JPH0628269B2 - ダイボンデイング用接着テ−プ - Google Patents
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- Organic Chemistry (AREA)
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- Adhesives Or Adhesive Processes (AREA)
- Die Bonding (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体素子をステム或はリードフレームに固定
するために用いられるダイボンデイング用の接着テープ
に関する。
するために用いられるダイボンデイング用の接着テープ
に関する。
トランジスタの如き半導体装置では半導体チツプをパツ
ケージに組込むために種々のボンデイング法が開発され
実用化されている。
ケージに組込むために種々のボンデイング法が開発され
実用化されている。
その中でダイボンデイングと云われるものは半導体チツ
プを基板の所定の位置に固定するものであり、これはチ
ツプのパツケージに対する機械的保護、電気的接続、熱
放散等を目的とし、具体的には次のような方法が行なわ
れている。
プを基板の所定の位置に固定するものであり、これはチ
ツプのパツケージに対する機械的保護、電気的接続、熱
放散等を目的とし、具体的には次のような方法が行なわ
れている。
(イ) 共晶合金法、固定する導体面をAu面にしてお
き、400℃前後に加熱してSiチツプの裏面をスクラ
ブして Au-Si 共晶により合金化する接続方法で、Au
を使用するので非常に高価な難点を有している。
き、400℃前後に加熱してSiチツプの裏面をスクラ
ブして Au-Si 共晶により合金化する接続方法で、Au
を使用するので非常に高価な難点を有している。
(ロ) 樹脂接着法、裏面処理したチツプをエポキシ系樹
脂等の熱硬化性樹脂と、Ag,Au,SiO2,MgO などのフ
イラーを含むペースト接着剤で接着する方法で、マウン
ト作業は常温でできるが、樹脂硬化に時間を要する。
又、ペースト状接着剤は一定量を計量することや、ぺた
つく作業環境など作業性に劣る欠点があり、しかもペー
ストの保存中に銀粉が沈降分離する難点があつた。
脂等の熱硬化性樹脂と、Ag,Au,SiO2,MgO などのフ
イラーを含むペースト接着剤で接着する方法で、マウン
ト作業は常温でできるが、樹脂硬化に時間を要する。
又、ペースト状接着剤は一定量を計量することや、ぺた
つく作業環境など作業性に劣る欠点があり、しかもペー
ストの保存中に銀粉が沈降分離する難点があつた。
本発明は上記の問題点を解決するためになされたもの
で、本発明者が先に生み出した実願昭61−29476号
のダイボンデイング用接着テープを一層発展させたもの
で、特に、優れた性能を有する接着テープを適用したも
のである。
で、本発明者が先に生み出した実願昭61−29476号
のダイボンデイング用接着テープを一層発展させたもの
で、特に、優れた性能を有する接着テープを適用したも
のである。
以下その概要を述べれば、第1図に示すように、熱硬化
性樹脂からなる結着剤とフイラーとを主成分とする接着
剤層11とセパレーター12とからなる長尺テープ13
が、第2図のようにリール14に巻取られてダイボンデ
イング用接着テープが構成される。
性樹脂からなる結着剤とフイラーとを主成分とする接着
剤層11とセパレーター12とからなる長尺テープ13
が、第2図のようにリール14に巻取られてダイボンデ
イング用接着テープが構成される。
ノボラック型エポキシ樹脂とビスフェノールA型エポキ
シ樹脂の混合物からなるエポキシ樹脂100重量部と、
線状飽和ポリエステル樹脂20〜100重量部との組成
からなるものが使用される。その結果、本発明の接着テ
ープは、耐熱性、接着強度は勿論、可撓性にも優れ、半
導体装置としての性能を損する分解ガスの発生もなく、
信頼性に優れていることを見出した。
シ樹脂の混合物からなるエポキシ樹脂100重量部と、
線状飽和ポリエステル樹脂20〜100重量部との組成
からなるものが使用される。その結果、本発明の接着テ
ープは、耐熱性、接着強度は勿論、可撓性にも優れ、半
導体装置としての性能を損する分解ガスの発生もなく、
信頼性に優れていることを見出した。
本発明において結着剤として用いられる樹脂について記
述すれば以下のとおりである。
述すれば以下のとおりである。
エポキシ樹脂: 1) ビスフエノールA型エポキシ樹脂 もつとも一般的なエポキシ樹脂で、4,4′-ジオキシフエ
ニルプロパン(ビスフエノールA)とエピクロルヒドリ
ンとの縮合反応により、製造される下記の一般式を有
し、エピクロルヒドリンのモル数を低下させると分子内
に−OH基を有するものが得られる。
ニルプロパン(ビスフエノールA)とエピクロルヒドリ
ンとの縮合反応により、製造される下記の一般式を有
し、エピクロルヒドリンのモル数を低下させると分子内
に−OH基を有するものが得られる。
樹脂は油化シエルエポキシ社製のエピコート1001、
東都化成工業社製のエポトーナYD014等として知られて
おり、接着強度は大だが耐熱性が若干低い。
東都化成工業社製のエポトーナYD014等として知られて
おり、接着強度は大だが耐熱性が若干低い。
別紙のとおりとする。
2) ノボラツク型エポキシ樹脂 フエノール性の水酸基とエピクロルヒドリンとの反応に
よるエポキシ樹脂で次のようなものがある。
よるエポキシ樹脂で次のようなものがある。
○フェノールノボラツクグリシジルエーテル ○o−クレゾールノボラツクグリシジルエーテル ○m−クレゾールノボラツクグリシジルエーテル ○レゾルシンノボラツクグリシジルエーテル ここにo−クレゾールボラツクグリシジルエーテルの化
学構造を示せば下記のとおりである。
学構造を示せば下記のとおりである。
これらノボラツク型エポキシ樹脂は前記のビスフエノー
ルA型のものより耐熱性が大(架橋密度が大)であるが
接着性は若干劣る。
ルA型のものより耐熱性が大(架橋密度が大)であるが
接着性は若干劣る。
従つてノボラツク型とビスフエノールA型のエポキシ樹
脂の混合系のものが最も好ましいものである。
脂の混合系のものが最も好ましいものである。
ポリエステル樹脂: 本発明に於てポリエステルをエポキシ樹脂に配合する理
由は、エポキシ樹脂のみでは可撓性がないため、テープ
状に成形することができないのに対し、ポリエステルを
配合することによりテープ状に成形することを可能なら
しめたものである。
由は、エポキシ樹脂のみでは可撓性がないため、テープ
状に成形することができないのに対し、ポリエステルを
配合することによりテープ状に成形することを可能なら
しめたものである。
エポキシ樹脂に対し、可撓性を付与してテープ状に成形
し得る材料としては、ポリエステル以外にアクリル系、
ナイロン系、ウレタン系、ゴム系等がある。
し得る材料としては、ポリエステル以外にアクリル系、
ナイロン系、ウレタン系、ゴム系等がある。
しかしこれらは溶融粘度が高過ぎて、ICチツプを搭載す
る際、リードフレームに接着し難いことおよびガラス転
移点Tgが比較的高いこと、高温で分解ガスを発生する
等の故に好ましいものとは言えない。
る際、リードフレームに接着し難いことおよびガラス転
移点Tgが比較的高いこと、高温で分解ガスを発生する
等の故に好ましいものとは言えない。
しかるにポリエステルは上記のような問題を発生せず好
適に使用される。
適に使用される。
しかし、ポリエステルについても詳細に検討すると、芳
香族ポリエステルでは硬くなり過ぎて可撓性が悪いのは
好ましくなく、又、不飽和ポリエステルは汎用のポリエ
ステルではあるが、二重結合のように活性基を残存する
ものは安定性や信頼性の点では不安があるので好ましい
ものとは云えない。
香族ポリエステルでは硬くなり過ぎて可撓性が悪いのは
好ましくなく、又、不飽和ポリエステルは汎用のポリエ
ステルではあるが、二重結合のように活性基を残存する
ものは安定性や信頼性の点では不安があるので好ましい
ものとは云えない。
従って本発明を使用するポリエステルとしては線状飽和
ポリエステルであり、例えば東洋紡社のバイロン300
は分子量20〜25万、Tg室温以下で溶融粘度が小さ
く、接着性が長期にわたつて維持されるもので好まし
い。
ポリエステルであり、例えば東洋紡社のバイロン300
は分子量20〜25万、Tg室温以下で溶融粘度が小さ
く、接着性が長期にわたつて維持されるもので好まし
い。
しかしエポキシ樹脂に対し、このポリエステルの配合量
を多くすると、タック性が大きくなり、テープ上に半導
体チツプを搭載する工程でトラブルを発生し易く、かつ
耐熱性を低下し、耐加水分解性が劣るので半導体装置と
しての信頼性を低下するものである。従って本発明でい
う飽和ポリエステル樹脂はエポキシ樹脂100重量部に
対して20〜100重量部であることが必要である。
を多くすると、タック性が大きくなり、テープ上に半導
体チツプを搭載する工程でトラブルを発生し易く、かつ
耐熱性を低下し、耐加水分解性が劣るので半導体装置と
しての信頼性を低下するものである。従って本発明でい
う飽和ポリエステル樹脂はエポキシ樹脂100重量部に
対して20〜100重量部であることが必要である。
本発明のテープを用いて半導体素子をボンデイングする
プロセスを第3図を参照しつつ説明すればリードフレー
ム21の中央部に本発明の接着テープ22をそのリール
23からセパレーター24を剥ぎ取りながら接着剤部分
(テープ化している)5を露出させてその一定長をカツ
テイングするかパンチングして80〜120℃で密接着
させる。次にこの接着剤部分25の上にICチツプ26を
載せて120〜150℃に加熱し接着保持する。
プロセスを第3図を参照しつつ説明すればリードフレー
ム21の中央部に本発明の接着テープ22をそのリール
23からセパレーター24を剥ぎ取りながら接着剤部分
(テープ化している)5を露出させてその一定長をカツ
テイングするかパンチングして80〜120℃で密接着
させる。次にこの接着剤部分25の上にICチツプ26を
載せて120〜150℃に加熱し接着保持する。
しかる後250℃で60秒接着剤をキュアする。これに
よつて容易に半導体素子をリードフレームに固定するこ
とができる。
よつて容易に半導体素子をリードフレームに固定するこ
とができる。
以下本発明の実施例について述べる。
実施例1 上記の配合物をミキサーで混練し、厚さ38μmのシリ
コン処理ポリエチレンテレフタレート上にリバースロー
ルコーターを用いて塗布乾燥して厚さ20μmの接着剤
層を未硬化又は半硬化状態で形成せしめ、このようにし
て得られた接着テープをアクリル樹脂製リールに巻いて
本発明のダイボンデイング用接着テープを得た。
コン処理ポリエチレンテレフタレート上にリバースロー
ルコーターを用いて塗布乾燥して厚さ20μmの接着剤
層を未硬化又は半硬化状態で形成せしめ、このようにし
て得られた接着テープをアクリル樹脂製リールに巻いて
本発明のダイボンデイング用接着テープを得た。
実施例2 上記の配合物をミキサーで混練し、厚さ50μmの弗素
樹脂フイルムにリバースロールコーターを用いて塗工し
乾燥して厚さ20μmの接着剤層を形成せしめた。
樹脂フイルムにリバースロールコーターを用いて塗工し
乾燥して厚さ20μmの接着剤層を形成せしめた。
このようにして得られた接着テープをボリカーボネート
からなるリールに巻いて本発明のダイボンデイング用接
着テープを得た。
からなるリールに巻いて本発明のダイボンデイング用接
着テープを得た。
実施例3 実施例2に示した配合中銀粉50重量部に変えてAl2O3
50重量部を用いた他は、全く同様な配合で、かつ実施
例2と同様な方法によつて本発明のダイボンデイング用
接着テープを得た。
50重量部を用いた他は、全く同様な配合で、かつ実施
例2と同様な方法によつて本発明のダイボンデイング用
接着テープを得た。
前記実施例1,2及び3のダンボンデイング用の接着テ
ープはいずれも前記したICチツプ搭載手段で容易に搭載
でき、信頼性の高いテープマウントがなし得たが 比較例 実施例1における線状飽和ポリエステル樹脂を除いた配
合で接着剤層を形成した以外は実施例1と同様にして比
較用のテープを作成しようとしたところ可撓性がないの
でテープの状態を形成しなかつた。
ープはいずれも前記したICチツプ搭載手段で容易に搭載
でき、信頼性の高いテープマウントがなし得たが 比較例 実施例1における線状飽和ポリエステル樹脂を除いた配
合で接着剤層を形成した以外は実施例1と同様にして比
較用のテープを作成しようとしたところ可撓性がないの
でテープの状態を形成しなかつた。
なお本発明の実施に際してはセパレーターは接着剤層間
の接着を防止する機能を有するので、片面にセパレータ
ーを貼付けたものではどちらを外側にしてもよいが、な
るべくセパレーターを外側にした方が内部の汚損防止上
有利である。又、接着剤層の両面にセパレーターを貼付
けたテープでもよいことは勿論である。
の接着を防止する機能を有するので、片面にセパレータ
ーを貼付けたものではどちらを外側にしてもよいが、な
るべくセパレーターを外側にした方が内部の汚損防止上
有利である。又、接着剤層の両面にセパレーターを貼付
けたテープでもよいことは勿論である。
本発明によれば、極めて簡単な取扱いで作業性もよく、
信頼性の高い半導体素子のボンデイングを達成すること
ができる。
信頼性の高い半導体素子のボンデイングを達成すること
ができる。
第1図は本発明に於て用いられるテープの構造例を示す
一部拡大断面図、第2図は本発明の一例を示す一部破断
の斜視図、第3図は本発明のテープを用いたボンデイン
グ工程の簡略説明図。 11;接着剤層、12;セパレーター層、13;長尺テ
ープ、14;リール
一部拡大断面図、第2図は本発明の一例を示す一部破断
の斜視図、第3図は本発明のテープを用いたボンデイン
グ工程の簡略説明図。 11;接着剤層、12;セパレーター層、13;長尺テ
ープ、14;リール
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 津島 正企 静岡県静岡市用宗巴町3番1号 株式会社 巴川製紙所技術研究所内 (56)参考文献 特開 昭60−49636(JP,A) 特開 昭54−7441(JP,A) 特開 昭58−112335(JP,A) 電子材料、第22巻第7号、P.28〜29電 子材料、第25巻第12号、P.79〜83
Claims (1)
- 【請求項1】ノボラック型エポキシ樹脂とビスフェノー
ルA型エポキシ樹脂の混合物からなるエポキシ樹脂10
0重量部と、線状飽和ポリエステル樹脂20〜100重
量部との組成からなる結着剤と、フイラーとを主成分と
する接着剤がセパレーター上に積層された構成の長尺テ
ープが、リールに巻き取られていることを特徴とするダ
イボンデイング用接着テープ。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62174826A JPH0628269B2 (ja) | 1987-07-15 | 1987-07-15 | ダイボンデイング用接着テ−プ |
| KR1019870009633A KR960002767B1 (ko) | 1987-07-15 | 1987-09-01 | 다이 결합용 접착 테이프 |
| US07/325,090 US4933219A (en) | 1987-07-15 | 1989-03-20 | Adhesive tapes for die bonding |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62174826A JPH0628269B2 (ja) | 1987-07-15 | 1987-07-15 | ダイボンデイング用接着テ−プ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6419735A JPS6419735A (en) | 1989-01-23 |
| JPH0628269B2 true JPH0628269B2 (ja) | 1994-04-13 |
Family
ID=15985336
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62174826A Expired - Fee Related JPH0628269B2 (ja) | 1987-07-15 | 1987-07-15 | ダイボンデイング用接着テ−プ |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4933219A (ja) |
| JP (1) | JPH0628269B2 (ja) |
| KR (1) | KR960002767B1 (ja) |
Families Citing this family (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5436063A (en) * | 1993-04-15 | 1995-07-25 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Coated abrasive article incorporating an energy cured hot melt make coat |
| US6485589B1 (en) | 1993-04-15 | 2002-11-26 | 3M Innovative Properties Company | Melt-flowable materials and method of sealing surfaces |
| US7575653B2 (en) * | 1993-04-15 | 2009-08-18 | 3M Innovative Properties Company | Melt-flowable materials and method of sealing surfaces |
| KR0137826B1 (ko) * | 1994-11-15 | 1998-04-28 | 문정환 | 반도체 디바이스 패키지 방법 및 디바이스 패키지 |
| KR100333452B1 (ko) | 1994-12-26 | 2002-04-18 | 이사오 우치가사키 | 필름 형상의 유기 다이본딩재 및 이를 이용한 반도체 장치 |
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