrate
- card
- stylus
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20128387U JPH0623977Y2 (ja) | 1987-12-29 | 1987-12-29 | プローブカード |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20128387U JPH0623977Y2 (ja) | 1987-12-29 | 1987-12-29 | プローブカード |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01104571U JPH01104571U (cs) | 1989-07-14 |
| JPH0623977Y2 true JPH0623977Y2 (ja) | 1994-06-22 |
Family
ID=31491653
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20128387U Expired - Lifetime JPH0623977Y2 (ja) | 1987-12-29 | 1987-12-29 | プローブカード |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0623977Y2 (cs) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2571516B2 (ja) * | 1993-05-20 | 1997-01-16 | フレッシュクエストコーポレーション | プローブカード |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5138224B2 (ja) | 2003-11-17 | 2013-02-06 | ロケット・フルーレ | 水性フィルム形成性組成物の調製のための、少なくとも1つの安定化剤を含む、少なくとも1つの生分解性ポリマーの水性分散物の使用 |
-
1987
- 1987-12-29 JP JP20128387U patent/JPH0623977Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5138224B2 (ja) | 2003-11-17 | 2013-02-06 | ロケット・フルーレ | 水性フィルム形成性組成物の調製のための、少なくとも1つの安定化剤を含む、少なくとも1つの生分解性ポリマーの水性分散物の使用 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01104571U (cs) | 1989-07-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6586956B2 (en) | Probe contract system having planarity adjustment mechanism | |
| JPH02224259A (ja) | 集積回路用プローブカードを検査する方法及び装置 | |
| US6937039B2 (en) | Tip and tip assembly for a signal probe | |
| US3537000A (en) | Electrical probe including pivotable contact elements | |
| JP3738800B2 (ja) | 高さ測定装置及びその使用方法 | |
| US6285180B1 (en) | Probe adapter and holder | |
| US4055805A (en) | Multi-point test probe | |
| JP3839594B2 (ja) | 壜開口部の測定装置 | |
| JPH01128535A (ja) | 半導体素子測定用プローブ | |
| JPH0690221B2 (ja) | 電子部品の検査のためのプローブ | |
| JPH0645259Y2 (ja) | プローブカード | |
| JPS6236139Y2 (cs) | ||
| JPH0338833Y2 (cs) | ||
| JPH082617Y2 (ja) | プローブ構造 | |
| JP2531042Y2 (ja) | プローブヘッド | |
| JP3005496U (ja) | 電気特性検査用プローブ | |
| JPS5819487Y2 (ja) | プロ−ブ接触機構 | |
| JPH0622218Y2 (ja) | 半導体用プローブヘッド | |
| JP2531043Y2 (ja) | プローブヘッドの先端構造 | |
| JP2520823B2 (ja) | 半導体ウエハ―測定方法 | |
| JPH04127581U (ja) | ポゴピン | |
| JP2533430Y2 (ja) | Icウエーハ試験用プローブカード | |
| JP2584020Y2 (ja) | プローブユニット | |
| JPH0612543Y2 (ja) | 回路パターンの接触センサ | |
| JPH06140482A (ja) | プローブ装置 |