JPH06259731A - 磁気抵抗効果型磁気ヘッド - Google Patents
磁気抵抗効果型磁気ヘッドInfo
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- JPH06259731A JPH06259731A JP32932193A JP32932193A JPH06259731A JP H06259731 A JPH06259731 A JP H06259731A JP 32932193 A JP32932193 A JP 32932193A JP 32932193 A JP32932193 A JP 32932193A JP H06259731 A JPH06259731 A JP H06259731A
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- magnetic
- head
- magnetic shield
- shield core
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 MR感磁部の磁区構造の乱れを防止してバル
クハウゼンノイズの発生を抑制し、再生出力の向上を図
る。 【構成】 磁気記録媒体との対接面であるABS面1に
臨んで再生用磁気ギャップg1 ,g2 を構成する磁気抵
抗効果型磁気ヘッドが磁気シールドコア8上に形成され
てなり、上記磁気シールドコア8の表面粗度が中心線平
均粗さRaで1nm以下である。
クハウゼンノイズの発生を抑制し、再生出力の向上を図
る。 【構成】 磁気記録媒体との対接面であるABS面1に
臨んで再生用磁気ギャップg1 ,g2 を構成する磁気抵
抗効果型磁気ヘッドが磁気シールドコア8上に形成され
てなり、上記磁気シールドコア8の表面粗度が中心線平
均粗さRaで1nm以下である。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばハードディスク
に対して記録再生するのに好適な磁気抵抗効果型磁気ヘ
ッドに関する。
に対して記録再生するのに好適な磁気抵抗効果型磁気ヘ
ッドに関する。
【0002】
【従来の技術】例えば、ハードディスク・ドライブ装置
等に搭載される再生専用の磁気ヘッドとしては、短波長
感度に優れることから磁気抵抗効果型磁気ヘッド(以
下、MRヘッドと称する。)が一般的に使用されてい
る。
等に搭載される再生専用の磁気ヘッドとしては、短波長
感度に優れることから磁気抵抗効果型磁気ヘッド(以
下、MRヘッドと称する。)が一般的に使用されてい
る。
【0003】上記MRヘッドは、例えば先端部と後端部
にそれぞれ電極を積層した磁気抵抗効果薄膜よりなる磁
気抵抗効果感磁部(以下、MR感磁部と称する。)と、
このMR感磁部に所要の向きの磁化状態を与えるバイア
ス導体とを有して構成されている。
にそれぞれ電極を積層した磁気抵抗効果薄膜よりなる磁
気抵抗効果感磁部(以下、MR感磁部と称する。)と、
このMR感磁部に所要の向きの磁化状態を与えるバイア
ス導体とを有して構成されている。
【0004】かかるMRヘッドは、例えばAl2 O3 −
TiC等よりなるスライダと称される基板上に、所定間
隔を持って相対向して積層配置された一対の磁気シール
ドコア間に設けられ、再生用磁気ギャップをハードディ
スクとの対接面,すなわちABS(エア・ベアリング・
サーフェス)面に臨むようにして設けられている。
TiC等よりなるスライダと称される基板上に、所定間
隔を持って相対向して積層配置された一対の磁気シール
ドコア間に設けられ、再生用磁気ギャップをハードディ
スクとの対接面,すなわちABS(エア・ベアリング・
サーフェス)面に臨むようにして設けられている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、MR感磁部
は、その膜厚が20nm〜50nmと非常に薄いため
に、下地の影響を受けやすい。通常MR感磁部の下地
は、下層再生ギャップとして機能するAl2 O3 やSi
O2 等よりなる絶縁膜が使用され、その面粗度は膜厚が
0.1μm〜0.5μm程度と薄いこともあって中心線
平均粗さRaで0.1nm程度とされている。
は、その膜厚が20nm〜50nmと非常に薄いため
に、下地の影響を受けやすい。通常MR感磁部の下地
は、下層再生ギャップとして機能するAl2 O3 やSi
O2 等よりなる絶縁膜が使用され、その面粗度は膜厚が
0.1μm〜0.5μm程度と薄いこともあって中心線
平均粗さRaで0.1nm程度とされている。
【0006】ところが、上記絶縁膜を介してMR感磁部
を形成する土台となる下層磁気シールドコアの表面粗度
が厳密に管理されていない。例えば、その下層磁気シー
ルドコアの表面粗度は中心線平均粗さRaで2nm〜3
nm程度ある。このため、下層磁気シールドコア上に絶
縁膜を介してMR感磁部を蒸着やスパッタリング等によ
って成膜した場合には、MR感磁部の磁区構造が乱れ、
バルクハウゼンノイズが発生するという不都合が生ず
る。この結果、再生出力が低下し、正確な情報記録信号
の読出しが行えなくなる。
を形成する土台となる下層磁気シールドコアの表面粗度
が厳密に管理されていない。例えば、その下層磁気シー
ルドコアの表面粗度は中心線平均粗さRaで2nm〜3
nm程度ある。このため、下層磁気シールドコア上に絶
縁膜を介してMR感磁部を蒸着やスパッタリング等によ
って成膜した場合には、MR感磁部の磁区構造が乱れ、
バルクハウゼンノイズが発生するという不都合が生ず
る。この結果、再生出力が低下し、正確な情報記録信号
の読出しが行えなくなる。
【0007】そこで本発明は、かかる実情に鑑みて提案
されたものであり、MR感磁部の磁区構造の乱れを防止
してバルクハウゼンノイズの発生を抑制し、再生出力の
高い磁気抵抗効果型磁気ヘッドを提供することを目的と
する。
されたものであり、MR感磁部の磁区構造の乱れを防止
してバルクハウゼンノイズの発生を抑制し、再生出力の
高い磁気抵抗効果型磁気ヘッドを提供することを目的と
する。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述の目的を
達成するために提案されたものであり、磁気記録媒体と
の対接面に臨んで再生用磁気ギャップを構成する磁気抵
抗効果型磁気ヘッドが磁気シールドコア上に形成されて
なり、上記磁気シールドコアの表面粗度が中心線平均粗
さRaで1nm以下であることを特徴とする。
達成するために提案されたものであり、磁気記録媒体と
の対接面に臨んで再生用磁気ギャップを構成する磁気抵
抗効果型磁気ヘッドが磁気シールドコア上に形成されて
なり、上記磁気シールドコアの表面粗度が中心線平均粗
さRaで1nm以下であることを特徴とする。
【0009】また、本発明は、磁気抵抗効果素子を一対
の磁気シールドコアによって挟み込んでなるシールド型
の磁気抵抗効果型磁気ヘッドを、アルミナ膜を成膜した
基板上に形成してなる磁気抵抗効果型磁気ヘッドにおい
て、上記アルミナ膜が成膜された基板を、磁気抵抗効果
型磁気ヘッドが形成される前に予めアニール処理するこ
とを特徴とする。
の磁気シールドコアによって挟み込んでなるシールド型
の磁気抵抗効果型磁気ヘッドを、アルミナ膜を成膜した
基板上に形成してなる磁気抵抗効果型磁気ヘッドにおい
て、上記アルミナ膜が成膜された基板を、磁気抵抗効果
型磁気ヘッドが形成される前に予めアニール処理するこ
とを特徴とする。
【0010】
【作用】本発明においては、MR感磁部が形成される磁
気シールドコアの表面粗度が中心線平均粗さRaで1n
m以下と凹凸の無い非常に良好な面粗度とされているの
で、この上に蒸着やスパッタリング等によって膜厚の薄
いMR感磁部を成膜した場合、当該MR感磁部の磁区構
造の乱れが発生しない。これによって、再生出力の低下
が起こらず、情報記録信号を確実に読み出せることにな
る。
気シールドコアの表面粗度が中心線平均粗さRaで1n
m以下と凹凸の無い非常に良好な面粗度とされているの
で、この上に蒸着やスパッタリング等によって膜厚の薄
いMR感磁部を成膜した場合、当該MR感磁部の磁区構
造の乱れが発生しない。これによって、再生出力の低下
が起こらず、情報記録信号を確実に読み出せることにな
る。
【0011】また、本発明の磁気抵抗効果型磁気ヘッド
においては、アルミナ膜が成膜された基板を予めアニー
ル処理した後に、磁気抵抗効果型磁気ヘッドをこの基板
上に形成しているので、アニール処理によってアルミナ
膜の応力が解放され、その後の磁気シールドコアのアニ
ール処理による基板の反りが回避される。
においては、アルミナ膜が成膜された基板を予めアニー
ル処理した後に、磁気抵抗効果型磁気ヘッドをこの基板
上に形成しているので、アニール処理によってアルミナ
膜の応力が解放され、その後の磁気シールドコアのアニ
ール処理による基板の反りが回避される。
【0012】
【実施例】以下、本発明を適用した具体的な実施例につ
いて図面を参照しながら詳細に説明する。本実施例は、
同一基板上に再生用磁気ギャップを構成するMRヘッド
である再生ヘッドと、記録用磁気ギャップを構成する誘
導型磁気ヘッド(インダクティブヘッドと称する。)で
ある記録ヘッドを積層した,いわゆる複合型の磁気ヘッ
ドの例である。
いて図面を参照しながら詳細に説明する。本実施例は、
同一基板上に再生用磁気ギャップを構成するMRヘッド
である再生ヘッドと、記録用磁気ギャップを構成する誘
導型磁気ヘッド(インダクティブヘッドと称する。)で
ある記録ヘッドを積層した,いわゆる複合型の磁気ヘッ
ドの例である。
【0013】かかる複合型磁気ヘッドは、図1に示すよ
うに、ハードディスクとの対接面となるABS面1に再
生用磁気ギャップg1 ,g2 を臨ませるMRヘッドと、
同様にABS面1に記録用磁気ギャップg3 を臨ませる
インダクティブヘッドを、Al2 O3 等よりなる絶縁膜
2が形成されたAl2 O3 −TiCからなる基板3上に
積層形成した,いわゆる2ギャップタイプの記録再生ヘ
ッド構成となっている。
うに、ハードディスクとの対接面となるABS面1に再
生用磁気ギャップg1 ,g2 を臨ませるMRヘッドと、
同様にABS面1に記録用磁気ギャップg3 を臨ませる
インダクティブヘッドを、Al2 O3 等よりなる絶縁膜
2が形成されたAl2 O3 −TiCからなる基板3上に
積層形成した,いわゆる2ギャップタイプの記録再生ヘ
ッド構成となっている。
【0014】MRヘッドは、図2に示すように、先端部
と後端部にそれぞれ図示しない定電流源からのセンス電
流を通ずるための一対の電極4a,4b(以下、ABS
面1にその先端を臨ませるようして形成される電極4a
を先端電極4a、後端側に設けられる電極4bを後端電
極4bと称する。)が積層された磁気抵抗効果素子のM
R感磁部5と、このMR感磁部5に所要の向きの磁化状
態を与えるバイアス導体6とからなる。
と後端部にそれぞれ図示しない定電流源からのセンス電
流を通ずるための一対の電極4a,4b(以下、ABS
面1にその先端を臨ませるようして形成される電極4a
を先端電極4a、後端側に設けられる電極4bを後端電
極4bと称する。)が積層された磁気抵抗効果素子のM
R感磁部5と、このMR感磁部5に所要の向きの磁化状
態を与えるバイアス導体6とからなる。
【0015】MR感磁部5は、例えばインダクティブヘ
ッドの記録用磁気ギャップg3 のトラック幅Twよりも
若干幅狭の長方形パターンとして形成され、その長手方
向が上記ABS面1に対して直交方向となるように設け
られるとともに、その一端縁が上記ABS面1に臨むよ
うになっている。かかるMR感磁部5は、例えばパーマ
ロイ等の強磁性体薄膜からなり、その膜厚が20nm〜
50nmと非常に薄い膜として蒸着やスパッタリング等
によって形成されている。
ッドの記録用磁気ギャップg3 のトラック幅Twよりも
若干幅狭の長方形パターンとして形成され、その長手方
向が上記ABS面1に対して直交方向となるように設け
られるとともに、その一端縁が上記ABS面1に臨むよ
うになっている。かかるMR感磁部5は、例えばパーマ
ロイ等の強磁性体薄膜からなり、その膜厚が20nm〜
50nmと非常に薄い膜として蒸着やスパッタリング等
によって形成されている。
【0016】なお、上記MR感磁部5は、MR薄膜の単
層の膜であってもよいが、例えばSiO2 等よりなる非
磁性の絶縁層を介して静磁的に結合する一対のMR薄膜
を積層するようにしてもよい。積層膜構造とすることに
よって、バルクハウゼンノイズの発生が回避できる。
層の膜であってもよいが、例えばSiO2 等よりなる非
磁性の絶縁層を介して静磁的に結合する一対のMR薄膜
を積層するようにしてもよい。積層膜構造とすることに
よって、バルクハウゼンノイズの発生が回避できる。
【0017】先端電極4aは、上記MR感磁部5の先端
部に直接積層されるとともに、再生用磁気ギャップ
g1 ,g2 のデプスを規制するためのMR感磁部5上に
形成される絶縁膜7a上に積層される形で設けられてい
る。このMR感磁部5上に直接積層される配線パターン
は、その一側縁部が上記ABS面1に露出するようにな
っている。なお、ABS面1に露出する先端電極4a
は、上層の再生用磁気ギャップg2 を構成するギャップ
膜としても機能する。
部に直接積層されるとともに、再生用磁気ギャップ
g1 ,g2 のデプスを規制するためのMR感磁部5上に
形成される絶縁膜7a上に積層される形で設けられてい
る。このMR感磁部5上に直接積層される配線パターン
は、その一側縁部が上記ABS面1に露出するようにな
っている。なお、ABS面1に露出する先端電極4a
は、上層の再生用磁気ギャップg2 を構成するギャップ
膜としても機能する。
【0018】一方、後端電極4bは、上記先端電極4a
と同様MR感磁部5上に形成される絶縁膜7a上にその
一部が積層されるとともに、そのバック側で該MR感磁
部5に直接積層されるようになっている。
と同様MR感磁部5上に形成される絶縁膜7a上にその
一部が積層されるとともに、そのバック側で該MR感磁
部5に直接積層されるようになっている。
【0019】上記バイアス導体6は、先端電極4aと後
端電極4bの間に絶縁膜7bを介して積層されるととも
に、上記MR感磁部5に対して略直交する方向,つまり
MR感磁部5を横切る形で設けられている。このバイア
ス導体6の両端子部には、直流電源からのバイアス電流
が通電されるようになっている。したがって、直流電流
は配線パターンの長手方向であるトラック幅方向に流れ
ることになり、上記ABS面1と直交する方向にバイア
ス磁界が印加される。
端電極4bの間に絶縁膜7bを介して積層されるととも
に、上記MR感磁部5に対して略直交する方向,つまり
MR感磁部5を横切る形で設けられている。このバイア
ス導体6の両端子部には、直流電源からのバイアス電流
が通電されるようになっている。したがって、直流電流
は配線パターンの長手方向であるトラック幅方向に流れ
ることになり、上記ABS面1と直交する方向にバイア
ス磁界が印加される。
【0020】このようにして構成された再生ヘッドとし
て機能する磁気回路部は、例えばパーマロイやセンダス
ト等よりなる一対の磁気シールドコア8,9によってそ
の上下より挾み込まれる形で設けられている。つまり、
シールド型構成となっている。シールド型構成をとるの
は、この種の一体型ヘッドでは、短波長再生を要求され
たり、再生波形がインダクティブヘッドの微分出力波形
と同じものを信号処理上求められるからである。
て機能する磁気回路部は、例えばパーマロイやセンダス
ト等よりなる一対の磁気シールドコア8,9によってそ
の上下より挾み込まれる形で設けられている。つまり、
シールド型構成となっている。シールド型構成をとるの
は、この種の一体型ヘッドでは、短波長再生を要求され
たり、再生波形がインダクティブヘッドの微分出力波形
と同じものを信号処理上求められるからである。
【0021】MR感磁部5の下側に設けられる磁気シー
ルドコア8は、基板3上に形成されたAl2 O3 等より
なる絶縁膜2上に、上記ABS面1にその一端を臨ませ
るようにしてこのABS面1に対して略直交する方向に
延在して設けられている。そして、この磁気シールドコ
ア8とMR感磁部5との間には、下層の再生用磁気ギャ
ップg1 を構成するギャップ膜として機能するAl2 O
3 よりなる下地膜10が設けられている。かかる下地膜
10は、例えばその膜厚が0.1μm〜0.5μmとさ
れている。
ルドコア8は、基板3上に形成されたAl2 O3 等より
なる絶縁膜2上に、上記ABS面1にその一端を臨ませ
るようにしてこのABS面1に対して略直交する方向に
延在して設けられている。そして、この磁気シールドコ
ア8とMR感磁部5との間には、下層の再生用磁気ギャ
ップg1 を構成するギャップ膜として機能するAl2 O
3 よりなる下地膜10が設けられている。かかる下地膜
10は、例えばその膜厚が0.1μm〜0.5μmとさ
れている。
【0022】一方、MR感磁部5の上側に設けられる磁
気シールドコア9は、下層の磁気シールドコア8と同様
に上記ABS面1にその一端を臨ませるようにしてこの
ABS面1に対して略直交する方向に延在して設けられ
ている。また、この磁気シールドコア9は、ABS面1
側で先端電極4aに対して直接積層されるとともに、中
央部で絶縁膜11を介して積層され、且つバック側で下
層磁気シールドコア8と直接接するようになっている。
気シールドコア9は、下層の磁気シールドコア8と同様
に上記ABS面1にその一端を臨ませるようにしてこの
ABS面1に対して略直交する方向に延在して設けられ
ている。また、この磁気シールドコア9は、ABS面1
側で先端電極4aに対して直接積層されるとともに、中
央部で絶縁膜11を介して積層され、且つバック側で下
層磁気シールドコア8と直接接するようになっている。
【0023】そして、上記MRヘッド上に積層して設け
られるインダクティブヘッドは、MR感磁部5をシール
ドする上層の磁気シールドコア9を閉磁路を構成する一
方の薄膜磁気コアとし、この磁気シールドコア9に対向
して積層される他方の磁気シールドコア12とによっ
て、上記ABS面1に臨んでその前方端部間に記録用磁
気ギャップg3 を構成するようになっている。
られるインダクティブヘッドは、MR感磁部5をシール
ドする上層の磁気シールドコア9を閉磁路を構成する一
方の薄膜磁気コアとし、この磁気シールドコア9に対向
して積層される他方の磁気シールドコア12とによっ
て、上記ABS面1に臨んでその前方端部間に記録用磁
気ギャップg3 を構成するようになっている。
【0024】すなわち、MR感磁部5をシールドする上
層の磁気シールドコア9に対向して積層される磁気シー
ルドコア12は、上記ABS面1に臨む前方端部でシー
ルドとして機能する磁気シールドコア9側に屈曲され、
その隙間が狭くなされた対向部分に記録用磁気ギャップ
g3 を構成するようになっている。なお、ABS面1側
で屈曲される磁気シールドコア12は、後方端部でシー
ルドコアとしても機能する磁気シールドコア9と直接接
するようになっている。
層の磁気シールドコア9に対向して積層される磁気シー
ルドコア12は、上記ABS面1に臨む前方端部でシー
ルドとして機能する磁気シールドコア9側に屈曲され、
その隙間が狭くなされた対向部分に記録用磁気ギャップ
g3 を構成するようになっている。なお、ABS面1側
で屈曲される磁気シールドコア12は、後方端部でシー
ルドコアとしても機能する磁気シールドコア9と直接接
するようになっている。
【0025】そして、上記一対の磁気シールドコア9,
12の接続部である磁気的結合部13には、この磁気的
結合部13を取り囲むようにしてスパイラル状のヘッド
巻線14が設けられている。ヘッド巻線14は、閉磁路
を構成する磁気シールドコア9,12との絶縁性を確保
するために、絶縁膜15によって埋め込まれるようにな
っている。また、上記ヘッド巻線14の巻始めと巻終わ
りの端部である端子部には、交流電源からの記録電流が
供給されるようになっている。なお、最上層の磁気シー
ルドコア12の上には、MRヘッドとインダクティブヘ
ッドを保護するためのAl2 O3 よりなる保護膜16が
設けられている。
12の接続部である磁気的結合部13には、この磁気的
結合部13を取り囲むようにしてスパイラル状のヘッド
巻線14が設けられている。ヘッド巻線14は、閉磁路
を構成する磁気シールドコア9,12との絶縁性を確保
するために、絶縁膜15によって埋め込まれるようにな
っている。また、上記ヘッド巻線14の巻始めと巻終わ
りの端部である端子部には、交流電源からの記録電流が
供給されるようになっている。なお、最上層の磁気シー
ルドコア12の上には、MRヘッドとインダクティブヘ
ッドを保護するためのAl2 O3 よりなる保護膜16が
設けられている。
【0026】そして特に、この実施例の複合型磁気ヘッ
ドでは、下層の磁気シールドコア8の表面粗度が中心線
平均粗さRaで1nm以下と凹凸がない極めて平滑な面
となされている。このため、上記磁気シールドコア8上
に成膜される下地膜10の表面粗度も1nm以下となる
ことから、該下地膜10上に積層されるMR感磁部5
は、その膜厚が20nm〜50nmと非常に薄い膜であ
っても凹凸の無い平らな膜となる。この結果、上記MR
感磁部5の磁区構造の乱れが発生せず、バルクハウゼン
ノイズを抑制できる。
ドでは、下層の磁気シールドコア8の表面粗度が中心線
平均粗さRaで1nm以下と凹凸がない極めて平滑な面
となされている。このため、上記磁気シールドコア8上
に成膜される下地膜10の表面粗度も1nm以下となる
ことから、該下地膜10上に積層されるMR感磁部5
は、その膜厚が20nm〜50nmと非常に薄い膜であ
っても凹凸の無い平らな膜となる。この結果、上記MR
感磁部5の磁区構造の乱れが発生せず、バルクハウゼン
ノイズを抑制できる。
【0027】ところで、上述の複合型磁気ヘッドを作成
するには、以下のようにして行う。先ず、図5に示すよ
うに、絶縁膜として機能するアルミナ(Al2 O3 )膜
2が成膜されたAl2 O3 −TiCからなる基板(以
下、アルチック基板と称する。)3を用意する。このと
きのアルミナ膜2は、表面粗度が中心線平均粗さRaで
1nm以下である。
するには、以下のようにして行う。先ず、図5に示すよ
うに、絶縁膜として機能するアルミナ(Al2 O3 )膜
2が成膜されたAl2 O3 −TiCからなる基板(以
下、アルチック基板と称する。)3を用意する。このと
きのアルミナ膜2は、表面粗度が中心線平均粗さRaで
1nm以下である。
【0028】次に、このアルチック基板3に対してアニ
ール処理を行う。磁気抵抗効果型磁気ヘッドを作製する
前段階でアニール処理を行うのは、次のことに基づく。
ール処理を行う。磁気抵抗効果型磁気ヘッドを作製する
前段階でアニール処理を行うのは、次のことに基づく。
【0029】上述したヘッド構成のうち、下層の磁気シ
ールドコア8は、磁気シールドとしてのみ使用されるも
のであり、その磁気特性上センダストが有効である。セ
ンダストの磁気特性を十分発揮させるためにはアニール
が必要であり、通常520℃で1時間の保持が必要とさ
れる。
ールドコア8は、磁気シールドとしてのみ使用されるも
のであり、その磁気特性上センダストが有効である。セ
ンダストの磁気特性を十分発揮させるためにはアニール
が必要であり、通常520℃で1時間の保持が必要とさ
れる。
【0030】ところが、センダストに対してアニールを
行うと、アルチック基板3と下層磁気シールドコア8間
の絶縁のために予め成膜されているアルミナ膜2が応力
解放され、アルチック基板3に反りが発生する。アニー
ル終了後に反りが発生すると、その後の下層磁気シール
ドコア8の平坦化研磨工程において、研磨のばらつきが
大きくなる等の問題が発生する。したがって、本実施例
では、磁気抵抗効果型磁気ヘッドを作製する前に、アル
チック基板3に対してアニール処理を施し、予めアルミ
ナ膜2の応力を解放させておく。
行うと、アルチック基板3と下層磁気シールドコア8間
の絶縁のために予め成膜されているアルミナ膜2が応力
解放され、アルチック基板3に反りが発生する。アニー
ル終了後に反りが発生すると、その後の下層磁気シール
ドコア8の平坦化研磨工程において、研磨のばらつきが
大きくなる等の問題が発生する。したがって、本実施例
では、磁気抵抗効果型磁気ヘッドを作製する前に、アル
チック基板3に対してアニール処理を施し、予めアルミ
ナ膜2の応力を解放させておく。
【0031】通常、センダストのアニールは、磁気特性
を得るために最適な520℃で行われる。しかし、ここ
でのアニールは、520℃でのアルミナ膜2の応力解放
が行われればよいので、520℃〜600℃程度であれ
ば問題ない。そこで、本実施例では、520℃〜600
℃の真空中、若しくはN2 雰囲気中にてアニールする。
すると、アニールによってアルミナ膜2が応力解放され
て、図6に示すように、アルチック基板3は数μm反る
ことになる。
を得るために最適な520℃で行われる。しかし、ここ
でのアニールは、520℃でのアルミナ膜2の応力解放
が行われればよいので、520℃〜600℃程度であれ
ば問題ない。そこで、本実施例では、520℃〜600
℃の真空中、若しくはN2 雰囲気中にてアニールする。
すると、アニールによってアルミナ膜2が応力解放され
て、図6に示すように、アルチック基板3は数μm反る
ことになる。
【0032】次に、上記反ったアルチック基板3を、最
初にダイヤモンド研磨を行い、次にバフ研磨して図7に
示すように平坦化する。最初の研磨により、アルチック
基板3の厚みをコントロールできるので、スライダー長
規格にあった基板厚を容易に得ることができる。
初にダイヤモンド研磨を行い、次にバフ研磨して図7に
示すように平坦化する。最初の研磨により、アルチック
基板3の厚みをコントロールできるので、スライダー長
規格にあった基板厚を容易に得ることができる。
【0033】しかる後、図8に示すように、平坦化され
たアルチック基板3のアルミナ膜2上にセンダストをス
パッタリング又はメッキすることにより、下層の磁気シ
ールドコア8を形成する。
たアルチック基板3のアルミナ膜2上にセンダストをス
パッタリング又はメッキすることにより、下層の磁気シ
ールドコア8を形成する。
【0034】次いで、図9に示すように、このセンダス
トよりなる磁気シールドコア8を520℃でアニール処
理する。そして、この磁気シールドコア8に対して、図
10に示すように、所定形状となるようにパターニング
とエッチングを施す。
トよりなる磁気シールドコア8を520℃でアニール処
理する。そして、この磁気シールドコア8に対して、図
10に示すように、所定形状となるようにパターニング
とエッチングを施す。
【0035】次いで、電極形成など所定のプロセスを行
う。しかる後、図11に示すように、次工程で上記磁気
シールドコア8を平坦化するために例えばAl2 O3 よ
りなる平坦化膜40を、この磁気シールドコア8の膜厚
よりも0.5μm〜1μm厚くなるように成膜する。
う。しかる後、図11に示すように、次工程で上記磁気
シールドコア8を平坦化するために例えばAl2 O3 よ
りなる平坦化膜40を、この磁気シールドコア8の膜厚
よりも0.5μm〜1μm厚くなるように成膜する。
【0036】そして、上記平坦化膜40と磁気シールド
コア8を共に研磨して平坦化を図る。その際、磁気シー
ルドコア8の表面粗度を中心線平均粗さRaが1nm以
下となるようにする。磁気シールドコア8の表面粗度を
1nm以下とするには、ダイヤモンド砥粒を使用した粗
研磨と、シリカ系超微粒子を使用した精研磨(バフ研
磨)を組み合わせて行う。
コア8を共に研磨して平坦化を図る。その際、磁気シー
ルドコア8の表面粗度を中心線平均粗さRaが1nm以
下となるようにする。磁気シールドコア8の表面粗度を
1nm以下とするには、ダイヤモンド砥粒を使用した粗
研磨と、シリカ系超微粒子を使用した精研磨(バフ研
磨)を組み合わせて行う。
【0037】ここで使用する研磨装置は、例えば図3及
び図4に示すように、主として研磨盤として機能する定
盤18と、この定盤18上に載置される基板3を左右方
向に揺動させる揺動機構19とから構成される。
び図4に示すように、主として研磨盤として機能する定
盤18と、この定盤18上に載置される基板3を左右方
向に揺動させる揺動機構19とから構成される。
【0038】粗研磨の際に使われる定盤18は、例えば
銅と金属粒子を高分子材料で固めることにより円盤形状
として形成されてなるもので、平面矩形状をなす装置本
体20の略中央部に図3中矢印A方向に回転可能に設け
られている。なお、この定盤18の平面度は、例えば1
0μm以下とされている。
銅と金属粒子を高分子材料で固めることにより円盤形状
として形成されてなるもので、平面矩形状をなす装置本
体20の略中央部に図3中矢印A方向に回転可能に設け
られている。なお、この定盤18の平面度は、例えば1
0μm以下とされている。
【0039】また、この粗研磨の際に使われる定盤18
の表面には、ポリエステル不織布や発泡ポリウレタン
(人工皮革)或いは硬軟質二重構造等の弾性ポリッシャ
等よりなる研磨布39が設けられている。さらに、この
定盤18の上には、円盤形状とされた基板3が載置され
るが、この基板3をガイドし又は研磨レートをかせぐた
めに加圧する目的で、当該基板3を覆って治具21が設
けられる。
の表面には、ポリエステル不織布や発泡ポリウレタン
(人工皮革)或いは硬軟質二重構造等の弾性ポリッシャ
等よりなる研磨布39が設けられている。さらに、この
定盤18の上には、円盤形状とされた基板3が載置され
るが、この基板3をガイドし又は研磨レートをかせぐた
めに加圧する目的で、当該基板3を覆って治具21が設
けられる。
【0040】上記治具21は、外形形状が円形となさ
れ、上記定盤18と対向する面に上記基板3を嵌合させ
る円形状をなす凹部22を有している。上記凹部22の
深さは、治具21が定盤18によって研磨されないよう
に基板3の板厚寸法よりも浅くなされている。したがっ
て、上記凹部22に基板3を嵌合させて定盤18上に載
置した状態では、基板3のみが定盤18に接触すること
になる。
れ、上記定盤18と対向する面に上記基板3を嵌合させ
る円形状をなす凹部22を有している。上記凹部22の
深さは、治具21が定盤18によって研磨されないよう
に基板3の板厚寸法よりも浅くなされている。したがっ
て、上記凹部22に基板3を嵌合させて定盤18上に載
置した状態では、基板3のみが定盤18に接触すること
になる。
【0041】一方、揺動機構19は、上記一対の治具2
1を回転可能に保持するキャリア23と、このキャリア
23を定盤18の中心線上に沿って図3中矢印Bで示す
左右方向に揺動させる駆動源として機能する駆動モータ
24と、この駆動モータ24の回転運動を揺動運動に変
換するカム25とクランクシャフト26と、一対のスラ
イダー27,28とから構成される。
1を回転可能に保持するキャリア23と、このキャリア
23を定盤18の中心線上に沿って図3中矢印Bで示す
左右方向に揺動させる駆動源として機能する駆動モータ
24と、この駆動モータ24の回転運動を揺動運動に変
換するカム25とクランクシャフト26と、一対のスラ
イダー27,28とから構成される。
【0042】上記キャリア23は、上記一対の治具21
を回転可能に収納保持する円形状の治具収納部29,3
0を有した平面形状がいわゆるメガネ形状をなす支持体
として形成されている。そして、このキャリア23に
は、上記治具収納部29,30に収納される治具21を
回転可能に収納保持するために、センターローラ31と
ガイドローラ32,33が設けられている。
を回転可能に収納保持する円形状の治具収納部29,3
0を有した平面形状がいわゆるメガネ形状をなす支持体
として形成されている。そして、このキャリア23に
は、上記治具収納部29,30に収納される治具21を
回転可能に収納保持するために、センターローラ31と
ガイドローラ32,33が設けられている。
【0043】センターローラ31は、上記一対の治具収
納部29,30の間に円盤体として回転可能に設けられ
ている。また、ガイドローラ32,33は、上記センタ
ーローラ31と反対側の治具収納部29,30の外周囲
に円柱状をなすローラとして回転可能に設けられてい
る。
納部29,30の間に円盤体として回転可能に設けられ
ている。また、ガイドローラ32,33は、上記センタ
ーローラ31と反対側の治具収納部29,30の外周囲
に円柱状をなすローラとして回転可能に設けられてい
る。
【0044】そして、上記キャリア23の両側には、該
キャリア23を左右方向に揺動させるためのスライダー
27,28が設けられている。すなわち、上記キャリア
23の両端部には、円柱状をなす連結部材34,35を
介して装置本体20上をスライド自在とされるスライダ
ー27,28が設けられている。これらスライダー2
7,28のうち一方のスライダー27には、駆動モータ
24の回転運動を揺動運動に変換するためのカム25と
クランクシャフト26が設けられている。
キャリア23を左右方向に揺動させるためのスライダー
27,28が設けられている。すなわち、上記キャリア
23の両端部には、円柱状をなす連結部材34,35を
介して装置本体20上をスライド自在とされるスライダ
ー27,28が設けられている。これらスライダー2
7,28のうち一方のスライダー27には、駆動モータ
24の回転運動を揺動運動に変換するためのカム25と
クランクシャフト26が設けられている。
【0045】したがって、上記駆動モータ24の回転運
動は、カム25に伝達され、該カム25と係合するクラ
ンクシャフト26によって揺動運動に変換せしめられ
る。これにより、キャリア23が左右方向に揺動する。
なお、上記キャリア23の揺動速さは、装置本体20上
に設けられる制御装置36によって適宜調整可能となさ
れている。
動は、カム25に伝達され、該カム25と係合するクラ
ンクシャフト26によって揺動運動に変換せしめられ
る。これにより、キャリア23が左右方向に揺動する。
なお、上記キャリア23の揺動速さは、装置本体20上
に設けられる制御装置36によって適宜調整可能となさ
れている。
【0046】以上のように構成された研磨装置を用い
て、上記アルチック基板3上に形成された磁気シールド
コア8を研磨し平坦化を図る。最初に、ダイヤモンド砥
粒を使用して粗研磨を行う。すなわち、定盤18の上に
アルチック基板3を載せる。このとき、平坦化膜40と
磁気シールドコア8が形成された研磨面が定盤18と接
触するように前記アルチック基板3を載置する。
て、上記アルチック基板3上に形成された磁気シールド
コア8を研磨し平坦化を図る。最初に、ダイヤモンド砥
粒を使用して粗研磨を行う。すなわち、定盤18の上に
アルチック基板3を載せる。このとき、平坦化膜40と
磁気シールドコア8が形成された研磨面が定盤18と接
触するように前記アルチック基板3を載置する。
【0047】次に、このアルチック基板3上に治具21
を落とし込む。すると、治具21に設けられた凹部22
にアルチック基板3が嵌合し、当該アルチック基板3の
位置が決まると同時に、該アルチック基板3に荷重が加
わる。
を落とし込む。すると、治具21に設けられた凹部22
にアルチック基板3が嵌合し、当該アルチック基板3の
位置が決まると同時に、該アルチック基板3に荷重が加
わる。
【0048】なお、アルチック基板3と治具21とは、
ワックスや接着剤による接着がなされていないため、接
着歪みによる基板の反りやうねりが発生することがな
い。また、必要に応じて、治具21の上に重りを載せて
加工圧を高くし、研磨レートを大きくするようにしても
よい。
ワックスや接着剤による接着がなされていないため、接
着歪みによる基板の反りやうねりが発生することがな
い。また、必要に応じて、治具21の上に重りを載せて
加工圧を高くし、研磨レートを大きくするようにしても
よい。
【0049】次に、これら治具21をキャリア23に設
けられた治具収納部29,30内にセットする。この結
果、治具21は、センターローラ31とガイドローラ3
2,33とによって回転可能に保持される。次に、定盤
18を回転させるとともに、駆動モータ24のスイッチ
を入れる。
けられた治具収納部29,30内にセットする。この結
果、治具21は、センターローラ31とガイドローラ3
2,33とによって回転可能に保持される。次に、定盤
18を回転させるとともに、駆動モータ24のスイッチ
を入れる。
【0050】すると、駆動モータ24の回転がカム25
に伝達され、このカム25と連結されるクランクシャフ
ト26によって揺動運動に変換せしめられる。そして、
このクランクシャフト26に連結された一方のスライダ
ー27と他方のスライダー28とによって、上記キャリ
ア23が左右方向に揺動する。この結果、キャリア23
に回転可能に保持された治具21及びアルチック基板3
もこれらと一緒に揺動する。
に伝達され、このカム25と連結されるクランクシャフ
ト26によって揺動運動に変換せしめられる。そして、
このクランクシャフト26に連結された一方のスライダ
ー27と他方のスライダー28とによって、上記キャリ
ア23が左右方向に揺動する。この結果、キャリア23
に回転可能に保持された治具21及びアルチック基板3
もこれらと一緒に揺動する。
【0051】そして、研磨液供給タンク37に接続され
るノズル38の先端より、上記定盤18上にダイヤモン
ドスラリーを供給する。すると、アルチック基板3が定
盤18の回転運動とキャリア23による揺動運動とによ
って基板全体に亘って研磨される。
るノズル38の先端より、上記定盤18上にダイヤモン
ドスラリーを供給する。すると、アルチック基板3が定
盤18の回転運動とキャリア23による揺動運動とによ
って基板全体に亘って研磨される。
【0052】なお、アルチック基板3を揺動させない場
合には、該アルチック基板3の内外周の周速差によっ
て、当該基板中央部に偏摩耗が発生する。そして、ある
程度粗削りが終了した時点で、研磨を終了する。
合には、該アルチック基板3の内外周の周速差によっ
て、当該基板中央部に偏摩耗が発生する。そして、ある
程度粗削りが終了した時点で、研磨を終了する。
【0053】次に、シリカ系超微粒子をpH10前後の
アルカリ溶液に懸濁させた研磨液に取り替え、バフ研磨
を行う。アルカリ溶液は、平坦化膜40と磁気シールド
コア8を化学的にエッチングさせるためのものであり、
加工液と材料との反応を促進させる機能をする。そし
て、このアルカリ溶液に懸濁させる微粒子は、研磨面の
凹凸をより滑らかにする作用をする。
アルカリ溶液に懸濁させた研磨液に取り替え、バフ研磨
を行う。アルカリ溶液は、平坦化膜40と磁気シールド
コア8を化学的にエッチングさせるためのものであり、
加工液と材料との反応を促進させる機能をする。そし
て、このアルカリ溶液に懸濁させる微粒子は、研磨面の
凹凸をより滑らかにする作用をする。
【0054】本実施例では、研磨液として粒子径5nm
〜100nmのSiO2 を、濃度約20重量% 〜40
重量%,pH9.0〜pH11.0のアルカリ溶液に懸
濁させたものを使用した。
〜100nmのSiO2 を、濃度約20重量% 〜40
重量%,pH9.0〜pH11.0のアルカリ溶液に懸
濁させたものを使用した。
【0055】そして、この研磨液によって先の方法と同
様にして研磨(これをバフ研磨と称する。)を行い、磁
気シールドコア8の表面粗度が中心線平均粗さRaで1
nm以下となるまで研磨を行う。ここでの研磨工程で
は、先のセンダストのアニール処理終了時でほとんどア
ルチック基板3が反らず、基板表面がある程度平坦化さ
れているので、平坦化処理が極めて容易に行える。
様にして研磨(これをバフ研磨と称する。)を行い、磁
気シールドコア8の表面粗度が中心線平均粗さRaで1
nm以下となるまで研磨を行う。ここでの研磨工程で
は、先のセンダストのアニール処理終了時でほとんどア
ルチック基板3が反らず、基板表面がある程度平坦化さ
れているので、平坦化処理が極めて容易に行える。
【0056】この結果、磁気シールドコア8の表面は、
図12に示すように、SiO2 砥粒による機械的作用と
加工液による科学的作用によってその表面粗度がRa1
nm以下と微細な凹凸の無い極めて平滑な面となる。
図12に示すように、SiO2 砥粒による機械的作用と
加工液による科学的作用によってその表面粗度がRa1
nm以下と微細な凹凸の無い極めて平滑な面となる。
【0057】次に、平坦化された磁気シールドコア8の
上にAl2 O3 を成膜し、下層の再生用磁気ギャップg
1 を構成するギャップ膜として機能する下地膜10を形
成する。上記下地膜10は、磁気シールドコア8の表面
粗度がRa1nm以下であるので、その表面粗度も同じ
くRa1nm以下となる。
上にAl2 O3 を成膜し、下層の再生用磁気ギャップg
1 を構成するギャップ膜として機能する下地膜10を形
成する。上記下地膜10は、磁気シールドコア8の表面
粗度がRa1nm以下であるので、その表面粗度も同じ
くRa1nm以下となる。
【0058】次いで、上記下地膜10の上にMR感磁部
5を蒸着やスパッタリング等によってその膜厚が20n
m〜50nmとなるように形成する。MR感磁部5は、
その膜厚が非常に薄いので下地に影響されやすいが、本
実施例ではその下地の表面粗度が極めて平滑であること
から、磁区構造の乱れが無い。
5を蒸着やスパッタリング等によってその膜厚が20n
m〜50nmとなるように形成する。MR感磁部5は、
その膜厚が非常に薄いので下地に影響されやすいが、本
実施例ではその下地の表面粗度が極めて平滑であること
から、磁区構造の乱れが無い。
【0059】また、下地が平坦化されていることから、
パターニングの際に、マスクと基板の距離のばらつきが
小さくなるため、マスク位置合わせずれを小さくでき
る。また、パターニングの際に、焦点深度が深くとれる
ため、解像度の高いシャープなパターンを形成すること
ができる。
パターニングの際に、マスクと基板の距離のばらつきが
小さくなるため、マスク位置合わせずれを小さくでき
る。また、パターニングの際に、焦点深度が深くとれる
ため、解像度の高いシャープなパターンを形成すること
ができる。
【0060】次に、上記MR感磁部5上に絶縁膜7aを
形成した後、MR感磁部5と電気的に接続するためのM
R電極接続穴を形成する。そして、先端電極4aと後端
電極4bをそれぞれ形成した後、絶縁膜7bを積層し、
その上にバイアス導体6を形成する。
形成した後、MR感磁部5と電気的に接続するためのM
R電極接続穴を形成する。そして、先端電極4aと後端
電極4bをそれぞれ形成した後、絶縁膜7bを積層し、
その上にバイアス導体6を形成する。
【0061】次に、上記バイアス導体6上に絶縁膜11
を積層した後、先端電極4aと次工程で作成する磁気シ
ールドコア9との接続を図るための先端接続孔を形成す
る。そして、上記絶縁膜11を覆って磁気シールドコア
9を形成する。この結果、磁気シールドコア9は、AB
S面1側で先端電極4aと直接接するとともに、バック
側で下層の磁気シールドコア8と直接接することにな
る。
を積層した後、先端電極4aと次工程で作成する磁気シ
ールドコア9との接続を図るための先端接続孔を形成す
る。そして、上記絶縁膜11を覆って磁気シールドコア
9を形成する。この結果、磁気シールドコア9は、AB
S面1側で先端電極4aと直接接するとともに、バック
側で下層の磁気シールドコア8と直接接することにな
る。
【0062】次いで、この磁気シールドコア9の上にヘ
ッド巻線14を絶縁膜15によって埋め込む形で設け
る。そして、上記ヘッド巻線14を覆って最上層の磁気
シールドコア12を形成する。上記磁気シールドコア1
2は、ABS面1側で絶縁膜15を介して磁気シールド
コア9と近接して所定ギャップ長となるように設け、バ
ック側で磁気シールドコア9と直接接するように形成す
る。
ッド巻線14を絶縁膜15によって埋め込む形で設け
る。そして、上記ヘッド巻線14を覆って最上層の磁気
シールドコア12を形成する。上記磁気シールドコア1
2は、ABS面1側で絶縁膜15を介して磁気シールド
コア9と近接して所定ギャップ長となるように設け、バ
ック側で磁気シールドコア9と直接接するように形成す
る。
【0063】この結果、ABS面1側の上下磁気シール
ドコア9,12とによって挟み込まれた間隙部に記録用
磁気ギャップg3 が構成される。そして最後に、これら
MRヘッドとインダクティブヘッドを覆って保護膜16
を積層し、ABS面1を鏡面加工することによって複合
型磁気ヘッドが作製される。
ドコア9,12とによって挟み込まれた間隙部に記録用
磁気ギャップg3 が構成される。そして最後に、これら
MRヘッドとインダクティブヘッドを覆って保護膜16
を積層し、ABS面1を鏡面加工することによって複合
型磁気ヘッドが作製される。
【0064】以上、本発明を適用した具体的な実施例に
ついて説明したが、本発明は上述の実施例に限定される
ことなく種々の変更が可能である。例えば、前述の実施
例ではMRヘッドとインダクティブヘッドの磁性体を共
通化した構成としたものであるが、上下に設けられる磁
気シールドコアをMRヘッドとインダクティブヘッドと
でそれぞれ専用に設けるようにした構成の複合型磁気ヘ
ッドに対しても適用することができ、その作用効果は同
じである。
ついて説明したが、本発明は上述の実施例に限定される
ことなく種々の変更が可能である。例えば、前述の実施
例ではMRヘッドとインダクティブヘッドの磁性体を共
通化した構成としたものであるが、上下に設けられる磁
気シールドコアをMRヘッドとインダクティブヘッドと
でそれぞれ専用に設けるようにした構成の複合型磁気ヘ
ッドに対しても適用することができ、その作用効果は同
じである。
【0065】
【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、本発
明においては、MR感磁部が形成される磁気シールドコ
アの表面粗度が中心線平均粗さRaで1nm以下と凹凸
の無い非常に平滑な面とされているので、この上に蒸着
やスパッタリング等によって成膜される膜厚の薄いMR
感磁部の磁区構造の乱れを防止することができ、これに
より再生出力を高めることができる。したがって、情報
記録信号を確実に読み出すことができる。
明においては、MR感磁部が形成される磁気シールドコ
アの表面粗度が中心線平均粗さRaで1nm以下と凹凸
の無い非常に平滑な面とされているので、この上に蒸着
やスパッタリング等によって成膜される膜厚の薄いMR
感磁部の磁区構造の乱れを防止することができ、これに
より再生出力を高めることができる。したがって、情報
記録信号を確実に読み出すことができる。
【0066】また、本発明の磁気抵抗効果型磁気ヘッド
においては、アルミナ膜が成膜された基板を予めアニー
ル処理した後に、磁気抵抗効果型磁気ヘッドをこの基板
上に形成しているので、アニール処理によってアルミナ
膜の応力を解放することができ、その後の磁気シールド
コアのアニール処理による基板の反りを回避することが
できる。したがって、その後の磁気抵抗効果型磁気ヘッ
ドの作製を高精度に行え、信頼性の高い磁気抵抗効果型
磁気ヘッドを提供できる。
においては、アルミナ膜が成膜された基板を予めアニー
ル処理した後に、磁気抵抗効果型磁気ヘッドをこの基板
上に形成しているので、アニール処理によってアルミナ
膜の応力を解放することができ、その後の磁気シールド
コアのアニール処理による基板の反りを回避することが
できる。したがって、その後の磁気抵抗効果型磁気ヘッ
ドの作製を高精度に行え、信頼性の高い磁気抵抗効果型
磁気ヘッドを提供できる。
【図1】複合型磁気ヘッドの拡大断面図である。
【図2】複合型磁気ヘッドのMRヘッド部分を拡大して
示す要部拡大断面図である。
示す要部拡大断面図である。
【図3】研磨装置の平面図である。
【図4】研磨装置を一部破断して示す拡大側面図であ
る。
る。
【図5】アルミナ膜が成膜されたアルチック基板の断面
図である。
図である。
【図6】アニール処理後のアルチック基板の断面図であ
る。
る。
【図7】平坦化研磨後のアルチック基板の断面図であ
る。
る。
【図8】センダストスパッタ後のアルチック基板の断面
図である。
図である。
【図9】センダストスパッタ後にアニール処理した状態
を示すアルチック基板の断面図である。
を示すアルチック基板の断面図である。
【図10】センダストをエッチングした状態を示すアル
チック基板の断面図である。
チック基板の断面図である。
【図11】平坦化膜をスパッタした状態を示すアルチッ
ク基板の断面図である。
ク基板の断面図である。
【図12】磁気シールドコアを平坦化した状態を示すア
ルチック基板の断面図である。
ルチック基板の断面図である。
1・・・ABS面 3・・・アルチック基板 4a・・・先端電極 4b・・・後端電極 5・・・MR感磁部 6・・・バイアス導体 8,9,12・・・磁気シールドコア 10・・・絶縁膜 18・・・定盤 19・・・揺動機構 20・・・装置本体 21・・・治具 22・・・凹部 23・・・キャリア 24・・・駆動モータ 25・・・カム 26・・・クランクシャフト 27,28・・・スライダー 40・・・平坦化膜
Claims (2)
- 【請求項1】 磁気記録媒体との対接面に臨んで再生用
磁気ギャップを構成する磁気抵抗効果型磁気ヘッドが磁
気シールドコア上に形成されてなり、 上記磁気シールドコアの表面粗度が中心線平均粗さRa
で1nm以下であることを特徴とする磁気抵抗効果型磁
気ヘッド。 - 【請求項2】 磁気抵抗効果素子を一対の磁気シールド
コアによって挟み込んでなるシールド型の磁気抵抗効果
型磁気ヘッドを、アルミナ膜を成膜した基板上に形成し
てなる磁気抵抗効果型磁気ヘッドにおいて、 上記アルミナ膜が成膜された基板は、磁気抵抗効果型磁
気ヘッドが形成される前に予めアニール処理されている
ことを特徴とする磁気抵抗効果型磁気ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP32932193A JPH06259731A (ja) | 1993-01-09 | 1993-12-27 | 磁気抵抗効果型磁気ヘッド |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5-18244 | 1993-01-09 | ||
| JP1824493 | 1993-01-09 | ||
| JP32932193A JPH06259731A (ja) | 1993-01-09 | 1993-12-27 | 磁気抵抗効果型磁気ヘッド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06259731A true JPH06259731A (ja) | 1994-09-16 |
Family
ID=26354892
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP32932193A Pending JPH06259731A (ja) | 1993-01-09 | 1993-12-27 | 磁気抵抗効果型磁気ヘッド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06259731A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH097125A (ja) * | 1995-06-21 | 1997-01-10 | Nec Ibaraki Ltd | 磁気抵抗効果型複合ヘッド |
| US5999378A (en) * | 1996-12-27 | 1999-12-07 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetoresistance effect head having a giant magnetoresistance effect film |
-
1993
- 1993-12-27 JP JP32932193A patent/JPH06259731A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH097125A (ja) * | 1995-06-21 | 1997-01-10 | Nec Ibaraki Ltd | 磁気抵抗効果型複合ヘッド |
| US5999378A (en) * | 1996-12-27 | 1999-12-07 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetoresistance effect head having a giant magnetoresistance effect film |
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