JPH06268668A - 通話路導通試験装置 - Google Patents
通話路導通試験装置Info
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- JPH06268668A JPH06268668A JP4946093A JP4946093A JPH06268668A JP H06268668 A JPH06268668 A JP H06268668A JP 4946093 A JP4946093 A JP 4946093A JP 4946093 A JP4946093 A JP 4946093A JP H06268668 A JPH06268668 A JP H06268668A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 任意の速度で試験信号を送出でき、しかも、
特定の部分を個別に試験する際の特殊な試験ルートを設
定できるＡＴＭ交換システムに適した通話路導通試験装
置を提供する。 【構成】 宛先等を示すセルヘッダおよびスイッチング
用のルーチングタグを有する試験セルを生成してそれを
任意の速度でスイッチ部に送出する試験セル生成部と、
通話路内の回線対応部で折り返された試験セルを回収す
る試験セル収集部と、回収された試験セルを検査する試
験セル照合部とを有する通話路内導通試験回路が通話路
内のスイッチ部に接続される。制御部は、回線対応部に
対するルーチング設定等を行う。
特定の部分を個別に試験する際の特殊な試験ルートを設
定できるＡＴＭ交換システムに適した通話路導通試験装
置を提供する。 【構成】 宛先等を示すセルヘッダおよびスイッチング
用のルーチングタグを有する試験セルを生成してそれを
任意の速度でスイッチ部に送出する試験セル生成部と、
通話路内の回線対応部で折り返された試験セルを回収す
る試験セル収集部と、回収された試験セルを検査する試
験セル照合部とを有する通話路内導通試験回路が通話路
内のスイッチ部に接続される。制御部は、回線対応部に
対するルーチング設定等を行う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＡＴＭ交換システムに
おける通話路内の各機能ブロックが正常に機能している
かどうか試験する通話路導通試験装置に関する。
おける通話路内の各機能ブロックが正常に機能している
かどうか試験する通話路導通試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の通話路導通試験装置として、例え
ば図１３に示すようなものがある。図１３に示すもの
は、Ｄ７０型ディジタル自動交換システムの加入者回路
の試験を行う装置である。
ば図１３に示すようなものがある。図１３に示すもの
は、Ｄ７０型ディジタル自動交換システムの加入者回路
の試験を行う装置である。
【０００３】図に示すように、加入者回路７1 〜７N の
試験を行う場合には、加入者試験回路８がスイッチ５に
接続される。加入者試験回路８の試験信号送信部８１が
出力した試験信号は、スイッチ５を介して加入者回路７
1 〜７N に送られる。そして、加入者回路７1 〜７N で
折り返された試験信号は、スイッチ５を介して加入者試
験回路８に戻される。加入者試験回路８の試験信号受信
部８２が戻ってきた試験信号を確認することにより、加
入者回路７1 〜７N の機能が正常かどうか判定する。
試験を行う場合には、加入者試験回路８がスイッチ５に
接続される。加入者試験回路８の試験信号送信部８１が
出力した試験信号は、スイッチ５を介して加入者回路７
1 〜７N に送られる。そして、加入者回路７1 〜７N で
折り返された試験信号は、スイッチ５を介して加入者試
験回路８に戻される。加入者試験回路８の試験信号受信
部８２が戻ってきた試験信号を確認することにより、加
入者回路７1 〜７N の機能が正常かどうか判定する。
【０００４】図１４はＤ７０型ディジタル自動交換シス
テムに対するパイロット試験の際の接続関係を示すブロ
ック図である。スイッチインタフェース装置９1 〜９N
は、それぞれ特定の試験用チャネル（図１４の例ではハ
イウェイ８番，スロット１６番、ハイウェイ１２番，ス
ロット１６番）に、パイロットパターン発生回路（ＰＬ
Ｇ）９０１が発生した試験パターンを固定速度で送出す
る。スイッチ５を通過した試験パターンは、スイッチイ
ンタフェース装置９1 〜９N に戻される。そして、パイ
ロットパターンチェック回路（ＰＣＧ）９０２は、戻っ
てきた試験パターンを判定する。
テムに対するパイロット試験の際の接続関係を示すブロ
ック図である。スイッチインタフェース装置９1 〜９N
は、それぞれ特定の試験用チャネル（図１４の例ではハ
イウェイ８番，スロット１６番、ハイウェイ１２番，ス
ロット１６番）に、パイロットパターン発生回路（ＰＬ
Ｇ）９０１が発生した試験パターンを固定速度で送出す
る。スイッチ５を通過した試験パターンは、スイッチイ
ンタフェース装置９1 〜９N に戻される。そして、パイ
ロットパターンチェック回路（ＰＣＧ）９０２は、戻っ
てきた試験パターンを判定する。
【０００５】この試験では、試験パターンが特定の試験
用チャネルに送出される構成であるから、試験パターン
を一般データに混在させることはできない。また、試験
パターンを送出したスイッチインタフェース装置と同一
のスイッチインタフェース装置に試験パターンが戻され
るので、異なるスイッチインタフェース装置間を結ぶ試
験ルートの設定はできない。そして、試験パターンが通
過するルートは標準的なもののみである。よって、特殊
なルートの設定はできず、通話路内の特定のブロックを
個別に試験するための試験ルートを設定するのが困難な
場合がある。さらに、上記の２つの試験を同一の試験回
路によって実行するのは困難である。
用チャネルに送出される構成であるから、試験パターン
を一般データに混在させることはできない。また、試験
パターンを送出したスイッチインタフェース装置と同一
のスイッチインタフェース装置に試験パターンが戻され
るので、異なるスイッチインタフェース装置間を結ぶ試
験ルートの設定はできない。そして、試験パターンが通
過するルートは標準的なもののみである。よって、特殊
なルートの設定はできず、通話路内の特定のブロックを
個別に試験するための試験ルートを設定するのが困難な
場合がある。さらに、上記の２つの試験を同一の試験回
路によって実行するのは困難である。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ＡＴＭ交換システムの
通話路では、一般データの速度は固定速度ではない。ま
た、ユーザ毎に使用速度が異なっている。一方、従来の
通話路導通試験は、以上のように、試験用チャネルに試
験パターンを一般データと混在させずに通過させてい
る。試験パターンを一般データと混在させることができ
ても、試験パターン送出速度は一定の固定速度のままで
ある。
通話路では、一般データの速度は固定速度ではない。ま
た、ユーザ毎に使用速度が異なっている。一方、従来の
通話路導通試験は、以上のように、試験用チャネルに試
験パターンを一般データと混在させずに通過させてい
る。試験パターンを一般データと混在させることができ
ても、試験パターン送出速度は一定の固定速度のままで
ある。
【０００７】従って、従来の通話路導通試験の考え方で
は、ＡＴＭ交換システムで求められる通話路導通試験、
すなわち、提供されるサービス速度に応じた複数種類の
速度での通話路導通試験を実現することはできないとい
う問題がある。また、従来の通話路導通試験の考え方で
は、上述したように、通話路内の特定の部分を個別に試
験するための試験ルートの設定はできないという問題が
ある。
は、ＡＴＭ交換システムで求められる通話路導通試験、
すなわち、提供されるサービス速度に応じた複数種類の
速度での通話路導通試験を実現することはできないとい
う問題がある。また、従来の通話路導通試験の考え方で
は、上述したように、通話路内の特定の部分を個別に試
験するための試験ルートの設定はできないという問題が
ある。
【０００８】よって、本発明は、任意の速度で試験信号
を送出でき、しかも、特定の部分を個別に試験する際の
特殊な試験ルートを設定できるＡＴＭ交換システムに適
した通話路導通試験装置を提供することを目的とする。
を送出でき、しかも、特定の部分を個別に試験する際の
特殊な試験ルートを設定できるＡＴＭ交換システムに適
した通話路導通試験装置を提供することを目的とする。
【０００９】
【課題を解決するための手段】本発明に係る通話路導通
試験装置は、スイッチ部と、このスイッチ部に接続され
折り返し機構およびヘッダ変換回路を含む各回線対応部
とを有するＡＴＭ交換システムの通話路内の導通試験を
行うものであって、通話路内のスイッチ部に接続され、
宛先等を示すセルヘッダおよびスイッチング用のルーチ
ングタグを有する試験セルを生成してそれを任意の速度
でスイッチ部に送出する試験セル生成部と、通話路内の
スイッチ部に接続され、通話路内の回線対応部で折り返
された試験セルを回収する試験セル収集部と、回収され
た試験セルを検査する試験セル照合部とを備えたもので
ある。
試験装置は、スイッチ部と、このスイッチ部に接続され
折り返し機構およびヘッダ変換回路を含む各回線対応部
とを有するＡＴＭ交換システムの通話路内の導通試験を
行うものであって、通話路内のスイッチ部に接続され、
宛先等を示すセルヘッダおよびスイッチング用のルーチ
ングタグを有する試験セルを生成してそれを任意の速度
でスイッチ部に送出する試験セル生成部と、通話路内の
スイッチ部に接続され、通話路内の回線対応部で折り返
された試験セルを回収する試験セル収集部と、回収され
た試験セルを検査する試験セル照合部とを備えたもので
ある。
【００１０】
【作用】本発明における試験セル生成部は、任意の速度
で試験セルを送出することにより、実通話路に対して任
意速度の試験セルを通すことを可能にする。また、試験
セルに任意のセルヘッダおよびルーチングタグを付与す
ることにより、スイッチ部に接続されている交換システ
ム内の全ての通話路についての導通試験を可能にする。
試験セル照合部は、回収された試験セルから、通話路内
の試験対象の試験ルートが正常かどうか判定するための
照合を行う。
で試験セルを送出することにより、実通話路に対して任
意速度の試験セルを通すことを可能にする。また、試験
セルに任意のセルヘッダおよびルーチングタグを付与す
ることにより、スイッチ部に接続されている交換システ
ム内の全ての通話路についての導通試験を可能にする。
試験セル照合部は、回収された試験セルから、通話路内
の試験対象の試験ルートが正常かどうか判定するための
照合を行う。
【００１１】さらに、本発明に係る通話路導通試験装置
は、回線対応部に設けられた折り返し機構およびヘッダ
変換回路を利用して、一般データが通過する通話路内の
標準的なルートの他に、通話路内の特定の部分を個別に
試験するための試験ルートを設定し、そのルートをによ
る導通試験をも行う。
は、回線対応部に設けられた折り返し機構およびヘッダ
変換回路を利用して、一般データが通過する通話路内の
標準的なルートの他に、通話路内の特定の部分を個別に
試験するための試験ルートを設定し、そのルートをによ
る導通試験をも行う。
【００１２】
【実施例】図１は本発明による通話路導通試験装置を用
いて通話路導通試験を行うときの試験構成を示す構成図
である。本実施例では、Ｍ個の回線対応部１1 〜１M 、
スイッチ部３１、およびＮ個の回線対応部２1 〜２N に
よるＡＴＭ交換システムを試験する場合を示している。
通話路内導通試験回路４は、スイッチ部３１に接続され
る。なお、回線対応部１1 〜１M 、および回線対応部２
1 〜２N は、試験セルのヘッダを付け替えるヘッダ変換
回路１００および試験セルを抽出してそれを折り返す試
験セル折り返し機構を含む。ヘッダ変換回路１００は、
ヘッダ変換テーブルを有する。以下、回線対応部１1 〜
１M を＃１回線対応部１と呼び、回線対応部２1 〜２N
を＃２回線対応部２と呼ぶ。また、通話路内導通試験回
路４、回線対応部１1 〜１M 、回線対応部２1 〜２N 、
およびスイッチ部３１は、制御部６の指令を受ける。
いて通話路導通試験を行うときの試験構成を示す構成図
である。本実施例では、Ｍ個の回線対応部１1 〜１M 、
スイッチ部３１、およびＮ個の回線対応部２1 〜２N に
よるＡＴＭ交換システムを試験する場合を示している。
通話路内導通試験回路４は、スイッチ部３１に接続され
る。なお、回線対応部１1 〜１M 、および回線対応部２
1 〜２N は、試験セルのヘッダを付け替えるヘッダ変換
回路１００および試験セルを抽出してそれを折り返す試
験セル折り返し機構を含む。ヘッダ変換回路１００は、
ヘッダ変換テーブルを有する。以下、回線対応部１1 〜
１M を＃１回線対応部１と呼び、回線対応部２1 〜２N
を＃２回線対応部２と呼ぶ。また、通話路内導通試験回
路４、回線対応部１1 〜１M 、回線対応部２1 〜２N 、
およびスイッチ部３１は、制御部６の指令を受ける。
【００１３】図１に示すＡＴＭ交換システムは、スイッ
チ部３１がSW-IN とSW-OUTとに分割されている２面構成
のスイッチ部となっているものであるが、図２に示すよ
うに、１面構成のスイッチ部３２によるＡＴＭ交換シス
テムに、本発明による通話路内導通試験装置を適用する
こともできる。
チ部３１がSW-IN とSW-OUTとに分割されている２面構成
のスイッチ部となっているものであるが、図２に示すよ
うに、１面構成のスイッチ部３２によるＡＴＭ交換シス
テムに、本発明による通話路内導通試験装置を適用する
こともできる。
【００１４】図３は通話路内導通試験回路４の構成例を
示すブロック図である。図に示すように、通話路内導通
試験回路４は、それぞれが任意のセルヘッダとルーチン
グタグとを含む複数種類の試験セルを、任意の速度で同
時に生成する試験セル生成部４１と、有効な試験セルを
選択的に取り込む試験セル収集部４２と、および試験セ
ル収集部４２が取り込んだ試験セルに関して、ビットエ
ラー数、損失セル数、および誤配セル数等の計数を行う
試験セル照合部４３とで構成される。ただし、試験セル
収集部４２と試験セル照合部４３とを１つのブロックで
構成してもよい。また、試験セル生成部４１と試験セル
収集部４２とは、スイッチ部３１のSW-IN およびSW-OUT
に接続されている。
示すブロック図である。図に示すように、通話路内導通
試験回路４は、それぞれが任意のセルヘッダとルーチン
グタグとを含む複数種類の試験セルを、任意の速度で同
時に生成する試験セル生成部４１と、有効な試験セルを
選択的に取り込む試験セル収集部４２と、および試験セ
ル収集部４２が取り込んだ試験セルに関して、ビットエ
ラー数、損失セル数、および誤配セル数等の計数を行う
試験セル照合部４３とで構成される。ただし、試験セル
収集部４２と試験セル照合部４３とを１つのブロックで
構成してもよい。また、試験セル生成部４１と試験セル
収集部４２とは、スイッチ部３１のSW-IN およびSW-OUT
に接続されている。
【００１５】次に動作について説明する。通話路導通試
験は、一般データ（ここでは一般セル）が通過する全て
のルートに対して実行される必要がある。すなわち、＃
１回線対応部１→スイッチ部３１のSW-IN →＃２回線対
応部２、および＃２回線対応部２→スイッチ部３１のSW
-OUT→＃１回線対応部１の全てのルートに対して実行さ
れる必要がある。従って、SW-IN に接続されている全て
の回線対応部１1 〜１ M からSW-IN に接続されている全
ての回線対応部２1 〜２N に対して試験セルを通過させ
るとともに、SW-OUTに接続されている全ての回線対応部
２1 〜２N からSW-OUTに接続されている全ての回線対応
部１1 〜１M に対して試験セルを通過させる必要があ
る。
験は、一般データ（ここでは一般セル）が通過する全て
のルートに対して実行される必要がある。すなわち、＃
１回線対応部１→スイッチ部３１のSW-IN →＃２回線対
応部２、および＃２回線対応部２→スイッチ部３１のSW
-OUT→＃１回線対応部１の全てのルートに対して実行さ
れる必要がある。従って、SW-IN に接続されている全て
の回線対応部１1 〜１ M からSW-IN に接続されている全
ての回線対応部２1 〜２N に対して試験セルを通過させ
るとともに、SW-OUTに接続されている全ての回線対応部
２1 〜２N からSW-OUTに接続されている全ての回線対応
部１1 〜１M に対して試験セルを通過させる必要があ
る。
【００１６】まず、図４を参照してSW-IN に関する導通
ルートの試験について説明する。通話路内導通試験回路
４の試験セル生成部４１は、試験セルを、任意の速度で
スイッチ部３１のSW-OUT経由で回線対応部１1 に向けて
送出する。試験セル生成部４１は、回線対応部１1 に対
応したセルヘッダとルーチングタグとを試験セルに含ま
せている。スイッチ部３１は、そのセルヘッダとルーチ
ングタグとを用いて宛先の回線対応部１1 を選別する。
ルートの試験について説明する。通話路内導通試験回路
４の試験セル生成部４１は、試験セルを、任意の速度で
スイッチ部３１のSW-OUT経由で回線対応部１1 に向けて
送出する。試験セル生成部４１は、回線対応部１1 に対
応したセルヘッダとルーチングタグとを試験セルに含ま
せている。スイッチ部３１は、そのセルヘッダとルーチ
ングタグとを用いて宛先の回線対応部１1 を選別する。
【００１７】回線対応部１1 が有している折り返し機構
は、到着した試験セルを折り返し、SW-IN 経由で回線対
応部２1 に向けて送出する。なお、回線対応部１1 は、
制御部６の指示に従って、ヘッダ変換テーブルに宛先と
して回線対応部２1 を示す情報を設定している。回線対
応部１1 のヘッダ変換回路１００は、ヘッダ変換テーブ
ルの内容を参照して、到着した試験セルのセルヘッダと
ルーチングタグとを回線対応部２1 宛に対応したものに
変換する。スイッチ部３１は、そのセルヘッダとルーチ
ングタグとを用いて宛先の回線対応部２1 を選別する。
は、到着した試験セルを折り返し、SW-IN 経由で回線対
応部２1 に向けて送出する。なお、回線対応部１1 は、
制御部６の指示に従って、ヘッダ変換テーブルに宛先と
して回線対応部２1 を示す情報を設定している。回線対
応部１1 のヘッダ変換回路１００は、ヘッダ変換テーブ
ルの内容を参照して、到着した試験セルのセルヘッダと
ルーチングタグとを回線対応部２1 宛に対応したものに
変換する。スイッチ部３１は、そのセルヘッダとルーチ
ングタグとを用いて宛先の回線対応部２1 を選別する。
【００１８】回線対応部２1 が有している折り返し機構
は、到着した試験セルを折り返し、SW-OUT経由で通話路
内導通試験回路４に向けて送出する。ここで、回線対応
部２ 1 のヘッダ変換回路１００は、到着した試験セルの
セルヘッダとルーチングタグとを通話路内導通試験回路
４に対応したものに変換する。スイッチ部３１は、その
セルヘッダとルーチングタグとを用いて、回線対応部２
1 からの試験セルを通話路内導通試験回路４に配信す
る。なお、回線対応部２1 は、制御部６の指示に従っ
て、ヘッダ変換テーブルに宛先として通話路内導通試験
回路４を示す情報を設定している。
は、到着した試験セルを折り返し、SW-OUT経由で通話路
内導通試験回路４に向けて送出する。ここで、回線対応
部２ 1 のヘッダ変換回路１００は、到着した試験セルの
セルヘッダとルーチングタグとを通話路内導通試験回路
４に対応したものに変換する。スイッチ部３１は、その
セルヘッダとルーチングタグとを用いて、回線対応部２
1 からの試験セルを通話路内導通試験回路４に配信す
る。なお、回線対応部２1 は、制御部６の指示に従っ
て、ヘッダ変換テーブルに宛先として通話路内導通試験
回路４を示す情報を設定している。
【００１９】通話路内導通試験回路４の試験セル収集部
４２は、到着した試験セルを収集する。試験セル照合部
４３は、収集された試験セル内のビットエラーの数や損
失セル数等を計数する。
４２は、到着した試験セルを収集する。試験セル照合部
４３は、収集された試験セル内のビットエラーの数や損
失セル数等を計数する。
【００２０】以下、制御部６が回線対応部１1 のヘッダ
変換テーブルの内容を変えて、回線対応部１1 のヘッダ
変換回路１００に、順次回線対応部２2 、・・・、回線
対応部２N に対応したセルヘッダとルーチングタグとに
変換させるようにして、通話路内導通試験回路４が順次
試験セルを送出すれば、SW-IN における回線対応部１ 1
から回線対応部２1 、・・・、回線対応部２N への導通
確認を行うことができる。また、通話路内導通試験回路
４が、試験セル送出先として回線対応部１2 、・・・、
回線対応部１M を順次を選択することにより、SW-IN に
おける回線対応部１2 〜回線対応部１M から回線対応部
２1 、・・・、回線対応部２N への導通確認を行うこと
ができる。以上のようにして、SW-IN の回線対応部が接
続されている全ての入力端子から、回線対応部が接続さ
れている全ての出力端子へ到る導通ルートの導通試験を
行うことができる。
変換テーブルの内容を変えて、回線対応部１1 のヘッダ
変換回路１００に、順次回線対応部２2 、・・・、回線
対応部２N に対応したセルヘッダとルーチングタグとに
変換させるようにして、通話路内導通試験回路４が順次
試験セルを送出すれば、SW-IN における回線対応部１ 1
から回線対応部２1 、・・・、回線対応部２N への導通
確認を行うことができる。また、通話路内導通試験回路
４が、試験セル送出先として回線対応部１2 、・・・、
回線対応部１M を順次を選択することにより、SW-IN に
おける回線対応部１2 〜回線対応部１M から回線対応部
２1 、・・・、回線対応部２N への導通確認を行うこと
ができる。以上のようにして、SW-IN の回線対応部が接
続されている全ての入力端子から、回線対応部が接続さ
れている全ての出力端子へ到る導通ルートの導通試験を
行うことができる。
【００２１】次に、図５を参照してSW-OUTに関する導通
ルートの試験について説明する。通話路内導通試験回路
４の試験セル生成部４１は、試験セルを、任意の速度で
スイッチ部３１のSW-IN 経由で回線対応部２1 に向けて
送出する。試験セル生成部４１は、回線対応部２1 に対
応したセルヘッダとルーチングタグとを試験セルに含ま
せている。スイッチ部３１は、そのセルヘッダとルーチ
ングタグとを用いて宛先の回線対応部２1 を選別する。
ルートの試験について説明する。通話路内導通試験回路
４の試験セル生成部４１は、試験セルを、任意の速度で
スイッチ部３１のSW-IN 経由で回線対応部２1 に向けて
送出する。試験セル生成部４１は、回線対応部２1 に対
応したセルヘッダとルーチングタグとを試験セルに含ま
せている。スイッチ部３１は、そのセルヘッダとルーチ
ングタグとを用いて宛先の回線対応部２1 を選別する。
【００２２】回線対応部２1 が有している折り返し機構
は、到着した試験セルを折り返し、SW-OUT経由で回線対
応部１1 に向けて送出する。ここで、ヘッダ変換テーブ
ルには、宛先として回線対応部１1 を示す情報が設定さ
れている。回線対応部２1 のヘッダ変換回路１００は、
到着した試験セルのセルヘッダとルーチングタグとを回
線対応部１1 に対応したものに変換する。スイッチ部３
１は、そのセルヘッダとルーチングタグとを用いて宛先
の回線対応部１1 を選別する。
は、到着した試験セルを折り返し、SW-OUT経由で回線対
応部１1 に向けて送出する。ここで、ヘッダ変換テーブ
ルには、宛先として回線対応部１1 を示す情報が設定さ
れている。回線対応部２1 のヘッダ変換回路１００は、
到着した試験セルのセルヘッダとルーチングタグとを回
線対応部１1 に対応したものに変換する。スイッチ部３
１は、そのセルヘッダとルーチングタグとを用いて宛先
の回線対応部１1 を選別する。
【００２３】回線対応部１1 が有している折り返し機構
は、到着した試験セルを折り返し、SW-IN 経由で通話路
内導通試験回路４に向けて送出する。ここで、回線対応
部１ 1 のヘッダ変換回路１００は、到着した試験セルの
セルヘッダとルーチングタグとを通話路内導通試験回路
４に対応したものに変換する。スイッチ部３１は、その
セルヘッダとルーチングタグとを用いて、回線対応部１
1 からの試験セルを通話路内導通試験回路４に配信す
る。通話路内導通試験回路４は、上述のSW-IN に関する
導通試験の場合と同様に到着した試験セル内のビットエ
ラーの数や損失セル数等を計数する。
は、到着した試験セルを折り返し、SW-IN 経由で通話路
内導通試験回路４に向けて送出する。ここで、回線対応
部１ 1 のヘッダ変換回路１００は、到着した試験セルの
セルヘッダとルーチングタグとを通話路内導通試験回路
４に対応したものに変換する。スイッチ部３１は、その
セルヘッダとルーチングタグとを用いて、回線対応部１
1 からの試験セルを通話路内導通試験回路４に配信す
る。通話路内導通試験回路４は、上述のSW-IN に関する
導通試験の場合と同様に到着した試験セル内のビットエ
ラーの数や損失セル数等を計数する。
【００２４】以下、回線対応部２1 のヘッダ変換回路１
００に、順次回線対応部１2 、・・・、回線対応部１M
に対応したセルヘッダとルーチングタグとに変換させる
ようにして、通話路内導通試験回路４が順次試験セルを
送出すれば、SW-OUTにおける回線対応部２1 から回線対
応部１1 、・・・、回線対応部１M への導通確認を行う
ことができる。また、通話路内導通試験回路４が、試験
セル送出先として回線対応部２2 、・・・、回線対応部
２N を順次を選択することにより、SW-OUTにおける回線
対応部２2 〜回線対応部２N から回線対応部１1 、・・
・、回線対応部１M への導通確認を行うことができる。
以上のようにして、SW-OUTの回線対応部が接続されてい
る全ての入力端子から、回線対応部が接続されている全
ての出力端子へ到る導通ルートの導通試験を行うことが
できる。
００に、順次回線対応部１2 、・・・、回線対応部１M
に対応したセルヘッダとルーチングタグとに変換させる
ようにして、通話路内導通試験回路４が順次試験セルを
送出すれば、SW-OUTにおける回線対応部２1 から回線対
応部１1 、・・・、回線対応部１M への導通確認を行う
ことができる。また、通話路内導通試験回路４が、試験
セル送出先として回線対応部２2 、・・・、回線対応部
２N を順次を選択することにより、SW-OUTにおける回線
対応部２2 〜回線対応部２N から回線対応部１1 、・・
・、回線対応部１M への導通確認を行うことができる。
以上のようにして、SW-OUTの回線対応部が接続されてい
る全ての入力端子から、回線対応部が接続されている全
ての出力端子へ到る導通ルートの導通試験を行うことが
できる。
【００２５】以上に説明した試験を実行することによ
り、一般セルが通過する通話路内の標準的な導通ルート
を全て試験できる。なお、各導通ルートに対して任意の
複数個の試験セルを送出することもでき、導通ルート毎
にセル送出個数を個別に設定することもできる。
り、一般セルが通過する通話路内の標準的な導通ルート
を全て試験できる。なお、各導通ルートに対して任意の
複数個の試験セルを送出することもでき、導通ルート毎
にセル送出個数を個別に設定することもできる。
【００２６】ところで、図４において、SW-IN には、Ｍ
×Ｎ本の導通ルートが存在する。また、通話路内導通試
験回路４が一度に送出できる試験セルの種類の数（セル
ヘッダの種類数）をｋ種類とすれば、同時にｋ本の導通
ルートについて試験できる。そこで、同時にｋ本の導通
ルートの導通試験を行う第２の実施例が考えられる。ｋ
＜Ｍの場合、Ｍ／ｋの商をａとすれば、本実施例では、
ａ×ｋ個の回線対応部のヘッダ変換テーブルが、制御部
６によって一度に設定される。各回線対応部のヘッダ変
換テーブルには、宛先となるべき回線対応部を示す番号
がモジュロＮで設定される。例えば、第１サイクルで
は、１番目の回線対応部（回線対応部１1）から（ａ×
ｋ）番目の回線対応部までのａ×ｋ個の回線対応部のヘ
ッダ変換テーブルに、モジュロＮで順に宛先が設定され
る。Ｍ＝６４、ｋ＝１０であるなら、ａは６であり、そ
の場合には、回線対応部１1 〜回線対応部１60のヘッダ
変換テーブルに宛先が設定される。
×Ｎ本の導通ルートが存在する。また、通話路内導通試
験回路４が一度に送出できる試験セルの種類の数（セル
ヘッダの種類数）をｋ種類とすれば、同時にｋ本の導通
ルートについて試験できる。そこで、同時にｋ本の導通
ルートの導通試験を行う第２の実施例が考えられる。ｋ
＜Ｍの場合、Ｍ／ｋの商をａとすれば、本実施例では、
ａ×ｋ個の回線対応部のヘッダ変換テーブルが、制御部
６によって一度に設定される。各回線対応部のヘッダ変
換テーブルには、宛先となるべき回線対応部を示す番号
がモジュロＮで設定される。例えば、第１サイクルで
は、１番目の回線対応部（回線対応部１1）から（ａ×
ｋ）番目の回線対応部までのａ×ｋ個の回線対応部のヘ
ッダ変換テーブルに、モジュロＮで順に宛先が設定され
る。Ｍ＝６４、ｋ＝１０であるなら、ａは６であり、そ
の場合には、回線対応部１1 〜回線対応部１60のヘッダ
変換テーブルに宛先が設定される。
【００２７】第２サイクルでは、（ａ×ｋ＋１）番目か
らＭ番目の回線対応部と、１番目のから（２ａ×ｋ−
Ｍ）番目の回線対応部のヘッダ変換テーブルのそれぞれ
に、第１サイクルで設定された宛先に続けたモジュロＮ
による宛先が順に設定される。例えば、Ｍ＝６４、ｋ＝
１０、ａ＝６の場合には、回線対応部１61〜１64、１1
〜１56のヘッダ変換テーブルに宛先が設定される。
らＭ番目の回線対応部と、１番目のから（２ａ×ｋ−
Ｍ）番目の回線対応部のヘッダ変換テーブルのそれぞれ
に、第１サイクルで設定された宛先に続けたモジュロＮ
による宛先が順に設定される。例えば、Ｍ＝６４、ｋ＝
１０、ａ＝６の場合には、回線対応部１61〜１64、１1
〜１56のヘッダ変換テーブルに宛先が設定される。
【００２８】以下、同様に、〔（Ｍ×Ｎ）／（ａ×
ｋ）〕サイクルまでのサイクルにおいて、ヘッダ変換テ
ーブルへの宛先設定がなされる。なお、ｋ≧Ｍの場合に
は、Ｍ個の回線対応部を１つの単位として、各サイクル
が構成される。回線対応部のヘッダ変換テーブルは、SW
-OUTの出力側において、通話路内導通試験回路４に試験
セルが返送されるように最初に設定がされ、以後、SW-I
N に関する試験が完了するまで固定される。
ｋ）〕サイクルまでのサイクルにおいて、ヘッダ変換テ
ーブルへの宛先設定がなされる。なお、ｋ≧Ｍの場合に
は、Ｍ個の回線対応部を１つの単位として、各サイクル
が構成される。回線対応部のヘッダ変換テーブルは、SW
-OUTの出力側において、通話路内導通試験回路４に試験
セルが返送されるように最初に設定がされ、以後、SW-I
N に関する試験が完了するまで固定される。
【００２９】各サイクルにおいて、ヘッダ変換テーブル
の設定がなされると、通話路内導通試験回路４は、同時
にｋ個の試験セルを回線対応部に対して送出する。次
に、宛先を換えて同時にｋ個の試験セルを回線対応部に
対して送出する。このｋ個の試験セルの送出処理を１サ
イクルにａ回繰り返す。なお、試験セルを扱うのは、そ
のサイクルにおいてヘッダ変換テーブルの設定がなされ
た各回線対応部のみである。このようにして、ａ×ｋ個
の回線対応部を単位とする１サイクルの導通試験が終了
する。
の設定がなされると、通話路内導通試験回路４は、同時
にｋ個の試験セルを回線対応部に対して送出する。次
に、宛先を換えて同時にｋ個の試験セルを回線対応部に
対して送出する。このｋ個の試験セルの送出処理を１サ
イクルにａ回繰り返す。なお、試験セルを扱うのは、そ
のサイクルにおいてヘッダ変換テーブルの設定がなされ
た各回線対応部のみである。このようにして、ａ×ｋ個
の回線対応部を単位とする１サイクルの導通試験が終了
する。
【００３０】以下、同様の手順で〔（Ｍ×Ｎ）／（ａ×
ｋ）〕サイクルの導通試験が実行される。最終サイクル
では、端数の〔（Ｍ×Ｎ）−（ａ×ｋ）×（（Ｍ×Ｎ）
／（ａ×ｋ））〕の導通試験が実行される。以上のよう
にして、Ｍ×Ｎ本の導通ルートの導通試験が完了する。
ｋ）〕サイクルの導通試験が実行される。最終サイクル
では、端数の〔（Ｍ×Ｎ）−（ａ×ｋ）×（（Ｍ×Ｎ）
／（ａ×ｋ））〕の導通試験が実行される。以上のよう
にして、Ｍ×Ｎ本の導通ルートの導通試験が完了する。
【００３１】本実施例によれば、ヘッダ変換テーブルの
設定のために制御部６から発行されるコマンドの数が減
り、全体としてヘッダ変換テーブルの設定に要する時間
が短縮され、導通試験の効率が向上する。同時に、回線
対応部から選択される回線対応部が（モジュロＮ）で巡
回しているので、SW-IN の出側の特定の端子に、試験セ
ルが一時に集中することは回避される。すなわち、SW-I
N に対する試験セルによるトラヒック増加の影響を抑え
ることができる。
設定のために制御部６から発行されるコマンドの数が減
り、全体としてヘッダ変換テーブルの設定に要する時間
が短縮され、導通試験の効率が向上する。同時に、回線
対応部から選択される回線対応部が（モジュロＮ）で巡
回しているので、SW-IN の出側の特定の端子に、試験セ
ルが一時に集中することは回避される。すなわち、SW-I
N に対する試験セルによるトラヒック増加の影響を抑え
ることができる。
【００３２】なお、SW-OUTに関するＮ×Ｍ本の導通ルー
トの試験も、上述した説明におけるＭとＮとを入れ換え
ることにより実現される。次に、本発明の第３の実施例
による通話路導通試験装置の動作について説明する。本
実施例による通話路導通試験装置は、同一の試験セルが
複数の回線対応部を連続して経由する試験ルートを設定
することにより、１個、または複数ではあるが少数の試
験セルを用いて通話路内に存在する全ての回線対応部を
試験するものである。
トの試験も、上述した説明におけるＭとＮとを入れ換え
ることにより実現される。次に、本発明の第３の実施例
による通話路導通試験装置の動作について説明する。本
実施例による通話路導通試験装置は、同一の試験セルが
複数の回線対応部を連続して経由する試験ルートを設定
することにより、１個、または複数ではあるが少数の試
験セルを用いて通話路内に存在する全ての回線対応部を
試験するものである。
【００３３】＃１回線対応部１における回線数をＭ、＃
２回線対応部２における回線数をＮとするとき、Ｍ＝Ｎ
の場合、図６に示すような処理が可能である。すなわ
ち、各回線対応部に対して、ヘッダ変換テーブルにその
回線対応部が送出する試験セルの宛先を設定する等の設
定処理が成された後、通話路内導通試験回路４は、SW-O
UTを介して回線対応部１1 に試験セルを送出する。以
下、回線対応部１m （１≦ｍ≦Ｍ）は、SW-IN を介して
回線対応部２m に到着した試験セルを送出する。回線対
応部２n （１≦ｎ≦Ｎ−１）は、SW-OUTを介して回線対
応部１(n+1) に到着した試験セルを送出する。最後に、
回線対応部２N は、到着した試験セルを通話路内導通試
験回路４に送出する。
２回線対応部２における回線数をＮとするとき、Ｍ＝Ｎ
の場合、図６に示すような処理が可能である。すなわ
ち、各回線対応部に対して、ヘッダ変換テーブルにその
回線対応部が送出する試験セルの宛先を設定する等の設
定処理が成された後、通話路内導通試験回路４は、SW-O
UTを介して回線対応部１1 に試験セルを送出する。以
下、回線対応部１m （１≦ｍ≦Ｍ）は、SW-IN を介して
回線対応部２m に到着した試験セルを送出する。回線対
応部２n （１≦ｎ≦Ｎ−１）は、SW-OUTを介して回線対
応部１(n+1) に到着した試験セルを送出する。最後に、
回線対応部２N は、到着した試験セルを通話路内導通試
験回路４に送出する。
【００３４】以上の動作によって、通話路内導通試験回
路４から送出された試験セルは、全ての回線対応部を巡
回し、１つの試験セルによって全ての回線対応部につい
ての導通試験ができる。この試験によって不良が発見さ
れたような場合には、例えば、第１の実施例による試験
や第２の実施例による試験がなされ、不良箇所の切り分
けがなされる。なお、ここでは、最初にSW-OUTを経由し
て回線対応部１1 に試験セルを送出する場合について説
明したが、最初にSW-IN を経由して回線対応部２1 に試
験セルを送出することも可能である。その場合には、最
後に、通話路内導通試験回路４は、回線対応部１M から
試験セルを回収する。
路４から送出された試験セルは、全ての回線対応部を巡
回し、１つの試験セルによって全ての回線対応部につい
ての導通試験ができる。この試験によって不良が発見さ
れたような場合には、例えば、第１の実施例による試験
や第２の実施例による試験がなされ、不良箇所の切り分
けがなされる。なお、ここでは、最初にSW-OUTを経由し
て回線対応部１1 に試験セルを送出する場合について説
明したが、最初にSW-IN を経由して回線対応部２1 に試
験セルを送出することも可能である。その場合には、最
後に、通話路内導通試験回路４は、回線対応部１M から
試験セルを回収する。
【００３５】次に、Ｍ＞Ｎの場合の試験方法について図
７を参照して説明する。Ｍ／Ｎの商をａ、余りをｂとし
たとき、＃１回線対応部１の各回線対応部１1 〜１
M を、Ｎ個の回線対応部からなるａ個のグループと残り
のｂ個の回線対応部からなる１つのグループ（ｂ＝０の
ときには、このグループはない。）とにグループ分けす
る。
７を参照して説明する。Ｍ／Ｎの商をａ、余りをｂとし
たとき、＃１回線対応部１の各回線対応部１1 〜１
M を、Ｎ個の回線対応部からなるａ個のグループと残り
のｂ個の回線対応部からなる１つのグループ（ｂ＝０の
ときには、このグループはない。）とにグループ分けす
る。
【００３６】通話路内導通試験回路４は、あるグループ
について、最初の回線対応部に試験セルを送出する。そ
して、上述したような処理と同様に、各回線対応部は、
試験セルをそのグループ内の全ての回線対応部に巡回さ
せる。この処理が、（ａ＋１）グループについて、すな
わち、（ａ＋１）サイクルについて実行される。
について、最初の回線対応部に試験セルを送出する。そ
して、上述したような処理と同様に、各回線対応部は、
試験セルをそのグループ内の全ての回線対応部に巡回さ
せる。この処理が、（ａ＋１）グループについて、すな
わち、（ａ＋１）サイクルについて実行される。
【００３７】この場合、第ｋ番目のサイクルでは（１≦
ｋ≦ａ）、試験セルは、回線対応部１m （ｋＮ＋１≦ｍ
≦ｋＮ＋Ｎ）から回線対応部２(m-kN)へ、また、回線対
応部２n （１≦ｎ≦Ｎ−１）から回線対応部１(n+kN+1)
へ送出される。最後に、通話路内導通試験回路４は、回
線対応部２N から試験セルを回収する。最終サイクルの
ｂ個の回線対応部のグループに対しては、＃２回線対応
部２の回線対応部２1〜２b を用いて導通試験が実行さ
れる。以上のようにして、（ａ＋１）個の試験セルによ
って全回線対応部について導通試験を行うことができ
る。
ｋ≦ａ）、試験セルは、回線対応部１m （ｋＮ＋１≦ｍ
≦ｋＮ＋Ｎ）から回線対応部２(m-kN)へ、また、回線対
応部２n （１≦ｎ≦Ｎ−１）から回線対応部１(n+kN+1)
へ送出される。最後に、通話路内導通試験回路４は、回
線対応部２N から試験セルを回収する。最終サイクルの
ｂ個の回線対応部のグループに対しては、＃２回線対応
部２の回線対応部２1〜２b を用いて導通試験が実行さ
れる。以上のようにして、（ａ＋１）個の試験セルによ
って全回線対応部について導通試験を行うことができ
る。
【００３８】なお、図７において、で示されるルート
は、第１サイクルにおける試験ルートの一部を示す。
で示されるルートは、第２サイクルにおける試験ルート
の一部を示す。そして、で示されるルートは、第（ａ
＋１）サイクルにおける試験ルートの一部を示す。ただ
し、ｂ＝０の場合には、第（ａ＋１）サイクルはないの
で、で示されるルートはない。
は、第１サイクルにおける試験ルートの一部を示す。
で示されるルートは、第２サイクルにおける試験ルート
の一部を示す。そして、で示されるルートは、第（ａ
＋１）サイクルにおける試験ルートの一部を示す。ただ
し、ｂ＝０の場合には、第（ａ＋１）サイクルはないの
で、で示されるルートはない。
【００３９】この場合、＃１回線対応部１の各回線対応
部１1 〜１M のヘッダ変換テーブル等の設定を、一連の
試験に先立って一括して行うことが可能である。しか
し、＃２回線対応部２の回線対応部２1 〜２N に対する
設定は、各サイクル毎に各サイクルの最初に行われる必
要がある。なお、本実施例では、各サイクル毎に通話路
内導通試験回路４が試験セルを回収する場合について説
明したが、＃２回線対応部２の回線対応部２1 〜２N の
折り返し試験機構およびヘッダ変換テーブルの設定を試
験セルの通過に同期させて行うことにより、全サイクル
の導通試験を１つの試験セルによって連続して実行する
ことができる。
部１1 〜１M のヘッダ変換テーブル等の設定を、一連の
試験に先立って一括して行うことが可能である。しか
し、＃２回線対応部２の回線対応部２1 〜２N に対する
設定は、各サイクル毎に各サイクルの最初に行われる必
要がある。なお、本実施例では、各サイクル毎に通話路
内導通試験回路４が試験セルを回収する場合について説
明したが、＃２回線対応部２の回線対応部２1 〜２N の
折り返し試験機構およびヘッダ変換テーブルの設定を試
験セルの通過に同期させて行うことにより、全サイクル
の導通試験を１つの試験セルによって連続して実行する
ことができる。
【００４０】Ｍ＜Ｎの場合には、Ｎ／Ｍの商をａ、余り
をｂとしたとき、＃２回線対応部２の各回線対応部２1
〜２N を、ａ個の各グループと残りのｂ個の回線対応部
からなる１つのグループ（ｂ＝０のときには、このグル
ープはない。）とにグループ分けする。そして、図７に
示す場合とは＃１回線対応部１と＃２回線対応部２との
関係を逆にして、（ａ＋１）サイクルの導通試験を行え
ば、やはり、（ａ＋１）個の試験セルによって全回線対
応部について導通試験を行うことができる。なお、図８
においても、で示されるルートは、第１サイクルにお
ける試験ルートの一部を示す。で示されるルートは、
第２サイクルにおける試験ルートの一部を示す。そし
て、で示されるルートは、第（ａ＋１）サイクルにお
ける試験ルートの一部を示す。ただし、ｂ＝０の場合に
は、第（ａ＋１）サイクルはないので、で示されるル
ートはない。
をｂとしたとき、＃２回線対応部２の各回線対応部２1
〜２N を、ａ個の各グループと残りのｂ個の回線対応部
からなる１つのグループ（ｂ＝０のときには、このグル
ープはない。）とにグループ分けする。そして、図７に
示す場合とは＃１回線対応部１と＃２回線対応部２との
関係を逆にして、（ａ＋１）サイクルの導通試験を行え
ば、やはり、（ａ＋１）個の試験セルによって全回線対
応部について導通試験を行うことができる。なお、図８
においても、で示されるルートは、第１サイクルにお
ける試験ルートの一部を示す。で示されるルートは、
第２サイクルにおける試験ルートの一部を示す。そし
て、で示されるルートは、第（ａ＋１）サイクルにお
ける試験ルートの一部を示す。ただし、ｂ＝０の場合に
は、第（ａ＋１）サイクルはないので、で示されるル
ートはない。
【００４１】通話路内導通試験の試験ルートとして、第
１の実施例で示したルートの他に、１つの回線対応部お
よびスイッチ部のみを経由する個別のルートも必要であ
る。図９〜図１２は、通話路内の特定の部分を最短の試
験ルートで個別に試験する導通試験を説明するためのも
のである。
１の実施例で示したルートの他に、１つの回線対応部お
よびスイッチ部のみを経由する個別のルートも必要であ
る。図９〜図１２は、通話路内の特定の部分を最短の試
験ルートで個別に試験する導通試験を説明するためのも
のである。
【００４２】図９に示すように、通話路内導通試験回路
４は、SW-OUTを経由して回線対応部１1 に試験セルを送
出する。回線対応部１1 は、その折り返し機構によっ
て、到着した試験セルを折り返す。折り返された試験セ
ルは、SW-IN を経由して通話路内導通試験回路４に転送
される。通話路内導通試験回路４は、転送された試験セ
ルを入力する。そして、通話路内導通試験回路４の試験
セル収集部４２は、到着した試験セルを収集する。試験
セル照合部４３は、収集された試験セル内のビットエラ
ーの数や損失セル数等を計数する。計数結果によって、
回線対応部１1 が正常かどうかわかる。
４は、SW-OUTを経由して回線対応部１1 に試験セルを送
出する。回線対応部１1 は、その折り返し機構によっ
て、到着した試験セルを折り返す。折り返された試験セ
ルは、SW-IN を経由して通話路内導通試験回路４に転送
される。通話路内導通試験回路４は、転送された試験セ
ルを入力する。そして、通話路内導通試験回路４の試験
セル収集部４２は、到着した試験セルを収集する。試験
セル照合部４３は、収集された試験セル内のビットエラ
ーの数や損失セル数等を計数する。計数結果によって、
回線対応部１1 が正常かどうかわかる。
【００４３】通話路内導通試験回路４が、試験セルの送
出先として回線対応部１2 〜１M を選択することによ
り、＃１回線対応部１における他の回線対応部について
も正常かどうか確認される。以上のようにして、＃１回
線対応部１における特定の回線対応部に対する導通試験
を行うことができる。
出先として回線対応部１2 〜１M を選択することによ
り、＃１回線対応部１における他の回線対応部について
も正常かどうか確認される。以上のようにして、＃１回
線対応部１における特定の回線対応部に対する導通試験
を行うことができる。
【００４４】図１０に示すように、試験セルをSW-IN を
経由するように送出すれば、試験セルは、＃２回線対応
部２に転送される。ここで、試験セル到着のあった＃２
回線対応部２の回線対応部は、試験セルを折り返す。折
り返された試験セルは、SW-OUTを経由して通話路内導通
試験回路４に転送される。よって、通話路内導通試験回
路４の試験セル照合部４３が所定の計数を行うことによ
り、＃２回線対応部２における特定の回線対応部に対す
る導通試験を行うことができる。
経由するように送出すれば、試験セルは、＃２回線対応
部２に転送される。ここで、試験セル到着のあった＃２
回線対応部２の回線対応部は、試験セルを折り返す。折
り返された試験セルは、SW-OUTを経由して通話路内導通
試験回路４に転送される。よって、通話路内導通試験回
路４の試験セル照合部４３が所定の計数を行うことによ
り、＃２回線対応部２における特定の回線対応部に対す
る導通試験を行うことができる。
【００４５】図１１は、スイッチ部３１のSW-OUTのみの
導通試験を行う場合を示すものである。その場合には、
通話路内導通試験回路４は、SW-OUTに対して、通話路内
導通試験回路４が接続された出側の端子を選択するため
のセルヘッダおよびルーチングタグを付した試験セルを
送出する。スイッチ部３１は、そのセルヘッダおよびル
ーチングタグによって、試験セルを通話路内導通試験回
路４が接続された出側の端子に配信する。よって、試験
セルはSW-OUTの出側の端子から通話路内導通試験回路４
に回収される。そして、通話路内導通試験回路４の試験
セル照合部４３が上述した計数を行うことにより、スイ
ッチ部３１のSW-OUTのみの導通試験を行うことができ
る。
導通試験を行う場合を示すものである。その場合には、
通話路内導通試験回路４は、SW-OUTに対して、通話路内
導通試験回路４が接続された出側の端子を選択するため
のセルヘッダおよびルーチングタグを付した試験セルを
送出する。スイッチ部３１は、そのセルヘッダおよびル
ーチングタグによって、試験セルを通話路内導通試験回
路４が接続された出側の端子に配信する。よって、試験
セルはSW-OUTの出側の端子から通話路内導通試験回路４
に回収される。そして、通話路内導通試験回路４の試験
セル照合部４３が上述した計数を行うことにより、スイ
ッチ部３１のSW-OUTのみの導通試験を行うことができ
る。
【００４６】図１２は、スイッチ部３１のSW-IN のみの
導通試験を行う場合を示すものである。その場合には、
通話路内導通試験回路４は、SW-IN に対して、通話路内
導通試験回路４が接続された出側の端子を選択するため
のセルヘッダおよびルーチングタグを付した試験セルを
送出する。よって、試験セルはSW-IN の出側の端子から
通話路内導通試験回路４に回収される。そして、通話路
内導通試験回路４の試験セル照合部４３が所定の計数を
行うことにより、スイッチ部３１のSW-IN のみの導通試
験を行うことができる。
導通試験を行う場合を示すものである。その場合には、
通話路内導通試験回路４は、SW-IN に対して、通話路内
導通試験回路４が接続された出側の端子を選択するため
のセルヘッダおよびルーチングタグを付した試験セルを
送出する。よって、試験セルはSW-IN の出側の端子から
通話路内導通試験回路４に回収される。そして、通話路
内導通試験回路４の試験セル照合部４３が所定の計数を
行うことにより、スイッチ部３１のSW-IN のみの導通試
験を行うことができる。
【００４７】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
通話路導通試験装置が、試験セルを任意の速度でスイッ
チ部に送出する試験セル生成部と、通話路内の回線対応
部で折り返された試験セルを回収する試験セル収集部
と、回収された試験セルを検査する試験セル照合部とを
備えた構成であるから、可変速度で、しかも、サービス
提供中に導通試験か行えるものを提供できる効果があ
る。また、標準的なルートだけでなく、通話路内の特定
の部分を個別に試験できるものを提供できる。
通話路導通試験装置が、試験セルを任意の速度でスイッ
チ部に送出する試験セル生成部と、通話路内の回線対応
部で折り返された試験セルを回収する試験セル収集部
と、回収された試験セルを検査する試験セル照合部とを
備えた構成であるから、可変速度で、しかも、サービス
提供中に導通試験か行えるものを提供できる効果があ
る。また、標準的なルートだけでなく、通話路内の特定
の部分を個別に試験できるものを提供できる。
【図１】本発明による通話路導通試験を行うときの試験
構成を示す構成図である。
構成を示す構成図である。
【図２】本発明による通話路導通試験を行うときの他の
試験構成を示す構成図である。
試験構成を示す構成図である。
【図３】通話路内導通試験回路の構成例を示すブロック
図である。
図である。
【図４】SW-IN における導通ルートの試験を行う場合の
試験ルートを示す説明図である。
試験ルートを示す説明図である。
【図５】SW-OUTにおける導通ルートの試験を行う場合の
試験ルートを示す説明図である。
試験ルートを示す説明図である。
【図６】Ｍ＝Ｎの場合の第３の実施例における試験ルー
トを示す説明図である。
トを示す説明図である。
【図７】Ｍ≧Ｎの場合の第３の実施例における試験ルー
トを示す説明図である。
トを示す説明図である。
【図８】Ｍ≦Ｎの場合の第３の実施例における試験ルー
トを示す説明図である。
トを示す説明図である。
【図９】＃１回線対応部を個別に試験する場合の試験ル
ートを示す説明図である。
ートを示す説明図である。
【図１０】＃２回線対応部を個別に試験する場合の試験
ルートを示す説明図である。
ルートを示す説明図である。
【図１１】SW-OUTを個別に試験する場合の試験ルートを
示す説明図である。
示す説明図である。
【図１２】SW-IN を個別に試験する場合の試験ルートを
示す説明図である。
示す説明図である。
【図１３】従来の通話路導通試験装置による試験の際の
接続関係を示すブロック図である。
接続関係を示すブロック図である。
【図１４】従来のパイロット試験の際の接続関係を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
１1 〜１M 回線対応部 ２1 〜２N 回線対応部 ３１，３２ スイッチ部 ４ 通話路内導通試験回路 ６ 制御部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 宮保 憲治 東京都千代田区内幸町１丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内
Claims (1)
- 【請求項１】 スイッチ部と、このスイッチ部に接続さ
れ折り返し機構およびヘッダ変換回路を含む各回線対応
部とを有するＡＴＭ交換システムの通話路内の導通試験
を行う通話路導通試験装置であって、 セルヘッダおよびルーチングタグを有する試験セルを生
成してそれを任意の速度で前記スイッチ部に出力する試
験セル生成部と、 前記通話路内の回線対応部で折り返された試験セルを回
収する試験セル収集部と、 回収された試験セルを検査する試験セル照合部とを備え
たことを特徴とする通話路導通試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4946093A JPH06268668A (ja) | 1993-03-10 | 1993-03-10 | 通話路導通試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4946093A JPH06268668A (ja) | 1993-03-10 | 1993-03-10 | 通話路導通試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06268668A true JPH06268668A (ja) | 1994-09-22 |
Family
ID=12831762
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4946093A Pending JPH06268668A (ja) | 1993-03-10 | 1993-03-10 | 通話路導通試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06268668A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08204720A (ja) * | 1995-01-27 | 1996-08-09 | Nec Corp | Ａｔｍ交換装置および通話路導通試験方法 |
| JPH0918496A (ja) * | 1995-07-04 | 1997-01-17 | Nec Corp | Ａｔｍ／ｓｔｍスイッチ導通試験方法とその装置 |
| JPH0923230A (ja) * | 1995-07-07 | 1997-01-21 | Nec Corp | Ａｔｍ／ｓｔｍ交換通話路の導通試験方式 |
| US6134219A (en) * | 1996-06-28 | 2000-10-17 | Nec Corporation | Test of cell conductivity in ATM switching system |
| JP2008271264A (ja) * | 2007-04-23 | 2008-11-06 | Nec Engineering Ltd | クロスコネクトパス試験システム及びそれに用いるパス試験方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04124936A (ja) * | 1990-09-17 | 1992-04-24 | Fujitsu Ltd | Ａｔｍ交換通話路の導通試験方式 |
-
1993
- 1993-03-10 JP JP4946093A patent/JPH06268668A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04124936A (ja) * | 1990-09-17 | 1992-04-24 | Fujitsu Ltd | Ａｔｍ交換通話路の導通試験方式 |
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| JP2008271264A (ja) * | 2007-04-23 | 2008-11-06 | Nec Engineering Ltd | クロスコネクトパス試験システム及びそれに用いるパス試験方法 |
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