JPH0630413A - 画像2値化回路 - Google Patents
画像2値化回路Info
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- JPH0630413A JPH0630413A JP4183969A JP18396992A JPH0630413A JP H0630413 A JPH0630413 A JP H0630413A JP 4183969 A JP4183969 A JP 4183969A JP 18396992 A JP18396992 A JP 18396992A JP H0630413 A JPH0630413 A JP H0630413A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は印刷配線板の配線パターンの検査の
ための画像2値化回路に関し、空域部の異物の検出性能
が高く、且つ、空域部、中央ランド、及び導体部を適正
に識別することができることを目的とする。 【構成】 領域識別手段21は、画像の輝度を第1のし
きい値と比較して得た2値化データを出力する。しきい
値設定手段22は、第1の領域以外では、第1のしきい
値と同一値の第2のしきい値を設定し、第1の領域で
は、第1の領域の任意の点から第1の領域の端部までの
距離を放射状に測長して得た最小の測長値に応じた値の
第2のしきい値を設定する。比較手段23は、画像の輝
度を第2のしきい値と比較して得た2値化データを出力
する。
ための画像2値化回路に関し、空域部の異物の検出性能
が高く、且つ、空域部、中央ランド、及び導体部を適正
に識別することができることを目的とする。 【構成】 領域識別手段21は、画像の輝度を第1のし
きい値と比較して得た2値化データを出力する。しきい
値設定手段22は、第1の領域以外では、第1のしきい
値と同一値の第2のしきい値を設定し、第1の領域で
は、第1の領域の任意の点から第1の領域の端部までの
距離を放射状に測長して得た最小の測長値に応じた値の
第2のしきい値を設定する。比較手段23は、画像の輝
度を第2のしきい値と比較して得た2値化データを出力
する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は画像2値化回路に係り、
特に印刷配線板の配線パターンの検査のための画像2値
化回路に関する。
特に印刷配線板の配線パターンの検査のための画像2値
化回路に関する。
【0002】印刷配線板の配線パターンの検査を行う場
合、ビデオカメラ等で得られた配線パターンの画像を、
処理を容易にするために2値化することが行われる。こ
の2値化を行う2値化回路では、配線パターン上の異物
を検出する性能が高いことが必要とされている。
合、ビデオカメラ等で得られた配線パターンの画像を、
処理を容易にするために2値化することが行われる。こ
の2値化を行う2値化回路では、配線パターン上の異物
を検出する性能が高いことが必要とされている。
【0003】
【従来の技術】図7は、検査対象の印刷配線板の配線パ
ターンの一例を示す。図7に示すように、印刷配線板1
の全面が導体部2となっており、中央ランド4とドーナ
ツ状の空域部3(導体が無い部分)が設けられている。
また、中央ランド4の下には、他の層との電気的接続を
するための導体が設けられている。(図示せず)。
ターンの一例を示す。図7に示すように、印刷配線板1
の全面が導体部2となっており、中央ランド4とドーナ
ツ状の空域部3(導体が無い部分)が設けられている。
また、中央ランド4の下には、他の層との電気的接続を
するための導体が設けられている。(図示せず)。
【0004】この配線パターンの外観検査では、印刷配
線板1の下から照明して印刷配線板1の上部からビデオ
カメラ等で配線パターンの画像を撮り、この画像を画像
2値化回路で2値化した画像データから、導体部2、空
域部3、中央ランド4、及び空域部の明るい異物6等の
識別を行う。
線板1の下から照明して印刷配線板1の上部からビデオ
カメラ等で配線パターンの画像を撮り、この画像を画像
2値化回路で2値化した画像データから、導体部2、空
域部3、中央ランド4、及び空域部の明るい異物6等の
識別を行う。
【0005】図8は、従来のパターン検査のための画像
2値化回路における、しきい値の説明図を示す。印刷配
線板1の下から照明したときの、図7中一点鎖線i−i
線上の画像の輝度は、図8の実線のようになる。導体部
2と中央ランド4では、最も輝度が低く、空域部3で最
も輝度が高くなる。また、中央ランド4の下に設けられ
た、他の層との電気的接続をするための導体のため、空
域部3の中央ランド4の周囲には、空域部3の最も輝度
が高い部分より輝度の低い、中間輝度の部分5が存在す
る。
2値化回路における、しきい値の説明図を示す。印刷配
線板1の下から照明したときの、図7中一点鎖線i−i
線上の画像の輝度は、図8の実線のようになる。導体部
2と中央ランド4では、最も輝度が低く、空域部3で最
も輝度が高くなる。また、中央ランド4の下に設けられ
た、他の層との電気的接続をするための導体のため、空
域部3の中央ランド4の周囲には、空域部3の最も輝度
が高い部分より輝度の低い、中間輝度の部分5が存在す
る。
【0006】導体部2、中央ランド4と空域部3とを識
別するためには、図8のしきい値7を用いて、配線パタ
ーンの画像データを2値化すればよい。しかし、このし
きい値7では、空域部の明るい異物6の検出ができな
い。
別するためには、図8のしきい値7を用いて、配線パタ
ーンの画像データを2値化すればよい。しかし、このし
きい値7では、空域部の明るい異物6の検出ができな
い。
【0007】このため、従来、画像の輝度の近傍平均を
求めて、これからしきい値を決める動的2値化法が用い
られている。図8の例では、図8の二点鎖線に示すよう
なしきい値8が決められる。
求めて、これからしきい値を決める動的2値化法が用い
られている。図8の例では、図8の二点鎖線に示すよう
なしきい値8が決められる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかるに、従来の、画
像の輝度の近傍平均を求めて、これからしきい値を決め
る動的2値化法では、図7のような検査対象では空域部
3の内側でも外側でも、しきい値8のレベルがあまり変
わらず、空域部の異物6の検出率が充分でないという問
題があった。
像の輝度の近傍平均を求めて、これからしきい値を決め
る動的2値化法では、図7のような検査対象では空域部
3の内側でも外側でも、しきい値8のレベルがあまり変
わらず、空域部の異物6の検出率が充分でないという問
題があった。
【0009】本発明は、上記の点に鑑みてなされたもの
で、空域部の異物の検出性能が高く、且つ、空域部、中
央ランド、及び導体部を適正に識別することができる画
像2値化回路を提供することを目的とする。
で、空域部の異物の検出性能が高く、且つ、空域部、中
央ランド、及び導体部を適正に識別することができる画
像2値化回路を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明は、第1
の領域3と、第1の領域3に囲まれた第2の領域4のう
ち、一方の領域の画像の輝度が第1のしきい値より高
く、他方の領域の画像の輝度が第1のしきい値より低い
画像を2値化する画像2値化回路において、前記画像の
輝度を第1のしきい値と比較して得た2値化データを出
力する領域識別手段21と、第1の領域3以外では、第
1のしきい値と同一値の第2のしきい値を設定し、第1
の領域3では、第1の領域3の任意の点から第1の領域
3の端部までの距離を放射状に測長して得た最小の測長
値に応じた値である第2のしきい値を設定するしきい値
設定手段22と、前記画像の輝度を第2のしきい値と比
較して得た2値化データを出力する比較手段23とを有
する構成とする。
の領域3と、第1の領域3に囲まれた第2の領域4のう
ち、一方の領域の画像の輝度が第1のしきい値より高
く、他方の領域の画像の輝度が第1のしきい値より低い
画像を2値化する画像2値化回路において、前記画像の
輝度を第1のしきい値と比較して得た2値化データを出
力する領域識別手段21と、第1の領域3以外では、第
1のしきい値と同一値の第2のしきい値を設定し、第1
の領域3では、第1の領域3の任意の点から第1の領域
3の端部までの距離を放射状に測長して得た最小の測長
値に応じた値である第2のしきい値を設定するしきい値
設定手段22と、前記画像の輝度を第2のしきい値と比
較して得た2値化データを出力する比較手段23とを有
する構成とする。
【0011】請求項2の発明は、第1の領域3と、第1
の領域3に囲まれた第2の領域4と、第1の領域3を囲
む第3の領域2とが有り、第1の領域3の画像の輝度と
第1のしきい値との高低の関係は、第2の領域4及び該
第3の領域2の画像の輝度と第1のしきい値との高低の
関係とは異なり、かつ、第1の領域3中の第2の領域4
の周囲に、第1のしきい値と第1の領域3の画像の輝度
の中間の輝度の部分5が有る画像を2値化する画像2値
化回路において、しきい値設定手段22は、最小の測長
値と、最小の測長値の測長方向と隣接する2方向の測長
値とを比較し、最小の測長値が隣接する2方向の測長値
に所定値を足した値を越えるときは、最小の測長値の関
数である第1の関数により第2のしきい値を決め、最小
の測長値が該隣接する2方向の測長値に所定値を足した
値以下のときは、最小の測長値の関数である第2の関数
により第2のしきい値を決める構成とする。
の領域3に囲まれた第2の領域4と、第1の領域3を囲
む第3の領域2とが有り、第1の領域3の画像の輝度と
第1のしきい値との高低の関係は、第2の領域4及び該
第3の領域2の画像の輝度と第1のしきい値との高低の
関係とは異なり、かつ、第1の領域3中の第2の領域4
の周囲に、第1のしきい値と第1の領域3の画像の輝度
の中間の輝度の部分5が有る画像を2値化する画像2値
化回路において、しきい値設定手段22は、最小の測長
値と、最小の測長値の測長方向と隣接する2方向の測長
値とを比較し、最小の測長値が隣接する2方向の測長値
に所定値を足した値を越えるときは、最小の測長値の関
数である第1の関数により第2のしきい値を決め、最小
の測長値が該隣接する2方向の測長値に所定値を足した
値以下のときは、最小の測長値の関数である第2の関数
により第2のしきい値を決める構成とする。
【0012】請求項3の発明は、第1及び第2の関数
は、区分線形関数である構成とする。
は、区分線形関数である構成とする。
【0013】請求項4の発明は、第1及び第2の関数
は、ロジステック関数である構成とする。
は、ロジステック関数である構成とする。
【0014】
【作用】請求項1の発明では、第1の領域中で、第1の
領域の任意の点から第1の領域の端部までの最小距離に
応じた第2のしきい値を設定するため、第1の領域中の
異物を識別するのに適切な値の第2のしきい値を設定す
る。
領域の任意の点から第1の領域の端部までの最小距離に
応じた第2のしきい値を設定するため、第1の領域中の
異物を識別するのに適切な値の第2のしきい値を設定す
る。
【0015】請求項2の発明では、第1の領域中の任意
の点で、第2の領域と第3の領域のいずれに近いかによ
って、しきい値を決める第1の関数又は第2の関数を選
択すし、適切な値の第2のしきい値を設定する。
の点で、第2の領域と第3の領域のいずれに近いかによ
って、しきい値を決める第1の関数又は第2の関数を選
択すし、適切な値の第2のしきい値を設定する。
【0016】請求項3の発明では、第1の領域中の適切
な値の第2のしきい値を容易に設定することを可能とす
る。
な値の第2のしきい値を容易に設定することを可能とす
る。
【0017】請求項4の発明では、第1の領域中の第2
のしきい値の変化を滑らかにする。このため、第2のし
きい値をより適切な値に設定することを可能とする。
のしきい値の変化を滑らかにする。このため、第2のし
きい値をより適切な値に設定することを可能とする。
【0018】
【実施例】図2は本発明が適用された配線パターン検査
装置の構成図を示す。検査対象の印刷配線板1は、図7
に示す配線パターンを有するものとする。図2に示すよ
うに、検査対象の印刷配線板1を下から照明光源11で
照明し、印刷配線板1の上方からビデオカメラ12で配
線パターンの画像を撮る。この画像は画像入力回路13
でA/D変換されて、画像メモリ14に濃淡画像データ
として記憶される。
装置の構成図を示す。検査対象の印刷配線板1は、図7
に示す配線パターンを有するものとする。図2に示すよ
うに、検査対象の印刷配線板1を下から照明光源11で
照明し、印刷配線板1の上方からビデオカメラ12で配
線パターンの画像を撮る。この画像は画像入力回路13
でA/D変換されて、画像メモリ14に濃淡画像データ
として記憶される。
【0019】本発明の一実施例である画像2値化回路1
5では、画像メモリ14の濃淡画像データを、導体部
2、空域部3、及び空域部の異物6等を識別する2値化
データにして出力し、この2値化データが2値化画像メ
モリに記憶される。中央処理装置(CPU)17は、得
られた2値化画像データを良品の配線パターンのデータ
と比較して、検査対象の印刷配線板1の配線パターンの
良否を判定する。
5では、画像メモリ14の濃淡画像データを、導体部
2、空域部3、及び空域部の異物6等を識別する2値化
データにして出力し、この2値化データが2値化画像メ
モリに記憶される。中央処理装置(CPU)17は、得
られた2値化画像データを良品の配線パターンのデータ
と比較して、検査対象の印刷配線板1の配線パターンの
良否を判定する。
【0020】図3は本発明の一実施例の構成図を示し、
図4は本実施例におけるしきい値の説明図を示す。図3
の画像2値化回路において、領域識別手段21である比
較回路31は、第1のしきい値である固定のしきい値S
L1と配線パターンの濃淡画像データを比較して、2値
化データを出力する。
図4は本実施例におけるしきい値の説明図を示す。図3
の画像2値化回路において、領域識別手段21である比
較回路31は、第1のしきい値である固定のしきい値S
L1と配線パターンの濃淡画像データを比較して、2値
化データを出力する。
【0021】図4に示すように、このしきい値SL1に
より第1の領域である空域部3と、第2の領域である中
央ランド4及び第3の領域である導体部2とを識別でき
る。従って、この2値化データは、空域部3と、中央ラ
ンド4及び導体部2とを識別する2値化データである。
より第1の領域である空域部3と、第2の領域である中
央ランド4及び第3の領域である導体部2とを識別でき
る。従って、この2値化データは、空域部3と、中央ラ
ンド4及び導体部2とを識別する2値化データである。
【0022】しきい値設定手段22は、測長回路34と
しきい値決定回路35とよりなる。測長回路34は後述
するように、空域部3において、空域部3の任意の点か
ら空域部3の端部、即ち空域部3と導体部2の境界、又
は空域部3と中央ランド4の境界、までの距離を放射状
に測長し、最小の測長値を出力する。
しきい値決定回路35とよりなる。測長回路34は後述
するように、空域部3において、空域部3の任意の点か
ら空域部3の端部、即ち空域部3と導体部2の境界、又
は空域部3と中央ランド4の境界、までの距離を放射状
に測長し、最小の測長値を出力する。
【0023】しきい値決定回路35は第2のしきい値で
あるSL2を出力する。空域部3においては、測長回路
34が出力する最小の測長値に応じた値のしきい値SL
2を出力し、空域部3以外では、しきい値SL1と同一
値のしきい値SL2を出力する。
あるSL2を出力する。空域部3においては、測長回路
34が出力する最小の測長値に応じた値のしきい値SL
2を出力し、空域部3以外では、しきい値SL1と同一
値のしきい値SL2を出力する。
【0024】比較手段23である比較回路36では、し
きい値決定回路35が出力するしきい値SL2と濃淡画
像データを比較して、2値化データを出力する。この2
値化データにより、濃淡画像データの空域部3、導体部
2、中央ランド4、及び空域部3の異物6を識別するこ
とができる。
きい値決定回路35が出力するしきい値SL2と濃淡画
像データを比較して、2値化データを出力する。この2
値化データにより、濃淡画像データの空域部3、導体部
2、中央ランド4、及び空域部3の異物6を識別するこ
とができる。
【0025】次に、本実施例の動作について説明する。
先ず、比較回路31により得られた、空域部3と、中央
ランド4及び導体部2とを識別する2値化データを、測
長回路34にて保持しておく。しきい値SL1より低い
値の部分を2値化後論理0(以下“0”と記す)、しき
い値SL1より高い値の部分を2値化後論理1(以下
“1”と記す)とすると、空域部3は“1”となり、中
央ランド4及び導体部2は“0”となる。
先ず、比較回路31により得られた、空域部3と、中央
ランド4及び導体部2とを識別する2値化データを、測
長回路34にて保持しておく。しきい値SL1より低い
値の部分を2値化後論理0(以下“0”と記す)、しき
い値SL1より高い値の部分を2値化後論理1(以下
“1”と記す)とすると、空域部3は“1”となり、中
央ランド4及び導体部2は“0”となる。
【0026】次に、配線パターンの濃淡データについ
て、ある線上で、空域部3、導体部2、中央ランド4、
及び空域部3の異物6を識別する2値化処理を行う。こ
こでは、図7の一点鎖線i−i上での2値化処理のつい
て説明する。
て、ある線上で、空域部3、導体部2、中央ランド4、
及び空域部3の異物6を識別する2値化処理を行う。こ
こでは、図7の一点鎖線i−i上での2値化処理のつい
て説明する。
【0027】2値化処理を行う点が、一点鎖線i−i上
の導体部2、又は、中央ランド4の部分にある場合(比
較回路31の出力は“0”)は、しきい値決定回路35
は、しきい値SL1と同一値のしきい値SL2を出力す
る。このため、比較回路36は“0”を出力する。従っ
て、導体部2、又は、中央ランド4の部分は2値化処理
により“0”となる。
の導体部2、又は、中央ランド4の部分にある場合(比
較回路31の出力は“0”)は、しきい値決定回路35
は、しきい値SL1と同一値のしきい値SL2を出力す
る。このため、比較回路36は“0”を出力する。従っ
て、導体部2、又は、中央ランド4の部分は2値化処理
により“0”となる。
【0028】次に、2値化処理を行う点が一点鎖線i−
i上の空域部3にある場合(比較回路31の出力は
“1”)について説明する。この場合、2値化処理を行
う点の位置に応じたしきい値SL2を設定し、これによ
り2値化処理を行う。
i上の空域部3にある場合(比較回路31の出力は
“1”)について説明する。この場合、2値化処理を行
う点の位置に応じたしきい値SL2を設定し、これによ
り2値化処理を行う。
【0029】測長回路34では、2値化処理を行う点か
ら空域部3の端部である、中央ランド4との境界、又
は、導体部2との境界までの距離を、図5に示すよう
に、放射状に16方向に測長し、測長結果を出力する。
このときの最小の測長値をLCとし、LCの測長方向と
時計方向に隣接する方向の測長値をLRとし、LCの測
長方向と反時計方向に隣接する方向の測長値をLLとす
る。
ら空域部3の端部である、中央ランド4との境界、又
は、導体部2との境界までの距離を、図5に示すよう
に、放射状に16方向に測長し、測長結果を出力する。
このときの最小の測長値をLCとし、LCの測長方向と
時計方向に隣接する方向の測長値をLRとし、LCの測
長方向と反時計方向に隣接する方向の測長値をLLとす
る。
【0030】しきい値決定回路35では、このLC、L
R、LLを用いて、2値化処理を行う点が中央ランド4
と導体部2のいずれに近接しているかを判断し、この判
断結果により、しきい値SL2を決める第1の関数、又
は、第2の関数を選択し、選択した関数により、しきい
値SL2を決定する。
R、LLを用いて、2値化処理を行う点が中央ランド4
と導体部2のいずれに近接しているかを判断し、この判
断結果により、しきい値SL2を決める第1の関数、又
は、第2の関数を選択し、選択した関数により、しきい
値SL2を決定する。
【0031】下記の条件が成立するときは、2値化処
理を行う点は、中央ランド4に近接していると判断す
る。
理を行う点は、中央ランド4に近接していると判断す
る。
【0032】 LL>LC+α かつ LR>LC+α −−− αは、2値化処理を行う点が、中央ランド4と導体部2
のいずれに近接しているかを正しく判定できるように、
適切な値に設定しておく。の条件が成立するときは、
しきい値SL2の値を第1の関数である下記の式で決
定する。
のいずれに近接しているかを正しく判定できるように、
適切な値に設定しておく。の条件が成立するときは、
しきい値SL2の値を第1の関数である下記の式で決
定する。
【0033】 SL2=SL1+β・(LC−W) −−− ここで、βはしきい値SL2の傾斜係数で、図4に示
す、ランド4の周辺にある中間輝度の部分5の輝度の傾
斜に等しい値とする。また、Wは空域部3の大きさに比
べて小さな固定の値で、SL2が適切な値となるように
設定する。
す、ランド4の周辺にある中間輝度の部分5の輝度の傾
斜に等しい値とする。また、Wは空域部3の大きさに比
べて小さな固定の値で、SL2が適切な値となるように
設定する。
【0034】ただし、LC<WのときはSL2=SL1
とし、SL2>SLMAXのときはSL2=SLMAX
とする。これによるLCとSL2の関係を図6(A)に
示す。この関数は、区分線型関数である。しきい値SL
2は、この区分線型関数により容易に算出することがで
きる。
とし、SL2>SLMAXのときはSL2=SLMAX
とする。これによるLCとSL2の関係を図6(A)に
示す。この関数は、区分線型関数である。しきい値SL
2は、この区分線型関数により容易に算出することがで
きる。
【0035】一方、条件が成立しないときは、2値化
処理を行う点は導体部2に近接していると判断し、第2
の関数である下記の式によって、しきい値SL2を決
定する。
処理を行う点は導体部2に近接していると判断し、第2
の関数である下記の式によって、しきい値SL2を決
定する。
【0036】 SL2=SL1+γ・(LC−W) −−− ここで、γはしきい値SL2の傾斜係数で、図4に示
す、導体部2との境界付近の輝度の傾斜と等しい値とす
る。ただし、LC<WのときはSL2=SL1とし、S
L2>SLMAXのときはSL2=SLMAXとする。
図4に示すように、導体部2との境界付近の輝度の傾斜
は、中間輝度の部分5の輝度の傾斜よりも大きく、従っ
て、γ>βの関係がある。しきい値SL2は、この区分
線型関数により容易に算出することができる。
す、導体部2との境界付近の輝度の傾斜と等しい値とす
る。ただし、LC<WのときはSL2=SL1とし、S
L2>SLMAXのときはSL2=SLMAXとする。
図4に示すように、導体部2との境界付近の輝度の傾斜
は、中間輝度の部分5の輝度の傾斜よりも大きく、従っ
て、γ>βの関係がある。しきい値SL2は、この区分
線型関数により容易に算出することができる。
【0037】上記のように、しきい値決定回路35で
は、2値化処理を行う点が中央ランド4に近接している
場合は、第1の関数である式によりしきい値SL2を
決定し、2値化処理を行う点が導体部2に近接している
場合は、第2の関数である式によりしきい値SL2を
決定する。
は、2値化処理を行う点が中央ランド4に近接している
場合は、第1の関数である式によりしきい値SL2を
決定し、2値化処理を行う点が導体部2に近接している
場合は、第2の関数である式によりしきい値SL2を
決定する。
【0038】しきい値決定回路35により決められたし
きい値SL2を、図4の一点鎖線で示す。図4に示すよ
うに、しきい値SL2は、空域部3の端部からの距離が
W以上の部分では、濃淡画像データの輝度より所定の値
だけ小さい値で、濃淡画像データの輝度の線に沿って平
行に設定される。また、空域部3の端部からの距離がW
以内の部分では、しきい値SL1と同一値に設定され
る。
きい値SL2を、図4の一点鎖線で示す。図4に示すよ
うに、しきい値SL2は、空域部3の端部からの距離が
W以上の部分では、濃淡画像データの輝度より所定の値
だけ小さい値で、濃淡画像データの輝度の線に沿って平
行に設定される。また、空域部3の端部からの距離がW
以内の部分では、しきい値SL1と同一値に設定され
る。
【0039】このため、空域部3の正常なパターンの部
分は、比較回路36による2値化で、“1”となる。一
方、空域部3の異物6の輝度は、設定したしきい値SL
2よりも低くなるため、比較回路36による2値化で、
“0”となる。従って、空域部3の異物6を、空域部3
の正常なパターンの部分と正しく識別することができ
る。
分は、比較回路36による2値化で、“1”となる。一
方、空域部3の異物6の輝度は、設定したしきい値SL
2よりも低くなるため、比較回路36による2値化で、
“0”となる。従って、空域部3の異物6を、空域部3
の正常なパターンの部分と正しく識別することができ
る。
【0040】上記のように、本実施例では、空域部3に
おける位置に応じて、しきい値SL2を決める第1の関
数又は第2の関数を選択して、適切な値のしきい値SL
2を設定することができるため、空域部3の異物を高い
確率で検出することができ、かつ、空域部3、中央ラン
ド4、及び導体部2を適正に識別することができる。
おける位置に応じて、しきい値SL2を決める第1の関
数又は第2の関数を選択して、適切な値のしきい値SL
2を設定することができるため、空域部3の異物を高い
確率で検出することができ、かつ、空域部3、中央ラン
ド4、及び導体部2を適正に識別することができる。
【0041】なお、しきい値SL2を決定する関数は、
図6(A)の区分線型関数に限らず、図6(B)、下記
式に示すようなロジスティック関数とすることも可能
である。
図6(A)の区分線型関数に限らず、図6(B)、下記
式に示すようなロジスティック関数とすることも可能
である。
【0042】 y=C・(1/(1+exp((−x+A)・B))) −−− この場合、しきい値SL2の変化が滑らかになるため、
しきい値SL2を、より適切な値に設定することができ
る。
しきい値SL2を、より適切な値に設定することができ
る。
【0043】
【発明の効果】上述の如く、請求項1の発明にによれ
ば、第1の領域中の異物を識別するのに適切な値の第2
のしきい値を設定することができるため、第1の領域中
の異物を高い確率で検出することができ、且つ、第1の
領域と第2の領域とを適正に識別することができる等の
特長を有する。
ば、第1の領域中の異物を識別するのに適切な値の第2
のしきい値を設定することができるため、第1の領域中
の異物を高い確率で検出することができ、且つ、第1の
領域と第2の領域とを適正に識別することができる等の
特長を有する。
【0044】請求項2の発明によれば、第1の領域中の
位置に応じて、しきい値を決める第1の関数又は第2の
関数を選択して、適切な値の第2のしきい値を設定する
ことができるため、第1の領域中の異物を高い確率で検
出することができ、且つ、第1の領域、第2の領域及び
第3の領域を適正に識別することができる。
位置に応じて、しきい値を決める第1の関数又は第2の
関数を選択して、適切な値の第2のしきい値を設定する
ことができるため、第1の領域中の異物を高い確率で検
出することができ、且つ、第1の領域、第2の領域及び
第3の領域を適正に識別することができる。
【0045】請求項3の発明によれば、第1の領域中の
適切な値の第2のしきい値を容易に設定することができ
る。
適切な値の第2のしきい値を容易に設定することができ
る。
【0046】請求項4の発明によれば、第1の領域中の
第2のしきい値の変化を滑らかにすることができるた
め、第2のしきい値をより適切な値に設定することがで
きる。
第2のしきい値の変化を滑らかにすることができるた
め、第2のしきい値をより適切な値に設定することがで
きる。
【図1】本発明の原理構成図である。
【図2】本発明が適用された検査装置の構成図である。
【図3】本発明の一実施例の構成図である。
【図4】本実施例におけるしきい値の説明図である。
【図5】測長回路における測長方法の説明図である。
【図6】しきい値を決める関数の説明図である。
【図7】検査対象の印刷配線板の一例を示す図である。
【図8】従来回路におけるしきい値の説明図である。
1 印刷配線板 2 導体部 3 空域部 4 中央ランド 5 中間輝度の部分 11 照明光源 12 ビデオカメラ 13 画像入力回路 14 画像メモリ 15 画像2値化回路 16 2値化画像メモリ 17 中央処理装置(CPU) 21 領域識別手段 22 しきい値設定手段 23 比較手段 31 比較回路 34 測長回路 35 しきい値決定回路 36 比較回路
Claims (4)
- 【請求項1】 第1の領域(3)と、該第1の領域
(3)に囲まれた第2の領域(4)のうち、一方の領域
の画像の輝度が第1のしきい値より高く、他方の領域の
画像の輝度が該第1のしきい値より低い画像を2値化す
る画像2値化回路において、 該画像の輝度を該第1のしきい値と比較して得た2値化
データを出力する領域識別手段(21)と、 該第1の領域3以外では、該第1のしきい値と同一値の
第2のしきい値を設定し、該第1の領域(3)では、該
第1の領域(3)の任意の点から該第1の領域(3)の
端部までの距離を放射状に測長して得た最小の測長値に
応じた値である第2のしきい値を設定するしきい値設定
手段(22)と、 該画像の輝度を該第2のしきい値と比較して得た2値化
データを出力する比較手段(23)とを有することを特
徴とする画像2値化回路。 - 【請求項2】 第1の領域(3)と、該第1の領域
(3)に囲まれた第2の領域(4)と、該第1の領域
(3)を囲む第3の領域(2)とが有り、該第1の領域
(3)の画像の輝度と第1のしきい値との高低の関係
は、該第2の領域(4)及び該第3の領域(2)の画像
の輝度と該第1のしきい値との高低の関係とは異なり、
かつ、該第1の領域(3)中の該第2の領域(4)の周
囲に、該第1のしきい値と該第1の領域(3)の画像の
輝度の中間の輝度の部分(5)が有る画像を2値化する
画像2値化回路において、 前記しきい値設定手段(22)は、前記最小の測長値
と、前記最小の測長値の測長方向と隣接する2方向の測
長値とを比較し、最小の測長値が該隣接する2方向の測
長値に所定値を足した値を越えるときは、最小の測長値
の関数である第1の関数により前記第2のしきい値を決
め、最小の測長値が該隣接する2方向の測長値に所定値
を足した値以下のときは、最小の測長値の関数である第
2の関数により前記第2のしきい値を決めることを特徴
とする請求項1記載の画像2値化回路。 - 【請求項3】 前記第1及び第2の関数は、区分線形関
数であることを特徴とする請求項2記載の画像2値化回
路。 - 【請求項4】 前記第1及び第2の関数は、ロジステッ
ク関数であることを特徴とする請求項2記載の画像2値
化回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4183969A JPH0630413A (ja) | 1992-07-10 | 1992-07-10 | 画像2値化回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4183969A JPH0630413A (ja) | 1992-07-10 | 1992-07-10 | 画像2値化回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0630413A true JPH0630413A (ja) | 1994-02-04 |
Family
ID=16144997
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4183969A Withdrawn JPH0630413A (ja) | 1992-07-10 | 1992-07-10 | 画像2値化回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0630413A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5050376A (en) * | 1990-02-08 | 1991-09-24 | Allied-Signal Inc. | Control system for diesel particulate trap regeneration system |
| CN114252450A (zh) * | 2021-11-01 | 2022-03-29 | 南京日托光伏新能源有限公司 | Mwt光伏组件导电芯板线路残留检测方法 |
-
1992
- 1992-07-10 JP JP4183969A patent/JPH0630413A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5050376A (en) * | 1990-02-08 | 1991-09-24 | Allied-Signal Inc. | Control system for diesel particulate trap regeneration system |
| CN114252450A (zh) * | 2021-11-01 | 2022-03-29 | 南京日托光伏新能源有限公司 | Mwt光伏组件导电芯板线路残留检测方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19991005 |