JPH06317617A - 異方導電性フィルムの絶縁抵抗測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ピッチａとピッチ２ａのパターンを使用し
て、ピッチ１／２ａ相当の絶縁性を測定する方法を提供
することを目的とする。 【構成】 ピッチａの絶縁抵抗測定用クシ型ＴＡＢ１
と、ピッチ２ａのガラス基板平行電極２とを位置合わせ
し、異方導電性フィルム３で接続することにより、電極
間隔を１／４ａとし、ピッチ１／２ａ相当の回路間の絶
縁抵抗を測定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、異方導電性フィルムの
絶縁抵抗を測定する絶縁抵抗測定方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、異方導電性フィルムの絶縁抵抗を
測定する方法として、ＴＡＢのクシ型パターンとリーダ
ガラスを異方導電性フィルムで接続し、一括して各ライ
ン間の絶縁抵抗を測定する方法や、クシ型に回路を形成
したガラス電極基板と同ピッチのＴＡＢ平行電極とを位
置合わせ接続することにより、各ライン間の絶縁抵抗を
一括して測定する方法等が使用されていた。

【０００３】また、最も原始的な方法としては、ガラス
電極基板とＴＡＢ回路を接続後、１ライン毎に絶縁抵抗
を測定する方法もある。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかし、従来の異方導
電性フィルムの絶縁抵抗の測定方法においては、ＴＡＢ
回路形成技術が律速となり、現状では、Ｐ（ピッチ）＝
０．０５mmまでが限界であり、それ以上の小さなピッチ
の絶縁抵抗を測定することは困難であった。

【０００５】この発明は、このような事情に鑑みてなさ
れたもので、ＴＡＢ回路形成技術以上の微細ピッチの回
路においても、その絶縁抵抗を一括して測定できる異方
導電性フィルムの絶縁抵抗の測定方法を提供することを
目的としている。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、ピッチａの絶縁抵抗測定用クシ型ＴＡＢと、ピッチ
２ａのガラス基板平行電極とを位置合わせし、異方導電
性フィルムで接続することにより、各電極間隔を１／４
ａとし、絶縁抵抗を一括して測定する。

【０００７】また、ピッチａの絶縁抵抗測定用クシ型ガ
ラス基板電極と、ピッチ２ａのＴＡＢ平行電極を異方導
電性フィルムで位置合わせし、接続することにより、各
電極間隔を１／４ａとし、絶縁抵抗を一括して測定する
ことを特徴とする。

【０００８】

【作用】以上の構成から明らかなように、ピッチａの絶
縁抵抗測定用クシ型パターンにて、ピッチ１／２ａ相当
の絶縁抵抗を一括測定することができる。

【０００９】

【実施例】以下、本発明による異方導電性フィルムの絶
縁抵抗の測定方法の実施例について、図面に基づいて詳
細に説明する。

【００１０】図１は絶縁抵抗測定用ＴＡＢとガラス電極
基板とを接続した状態を示す構成図、図２は接続品の構
成を示す各断面図である。 （実施例１）図１，図２に示すように、ピッチａ＝０．
１mm（図中符号９で示す）の絶縁抵抗測定用クシ型ＴＡ
Ｂ１，回路高さ１８μｍ（累積ライン本数１００本）
と、ピッチ２ａ＝０．２mm（図中符号１０で示す）のＩ
ＴＯ平行ラインを有するガラス電極基板２とを２mm幅の
異方導電性フィルム３を使用して接続した。

【００１１】なお、ガラス電極４は３mm幅に切断したも
のを用いた。接続位置はＩＴＯライン中央にクシ型ＴＡ
Ｂ１のラインセンターを合わせた。これによりＴＡＢ電
極５とガラス電極４とのライン間隔は０．０２５mmとな
り、実質的には１／４ａ＝０．０５mmピッチ（２０本／
mm）（図中符号８で示す）と同等となる。

【００１２】尚、図２中、符号６は異方導電性フィルム
の導電性粒子を示し、符号７は導電性粒子による対向電
極導通部を示す。そして、接続後、クシ型ＴＡＢ１を通
常と同様に絶縁抵抗を測定した。 （実施例２）ピッチ０．０７mmの絶縁抵抗測定用クシ型
ガラス電極と、ピッチ０．１４mmの平行ラインを有する
ＴＡＢ基板とを２mm幅の異方導電性フィルムを用い接続
した。

【００１３】なお、ＴＡＢは端子部のみ３mm幅に切断
し、接続に使用した。これにより、ライン間隔は０．０
１８mmとなり、実質的には０．０３５mmピッチ（２８本
／mm）の絶縁性測定となる。この方法により絶縁抵抗を
測定した。 （実施例３）ピッチ０．０２５mmの絶縁抵抗測定用クシ
型ガラス電極と、ピッチ０．０５mmの平行ラインを有す
るＴＡＢを使用し、前記と同様に接続した。これによ
り、各電極間距離は０．００６３mmとなり、実質的には
４０本／mmの絶縁性の測定と同等である。この接続品に
て絶縁抵抗の測定を行なった。

【００１４】

【発明の効果】以上説明した通り、本発明は、ピッチａ
の絶縁抵抗測定用クシ型パターンと、ピッチ２ａの平行
電極を位置あわせし、異方導電性フィルムにより接続す
ることにより、各電極間距離を１／４ａとすることがで
き、ピッチ１／２ａ相当の絶縁抵抗を測定していること
と同等となる。

【００１５】したがって、現状回路高さ１８μｍでピッ
チ０．０５mmのＴＡＢ回路形成が限界とすれば、本発明
方法を使用すれば、ピッチ０．０２５mm相当（４０本／
mm）の絶縁性を一括して測定することができ、ＴＡＢ回
路形成技術以上の微細ピッチでの絶縁性を一括して測定
することを可能にするという効果を有する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明方法に使用する絶縁抵抗測定用接続品の
構成を示す平面図。

【図２】図１中II−II線断面図。

【符号の説明】

１ クシ型絶縁抵抗測定用ＴＡＢ ２ ガラス電極基板 ３ 異方導電性フィルム ４ 基板電極部 ５ ＴＡＢ電極部 ６ 導電粒子 ７ 対向電極導通部 ８ 電極間隔１／４ａ（μｍ） ９ ＴＡＢ側電極ピッチａ（μｍ） １０ 基板電極ピッチ２ａ（μｍ）

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ピッチａの絶縁抵抗測定用クシ型ＴＡＢ
   と、ピッチ２ａのガラス基板平行電極とを位置合わせ
   し、異方導電性フィルムで接続することにより、ピッチ
   １／２ａ相当の回路間の絶縁抵抗としたことを特徴とす
   る異方導電性フィルムの絶縁抵抗測定方法。
2. 【請求項２】 ピッチａの絶縁抵抗用クシ型ガラス基板
   電極と、ピッチ２ａのＴＡＢ平行電極を異方導電性フィ
   ルムで位置合わせし、接続することにより、ピッチ１／
   ２ａ相当の回路間の絶縁抵抗としたことを特徴とする異
   方導電性フィルムの絶縁抵抗測定方法。