JPH0630448B2 - 干渉検出装置 - Google Patents
干渉検出装置Info
- Publication number
- JPH0630448B2 JPH0630448B2 JP62048046A JP4804687A JPH0630448B2 JP H0630448 B2 JPH0630448 B2 JP H0630448B2 JP 62048046 A JP62048046 A JP 62048046A JP 4804687 A JP4804687 A JP 4804687A JP H0630448 B2 JPH0630448 B2 JP H0630448B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- interference
- wave
- circuit
- electric field
- bias voltage
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
- Noise Elimination (AREA)
- Mobile Radio Communication Systems (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔概要〕 本発明は干渉検出装置において、 弱電界では雑音が増加するために干渉検出に誤差を生じ
るという本出願人が同日付で提案した装置の問題点を解
決するため、 電界強度に対応して整流回路のバイアス電圧を可変する
構成とすることにより、 電界強度の如何に拘らず高精度に干渉検出し得るように
したものである。
るという本出願人が同日付で提案した装置の問題点を解
決するため、 電界強度に対応して整流回路のバイアス電圧を可変する
構成とすることにより、 電界強度の如何に拘らず高精度に干渉検出し得るように
したものである。
本発明は、自動車電話システム,コードレス電話システ
ム等同一周波数を繰返し利用するマルチチャンネル方式
の移動通信システム等に用いられる干渉検出装置に関す
る。このようなシステムでは、同一周波数のU波(妨害
波)による干渉のためにD波(希望波)のSN比が劣化
して音声の明瞭度が悪くなることがあるが、このような
音声明瞭度の劣化を防止し、干渉があるチャンネルは別
の干渉のないチャンネルに切換える必要がある。
ム等同一周波数を繰返し利用するマルチチャンネル方式
の移動通信システム等に用いられる干渉検出装置に関す
る。このようなシステムでは、同一周波数のU波(妨害
波)による干渉のためにD波(希望波)のSN比が劣化
して音声の明瞭度が悪くなることがあるが、このような
音声明瞭度の劣化を防止し、干渉があるチャンネルは別
の干渉のないチャンネルに切換える必要がある。
この場合、D波及びU波の干渉化(DU比)を正確に検
出することはシステムの品質向上につながり、このため
干渉検出を高精度に実現し得る装置が必要とされる。
出することはシステムの品質向上につながり、このため
干渉検出を高精度に実現し得る装置が必要とされる。
従来の干渉検出装置は、IF出力と自乗包絡線検波して
U波による包絡線ビート成分を検出し、これから高周波
成分の2乗平均値2〈ED 2〉〈EL 2〉と低周波成分
の平均値〈ED 2〉+〈EU 2〉とを得て干渉比「=
(〈EU 2〉/〈ED 2〉)を得る。ここに、EDはD
波の振幅、EUはU波の振幅である。
U波による包絡線ビート成分を検出し、これから高周波
成分の2乗平均値2〈ED 2〉〈EL 2〉と低周波成分
の平均値〈ED 2〉+〈EU 2〉とを得て干渉比「=
(〈EU 2〉/〈ED 2〉)を得る。ここに、EDはD
波の振幅、EUはU波の振幅である。
このものは、自乗包絡線検波によって包絡線ビート成分
を求めているので、干渉化を検出するのにD波,U波の
レベルを包絡線検波の高周波成分及び低周波成分から求
める必要があり、D波レベルの測定精度、及び、干渉に
よる高周波成分の測定精度の双方に高精度が要求され、
回路が複雑になり、しかも測定のばらつきが大きくなる
問題点があった。
を求めているので、干渉化を検出するのにD波,U波の
レベルを包絡線検波の高周波成分及び低周波成分から求
める必要があり、D波レベルの測定精度、及び、干渉に
よる高周波成分の測定精度の双方に高精度が要求され、
回路が複雑になり、しかも測定のばらつきが大きくなる
問題点があった。
そこで、本出願人は上記問題点を解決するために本発明
装置と同日付で干渉検出装置を提案した。このものは、
第5図に示す如く、U波を含む受信電波の信号を対数検
波する対数検波回路1と、この対数検波回路1からの対
数検波信号から高域フィルタ3にて干渉による高周波成
分のみを取出して全波整流回路5、積分回路6にてその
振幅に応じたDC値を得る整流回路2とよりなる。
装置と同日付で干渉検出装置を提案した。このものは、
第5図に示す如く、U波を含む受信電波の信号を対数検
波する対数検波回路1と、この対数検波回路1からの対
数検波信号から高域フィルタ3にて干渉による高周波成
分のみを取出して全波整流回路5、積分回路6にてその
振幅に応じたDC値を得る整流回路2とよりなる。
このものは、受信信号を対数検波するので、その高周波
成分はD波,U波を合わせた総合受信電界レベルに依ら
ずに検出でき、これにより、D波レベルの測定精度等を
高精度に要求されていた従来例に比して回路を簡単に構
成し得、しかも対数検波回路を用いているので測定誤差
が比較的少なく、高精度に干渉検出できる。
成分はD波,U波を合わせた総合受信電界レベルに依ら
ずに検出でき、これにより、D波レベルの測定精度等を
高精度に要求されていた従来例に比して回路を簡単に構
成し得、しかも対数検波回路を用いているので測定誤差
が比較的少なく、高精度に干渉検出できる。
受信機のIF出力は、一般に、第2図(A)に示す如
く、D波が10dBμ程度以上の比較的高い電界レベル
(A以上)では雑音検波量が比較的少ないが、10dBμ
程度以下の比較的低い電界レベル(A以下)では雑音検
波量が比較的多い。このため、対数検波回路1の出力と
しては、第2図(B)示す如く、電界強度の比較的低い
ところでは干渉による高周波数成分に雑音成分が重畳さ
れ、この結果、雑音成分が整流、積分されてこれが干渉
量として検出されてしまう。
く、D波が10dBμ程度以上の比較的高い電界レベル
(A以上)では雑音検波量が比較的少ないが、10dBμ
程度以下の比較的低い電界レベル(A以下)では雑音検
波量が比較的多い。このため、対数検波回路1の出力と
しては、第2図(B)示す如く、電界強度の比較的低い
ところでは干渉による高周波数成分に雑音成分が重畳さ
れ、この結果、雑音成分が整流、積分されてこれが干渉
量として検出されてしまう。
即ち、第5図に示す装置は、特に、弱電界では雑音成分
を干渉量として検出してしまうので、本来の干渉量を正
確に検出し得ず、又、弱電界において雑音成分のみある
場合、実際には干渉がないにも拘らず干渉があるように
検出してしまう問題点があった。これは、設定干渉比が
低い場合は誤動作を生じないが、特に、設定干渉比が高
い場合は雑音成分で誤動作を生じる。
を干渉量として検出してしまうので、本来の干渉量を正
確に検出し得ず、又、弱電界において雑音成分のみある
場合、実際には干渉がないにも拘らず干渉があるように
検出してしまう問題点があった。これは、設定干渉比が
低い場合は誤動作を生じないが、特に、設定干渉比が高
い場合は雑音成分で誤動作を生じる。
本発明になる干渉検出装置は、第1図に示す如く、妨害
波を含む受信電波の信号を対数検波する対数検波回路1
と、この対数検波回路1の直流成分に応じてDCバイア
ス電圧を可変される構成で、この回路1からの対数検波
信号から高周波成分のみを取出してその振幅に応じたD
C値を得る整流回路9とよりなる。
波を含む受信電波の信号を対数検波する対数検波回路1
と、この対数検波回路1の直流成分に応じてDCバイア
ス電圧を可変される構成で、この回路1からの対数検波
信号から高周波成分のみを取出してその振幅に応じたD
C値を得る整流回路9とよりなる。
弱電界で雑音成分が重畳された場合、直流増幅器8の出
力にて全波整流回路7のDCバイアス電圧が低下され、
これにより、雑音成分のために積分値が増大することを
防止できる。もって、雑音成分に影響されることなく、
干渉による高周波成分の大きさのみ取出し得る。
力にて全波整流回路7のDCバイアス電圧が低下され、
これにより、雑音成分のために積分値が増大することを
防止できる。もって、雑音成分に影響されることなく、
干渉による高周波成分の大きさのみ取出し得る。
第1図は本発明のブロック図を示し、同図中、第5図と
同一構成部分には同一番号を付してその説明を省略す
る。同図中、7は全波整流回路で、対数検波回路1の出
力を直流増幅器8で増幅した信号レベルに応じてそのバ
イアス電圧を可変されるもので、第3図に示す構成とさ
れている。即ち、全波整流回路7のバイアス電圧を、第
2図(C)に示す如く、電界強度が前記10dBμ程度以
上の比較的高い電界レベル(A以上)ではある所定レベ
ルに保持しておき、10dBμ以下の比較的低い電界レベ
ル(A以下)では電界強度に応じて所定レベル以下に可
変する。高域フィルタ3、交流増幅器4、全波整流回路
7、積分回路6にて整流回路9が構成されている。
同一構成部分には同一番号を付してその説明を省略す
る。同図中、7は全波整流回路で、対数検波回路1の出
力を直流増幅器8で増幅した信号レベルに応じてそのバ
イアス電圧を可変されるもので、第3図に示す構成とさ
れている。即ち、全波整流回路7のバイアス電圧を、第
2図(C)に示す如く、電界強度が前記10dBμ程度以
上の比較的高い電界レベル(A以上)ではある所定レベ
ルに保持しておき、10dBμ以下の比較的低い電界レベ
ル(A以下)では電界強度に応じて所定レベル以下に可
変する。高域フィルタ3、交流増幅器4、全波整流回路
7、積分回路6にて整流回路9が構成されている。
先ず、10dB程度以上の強電界で雑音成分が重畳されて
いない場合、高域フィルタ3の例えば100mVP−Pの
高域成分出力a(第4図(A))は交流増幅器4にて増
幅されて例えば300mVP−Pの信号b(第4図
(B))とされ、全波整流回路7に供給される。ここ
で、全波整流されて150mVP−Pの全波整流波形とさ
れ、直流増幅器8からの例えば2.5Vの電圧をバイアス
電圧として信号c(第4図(C))とされる。全波整流
信号cは積分回路6にて積分され、(バイアス電圧2.5
V)+150mV=2.65VのDC電圧d(第4図(D))
とされ、これが干渉量として取出される。
いない場合、高域フィルタ3の例えば100mVP−Pの
高域成分出力a(第4図(A))は交流増幅器4にて増
幅されて例えば300mVP−Pの信号b(第4図
(B))とされ、全波整流回路7に供給される。ここ
で、全波整流されて150mVP−Pの全波整流波形とさ
れ、直流増幅器8からの例えば2.5Vの電圧をバイアス
電圧として信号c(第4図(C))とされる。全波整流
信号cは積分回路6にて積分され、(バイアス電圧2.5
V)+150mV=2.65VのDC電圧d(第4図(D))
とされ、これが干渉量として取出される。
次に、10dBμ程度以下の弱電界で雑音成分が重畳され
た場合について説明する。雑音成分が重畳されることに
よって交流増幅器4の出力は例えば600mVP−Pにな
ったとすると、全波整流回路7による全波整流波形は30
0mVP−Pになる。この場合、直流増幅器8からの電
圧によりれ全波整流回路7のバイアス電圧は第4図
(C)に示す2.5Vより低下(例えば雑音成分によって
増大する交流増幅器4の出力の振幅の1/2、つまり、
150mVP−P低下)する。これより、バイアス電圧は
2.35Vとなり、積分回路6にて積分されて2.65VのDC
電圧となる。
た場合について説明する。雑音成分が重畳されることに
よって交流増幅器4の出力は例えば600mVP−Pにな
ったとすると、全波整流回路7による全波整流波形は30
0mVP−Pになる。この場合、直流増幅器8からの電
圧によりれ全波整流回路7のバイアス電圧は第4図
(C)に示す2.5Vより低下(例えば雑音成分によって
増大する交流増幅器4の出力の振幅の1/2、つまり、
150mVP−P低下)する。これより、バイアス電圧は
2.35Vとなり、積分回路6にて積分されて2.65VのDC
電圧となる。
このように、弱電界で雑音成分が重畳された場合、この
雑音成分の振幅の分だけ全波整流回路7のバイアス電圧
を低下させているので、雑音成分に影響されることなく
干渉による高周波数成分の大きさのみ取出し得る。
雑音成分の振幅の分だけ全波整流回路7のバイアス電圧
を低下させているので、雑音成分に影響されることなく
干渉による高周波数成分の大きさのみ取出し得る。
一方、極く弱電界において干渉がなく雑音成分のみがあ
る場合、第2図(C)に示すように全波整流回路7のバ
イアス電圧が極く低く設定されるので、積分回路6の出
力電圧としては極く低く取出され、干渉量としては検出
されない。
る場合、第2図(C)に示すように全波整流回路7のバ
イアス電圧が極く低く設定されるので、積分回路6の出
力電圧としては極く低く取出され、干渉量としては検出
されない。
本発明によれば、特に、弱電界で雑音成分を生じている
場合、雑音成分に影響されることなく干渉量を正確に検
出し得、干渉検出のダイナミックレンジを広げ得る等の
特長を有する。
場合、雑音成分に影響されることなく干渉量を正確に検
出し得、干渉検出のダイナミックレンジを広げ得る等の
特長を有する。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明のブロック図、 第2図は第1図の概略動作説明図、 第3図は第1図の要部の回路図、 第4図は第3図に示す回路の動作説明図、 第5図は本出願人が同日付で提案した装置のブロック図
である。 図において、 1は対数検波回路、 3は高域フィルタ、 6は積分回路、 7は全波整流回路、 8は直流増幅器、 9は整流回路である。
である。 図において、 1は対数検波回路、 3は高域フィルタ、 6は積分回路、 7は全波整流回路、 8は直流増幅器、 9は整流回路である。
Claims (2)
- 【請求項1】同一周波数を繰返し利用するマルチチャン
ネル方式の移動通信システムで、同一周波数の妨害波に
よる干渉を検出する干渉検出装置において、 妨害波を含む受信電波の信号を対数検波する回路(1)
と、 該回路(1)の直流成分に応じてDCバイアス電圧を可
変される構成で、該回路(1)からの対数検波信号から
高周波成分のみを取出してその振幅に応じたDC値を得
る回路(9)とよりなることを特徴とする干渉検出装
置。 - 【請求項2】該DCバイアス電圧は、希望波の弱電界時
に低くなるように設定されることを特徴とする特許請求
の範囲第1項記載の干渉検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62048046A JPH0630448B2 (ja) | 1987-03-03 | 1987-03-03 | 干渉検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62048046A JPH0630448B2 (ja) | 1987-03-03 | 1987-03-03 | 干渉検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63215119A JPS63215119A (ja) | 1988-09-07 |
| JPH0630448B2 true JPH0630448B2 (ja) | 1994-04-20 |
Family
ID=12792385
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62048046A Expired - Fee Related JPH0630448B2 (ja) | 1987-03-03 | 1987-03-03 | 干渉検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0630448B2 (ja) |
-
1987
- 1987-03-03 JP JP62048046A patent/JPH0630448B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS63215119A (ja) | 1988-09-07 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |