JPH0631363Y2 - 位置決め接点群の開閉検出回路 - Google Patents
位置決め接点群の開閉検出回路Info
- Publication number
- JPH0631363Y2 JPH0631363Y2 JP1989012371U JP1237189U JPH0631363Y2 JP H0631363 Y2 JPH0631363 Y2 JP H0631363Y2 JP 1989012371 U JP1989012371 U JP 1989012371U JP 1237189 U JP1237189 U JP 1237189U JP H0631363 Y2 JPH0631363 Y2 JP H0631363Y2
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- Expired - Fee Related
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 《産業上の利用分野》 この考案は、バネや重力等で安定位置に保持された可動
部材の当該安定位置からの離脱を検出するための電気回
路に関するものである。
部材の当該安定位置からの離脱を検出するための電気回
路に関するものである。
《従来の技術》 移動可能な部材を常に正確な位置に保持するための支持
構造として、孔と溝と平面によって当該部材を支持する
構造が古くから用いられている。この支持構造は、部材
の三次元の位置と三次元の姿勢を規制することによって
部材の定常位置を正確に保持できるという原理に基づく
もので、孔は三次元の、溝は二次元の、平面は一次元の
支持対として機能しており、孔は３点で、溝は２点で平
面は１点で部材を支持する構造である。
構造として、孔と溝と平面によって当該部材を支持する
構造が古くから用いられている。この支持構造は、部材
の三次元の位置と三次元の姿勢を規制することによって
部材の定常位置を正確に保持できるという原理に基づく
もので、孔は三次元の、溝は二次元の、平面は一次元の
支持対として機能しており、孔は３点で、溝は２点で平
面は１点で部材を支持する構造である。
支持された部材が定常位置から離脱すれば、上記３＋２
＋１の６点のうちの少なくとも１点が離隔することとな
るので、これらの支持点を電気接点で構成して該接点の
開閉を電気的に検出することにより、部材の定常位置か
らの離脱を検出できる。
＋１の６点のうちの少なくとも１点が離隔することとな
るので、これらの支持点を電気接点で構成して該接点の
開閉を電気的に検出することにより、部材の定常位置か
らの離脱を検出できる。
この原理に基づく従来構造として実開昭６３−１４０３
４８号公報にはＮＡＮＤ素子を用いて各接点のＮＡＮＤ
条件によって部材の定常位置からの離脱を検出する回路
が開示されている。
４８号公報にはＮＡＮＤ素子を用いて各接点のＮＡＮＤ
条件によって部材の定常位置からの離脱を検出する回路
が開示されている。
《考案が解決しようとする課題》 しかし、上記構造では、ＮＡＮＤ条件を検定するための
入力の数が少なくとも５個となり、入力端子が５以上の
ＮＡＮＤ素子を使わねばならないという制約が生じ、ま
たＮＡＮＤ素子への入力配線数も増えるので、実装作業
に手数がかかる問題がある。
入力の数が少なくとも５個となり、入力端子が５以上の
ＮＡＮＤ素子を使わねばならないという制約が生じ、ま
たＮＡＮＤ素子への入力配線数も増えるので、実装作業
に手数がかかる問題がある。
そこでこの考案は、より少ない数の入力の検定によって
前記６点の接点の離隔を検出可能とすることにより、使
用部品の低廉化と、配線実装作業の容易化を図ることを
課題としている。
前記６点の接点の離隔を検出可能とすることにより、使
用部品の低廉化と、配線実装作業の容易化を図ることを
課題としている。
《課題を解決するための手段》 この考案における可動部材１０は、１個の突接触子１１
と１個の受接触子２１からなる１点接触対１、１個の突
接触子１２と２個の受接触子２２ａ、２２ｂからなる２
点接触対２及び１個の突接触子１３と３個の受接触子２
３ａ、２３ｂ、２３ｃからなる３点接触対３の３対の接
触対によって安定位置に支持されている。上記可動部材
１０の安定位置からの離脱は、１点接触対１の突接触子
１１を検出電源６に接続し、１点接触対１の１個の接点
３１と２点接触対２の２個の接点３２ａ、３２ｂとを直
列接続した回路４１、４２の先端を３点接触対３の受接
触子のうちの１個２３ｃに接続して、３点接触対３の残
る２個の受接触子２３ａ、２３ｂのＮＡＮＤ条件を２入
力ＮＡＮＤ素子で検出することによって検出される。
と１個の受接触子２１からなる１点接触対１、１個の突
接触子１２と２個の受接触子２２ａ、２２ｂからなる２
点接触対２及び１個の突接触子１３と３個の受接触子２
３ａ、２３ｂ、２３ｃからなる３点接触対３の３対の接
触対によって安定位置に支持されている。上記可動部材
１０の安定位置からの離脱は、１点接触対１の突接触子
１１を検出電源６に接続し、１点接触対１の１個の接点
３１と２点接触対２の２個の接点３２ａ、３２ｂとを直
列接続した回路４１、４２の先端を３点接触対３の受接
触子のうちの１個２３ｃに接続して、３点接触対３の残
る２個の受接触子２３ａ、２３ｂのＮＡＮＤ条件を２入
力ＮＡＮＤ素子で検出することによって検出される。
《作用》 ＮＡＮＤ条件を検出する装置（通常はＮＡＮＤ素子）７
への入力信号のための電力は、１点接触対１の接点３
１、２点接触対２の２つの接点３２ａ、３２ｂ及び３点
接触対３の１個の接点３３ｃを直列接続した回路（５
１、４１、４２）によって３点接触対３の突接触子１３
に与えられている。３点接触対３の他の２個の接点３３
ａ、３３ｂが一方でも離隔すれば、ＮＡＮＤ素子７の入
力のＡＮＤ条件が崩れる。一方１点接触対の接点３１、
２点接触対の２つの接点３２ａ、３２ｂ及び３点接触対
３の上記１個の接点３３ｃが１箇所でも離隔すれば、Ｎ
ＡＮＤ素子７の入力端に電力が供給されないこととな
り、従ってこの場合にもＮＡＮＤ素子７の入力のＡＮＤ
条件は崩れる。
への入力信号のための電力は、１点接触対１の接点３
１、２点接触対２の２つの接点３２ａ、３２ｂ及び３点
接触対３の１個の接点３３ｃを直列接続した回路（５
１、４１、４２）によって３点接触対３の突接触子１３
に与えられている。３点接触対３の他の２個の接点３３
ａ、３３ｂが一方でも離隔すれば、ＮＡＮＤ素子７の入
力のＡＮＤ条件が崩れる。一方１点接触対の接点３１、
２点接触対の２つの接点３２ａ、３２ｂ及び３点接触対
３の上記１個の接点３３ｃが１箇所でも離隔すれば、Ｎ
ＡＮＤ素子７の入力端に電力が供給されないこととな
り、従ってこの場合にもＮＡＮＤ素子７の入力のＡＮＤ
条件は崩れる。
従って、６点の接点のうちのいずれか１個でも離隔すれ
ばＮＡＮＤ素子７の入力のＡＮＤ条件が崩れて部材の定
常位置からの離隔が検出されることとなり、ＮＡＮＤ素
子７への入力数は最低２入力で足りることとなる。
ばＮＡＮＤ素子７の入力のＡＮＤ条件が崩れて部材の定
常位置からの離隔が検出されることとなり、ＮＡＮＤ素
子７への入力数は最低２入力で足りることとなる。
《実施例》 第２図は、この考案の回路が採用される可動部材１０の
支持構造を示すもので、この構造自体は公知である。可
動部材１０には、直線から外れた位置に配置された電気
絶縁材１１ａ、１２ａ、１３ａを介し３個の突起が固着
されており、各々が突接触子１１、１２、１３となって
いる。
支持構造を示すもので、この構造自体は公知である。可
動部材１０には、直線から外れた位置に配置された電気
絶縁材１１ａ、１２ａ、１３ａを介し３個の突起が固着
されており、各々が突接触子１１、１２、１３となって
いる。
可動部材１０を支持する基台２０には、可動部材１０に
対向する絶縁板４０が設けられ、該絶縁板には、各突接
触子１１、１２、１３に対向して、平面、溝及び孔が設
けられている。平面は絶縁板４０に固着した金属プレー
ト２１で形成され、溝は絶縁板４０に固着した２本の金
属レール２２ａ、２２ｂで形成され、孔は絶縁板４０に
固着した３個の金属製半球体２３ａ、２３ｂ、２３ｃで
形成されている。そしてプレート２１とレールの１本２
２ａとは、絶縁板４０に形成した導電パターン４１によ
り電気的に接続され、他方のレール２２ｂと半球体２３
の１個２３ｃとは、絶縁板４０に形成した導電パターン
４２により電気的に接続されており、これら以外の受接
触子（半球体、レール及びプレート）は、絶縁板４０に
より相互に絶縁されている。そしてプレート２１に対向
する突接触子１１からは導線５１が引き出され、３点接
触対３の他の２個の受接触子２３ａ、２３ｂからも導電
パターン４３、４４を介して導線５２、５３が引き出さ
れている。
対向する絶縁板４０が設けられ、該絶縁板には、各突接
触子１１、１２、１３に対向して、平面、溝及び孔が設
けられている。平面は絶縁板４０に固着した金属プレー
ト２１で形成され、溝は絶縁板４０に固着した２本の金
属レール２２ａ、２２ｂで形成され、孔は絶縁板４０に
固着した３個の金属製半球体２３ａ、２３ｂ、２３ｃで
形成されている。そしてプレート２１とレールの１本２
２ａとは、絶縁板４０に形成した導電パターン４１によ
り電気的に接続され、他方のレール２２ｂと半球体２３
の１個２３ｃとは、絶縁板４０に形成した導電パターン
４２により電気的に接続されており、これら以外の受接
触子（半球体、レール及びプレート）は、絶縁板４０に
より相互に絶縁されている。そしてプレート２１に対向
する突接触子１１からは導線５１が引き出され、３点接
触対３の他の２個の受接触子２３ａ、２３ｂからも導電
パターン４３、４４を介して導線５２、５３が引き出さ
れている。
４は可動部材１０を基台２０に向けて付勢しているコイ
ルバネ、５は可動部材１０と一体の検出針であり、定常
状態では可動部材１０がバネ４の付勢力と前記３個の接
触対１、２、３によって定常位置に保持されているが、
検出針５の先端に被検出物が当接するとその当接によっ
て可動部材１０が定常位置から偏倚させられ、前記６個
の接点３１〜３３ｃの少なくとも１個が離間する。
ルバネ、５は可動部材１０と一体の検出針であり、定常
状態では可動部材１０がバネ４の付勢力と前記３個の接
触対１、２、３によって定常位置に保持されているが、
検出針５の先端に被検出物が当接するとその当接によっ
て可動部材１０が定常位置から偏倚させられ、前記６個
の接点３１〜３３ｃの少なくとも１個が離間する。
第１図は、接点３１〜３３ｃの離間を検出するためのこ
の考案の回路構成を示した図で、６は電池、７はＮＡＮ
Ｄ素子、８はスイッチング素子、９は表示装置（例えば
ＬＥＤ）である。
の考案の回路構成を示した図で、６は電池、７はＮＡＮ
Ｄ素子、８はスイッチング素子、９は表示装置（例えば
ＬＥＤ）である。
可動部材１０が定常位置にあるときには、ＮＡＮＤ素子
７の入力端には、電池６から１点接触対の接点３１、２
点接触対の接点３２ａ、３２ｂ及び３点接触対の接点３
３ｃを介して３点接触対の突接触子１３に印加された電
圧（又は電流）が３点接触対の他の２つの接点３３ａ、
３３ｂを介して印加されて、入力のＡＮＤ条件が満たさ
れているから、ＮＡＮＤ素子７の出力はＬレベルとな
り、表示装置９は作動しない。
７の入力端には、電池６から１点接触対の接点３１、２
点接触対の接点３２ａ、３２ｂ及び３点接触対の接点３
３ｃを介して３点接触対の突接触子１３に印加された電
圧（又は電流）が３点接触対の他の２つの接点３３ａ、
３３ｂを介して印加されて、入力のＡＮＤ条件が満たさ
れているから、ＮＡＮＤ素子７の出力はＬレベルとな
り、表示装置９は作動しない。
一方、可動部材１０が定常位置から離脱すると、前記作
用の項で述べたように、ＮＡＮＤ素子７の入力のＡＮＤ
条件が崩れ、ＮＡＮＤ素子７の出力レベルがＨレベルと
なるための、スイッチング素子８が導通して表示装置９
を作動させる。
用の項で述べたように、ＮＡＮＤ素子７の入力のＡＮＤ
条件が崩れ、ＮＡＮＤ素子７の出力レベルがＨレベルと
なるための、スイッチング素子８が導通して表示装置９
を作動させる。
これによって可動部材１０の定常位置からの離隔が表示
装置９によって直ちに表示されることとなり、図示装置
においては、検出針５と、被検出物との当接が直ちに検
出されることとなる。
装置９によって直ちに表示されることとなり、図示装置
においては、検出針５と、被検出物との当接が直ちに検
出されることとなる。
《考案の効果》 以上説明したこの考案によれば、孔と溝と平面で定常位
置に支持された可動部材の定常位置からの離脱を電気的
に検出するより簡単な構造が得られ、構成部品もより安
価なものにすることができると共に、配線の実装作業も
より簡単になるから、より信頼性が高い接触検出装置を
より安価に提供できるという効果がある。
置に支持された可動部材の定常位置からの離脱を電気的
に検出するより簡単な構造が得られ、構成部品もより安
価なものにすることができると共に、配線の実装作業も
より簡単になるから、より信頼性が高い接触検出装置を
より安価に提供できるという効果がある。
第１図は接点の離間を検出するためのこの考案の回路構
成を示した図、第２図はこの考案の回路が採用される可
動部材の支持構造を示す斜視図である。 図中、 1、2、3：接触対、７：ＮＡＮＤ素子 10：可動部材、11、12、13：突接触子 21、22a、22b、23a、23b、23c：受接触子 31、32a、32b、33a、33b、33c：接点
成を示した図、第２図はこの考案の回路が採用される可
動部材の支持構造を示す斜視図である。 図中、 1、2、3：接触対、７：ＮＡＮＤ素子 10：可動部材、11、12、13：突接触子 21、22a、22b、23a、23b、23c：受接触子 31、32a、32b、33a、33b、33c：接点
Claims (1)
- 【請求項１】１個の突接触子(11)と１個の受接触子(21)
からなる１点接触対(1)、１個の突接触子(12)と２個の
受接触子(22a),(22b)からなる２点接触対(2)及び１個の
突接触子(13)と３個の受接触子(23a),(23b),(23c)から
なる３点接触対(3)を備えた可動部材(10)の安定位置か
らの離脱を検出するための接点群を開閉検出回路におい
て、１点接触対(1)の突接触子(11)が検出電源(6)に接続
されており、１点接触対(1)の１個の接点(31)と２点接
触対(2)の２個の接点(32a),(32b)とを直列接続した回路
の先端が３点接触対(3)の受接触子のうちの１個(23c)に
接続されており、３点接触対(3)の残る２個の受接触子
(23a),(23b)の２入力ＮＡＮＤ条件によって可動部材(1
0)の安定位置からの離脱を検出することを特徴とする、
位置決め接点群の開閉検出回路
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989012371U JPH0631363Y2 (ja) | 1989-02-03 | 1989-02-03 | 位置決め接点群の開閉検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989012371U JPH0631363Y2 (ja) | 1989-02-03 | 1989-02-03 | 位置決め接点群の開閉検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02103206U JPH02103206U (ja) | 1990-08-16 |
| JPH0631363Y2 true JPH0631363Y2 (ja) | 1994-08-22 |
Family
ID=31221760
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1989012371U Expired - Fee Related JPH0631363Y2 (ja) | 1989-02-03 | 1989-02-03 | 位置決め接点群の開閉検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0631363Y2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63140348U (ja) * | 1987-03-05 | 1988-09-14 |
-
1989
- 1989-02-03 JP JP1989012371U patent/JPH0631363Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02103206U (ja) | 1990-08-16 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |