JPH0631430Y2 - 直流試験装置 - Google Patents
直流試験装置Info
- Publication number
- JPH0631430Y2 JPH0631430Y2 JP6043388U JP6043388U JPH0631430Y2 JP H0631430 Y2 JPH0631430 Y2 JP H0631430Y2 JP 6043388 U JP6043388 U JP 6043388U JP 6043388 U JP6043388 U JP 6043388U JP H0631430 Y2 JPH0631430 Y2 JP H0631430Y2
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- JP
- Japan
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- voltage
- load
- main amplifier
- circuit
- current
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Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 8
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
- Control Of Voltage And Current In General (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この考案は電圧印加電流測定又は電流印加電圧測定を行
う直流試験装置に関し、特に負荷の損傷を防止するため
に過大負荷又は過小負荷時に過電流又は過電圧を制限す
る負荷保護用クランプ回路を備えた直流試験装置に係わ
る。
う直流試験装置に関し、特に負荷の損傷を防止するため
に過大負荷又は過小負荷時に過電流又は過電圧を制限す
る負荷保護用クランプ回路を備えた直流試験装置に係わ
る。
「従来の技術」 第４図に従来の直流試験装置を示す。電圧設定用ＤＡ変
換器１１よりの電圧Viは抵抗素子１２を通じて主増幅器
１３へ供給され、主増幅器１３の出力は電流検出用抵抗
素子１４を通じて負荷１５へ供給される。その負荷１５
の電圧Voはバッファ回路１６を通じ、更に抵抗素子１７
を通じて主増幅器１３の入力側に帰還されている。
換器１１よりの電圧Viは抵抗素子１２を通じて主増幅器
１３へ供給され、主増幅器１３の出力は電流検出用抵抗
素子１４を通じて負荷１５へ供給される。その負荷１５
の電圧Voはバッファ回路１６を通じ、更に抵抗素子１７
を通じて主増幅器１３の入力側に帰還されている。
過大負荷、つまり過電流を検出してこれを制限するた
め、電流検出用抵抗素子１４の両端電圧が負荷保護用ク
ランプ回路１８へ供給される。つまり電流検出用抵抗素
子１４の両端電圧は増幅器１９へ供給され、増幅器１９
の出力は比較回路２１へ供給されてクランプ用ＤＡ変換
器２２の出力と比較され、その比較回路２１の出力側は
クランプ用ダイオード２３を通じて主増幅器１３の入力
側に接続される。また増幅器１９の出力は反転増幅器２
４を通じて比較回路２５へ供給されてクランプ用ＤＡ変
換器２６の出力と比較され、その比較回路２５の出力側
はクランプ用ダイオード２７を通じて主増幅器１３の入
力側に接続される。
め、電流検出用抵抗素子１４の両端電圧が負荷保護用ク
ランプ回路１８へ供給される。つまり電流検出用抵抗素
子１４の両端電圧は増幅器１９へ供給され、増幅器１９
の出力は比較回路２１へ供給されてクランプ用ＤＡ変換
器２２の出力と比較され、その比較回路２１の出力側は
クランプ用ダイオード２３を通じて主増幅器１３の入力
側に接続される。また増幅器１９の出力は反転増幅器２
４を通じて比較回路２５へ供給されてクランプ用ＤＡ変
換器２６の出力と比較され、その比較回路２５の出力側
はクランプ用ダイオード２７を通じて主増幅器１３の入
力側に接続される。
この直流試験装置は抵抗素子１２，１７の抵抗値をR1,R
2とすると出力電圧Voは となり、電圧設定用ＤＡ変換器１１の設定電圧Viに応じ
た電圧が負荷１５に印加され、この時負荷１５に流れる
電流i0が測定される。
2とすると出力電圧Voは となり、電圧設定用ＤＡ変換器１１の設定電圧Viに応じ
た電圧が負荷１５に印加され、この時負荷１５に流れる
電流i0が測定される。
今出力電圧Voが正電圧の場合に過大負荷が接続されると
電流検出用抵抗素子１４で過電流が検出され、比較回路
２１の出力側が負電圧から正電圧になり、クランプ用ダ
イオード２３に電流iC1が流れて出力電圧Voを下げるよ
うに動作する。出力電圧Voが負電圧の場合に過負荷にな
ると、比較回路２５の出力側が正電圧から負電圧にな
り、クランプ用ダイオード２７に電流iC2が流れて出力
電圧Voを下げる。
電流検出用抵抗素子１４で過電流が検出され、比較回路
２１の出力側が負電圧から正電圧になり、クランプ用ダ
イオード２３に電流iC1が流れて出力電圧Voを下げるよ
うに動作する。出力電圧Voが負電圧の場合に過負荷にな
ると、比較回路２５の出力側が正電圧から負電圧にな
り、クランプ用ダイオード２７に電流iC2が流れて出力
電圧Voを下げる。
主増幅器１３の利得の周波数特性は第５図の曲線２８で
あり、クランプ回路１８の利得の周波数特性は曲線２９
であり、クランプ回路１８が動作した時の系全体の周波
数特性は曲線３１となり、クランプ回路１８が動作して
いない時よりも帯域が延び、容量性負荷時などの安定度
が低くなる。この安定度を保つためには主増幅器１３の
周波数帯域を落さざるを得なかった。このため応答速度
が遅くなる欠点があった。つまり系の安定性を保つため
には系全体の応答速度を下げなければならないという欠
点があった。
あり、クランプ回路１８の利得の周波数特性は曲線２９
であり、クランプ回路１８が動作した時の系全体の周波
数特性は曲線３１となり、クランプ回路１８が動作して
いない時よりも帯域が延び、容量性負荷時などの安定度
が低くなる。この安定度を保つためには主増幅器１３の
周波数帯域を落さざるを得なかった。このため応答速度
が遅くなる欠点があった。つまり系の安定性を保つため
には系全体の応答速度を下げなければならないという欠
点があった。
「課題を解決するための手段」 この考案においては負荷保護用クランプ回路のクランプ
動作により制御されてコンデンサが主増幅器の帰還回路
に接続される。つまり負荷保護用クランプ回路が動作す
ると、その時だけ主増幅器の帰還回路にコンデンサが接
続されて主増幅器の周波数帯域が制限され、クランプ回
路が接続されているが安定に動作する。負荷保護用クラ
ンプ回路が動作していない状態では主増幅器の周波数帯
域が広く、しかもこの時、負荷保護用クランプ回路が主
増幅器から切離されているため安定に動作し、かつ応答
速度も速いものとなる。
動作により制御されてコンデンサが主増幅器の帰還回路
に接続される。つまり負荷保護用クランプ回路が動作す
ると、その時だけ主増幅器の帰還回路にコンデンサが接
続されて主増幅器の周波数帯域が制限され、クランプ回
路が接続されているが安定に動作する。負荷保護用クラ
ンプ回路が動作していない状態では主増幅器の周波数帯
域が広く、しかもこの時、負荷保護用クランプ回路が主
増幅器から切離されているため安定に動作し、かつ応答
速度も速いものとなる。
「実施例」 第１図はこの考案の実施例を示し、第４図と対応する部
分には同一符号を付けてある。この実施例ではクランプ
用ダイオード２３，２７の各比較回路２１，２５側がそ
れぞれコンデンサ３２，３３を通じて主増幅器１３の出
力側に接続される。
分には同一符号を付けてある。この実施例ではクランプ
用ダイオード２３，２７の各比較回路２１，２５側がそ
れぞれコンデンサ３２，３３を通じて主増幅器１３の出
力側に接続される。
この構成によれば負荷保護用クランプ回路１８が動作し
ていない場合はクランプ用ダイオード２３，２７には電
流が流れず共にオフであるため、コンデンサ３２，３３
は共に主増幅器１３の帰還ループから外れ、主増幅器１
３の利得周波数特性の帯域が制限されない、従って広帯
域特性であり、速い応答特性を示す。
ていない場合はクランプ用ダイオード２３，２７には電
流が流れず共にオフであるため、コンデンサ３２，３３
は共に主増幅器１３の帰還ループから外れ、主増幅器１
３の利得周波数特性の帯域が制限されない、従って広帯
域特性であり、速い応答特性を示す。
しかし負荷保護用クランプ回路１８が動作すると、クラ
ンプ用ダイオード２３又は２７が導通状態になるため、
コンデンサ３２又は３３が主増幅器１３の帰還ループに
入り主増幅器１３の周波数帯域が制限され、クランプ回
路１８が主増幅器１３に接続されているが系全体の帯域
が延びず安定に動作する。
ンプ用ダイオード２３又は２７が導通状態になるため、
コンデンサ３２又は３３が主増幅器１３の帰還ループに
入り主増幅器１３の周波数帯域が制限され、クランプ回
路１８が主増幅器１３に接続されているが系全体の帯域
が延びず安定に動作する。
第２図はこの考案の他の実施例を示し、この例では負荷
保護用クランプ回路１８が動作したことを、クランプ用
ダイオード２３，２７に接続されたコンパレータ３４に
より検出し、コンパレータ３４の出力でスイッチ３５を
制御してコンデンサ３６を主増幅器１３の帰還ループに
挿入する。このようにして負荷保護用クランプ回路１８
が動作した時のみ主増幅器１３の帯域を制限する。
保護用クランプ回路１８が動作したことを、クランプ用
ダイオード２３，２７に接続されたコンパレータ３４に
より検出し、コンパレータ３４の出力でスイッチ３５を
制御してコンデンサ３６を主増幅器１３の帰還ループに
挿入する。このようにして負荷保護用クランプ回路１８
が動作した時のみ主増幅器１３の帯域を制限する。
第３図はこの考案を電流印加電圧測定試験装置に適用し
た場合であり、負荷１５に電流を供給し、その時の負荷
電圧をバッファ回路３７で検出し、そのバッファ回路３
７の出力を電圧測定回路３８で測定する。バッファ回路
３７の出力が負荷保護用クランプ回路１８へ供給され
る。この動作は電圧印加電流測定の場合と同様であるか
ら説明は省略する。
た場合であり、負荷１５に電流を供給し、その時の負荷
電圧をバッファ回路３７で検出し、そのバッファ回路３
７の出力を電圧測定回路３８で測定する。バッファ回路
３７の出力が負荷保護用クランプ回路１８へ供給され
る。この動作は電圧印加電流測定の場合と同様であるか
ら説明は省略する。
「考案の効果」 以上述べたようにこの考案によれば負荷保護用クランプ
回路１８が動作するとコンデンサが主増幅器１３の帰還
回路に接続されて帯域が制限されて安定に動作し、負荷
保護用クランプ回路１８が動作しない状態では主増幅器
１３の帯域が制限されずに広帯域であるため応答速度が
速いものとなる。
回路１８が動作するとコンデンサが主増幅器１３の帰還
回路に接続されて帯域が制限されて安定に動作し、負荷
保護用クランプ回路１８が動作しない状態では主増幅器
１３の帯域が制限されずに広帯域であるため応答速度が
速いものとなる。
第１図はこの考案を電圧印加電流測定に適用した場合の
実施例を示す接続図、第２図はその他の例を示す接続
図、第３図はこの考案を電流印加電圧測定に適用した場
合の実施例を示す接続図、第４図は従来の直流試験装置
を示す接続図、第５図は利得周波数特性図である。
実施例を示す接続図、第２図はその他の例を示す接続
図、第３図はこの考案を電流印加電圧測定に適用した場
合の実施例を示す接続図、第４図は従来の直流試験装置
を示す接続図、第５図は利得周波数特性図である。
Claims (1)
- 【請求項１】電圧又は電流設定用ＤＡ変換器と、 そのＤＡ変換器の出力が供給され、負荷に電圧又は電流
を供給する主増幅器と、 上記負荷の過電流又は過電圧を検出して負荷への電流又
は電圧をクランプする負荷保護用クランプ回路と、 その負荷保護用クランプ回路のクランプ動作で制御され
て上記主増幅器の帰還回路に接続されて帯域を制限する
コンデンサとを具備する直流試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6043388U JPH0631430Y2 (ja) | 1988-05-06 | 1988-05-06 | 直流試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6043388U JPH0631430Y2 (ja) | 1988-05-06 | 1988-05-06 | 直流試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01163878U JPH01163878U (ja) | 1989-11-15 |
| JPH0631430Y2 true JPH0631430Y2 (ja) | 1994-08-22 |
Family
ID=31286138
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6043388U Expired - Lifetime JPH0631430Y2 (ja) | 1988-05-06 | 1988-05-06 | 直流試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0631430Y2 (ja) |
-
1988
- 1988-05-06 JP JP6043388U patent/JPH0631430Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01163878U (ja) | 1989-11-15 |
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