JPH06301604A - 記憶再生システム - Google Patents
記憶再生システムInfo
- Publication number
- JPH06301604A JPH06301604A JP5091077A JP9107793A JPH06301604A JP H06301604 A JPH06301604 A JP H06301604A JP 5091077 A JP5091077 A JP 5091077A JP 9107793 A JP9107793 A JP 9107793A JP H06301604 A JPH06301604 A JP H06301604A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- address
- data
- parity
- error
- circuit
- Prior art date
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- Pending
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- Detection And Correction Of Errors (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 アドレス情報の大きさに影響されることな
く、比較的小規模な回路でアドレスエラーを検出するこ
とが可能な記憶再生システムを提供する。 【構成】 メモリ1、データレジスタ2、ECCレジス
タ3、アドレスレジスタ4、ECC生成回路5、ECC
チェック訂正回路6と、アドレスレジスタ4のアドレス
値からパリティを生成するパリティ生成回路7と、ライ
トデータの反転/非反転を行うEOR回路8と、ECC
チェック訂正回路6でのチェック結果に応じてパリティ
生成回路7からのアドレスパリティを反転させるEOR
回路10と、アドレスパリティに応じてリードデータの
反転/非反転を行うEOR回路9とを備え、アドレスパ
リティに応じてライトデータに反転/非反転を施してメ
モリ1に書込み、読み出し時には、アドレスパリティお
よびECCチェック結果に応じて反転/非反転を施すこ
とでアドレスエラーの検証を行う記憶再生システムであ
る。
く、比較的小規模な回路でアドレスエラーを検出するこ
とが可能な記憶再生システムを提供する。 【構成】 メモリ1、データレジスタ2、ECCレジス
タ3、アドレスレジスタ4、ECC生成回路5、ECC
チェック訂正回路6と、アドレスレジスタ4のアドレス
値からパリティを生成するパリティ生成回路7と、ライ
トデータの反転/非反転を行うEOR回路8と、ECC
チェック訂正回路6でのチェック結果に応じてパリティ
生成回路7からのアドレスパリティを反転させるEOR
回路10と、アドレスパリティに応じてリードデータの
反転/非反転を行うEOR回路9とを備え、アドレスパ
リティに応じてライトデータに反転/非反転を施してメ
モリ1に書込み、読み出し時には、アドレスパリティお
よびECCチェック結果に応じて反転/非反転を施すこ
とでアドレスエラーの検証を行う記憶再生システムであ
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、記憶再生技術に関し、
特に、半導体メモリを用いた記憶装置などにおける動作
の信頼性向上に有効な技術に関する。
特に、半導体メモリを用いた記憶装置などにおける動作
の信頼性向上に有効な技術に関する。
【0002】
【従来の技術】たとえば、半導体メモリ素子を記憶媒体
とする記憶装置などでは、データの入出力に伴うアドレ
スの検証が動作の信頼性を向上させるなどの観点から重
要となる。従来、このようなアドレスの検証技術として
は、たとえば、特開昭55−8617号公報に開示され
た技術が知られている。すなわち、当該技術では、エラ
ー訂正符号の生成時にアドレス情報と格納データとを組
にしてエラー訂正符号を生成し、データの読み出し時に
アドレス情報に対応したエラーが存在することを検出し
てアドレスエラーを通知するものである。
とする記憶装置などでは、データの入出力に伴うアドレ
スの検証が動作の信頼性を向上させるなどの観点から重
要となる。従来、このようなアドレスの検証技術として
は、たとえば、特開昭55−8617号公報に開示され
た技術が知られている。すなわち、当該技術では、エラ
ー訂正符号の生成時にアドレス情報と格納データとを組
にしてエラー訂正符号を生成し、データの読み出し時に
アドレス情報に対応したエラーが存在することを検出し
てアドレスエラーを通知するものである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術では、ア
ドレス情報と格納データを組にしてエラー訂正符号を生
成しているが、アドレス情報の一部のみを使用した場合
には、メモリの全アドレス空間に対してアドレスエラー
を検出することはできない。すなわち、メモリの全アド
レス空間に対してアドレスエラーを検出する必要がある
場合には、アドレス情報の全部を使用してエラー訂正符
号を生成しなければならない。
ドレス情報と格納データを組にしてエラー訂正符号を生
成しているが、アドレス情報の一部のみを使用した場合
には、メモリの全アドレス空間に対してアドレスエラー
を検出することはできない。すなわち、メモリの全アド
レス空間に対してアドレスエラーを検出する必要がある
場合には、アドレス情報の全部を使用してエラー訂正符
号を生成しなければならない。
【0004】このため、アドレスエラーを検出するため
の論理回路の規模がアドレス情報の大きさに比例して増
大する、という問題がある。
の論理回路の規模がアドレス情報の大きさに比例して増
大する、という問題がある。
【0005】本発明の目的は、アドレス情報の大きさに
影響されることなく、比較的小規模な回路でアドレスエ
ラーを検出することが可能な記憶再生技術を提供するこ
とにある。
影響されることなく、比較的小規模な回路でアドレスエ
ラーを検出することが可能な記憶再生技術を提供するこ
とにある。
【0006】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【0007】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。
【0008】すなわち、本発明は、メモリと、このメモ
リに対する入出力データを一時的に保持するデータレジ
スタと、アクセスするメモリのアドレスを一時的に保持
するアドレスレジスタと、入出力データに対するエラー
訂正符号を生成するエラー訂正符号生成回路と、生成さ
れたエラー訂正符号を一時的に保持するエラー訂正符号
レジスタと、エラー訂正符号に基づいて入出力データに
おけるエラーのチェックおよび訂正を行うエラーチェッ
ク訂正回路とを含む記憶再生システムにおいて、アクセ
スするメモリのアドレスのパリティを生成するパリティ
生成手段と、パリティおよびエラーチェック訂正回路に
おける処理結果の少なくとも一方に基づいて入出力デー
タの反転操作または非反転操作を行うデータ反転手段と
を設け、エラーチェック訂正回路から出力されるチェッ
ク結果とアクセスしたメモリのアドレスのパリティ値か
らアドレスのエラーを検出するものである。
リに対する入出力データを一時的に保持するデータレジ
スタと、アクセスするメモリのアドレスを一時的に保持
するアドレスレジスタと、入出力データに対するエラー
訂正符号を生成するエラー訂正符号生成回路と、生成さ
れたエラー訂正符号を一時的に保持するエラー訂正符号
レジスタと、エラー訂正符号に基づいて入出力データに
おけるエラーのチェックおよび訂正を行うエラーチェッ
ク訂正回路とを含む記憶再生システムにおいて、アクセ
スするメモリのアドレスのパリティを生成するパリティ
生成手段と、パリティおよびエラーチェック訂正回路に
おける処理結果の少なくとも一方に基づいて入出力デー
タの反転操作または非反転操作を行うデータ反転手段と
を設け、エラーチェック訂正回路から出力されるチェッ
ク結果とアクセスしたメモリのアドレスのパリティ値か
らアドレスのエラーを検出するものである。
【0009】
【作用】上記した本発明の記憶再生システムは、一例と
して以下のように作用する。
して以下のように作用する。
【0010】まず、書込みに際しては、データからエラ
ー訂正符号を生成した後に、当該データの書込みアドレ
ス情報から生成したパリティの値に応じて、当該データ
の一部または全部に反転操作または非反転操作を施し、
エラー訂正符号とともにメモリに書き込む。
ー訂正符号を生成した後に、当該データの書込みアドレ
ス情報から生成したパリティの値に応じて、当該データ
の一部または全部に反転操作または非反転操作を施し、
エラー訂正符号とともにメモリに書き込む。
【0011】この時に、生成するパリティは、奇数パリ
ティまたは偶数パリティのいずれでも問題はない。ま
た、データの特定の一部分のみを反転させる場合は、当
該反転部分のビット数がエラー訂正符号によるエラー訂
正能力を越えた値でなければならない。
ティまたは偶数パリティのいずれでも問題はない。ま
た、データの特定の一部分のみを反転させる場合は、当
該反転部分のビット数がエラー訂正符号によるエラー訂
正能力を越えた値でなければならない。
【0012】このような書込み操作によってメモリ中に
は、アドレス情報のパリティに対応した非反転データと
反転データが存在する。
は、アドレス情報のパリティに対応した非反転データと
反転データが存在する。
【0013】一方、データの読み出しに際しては、ま
ず、読み出しアドレス情報からパリティを生成し、当該
パリティの値に応じて、読み出したデータに対して反転
操作または非反転操作を施した後、当該データとともに
読み出されたエラー訂正符号を用いてエラーチェックを
実行する。この時、エラーが無ければそのままデータを
出力し、エラー訂正符号で訂正可能な誤りであれば、読
み出したデータの誤りとして訂正する。また、訂正不能
であれば、無条件で当該データの反転操作を行い、再
度、エラー訂正符号を用いてエラーチェックを実行す
る。その結果、データの誤りが検出できない場合には、
アドレス異常が検出されたことになる。また、データの
誤りを検出した時は、訂正不能なデータの誤りが検出さ
れたことになる。
ず、読み出しアドレス情報からパリティを生成し、当該
パリティの値に応じて、読み出したデータに対して反転
操作または非反転操作を施した後、当該データとともに
読み出されたエラー訂正符号を用いてエラーチェックを
実行する。この時、エラーが無ければそのままデータを
出力し、エラー訂正符号で訂正可能な誤りであれば、読
み出したデータの誤りとして訂正する。また、訂正不能
であれば、無条件で当該データの反転操作を行い、再
度、エラー訂正符号を用いてエラーチェックを実行す
る。その結果、データの誤りが検出できない場合には、
アドレス異常が検出されたことになる。また、データの
誤りを検出した時は、訂正不能なデータの誤りが検出さ
れたことになる。
【0014】このように、本発明では、アドレス情報の
パリティと、データのエラー訂正符号によるエラーチェ
ック結果から、ノイズなどに起因するアドレスの1ビッ
トエラーを検出でき、アドレス情報の増加に伴って必要
以上に回路規模を大きくする必要がない。
パリティと、データのエラー訂正符号によるエラーチェ
ック結果から、ノイズなどに起因するアドレスの1ビッ
トエラーを検出でき、アドレス情報の増加に伴って必要
以上に回路規模を大きくする必要がない。
【0015】また、データの読み出しに際して、当該デ
ータから反転データおよび非反転データを同時に生成
し、エラー訂正符号を用いた上述のエラーチェックを並
行して実行すれば、データエラー、アドレスエラーの一
層の高速化を図ることができる。
ータから反転データおよび非反転データを同時に生成
し、エラー訂正符号を用いた上述のエラーチェックを並
行して実行すれば、データエラー、アドレスエラーの一
層の高速化を図ることができる。
【0016】
【実施例】以下、図面を参照しながら、本発明の一実施
例である記憶再生システムについて詳細に説明する。
例である記憶再生システムについて詳細に説明する。
【0017】図1は本実施例の記憶再生システムの構成
の一例を示すブロック図であり、図2は、その作用の一
例を示す概念図である。また、図3および図4は、その
作用の一例を示すフローチャートである。
の一例を示すブロック図であり、図2は、その作用の一
例を示す概念図である。また、図3および図4は、その
作用の一例を示すフローチャートである。
【0018】本実施例の記憶再生システムは、たとえ
ば、半導体メモリなどの記憶媒体からなるメモリ1と、
このメモリ1に対して入出力されるデータが格納される
データレジスタ2と、当該データレジスタ2に格納され
たデータから生成され、当該データとともにメモリ1に
入出力されるエラー訂正符号(ECC:Error Correcti
ng Code )を保持するECCレジスタ3と、メモリ1に
おける目的のデータのリード/ライトアドレスが設定さ
れるアドレスレジスタ4とを備えている。
ば、半導体メモリなどの記憶媒体からなるメモリ1と、
このメモリ1に対して入出力されるデータが格納される
データレジスタ2と、当該データレジスタ2に格納され
たデータから生成され、当該データとともにメモリ1に
入出力されるエラー訂正符号(ECC:Error Correcti
ng Code )を保持するECCレジスタ3と、メモリ1に
おける目的のデータのリード/ライトアドレスが設定さ
れるアドレスレジスタ4とを備えている。
【0019】ECCレジスタ3には、データレジスタ2
にセットされるライトデータからエラー訂正符号を生成
するECC生成回路5および、データレジスタ2および
ECCレジスタ3を介してメモリ1から読み出されるリ
ードデータと、当該リードデータに対応したエラー訂正
符号とによって当該リードデータのエラーチェックおよ
びエラー訂正を実行するECCチェック訂正回路6が接
続されている。
にセットされるライトデータからエラー訂正符号を生成
するECC生成回路5および、データレジスタ2および
ECCレジスタ3を介してメモリ1から読み出されるリ
ードデータと、当該リードデータに対応したエラー訂正
符号とによって当該リードデータのエラーチェックおよ
びエラー訂正を実行するECCチェック訂正回路6が接
続されている。
【0020】この場合、アドレスレジスタ4のメモリ1
に対する出力側には、当該アドレスレジスタ4に設定さ
れたアドレスからパリティを生成するパリティ生成回路
7が接続され、さらに、このパリティ生成回路7からの
出力は、データレジスタ2に対するライトデータの入出
力経路に介設されたEOR(排他的論理和)回路8の一
方の入力となっている。そして、ライトデータはEOR
回路8を通過する際に、アドレスレジスタ4にセットさ
れたライトアドレスのパリティに応じて、反転または非
反転処理され、データレジスタ2に保持される。
に対する出力側には、当該アドレスレジスタ4に設定さ
れたアドレスからパリティを生成するパリティ生成回路
7が接続され、さらに、このパリティ生成回路7からの
出力は、データレジスタ2に対するライトデータの入出
力経路に介設されたEOR(排他的論理和)回路8の一
方の入力となっている。そして、ライトデータはEOR
回路8を通過する際に、アドレスレジスタ4にセットさ
れたライトアドレスのパリティに応じて、反転または非
反転処理され、データレジスタ2に保持される。
【0021】また、パリティ生成回路7から出力される
アドレスパリティは、EOR回路10を介して、データ
レジスタ2からECCチェック訂正回路6に至るリード
データの経路に介設されたEOR回路9の入力となって
いる。EOR回路10におけるアドレスパリティの他方
の入力端子には、ECCチェック訂正回路6においてE
CCによる訂正不能が検出された時に出力されるパリテ
ィ反転信号が入力されており、EOR回路9におけるリ
ードデータの反転操作が通常のアドレスパリティによる
反転と逆になるように動作する。
アドレスパリティは、EOR回路10を介して、データ
レジスタ2からECCチェック訂正回路6に至るリード
データの経路に介設されたEOR回路9の入力となって
いる。EOR回路10におけるアドレスパリティの他方
の入力端子には、ECCチェック訂正回路6においてE
CCによる訂正不能が検出された時に出力されるパリテ
ィ反転信号が入力されており、EOR回路9におけるリ
ードデータの反転操作が通常のアドレスパリティによる
反転と逆になるように動作する。
【0022】以下、本実施例の作用の一例について説明
する。
する。
【0023】メモリ1へのデータの書込みは、次のよう
にして行われる。まず、アドレスレジスタ4にセットさ
れたメモリアドレスからパリティ生成回路7にてアドレ
スパリティを生成する。次に、このアドレスパリティと
ライトデータをEOR回路8で演算し、当該アドレスパ
リティに応じたライトデータの反転操作または非反転操
作(例えば、パリティ=1:反転、パリティ=0:非反
転)を実行した後、データレジスタ2へセットする。同
時に、ECC生成回路5は、反転または非反転操作を受
ける前のライトデータのECCを生成し、ECCレジス
タ3にセットする。その後、アドレスレジスタ4で指示
されるメモリ1のアドレスへデータレジスタ2にセット
されているライトデータおよびECCレジスタ3にセッ
トされているECCを対にして書き込む。以上のような
データ書込み動作を、図3のフローチャートに示す。
にして行われる。まず、アドレスレジスタ4にセットさ
れたメモリアドレスからパリティ生成回路7にてアドレ
スパリティを生成する。次に、このアドレスパリティと
ライトデータをEOR回路8で演算し、当該アドレスパ
リティに応じたライトデータの反転操作または非反転操
作(例えば、パリティ=1:反転、パリティ=0:非反
転)を実行した後、データレジスタ2へセットする。同
時に、ECC生成回路5は、反転または非反転操作を受
ける前のライトデータのECCを生成し、ECCレジス
タ3にセットする。その後、アドレスレジスタ4で指示
されるメモリ1のアドレスへデータレジスタ2にセット
されているライトデータおよびECCレジスタ3にセッ
トされているECCを対にして書き込む。以上のような
データ書込み動作を、図3のフローチャートに示す。
【0024】一方、メモリ1からのデータの読み出しは
次のようにして行われる。まず、アドレスレジスタ4に
セットされているリードアドレスで指示されるメモリ1
のアドレスから、データおよび対応するECCを読み出
してデータレジスタ2およびECCレジスタ3にそれぞ
れ格納した後、パリティ生成回路7にて生成されたリー
ドアドレスのパリティとデータをEOR回路9で演算
し、データの反転または非反転処理をした後、ECCチ
ェック訂正回路6でデータのチェックおよび訂正処理を
行い、リードデータを得る。
次のようにして行われる。まず、アドレスレジスタ4に
セットされているリードアドレスで指示されるメモリ1
のアドレスから、データおよび対応するECCを読み出
してデータレジスタ2およびECCレジスタ3にそれぞ
れ格納した後、パリティ生成回路7にて生成されたリー
ドアドレスのパリティとデータをEOR回路9で演算
し、データの反転または非反転処理をした後、ECCチ
ェック訂正回路6でデータのチェックおよび訂正処理を
行い、リードデータを得る。
【0025】アドレスエラーまたはデータエラーの検出
は、メモリ1からのデータの読み出し時に、ECCチェ
ック訂正回路6で行われる。メモリ1の中に格納される
データは、図2に例示されるように、アドレスのパリテ
ィに対応した反転または非反転状態で記憶されている。
アドレスエラーの検出は、この状態で、例えば、リード
アドレス“011”に1ビットエラーが発生したと仮定
すると、誤ったアドレス値としては、“111”,“0
01”,“010”の三通りの場合があり、読み出しデ
ータは、この三つのアドレスの中の一つから読み出され
る。
は、メモリ1からのデータの読み出し時に、ECCチェ
ック訂正回路6で行われる。メモリ1の中に格納される
データは、図2に例示されるように、アドレスのパリテ
ィに対応した反転または非反転状態で記憶されている。
アドレスエラーの検出は、この状態で、例えば、リード
アドレス“011”に1ビットエラーが発生したと仮定
すると、誤ったアドレス値としては、“111”,“0
01”,“010”の三通りの場合があり、読み出しデ
ータは、この三つのアドレスの中の一つから読み出され
る。
【0026】この三通りの誤ったアドレスに対応して読
み出されるデータは、図2に例示されるようにいずれも
非反転データであるが、アドレスレジスタ4にセットさ
れたデータの正しいリードアドレス“011”のパリテ
ィの値に従い、EOR回路9で反転処理され、ECCチ
ェック訂正回路6で、エラーのチェックが行われる。
み出されるデータは、図2に例示されるようにいずれも
非反転データであるが、アドレスレジスタ4にセットさ
れたデータの正しいリードアドレス“011”のパリテ
ィの値に従い、EOR回路9で反転処理され、ECCチ
ェック訂正回路6で、エラーのチェックが行われる。
【0027】このチェックの結果、ECCの訂正不能な
エラーが検出された場合、パリティ反転信号がEOR回
路10へ出力され、EOR回路9に入力されるパリティ
を反転させる。このパリティの反転により、前記の誤っ
た三つのアドレスのいずれかから読み出されたデータ
は、再び反転され、ECCチェック訂正回路6で再びチ
ェックされる。この二回目のチェックの結果、データの
エラーが検出されない場合は、アドレスの1ビットエラ
ーが検出されたことになり、アドレスエラーを出力す
る。また、この時、他のデータエラーが検出された場合
は、データ自体の訂正不能なエラーを検出したことにな
り、データエラーを出力する。以上のデータ読み出し動
作を、図4のフローチャートに示す。
エラーが検出された場合、パリティ反転信号がEOR回
路10へ出力され、EOR回路9に入力されるパリティ
を反転させる。このパリティの反転により、前記の誤っ
た三つのアドレスのいずれかから読み出されたデータ
は、再び反転され、ECCチェック訂正回路6で再びチ
ェックされる。この二回目のチェックの結果、データの
エラーが検出されない場合は、アドレスの1ビットエラ
ーが検出されたことになり、アドレスエラーを出力す
る。また、この時、他のデータエラーが検出された場合
は、データ自体の訂正不能なエラーを検出したことにな
り、データエラーを出力する。以上のデータ読み出し動
作を、図4のフローチャートに示す。
【0028】また、書込み時におけるアドレスのエラー
は、メモリ1の中でアドレスのパリティと、当該アドレ
スで読み出されるデータの反転または非反転状態が一致
しないため、読み出し時に検出することができる。
は、メモリ1の中でアドレスのパリティと、当該アドレ
スで読み出されるデータの反転または非反転状態が一致
しないため、読み出し時に検出することができる。
【0029】データエラーの検出は、一般的なECCの
検出方法によって検出できることはいうまでもない。
検出方法によって検出できることはいうまでもない。
【0030】このように、本実施例の記憶再生システム
によれば、比較的小規模な回路構成でメモリ1のアドレ
スの1ビットエラーを検出することができる。また、従
来技術のように、アドレス情報とデータを組にしてEC
Cを生成する必要がないので、一般の汎用的な32ビッ
ト、64ビット、128ビットというようなデータ長に
対してのECC生成/訂正回路を用いてアドレスのエラ
ーを検出することができる。さらに、データ長に対して
アドレス長が比較的長い場合でも、ECC生成/訂正回
路を簡略化することができる。
によれば、比較的小規模な回路構成でメモリ1のアドレ
スの1ビットエラーを検出することができる。また、従
来技術のように、アドレス情報とデータを組にしてEC
Cを生成する必要がないので、一般の汎用的な32ビッ
ト、64ビット、128ビットというようなデータ長に
対してのECC生成/訂正回路を用いてアドレスのエラ
ーを検出することができる。さらに、データ長に対して
アドレス長が比較的長い場合でも、ECC生成/訂正回
路を簡略化することができる。
【0031】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。
例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。
【0032】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
以下のとおりである。
【0033】本発明の記憶再生システムによれば、アド
レス情報の大きさに影響されることなく、比較的小規模
な回路でアドレスエラーを検出することができる、とい
う効果が得られる。
レス情報の大きさに影響されることなく、比較的小規模
な回路でアドレスエラーを検出することができる、とい
う効果が得られる。
【図1】本発明の一実施例である記憶再生システムの構
成の一例を示すブロック図である。
成の一例を示すブロック図である。
【図2】その作用の一例を示す概念図である。
【図3】その作用の一例を示すフローチャートである。
【図4】その作用の一例を示すフローチャートである。
1 メモリ 2 データレジスタ 3 ECCレジスタ 4 アドレスレジスタ 5 ECC生成回路 6 ECCチェック訂正回路 7 パリティ生成回路(パリティ生成手段) 8 EOR回路(データ反転手段) 9 EOR回路(データ反転手段) 10 EOR回路(データ反転手段)
Claims (1)
- 【請求項1】 メモリと、このメモリに対する入出力デ
ータを一時的に保持するデータレジスタと、アクセスす
る前記メモリのアドレスを一時的に保持するアドレスレ
ジスタと、前記入出力データに対するエラー訂正符号を
生成するエラー訂正符号生成回路と、生成された前記エ
ラー訂正符号を一時的に保持するエラー訂正符号レジス
タと、前記エラー訂正符号に基づいて前記入出力データ
におけるエラーのチェックおよび訂正を行うエラーチェ
ック訂正回路とを含む記憶再生システムであって、アク
セスする前記メモリのアドレスのパリティを生成するパ
リティ生成手段と、前記パリティおよび前記エラーチェ
ック訂正回路における処理結果の少なくとも一方に基づ
いて前記入出力データの反転操作または非反転操作を行
うデータ反転手段とを備え、前記エラーチェック訂正回
路から出力されるチェック結果とアクセスした前記メモ
リのアドレスのパリティ値から前記アドレスのエラーを
検出することを特徴とする記憶再生システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5091077A JPH06301604A (ja) | 1993-04-19 | 1993-04-19 | 記憶再生システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5091077A JPH06301604A (ja) | 1993-04-19 | 1993-04-19 | 記憶再生システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06301604A true JPH06301604A (ja) | 1994-10-28 |
Family
ID=14016452
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5091077A Pending JPH06301604A (ja) | 1993-04-19 | 1993-04-19 | 記憶再生システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06301604A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100460708B1 (ko) * | 1997-09-23 | 2005-05-24 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 테스트용 에러체크 및 정정회로 |
| JP2016170679A (ja) * | 2015-03-13 | 2016-09-23 | 株式会社デンソー | 半導体装置 |
| JP2020194357A (ja) * | 2019-05-28 | 2020-12-03 | 株式会社東芝 | 情報処理回路及び情報処理方法 |
-
1993
- 1993-04-19 JP JP5091077A patent/JPH06301604A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| KR100460708B1 (ko) * | 1997-09-23 | 2005-05-24 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 테스트용 에러체크 및 정정회로 |
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