JPH0628694A - チルトエラー検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 簡便な構成でフォーカスなどによる対物レン
ズの位置移動の影響を受けることなく、良好に光ピック
アップのチルトエラー検出を行う。 【構成】 光ピックアップ本体Ａのハーフミラー１４か
ら分岐されたチルト検出ビームＬＣは、対物レンズ１６
と一体に傾動可能に設けられた検出ハーフミラー２４を
介してディスク２６に照射される。ディスク側からの反
射ビームは検出ハーフミラー２４で反射されてアパーチ
ャ２８に入射し、ここで絞られて２分割の光検出器３０
に入射する。対物レンズ１６とディスク２６との間に相
対的な傾きが生じた場合には、光検出器３０に斜めにビ
ームが入射するようになり、光検出素子３０Ａ，３０Ｂ
間で出力差が生じてチルトエラー信号ＣＥが得られる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ＣＤ，ＬＤなどの光デ
ィスクに対する情報の記録，再生を行うための光ピック
アップにかかり、特に、ディスク面の傾き変動を検出す
るチルトエラー検出装置の改良に関する。

【０００２】

【従来の技術】ＣＤやＬＤなどの光ディスクシステムで
光ピックアップの光軸に対してディスクが傾いている
と、コマ収差が生じてジッタやクロストークの増加など
の性能劣化を招くことが知られている（例えば、「光デ
ィスクにおけるアイパターンのジッター解析」久保田重
夫，光学，１２（１９８３），ｐｐ４３７〜参照）。こ
のような不都合の発生を防止するため、光ピックアップ
をディスクの傾きに追従させる制御，いわゆるチルトサ
ーボ制御が試みられており、一部では製品化されてい
る。

【０００３】ところで、このようなチルトサーボ制御に
おけるチルト検出装置としては、例えば図６に示すもの
がある。この従来例では、ピックアップ本体１００に組
み込まれた発光ダイオード１０２から出射された光がデ
ィスク１０４で反射され、その両側に配置された光検出
器１０６，１０８に各々入射する。ここで、ディスク１
０４に傾きが生じると、光検出器１０６，１０８に入射
するディスク反射光の光量に偏りが生じる。従って、差
動増幅器１１０で光検出器１０６，１０８の光電変換出
力の差を求めることによってチルトエラー信号ＣＥを得
ることができる。

【０００４】この例では、このチルトエラー信号ＣＥに
基づいてチルトモータ１１２が駆動されると、その回転
に伴ってガイドレール１１４の一端が上下し、ピックア
ップ本体１００の全体の傾きが変化する。これによっ
て、光ピックアップ本体１００とディスク１０４との相
対的な傾角が略一定に保たれるようになる（例えば、
「レーザーディスクテクニカルブック」パイオニア
（株）監修，アスキー出版局，１９８６，ｐｐ９７〜参
照）

【０００５】第７図には、特開平３−３７８３７号公報
に開示された他の従来例が示されている。この例では、
光ピックアップ１２０のレーザ１２２から出力された情
報読取り用のレーザビーム１２４がチルト検出にも用い
られている。このレーザビーム１２４がチルトビーム形
成用の回折格子１２６に入射すると、０次及び±１次の
回折光が生じ、これらがチルトビーム１２８として利用
される。これらのチルトビーム１２８は、ハーフミラー
や対物レンズなどの投射光学系１３０によってディスク
１３２に入射する。そして、ディスク１３２で反射され
たチルトビーム１２８は、投射光学系１３０をほぼ逆に
進行し、８分割光検出器１３４のｈ，ｇに各々入射す
る。

【０００６】ここで、ディスク１３２に傾きが生じる
と、０次及び＋１次のチルトビームと０次及び−１次の
チルトビームとでは、前記投射光学系１３０の対物レン
ズの入射瞳によって異なる「けられ」方をする。このた
め、８分割光検出器１３４のｈ，ｇに各々入射するチル
トビーム１２８の光量に偏りが生ずる。従って、それら
による光電変換出力の差を差動増幅器１３６で求めるこ
とで、上述した従来例と同様にチルトエラー信号を得る
ことができる。

【０００７】ところで、このような従来例では、チルト
エラー検出装置が光ピックアップ本体に取付けられてい
るため、光ピックアップ本体とディスクとの相対的な傾
きしか検出できない。このため、光ピックアップ全体を
傾動させるようなチルト制御しか行うことができない。
従って、チルト制御における可動部質量，すなわち慣性
が大きくなり、周波数の高い駆動には向かない。例え
ば、ＬＤの外周側におけるディスクの垂れ下がりに起因
するチルト制御のような応答時間が数秒程度のゆっくり
とした低周波域の制御などには適用できるが、それ以外
の周波数の高いチルト制御への適用は実用上不可能であ
る。

【０００８】また、高密度光ディスクシステムでは、
０．６程度の大きな開口数ＮＡの対物レンズの使用が検
討されている。この場合、ディスク傾きの許容値は０．
２゜程度と非常に厳しい。ところが、前記従来例では、
ディスクの歪みなどによって生ずるディスクの回転周波
数以上の帯域の傾き変化に追従できない。このため、開
口数の大きな対物レンズを使用した場合の回転に伴うコ
マ収差の発生を抑えきれない。

【０００９】このような点を改善するものとして、ピッ
クアップの光学系の一部を傾き可動部としたものが特開
平３−１３７８３１号公報に開示されている。図８に
は、その概略が示されており、情報の記録又は再生用の
レーザビーム１４０は、レンズホルダ１４２に保持され
た収束レンズ１４４を介してディスク１４６に入射する
ようになっている。レンズホルダ１４２の側面にはミラ
ー１４８が設けられており、これら全体がボイスコイル
（図示せず）によって傾動可能に支持されている。

【００１０】次に、チルトエラー検出器１５０はレンズ
ホルダ１４２と別体に構成配置されており、光源１５２
から出力されたチルトエラー検出用ビーム１５４は平行
検出レンズ１５６を介して前記レンズホルダ１４２のミ
ラー１４８に入射する。そして、ここで反射された検出
用ビーム１５４は更にディスク１４６で反射され、平行
検出レンズ１５６を介して４分割光検出器１５８に入射
する。

【００１１】この場合に、ディスク１４６に傾きがある
と、４分割光検出器１５８における検出用ビーム１５４
の入射位置が傾きの程度に応じて変化するようになる。
このビーム位置変化は、４分割光検出器１５８を構成す
る光電変換素子の差から求められる。得られたチルトエ
ラー信号は、レンズホルダ１４２を支持するボイスコイ
ルに供給され、レンズホルダ１４２のみが傾動して傾き
が補正される。この従来例によれば、ピックアップ全体
ではなく、収束レンズ１４４のレンズホルダ１４２のみ
が可動部分となっているので、高い周波数の傾き変動に
も追従できるようになる。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この従
来例では、チルトエラー検出のための光源１５２や平行
光化するためのレンズ１５６を別途設ける必要がある。
また、光検出器１５８が厳密に検出用ビーム１５４の焦
点面上にないと、仮にディスク１４６に傾きがない場合
であってもフォーカスやトラッキングによる対物レンズ
の位置移動の影響でビーム照射位置にズレが生ずる。従
って、光検出器１５８の位置決めには、非常に高い精度
が要求されることになる。

【００１３】本発明は、これらの点に着目したもので、
簡便な構成でフォーカスなどによる対物レンズの位置移
動の影響を受けることなく、良好にチルトエラー検出を
行うことができるチルトエラー検出装置を提供すること
を、その目的とする。

【００１４】

【課題を解決するための手段】本発明は、光ピックアッ
プの固定側から傾動側にチルト検出ビームを出力するビ
ーム出力手段と、前記傾動側の対物レンズと一体に傾動
可能に設けられ、前記ディスクの入射側又は反射側のい
ずれかで前記チルト検出ビームを反射するミラー手段
と、このミラー手段及びディスク側で反射されたチルト
検出ビームを絞り込んで出力するアパーチャ手段と、こ
れによって絞られたチルト検出ビームからチルトエラー
信号を得る信号検出手段とを備えたことを特徴とする。

【００１５】

【作用】従来技術においては、ディスクの傾きに対して
光学系全体の傾きを制御する構成となっているが、光学
的な収差発生の観点からは、光学系を固定としディスク
の傾きに対して対物レンズの傾きのみを傾動追従させる
ことで、ほぼ同等な効果が得られることが知られてい
る。

【００１６】本発明によれば、対物レンズと一体に傾動
可能に反射ミラーが設けられ、これとディスクによって
チルト検出ビームが反射される。反射されたチルト検出
ビームは、対物レンズとディスクとが同一方向に同量傾
いた場合、すなわち両者の間に相対的な傾きが存在しな
いときの誤検出を防止するためのアパーチャ手段で絞り
込まれて信号検出手段に入力される。そして、これによ
る検出チルトエラー信号に基づいて傾き制御が行われ
る。傾動部分は対物レンズと反射ミラーのみであるか
ら、質量が大幅に軽減され、ディスク回転周波数以上の
高い周波数帯域でのチルトサーボ動作が可能となる。

【００１７】

【実施例】以下、本発明によるチルトエラー検出装置の
実施例について、添付図面を参照しながら説明する。 ＜第１実施例＞最初に、図１乃至図４を参照しながら、
本発明の第１実施例について説明する。図１には第１実
施例の主要部分の斜視図が示されており、図２にはその
側面が示されている。これらの図において、光ピックア
ップは、本体Ａと傾き可動部（チルトアクチュエータ）
Ｂとによって構成されている。本体１０には、その底部
に半導体レーザ１０が配置されており、この半導体レー
ザ１０のレーザビームＬＡの出力光路中には、コリメー
タレンズ１２，ハーフミラー１４が各々順に配置されて
いる。このハーフミラー１４のレーザビームＬＡの透過
側には、傾き可動部Ｂの対物レンズ１６が配置されてい
る。

【００１８】ハーフミラー１４の主ビームＬＢの反射側
には、検出レンズ１８，光検出器２０が各々順に配置さ
れている。また、ハーフミラー１４のチルト検出ビーム
ＬＣの反射側にはミラー２２が配置されており、このミ
ラー２２のビーム反射側には傾き可動部Ｂの検出ハーフ
ミラー２４が配置されている。そして、この検出ハーフ
ミラー２４のビーム透過側はディスク２６となってお
り、ビーム反射側にはアパーチャ２８を介して光検出器
３０が配置されている。そして、この光検出器３０の検
出出力側には差動増幅器３２が接続されており、これか
らチルトエラー信号ＣＥが出力されるようになってい
る。

【００１９】以上の各部のうち、半導体レーザ１０から
出力されたレーザビームＬＡは、ハーフミラー１４によ
って主ビームＬＢとチルト検出ビームＬＣとに分割され
るようになっている。主ビームＬＢは、対物レンズ１６
を介してディスク２６のピット列Ｐ（図１参照）に入射
するとともに、ここで反射される。反射された主ビーム
ＬＢは光路を戻り、ハーフミラー１４で反射されて検出
レンズ１８を透過し、光検出器２０に入射する。この主
ビームの作用によって、ディスク２６に対するデータの
記録，再生，フォーカスエラーやトラッキングエラーの
検出などが公知の方法で行われる。

【００２０】他方、チルト検出ビームＬＣは、ミラー２
２で反射されて検出ハーフミラー２４に入射し、これを
透過してディスク２６の比較的広い領域Ｅ（図１参照）
に入射する。ここで反射されたチルト検出ビームＬＣ
は、検出ハーフミラー２４で反射されてアパーチャ２８
に入射し、これを透過したチルト検出ビームＬＣが光検
出器３０に入射する。

【００２１】次に、傾き可動部Ｂは、対物レンズ１６及
び検出ハーフミラー２４が一体となって図示する矢印Ｆ
Ａで示すように傾動可能となっており、これによってデ
ィスク２６のピット列の接線方向に対する主ビームＬＢ
のチルト制御が行われるようになっている。このチルト
制御は、差動増幅器３２から出力されるチルトエラー信
号に基づくフィードバックサーボ制御によって行われる
ようになっている。

【００２２】次に、チルト検出ビームＬＣの光路中に配
置されたアパーチャ２８は、入射光の一部を取り出すた
めのもので、後述するように入射ビームの平行移動が生
じても良好にチルトエラー検出を行うためのものであ
る。光検出器３０は、２分割された検出素子３０Ａ，３
０Ｂによって構成されている。

【００２３】次に、以上のように構成された本実施例の
動作について、前記図１及び図２の他に図３及び図４を
参照しながら説明する。半導体レーザ１０から出力され
たレーザビームＬＡはコリメータレンズ１２によって平
行光化され、ハーフミラー１４に入射する。そして、こ
のハーフミラー１４を透過した主ビームＬＢは、対物レ
ンズ１６で集光されてディスク２６に入射し、その情報
記録面に微小スポットが形成される。

【００２４】ディスク２６から反射された主ビームＬＢ
は、再び対物レンズ１６を経てハーフミラー１４に入射
し、ここで反射されるとともに検出レンズ１８で集光さ
れて光検出器２０に入射する。光検出器２０では、入射
ビームの光電変換が行われ、変換信号に対する所定の演
算によってディスク２６のデータ読取り信号，フォーカ
スエラー信号，トラッキングエラー信号が公知の方法で
得られる。

【００２５】他方、ハーフミラー１４で反射されたチル
ト検出ビームＬＣは、ミラー２２で反射されてディスク
面に対し略垂直方向に光軸が向けられ、検出ハーフミラ
ー２４を透過してディスク２６に照射される。そして、
ディスク２６によって反射されたチルト検出ビームＬＣ
は、検出ハーフミラー２４によって更に反射された後ア
パーチャ２８に入射する。チルト検出ビームＬＣは、ア
パーチャ２８で例えば数分の１の光束径に制限されて２
分割の光検出器３０に入射する。

【００２６】この光検出器３０の各検出素子３０Ａ，３
０Ｂでは入射ビームの光電変換が各々行われ、得られた
光電変換出力は差動増幅器３２に入力されて演算処理が
行われる。例えば、検出素子３０Ａの信号から検出素子
３０Ｂの信号を減算する演算が行われて、チルトエラー
信号ＣＥが生成出力される。そして、このチルトエラー
信号に基づいて、傾き駆動部Ｂにおけるチルト制御が行
われる。

【００２７】以上のような動作におけるチルト検出ビー
ムＬＣによるチルトエラー検出について、更に詳細に説
明する。図３には、チルト検出ビームＬＣのミラー２２
の出射側からアパーチャ２８に到るまでの光学系が簡略
化されて示されている。まず、光ピックアップとディス
クとの間に傾きズレがない場合は、同図（Ａ）に示すよ
うになっているとする。すなわち、ディスク２６に向う
チルト検出ビームＬＣの光軸に対してディスク２６が垂
直となっており、検出ハーフミラー２４は面内で４５゜
の角度となっており、以下これを基準とする。２４Ｈは
検出ハーフミラー２４の法線である。

【００２８】この状態では、検出ハーフミラー２４に対
するチルト検出ビームＬＣの入射角は４５゜であり、そ
の反射光の反射角は４５゜となる。すなわち、アパーチ
ャ２８に向う平行光束の光軸はディスク２６に向う光束
の光軸に対し面内で９０゜の角度をなすことになる。以
下、この状態が傾きの発生によってどのように変化する
か考察する。なお、各要素の角度変化は面内の成分のみ
について考慮する。

【００２９】同図（Ａ）の状態からディスク２６が反時
計方向に角度θだけ傾いたとすると、同図（Ｂ）に示す
ようになる。なお、図中点線は同図（Ａ）の基準を示
す。この場合、図より明らかなように、アパーチャ２８
に向う平行光束は時計方向に２θの角度変化を受ける。
次に、ディスク２６は同図（Ａ）のままで検出ハーフミ
ラー２４が反時計方向に角度ψだけ傾いたとすると、同
図（Ｃ）に示すようになる。この場合、アパーチャ２８
に向う平行光束は反時計方向に２ψの角度変化を受け
る。

【００３０】次に、同図（Ｂ）に示すディスク２６の傾
きと同図（Ｃ）に示す検出ハーフミラー２４の傾きとが
同時に生じ、それらの傾きがいずれもθであるとする
と、同図（Ｄ）に示すようになる。つまり、アパーチャ
２８に向う平行光束の光軸の角度変化がキャンセルされ
るようになる。ただし、同図（Ａ）の基準位置に対して
Δｈのシフトは生ずる。

【００３１】このように、検出ハーフミラー２４及びデ
ィスク２６がいずれも同一方向に同量傾く場合，別言す
れば同図（Ａ）の基準状態のまま全体が傾くような場合
は、アパーチャ２８に対する光入射の平行移動は生ずる
が角度変化は生じない。従って、アパーチャ２８に入射
するチルト検出ビームＬＣの入射角度変化を検出できれ
ば、検出ハーフミラー２４とディスク２６との相対的な
傾き角度を検出することができる。

【００３２】次に、図４を参照しながら、アパーチャ２
８に対するチルト検出ビームＬＣの入射と光検出器３０
による検出の動作について説明する。上述したように、
アパーチャ２８の径は、入射平行光束径の数分の１程度
に設定されている。なお、光検出器３０の各検出素子３
０Ａ，３０Ｂの分割線は、検出ハーフミラー２４及びデ
ィスク２６間に相対的な傾きが生じていない状態（図３
（Ａ）又は（Ｄ）の状態）でアパーチャ２８に光束が入
射したときに、アパーチャ通過後の光束が略二等分され
て各検出素子３０Ａ，３０Ｂに各々入射するように設定
されている。

【００３３】まず、図３（Ａ）に示した基準の状態で
は、図４（Ａ１），（Ａ２）に示すように、アパーチャ
２８の通過光束が光検出器３０の各検出素子３０Ａ，３
０Ｂに各々均等に照射される。このため、各検出素子３
０Ａ，３０Ｂの出力Ｉ_A，Ｉ_Bは等しくなり、差動増幅器
３２のチルトエラー信号ＣＥはＩ_A−Ｉ_B＝０となる。

【００３４】次に、図３（Ｃ）に示した傾き状態では、
図４（Ｂ１），（Ｂ２）に示すように、アパーチャ２８
の通過光束が光検出器３０の上方，すなわち検出素子３
０Ａ側に移動するようになる。このため、Ｉ_A＞Ｉ_Bとな
り、チルトエラー信号ＣＥは、Ｉａ−Ｉｂ＞０となる。
同様に、図３（Ｂ）の場合は、図４（Ｂ１），（Ｂ２）
の場合と逆になり、アパーチャ２８の通過光束は検出素
子３０Ｂ側に移動するようになる。従って、チルトエラ
ー信号ＣＥは、Ｉ_A−Ｉ_B＜０となる。

【００３５】なお、図３（Ｄ）の場合は、図４（Ｃ
１），（Ｃ２）に示すように、アパーチャ２８の入射光
束がΔｈシフトすることになる。しかし、このシフトの
程度がアパーチャ２８の透過光束径の範囲から外れない
限り光検出器３０の各検出素子３０Ａ，３０Ｂの入射光
量は等しく、差動増幅器３２のチルトエラー信号ＣＥは
影響を受けない。

【００３６】このように、差動増幅器３２から出力され
るチルトエラー信号ＣＥは、検出ハーフミラー２４とデ
ィスク２６との相対的な傾きの変化にのみ対応して出力
される。ところで、検出ハーフミラー２４は、傾き可動
部Ｂ内に設けられており、対物レンズ１６と一体に構成
されている。従って、検出ハーフミラー２４とディスク
２６との相対的な傾きの関係は、対物レンズ１６とディ
スク２６との相対的な傾きの関係となる。

【００３７】従って、仮に、対物レンズ１６がフォーカ
スやトラッキングの関係で移動したとしても、この移動
によってディスク２６との間に相対的な傾きが生じない
限りチルトエラー信号ＣＥは出力されない。別言すれ
ば、ピックアップ本体Ａにおける光軸の傾きや、フォー
カス及びトラッキングによる対物レンズ１６の位置変動
の影響を受けることなく、対物レンズ１６と光ディスク
２６との相対的な傾き誤差のみが良好に抽出されること
になる。

【００３８】このようにして得られたチルトエラー信号
ＣＥは傾き可動部Ｂにフィードバックされ、チルトエラ
ー信号が「０」になるようにチルトサーボ制御が行われ
る。これによって、対物レンズ１６とディスク２６との
相対的な傾きが図３（Ａ）あるいは（Ｄ）に示す状態と
なるように制御され、対物レンズ１６の傾きがディスク
２６の傾きに追従するようになる。

【００３９】以上のように、本実施例によれば次のよう
な効果がある。 （１）チルトエラー信号ＣＥの検出部分はアパーチャ２
８によって構成されており、格別なレンズ素子は必要と
されない。また、アパーチャ２８は、ピックアップベー
スに穴を開けるようにすればよく、安価に構成できる。

【００４０】（２）チルトエラー検出用のチルト検出ビ
ームＬＣがレーザビームＬＡから分岐されて形成されて
いるため、チルトエラー検出のための格別な光源を用意
する必要がない。特に、光ピックアップでは一般にハー
フミラー（又はビームスプリッタ）が用いられており、
従来その反射光は捨てられていたが、これが有効に活用
されており無駄がない。

【００４１】（３）アパーチャ２８を使用しているた
め、チルト検出ビームＬＣは平行光のままでよい。しか
も、光検出器３０が光軸方向に変位しても、エラー検出
感度が若干変化するだけで、フォーカスやトラッキング
にかかる位置移動の影響は受けない。

【００４２】（４）検出ハーフミラー２４を用いている
ので、平行／直角な整然とした光路配置とすることがで
き、組立・調整が簡便で小型化も容易である。

【００４３】（５）更に、ピックアップ本体の傾きにか
かわらず、対物レンズ１６とディスク２６との相対的な
傾きを抽出できるため、可動部分を対物レンズ１６と検
出ハーフミラー２４のみで構成してチルトサーボを行う
ようにすれば応答特性が向上する。このため、ディスク
傾きによって生じるコマ収差の発生を大幅に削減でき、
ディスク再生信号のジッタを低減できる。また、ディス
ク２６の回転に伴う傾き変化にも追従可能となり、大き
な開口数ＮＡの対物レンズが使用可能となってディスク
の高密度化にも対応できるようになる。

【００４４】＜第２実施例＞次に、図５を参照しなが
ら、本発明の第２実施例について説明する。なお、上述
した第１実施例と同様の構成部分又は第１実施例に対応
する構成部分には同一の符号を用いることとする。この
第２実施例では、第１実施例におけるミラー２２，検出
ハーフミラー２４が各々ミラー５０，全反射検出ミラー
５２となっている。そして、ディスク２６からのチルト
検出ビームＬＣの反射光路中には、前記アパーチャ２８
の代わりにボールレンズ５４が設けられており、２分割
の光検出器３０の代わりに位置検出器５６が設けられて
いる。更に、前記差動増幅器３２は位置検出用演算器５
８に置き換えられている。その他の構成部分は、第１実
施例と同様である。

【００４５】この第２実施例によれば、相対的な傾きの
ない状態でディスク２６と全反射検出ミラー５２とが直
角となるように配置されており、いわゆる２次元のコー
ナーリフレクタとしての構成となっている。このため、
ディスク２６と全反射検出ミラー５２との相対角度が直
角に保たれれば、全反射検出ミラー５２の入射光束とデ
ィスク２６からの反射光束とは常に平行に保たれること
になる。

【００４６】このような基準状態に対して、対物レンズ
１６とディスク２６との相対的な傾きが生ずると、前記
平行状態がくずれ、位置検出器５６上におけるビーム入
射位置が変化する。この位置変化が演算器５８で検出さ
れ、チルトエラー信号ＣＥが得られる。この実施例で
も、フォーカス及びトラッキングによる対物レンズ１６
の位置変動の影響を受けることなく、対物レンズ１６と
光ディスク２６との相対的な傾き誤差のみが良好に抽出
される。

【００４７】＜他の実施例＞なお、本発明は、何ら上記
実施例に限定されるものではなく、例えば次のようなも
のも含まれる。 （１）前記第１実施例では、２分割の光検出器３０を用
いたが、その代わりに非分割型のビーム位置センサを用
いてもよい。また、光検出器３０に入射する光束が光軸
の傾きに対応して移動するようになっていれば、アパー
チャ２８の代わりに相当径のレンズなどを用いてよく、
あるいは光束の移動軸に略直交するスリットを用いても
よい。

【００４８】（２）傾き可動部Ｂは、対物レンズ１６と
検出ミラー２４又は５２を一体とし、フォーカス，トラ
ッキング，チルトの３軸について駆動可能な３自由度ア
クチュエータとしてもよいし、対物レンズ１６の傾きを
一定に保ったままフォーカス，トラッキングの２軸方向
に駆動する従来のレンズアクチュエータを用い、このア
クチュエータの支持体に検出ミラー２４又は５２を一体
に取付けて、この支持体毎に傾き可動な構成として駆動
する方式としてもよい。この場合、対物レンズ１６と検
出ミラー２４又は５２との位置関係は、フォーカス，ト
ラッキングのサーボ動作などによって変化するが、両者
の傾きの関係が一定に保たれる機構となっていれば、本
発明の動作は成立する。

【００４９】（３）前記実施例は、ディスク２６のピッ
ト列方向（接線方向）の傾きを検出する場合であるが、
それと直交する半径方向についても同様である。また、
両者を組み合せるようにしてもよい。その他、同様の作
用を奏するように、種々設計変更が可能である。

【００５０】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によるチル
トエラー検出装置によれば、光ピックアップの対物レン
ズと一体にミラー手段を設け、これとディスクによって
光ピックアップの固定側から出力されたチルト検出用ビ
ームを反射し、反射ビームをアパーチャ手段を介して検
出することとしたので、簡便な構成でフォーカスなどに
よる対物レンズの位置移動の影響を受けることなく、良
好にチルトエラー検出を行うことができるという効果が
ある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明によるチルトエラー検出装置の第１実施
例を示す斜視図である。

【図２】前記第１実施例の側面図である。

【図３】前記第１実施例における検出ハーフミラーとデ
ィスクとの傾きとチルト検出ビーフ゛の光軸との関係を
示す説明図である。

【図４】前記第１実施例におけるアパーチャの作用を示
す説明図である。

【図５】本発明の第２実施例を示す構成図である。

【図６】チルトエラー検出装置の第１の従来例を示す説
明図である。

【図７】チルトエラー検出装置の第２の従来例を示す説
明図である。

【図８】チルトエラー検出装置の第３の従来例を示す説
明図である。

【符号の説明】

１０…半導体レーザ、１２…コリメータレンズ、１４…
ハーフミラー（ビーム出力手段）、１６…対物レンズ、
１８…検出レンズ、２０…光検出器、２２，５０…ミラ
ー、２４…検出ハーフミラー（ミラー手段）、２６…デ
ィスク、２８…アパーチャ（アパーチャ手段）、３０…
光検出器（信号検出手段）、３０Ａ，３０Ｂ…検出素子
（信号検出手段）、３２…差動増幅器（信号検出手
段）、５２…全反射検出ミラー（ミラー手段）、５４…
ボールレンズ（アパーチャ手段）、５６…位置検出器
（信号検出手段）、５８…位置検出用演算器（信号検出
手段）、Ａ…ピックアップ本体（固定側）、Ｂ…傾き可
動部（傾動側）、ＣＥ…チルトエラー信号、Ｉ_A，Ｉ_B…
検出出力、ＬＡ…レーザビーム、ＬＢ…主ビーム、ＬＣ
…チルト検出ビーム、Ｐ…ピット列、Δｈ…ビームシフ
ト量。

─────────────────────────────────────────────────────

【手続補正書】

【提出日】平成５年５月２８日

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】特許請求の範囲

【補正方法】変更

【補正内容】

【特許請求の範囲】

【手続補正２】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００１４

【補正方法】変更

【補正内容】

【課題を解決するための手段】本発明は、光ピックアッ
プの固定側から傾動側にチルト検出ビームを出力するビ
ーム出力手段と、前記傾動側の対物レンズと一体に傾動
可能に設けられ、ディスクの入射側又は反射側のいずれ
かで前記チルト検出ビームを反射するミラー手段と、前
記固定側で、前記ミラー手段及びディスク側で反射され
たチルト検出ビームを絞り込んで出力するアパーチャ手
段と、前記固定側で、前記アパーチャ手段によって絞ら
れたチルト検出ビームからチルトエラー信号を得る信号
検出手段とを備えたことを特徴とする。

【手続補正３】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００３５

【補正方法】変更

【補正内容】

【００３５】なお、図３（Ｄ）の場合は、図４（Ｃ
１），（Ｃ２）に示すように、アパーチャ２８の入射光
束がΔｈシフトすることになる。しかし、このシフトの
程度がアパーチャ２８の透過光束径の範囲から外れない
限り光検出器３０の各検出素子３０Ａ，３０Ｂの入射光
量は等しく、差動増幅器３２のチルトエラー信号ＣＥは
影響を受けない（光束内に光強度分布がある場合、それ
ら入射光量は厳密には一致しないが概略は等しく、チル
トエラー信号ＣＥはほとんど影響を受けない）。

【手続補正４】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】図３

【補正方法】変更

【補正内容】

【図３】前記第１実施例における検出ハーフミラー及び
ディスクの傾きとチルト検出ビームの光軸との関係を示
す説明図である。

【手続補正５】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図２

【補正方法】変更

【補正内容】

【図２】 ─────────────────────────────────────────────────────

【手続補正書】

【提出日】平成５年８月２６日

【手続補正２】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００１４

【補正方法】変更

【補正内容】

【００１４】

【課題を解決するための手段】本発明は、光ピックアッ
プの固定側から傾動側にチルト検出ビームを出力するビ
ーム出力手段と、前記傾動側の対物レンズと一体に傾動
可能に設けられ、ディスクの入射側又は反射側のいずれ
かで前記チルト検出ビームを反射するミラー手段と、前
記固定側で、前記ミラー手段及びディスク側で反射され
たチルト検出ビームを絞り込んで出力するアパーチャ手
段と、前記固定側で、前記アパーチャ手段によって絞ら
れたチルト検出ビームからチルトエラー信号を得る信号
検出手段とを備えたことを特徴とする。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光ピックアップの固定側から傾動側にチ
   ルト検出ビームを出力するビーム出力手段と、前記傾動
   側の対物レンズと一体に傾動可能に設けられ、前記ディ
   スクの入射側又は反射側のいずれかで前記チルト検出ビ
   ームを反射するミラー手段と、このミラー手段及びディ
   スク側で反射されたチルト検出ビームを絞り込んで出力
   するアパーチャ手段と、これによって絞られたチルト検
   出ビームからチルトエラー信号を得る信号検出手段とを
   備えたことを特徴とするチルトエラー検出装置。