JPH0628730U - 自動校正機能付き残留塩素計 - Google Patents

自動校正機能付き残留塩素計

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JPH0628730U
JPH0628730U JP6595892U JP6595892U JPH0628730U JP H0628730 U JPH0628730 U JP H0628730U JP 6595892 U JP6595892 U JP 6595892U JP 6595892 U JP6595892 U JP 6595892U JP H0628730 U JPH0628730 U JP H0628730U
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residual chlorine
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昌之助 伊藤
真一 赤沢
剛 佐藤
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電気化学計器株式会社
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Abstract

(57)【要約】 【目的】有試薬型の自動校正機能付き残留塩素計におい
て、測定状態とほぼ同じ動作でスパン校正液を連続して
供給し十分な校正時間を確保できるようにする。 【構成】試料水中の遊離したハロゲン物質濃度を検出す
る検出器1には、試薬液を電気分解して予め設定された
所定量のハロゲン物質を遊離させる電解槽2及び試薬液
用定量ポンプ3を介して試薬液供給源が連結されてい
る。また、検出器1には、脱塩水・試料水用定量ポンプ
6を介して脱塩水の供給源および試料水の供給源が連結
されている。スパン校正時には、電解槽2で試薬液を電
解して予め設定した所定量のハロゲン物質を遊離させ、
この遊離したハロゲン物質を含んだ試薬液と脱塩水とを
検出器1に連続して導入し、測定状態とほぼ同じ動作で
電解したハロゲン物質の濃度を測定する。十分な校正時
間が確保できるので、精度の高いスパン校正を行うこと
ができる。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、有試薬型の自動校正機能付き残留塩素計に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
一般に、有試薬型の残留塩素計では、試料水に試薬を投入して試料中の塩素を 試薬中のハロゲン化物イオンで置換し、ポーラログラフ法により遊離したハロゲ ン物質を電解還元し、その拡散電流に基づき試料中の塩素濃度を測定している。
【0003】 例えば、試薬としてヨウ化カリウム(KI)を用いた場合、その置換反応は、 遊離塩素Cl2のとき、 Cl2+2KI→I2+2KCl となり、このヨウ素の濃度をポーラログラフ法で測定することにより、残留塩素 濃度を測定している。
【0004】 従来、以上のような有試薬型の残留塩素計でスパン校正を行うには、標準サン プル液をo−トリジン法(OT法)、ジエチル−p−フェニレンジアミン法(D PD法)、ヨウ素滴定法、電流滴定法などによって手分析で測定し、残留塩素計 の指示値がこの測定値と一致するように調整していた。しかしながら、このよう な手分析で標準サンプル液の濃度を決定する方法では、校正作業が煩雑で時間が 掛かり、また、個人差により精度が異なるという問題点があった。
【0005】 そこで、この問題点を解消した校正機能を有する残留塩素計が、実開平1−12 0655号公報及び実開平2−107067号公報で提案されている。この実開平1−1206 55号公報で提案されている残留塩素計は、塩水の電気分解により発生させた所定 量の塩素を残留塩素計に供給する方法であり、また、実開平2−107067号公報で 提案されている残留塩素計は、残留塩素計の測定セルにおいて試薬を電解して所 定量の遊離したハロゲン物質を発生させ、この遊離したハロゲン物質を測定する ことにより校正するものである。
【0006】
【考案が解決しようとする課題】
しかしながら、上述した実開平1−120655号公報記載の残留塩素計は、塩水の タンク、塩素を発生させるためのセルなどの装置が必要であり、塩水の補給が必 要となるものであった。また、実開平2−107067号公報記載の残留塩素計は、測 定セルへの送液を停止すること、測定セル内で一定時間定電流を流すことなど、 通常の測定状態と異なる動作を必要としている。また、一定時間ハロゲン物質を 遊離させた後、その遊離したハロゲン物質の濃度をポーラログラフ法により測定 するのであり、遊離したハロゲン物質の濃度は電流を停止した瞬間がピークであ り、その後はポーラログラフ法による測定においてハロゲン物質は消費されるの で、遊離したハロゲン物質濃度は漸減し十分安定な校正時間を確保するのが困難 であった。
【0007】 本考案は、以上の問題点を解消し、小型化でき、かつ、高い精度で校正するこ とができる自動校正機能付き残留塩素計を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
本考案は、上記目的を達成するためになされたもので、本考案の自動校正機能 付き残留塩素計は、遊離したハロゲン物質の濃度を測定する検出部と、試料水を 検出部に供給する試料水供給手段と、試薬液を検出部に供給する試薬液供給手段 と、試薬液供給手段で検出部に供給される試薬液を電気分解して予め設定した所 定量のハロゲン物質を連続的に遊離させる電解部とを有することを特徴として構 成されている。
【0009】 電解部は、電気分解により試薬中のハロゲン化物イオンよりハロゲン物質を所 定量遊離させることができればよく、例えば、白金よりなる電解電極間に一定量 の電流を流す手段で構成されている。電解電極間に流す電流の極性は、一定時間 毎に、例えば、2〜3秒毎に反転することが好ましい。これにより、試薬中の不 純物等が電解電極に付着するのを防止することができる。
【0010】 検出部は、試料水中の塩素と置換して遊離したハロゲン物質を検出するもので 、通常、一定電圧が印加される白金からなる回転検知極と白金からなる対極とが 用いられている。
【0011】 試料水供給手段及び試薬液供給手段は、それぞれ各液体を検出器に送り込むこ とができればよく、例えば、定量ポンプ、弁、貯留槽、供給源などを適宜組み合 わせて構成されている。試料水供給手段及び試薬液供給手段は、それぞれ別個に 構成しても、一部を共有(例えば、検出部へ接続する管を共有させる。)して構 成してもよい。
【0012】 試料水としては、例えば、浄水場における塩素処理水があり、通常50〜100ml/ minで供給される。試薬液としては、例えば、塩素と置換するヨウ化カリウム( KI)又は臭化カリウム(KBr)を氷酢酸(CH3COOH)及び酢酸ナトリウ ム(CH3COONa)でpH調整した液がある。試薬液の流量は、通常1〜2ml /minの範囲である。
【0013】 スパン校正時は、高濃度の遊離したハロゲン物質を含む試薬液を検出部に供給 するとともに、試薬液を所定量で希釈する希釈液も検出部に供給する。この希釈 液としては、遊離したハロゲン物質が既知のものであればよく、例えば、装置を 洗浄するための洗浄水(水道水など)から遊離塩素を除去した脱塩水を用いたり 、予め脱塩した脱塩水を用いたり、試料水をそのまま用いたりする。試料水をそ のまま用いる場合は、スパン校正直前の塩素濃度により校正液の濃度を補正する 。
【0014】 スパン校正時において、試薬液及び希釈液の流量は、それぞれ測定時の試薬液 及び試料水の流量と同じにすることが好ましい。したがって、スパン校正時に試 薬液供給手段に特に変更を加える必要はなく、また、希釈液を供給するには、試 料水供給手段の全部又は一部を共用することができる。
【0015】 なお、電解部で遊離させられるヨウ素や臭素は、塩素と同様に殺菌洗浄効果が あるので、検出部の洗浄を行うためにはできるだけ高濃度で遊離させることが好 ましいが、試料水の測定範囲と希釈率を考慮して電解発生させる。例えば、200p pmのヨウ素を含む試薬液を1ml/minで供給し、脱塩素水を50ml/minで供給した場 合は、検出部におけるヨウ素の濃度は約4ppm となる。
【0016】
【作用】
本考案では、スパン校正を行う際、試薬液供給手段が試薬液を電解部を介し連 続して検出部へ送り込むとともに、遊離したハロゲン物質濃度が既知の液体も検 出部へ送り込む。このとき、電解部は試薬液を電気分解して予め設定されている 所定量のハロゲン物質を遊離させる。したがって、電解部から検出部へ送り込ま れた試薬液とハロゲン物質濃度の既知の液体との混合液は所定濃度の遊離したハ ロゲン物質を含む標準液であり、しかも連続して供給されている。そして、検出 部でこのハロゲン物質を測定しスパンの校正を行う。
【0017】
【実施例】
本考案による自動校正機能付き残留塩素計の一実施例を図面に基づいて説明す る。
【0018】 図1は、自動校正機能付き残留塩素計の構成図である。 図1において、符号1は、試料水中の遊離したハロゲン物質の濃度を検出する 検出部としての検出器で、この検出器1には、試薬液を電気分解して予め設定さ れた所定量のハロゲン物質を連続的に遊離させる電解部としての電解槽2及び試 薬液用定量ポンプ3を介して試薬液槽4が連結され、そして、この試薬液槽4は 試薬液の供給を停止させる停止弁5を介して試薬液供給源である試薬液タンク( 図示せず)に連結されている。これらの試薬液用定量ポンプ3などで試薬液供給 手段が構成されている。なお、この試薬液は、KI又はKBrとCH3COOHと CH3COONaとの混合液を用いた。
【0019】 また、検出器1には、脱塩水・試料水用定量ポンプ6、試料水槽13、塩素を除 去するフィルタ7、電磁弁8、脱塩水の流量調製用の調製弁9及び停止用の停止 弁10を介して、脱塩水の供給源である脱塩水配管(図示せず)が連結されている 。これらの脱塩水・試料水用定量ポンプ6、フィルタ7などで脱塩水供給手段が 構成されている。
【0020】 上記試料水槽13には、電磁弁11が連結されており、この電磁弁11には、試料水 の流量調製用の調製弁12を介して試料液供給源(図示せず)が連結されている。 したがって、試料水供給手段は、脱塩水供給手段と兼用する脱塩水・試料水用定 量ポンプ6、電磁弁11などで構成されている。
【0021】 符号15は制御部で、この制御部15は、電解槽2、試薬用定量ポンプ3、脱塩水 ・試料水用定量ポンプ6及び電磁弁8、11に電気的に接続され、そして、残留塩 素の測定時には、電解槽2を無作動に維持し、ポンプ3、6を作動させ、電磁弁 8を閉じ、かつ、電磁弁11を開いた状態にし、ゼロ校正時には、電解槽2を無作 動に維持し、電磁弁11を閉じ、かつ、電磁弁8を開いた状態にし、スパン校正時 には、電解槽2に定電流を投入し、電磁弁11を閉じ、かつ、電磁弁8を開いた状 態にするものである。また、この制御部15には表示部16が接続されており、この 表示部16は検出器1に接続され、検出器1からの信号により測定結果を表示する ものである。
【0022】 なお、検出器1は、校正直前に検出器1を洗浄できるように、逆止弁17及び電 磁弁19を介して停止弁10の下流側に連結されており、また、定量ポンプ6の上流 側は、管内を洗浄できるように、逆止弁18を介して電磁弁19の下流側に連結され ている。また、検出器1は排水貯留槽14を介して排出口(図示せず)に連結され 、また、試料水水槽13の上部からオーバーフローする余分な試料水も排水貯留槽 14を介して排出される。
【0023】 以上のような自動校正機能付き残留塩素計における、残留塩素の測定、ゼロ校 正及びスパン校正の動作を説明する。 まず、残留塩素を測定するには、制御部15により、電磁弁11を開くとともに、 定量ポンプ3 、6 を作動させて、検出部1に試料水及び試薬液を導入する。そし て、検出部1で試料水中のI2の濃度を測定することにより残留塩素濃度を測定 し、その測定結果は表示部16に送出され、表示部16はその入力により残留塩素濃 度を表示する。
【0024】 次に、ゼロ校正をするには、制御部15により、電磁弁11を閉じるとともに、電 磁弁8を開く。すると、洗浄水はフィルタ7で塩素が完全に除去された脱塩水の 状態で試料水槽13、定量ポンプ6を経て検出器1に導入される。そして、この塩 素濃度がゼロの脱塩水のI2の濃度を測定することにより残留塩素濃度の測定が 行われ、測定結果がゼロになるように調整する。
【0025】 さらに、スパン校正をするには、制御部15により、定量ポンプ3、6を作動さ せたる電磁弁11を閉じるとともに電磁弁8を開いた状態にし、さらに、2秒毎に 極性が反転するように定電流を投入して電解槽2を作動させる。すると、塩素が 除去された脱塩水が、定量ポンプ6で検出器1に50ml/minで導入される。一方、 試薬液は定量ポンプ3で電解槽2にまず導入され、電気分解により約200ppmのI 2 が発生し、このI2を含んだ状態の試薬液が検出器1に1ml/minで導入される。 検出器1におけるI2の濃度は脱塩水で希釈され200ppm×1/51≒4ppmになる。 そして、このI2の濃度を測定しスパン校正する。
【0026】
【考案の効果】
本考案は、電解部を付加しただけの従来の装置とほとんど変わらない簡単な装 置にでき、かつ、校正時の動作も測定動作と略同じ動作であり、スパン校正液を 連続して供給できるので十分な校正時間を確保できる。したがって、極めて高い 精度で残留塩素計を自動校正することができる。
【0027】 また、校正時に、検出部の測定電極のうちの対極側にI2又はBr2のハロゲン 物質が供給されるので、対極表面はI2又はBr2で常に被覆されて電極の反応系 が安定し、塩素をほとんど含まないような極めて低濃度の試料水でも安定した測 定ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図1は本考案による自動校正機能付き残留塩
素計の一実施例の全体構成を示す図である。
【符号の説明】
1…検出器 2…電解槽 3…試薬液用定量ポンプ 4…試薬液槽 6…脱塩水・試料水用定量ポンプ 7…フィルタ

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 遊離したハロゲン物質の濃度を測定する
    検出部と、試料水を検出部に供給する試料水供給手段
    と、試薬液を検出部に供給する試薬液供給手段と、試薬
    液供給手段で検出部に供給される試薬液を電気分解して
    予め設定した所定量のハロゲン物質を連続的に遊離させ
    る電解部とを有することを特徴とする自動校正機能付き
    残留塩素計
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0295846U (ja) * 1988-12-06 1990-07-31
JPH02107067U (ja) * 1988-12-01 1990-08-24

Patent Citations (2)

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