JPH06324079A - コンタクトプローブ - Google Patents

コンタクトプローブ

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JPH06324079A
JPH06324079A JP31397592A JP31397592A JPH06324079A JP H06324079 A JPH06324079 A JP H06324079A JP 31397592 A JP31397592 A JP 31397592A JP 31397592 A JP31397592 A JP 31397592A JP H06324079 A JPH06324079 A JP H06324079A
Authority
JP
Japan
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conductive wire
sleeve
contact probe
bush
groove
Prior art date
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Pending
Application number
JP31397592A
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English (en)
Inventor
Tooru Kokuzawa
亨 古久澤
Shigeru Shikahama
鹿濱  茂
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SHIKAHAMA SEISAKUSHO KK
TOUDAI MUSEN KK
Original Assignee
SHIKAHAMA SEISAKUSHO KK
TOUDAI MUSEN KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SHIKAHAMA SEISAKUSHO KK, TOUDAI MUSEN KK filed Critical SHIKAHAMA SEISAKUSHO KK
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 ピッチが狭小で、平面精度の不良な検査対象
物の端子等に確実に接触可能なコンタクトプローブの提
供。 【構成】 スリーブ2から一方端が突き出されている導
電ワイヤー5が、このスリーブ2内に内装されているコ
ンタクトプローブ3によって、該突き出し側に向けて常
時付勢されていると共にこの導電ワイヤー5が前記付勢
に抗して螺退状に押しもどされるコンタクトプローブ1
であって、前記スリーブ2から一方端が突き出されてい
る導電ワイヤー5の直径が0.1mm〜0.05mmで
あり、且つ該導電ワイヤー5の先端が、凸球面状とされ
ているコンタクトプローブ1。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明はLSI、実装基板、L
CDパネル等、各種電子部品の電気的検査に利用される
コンタクトプローブの開示に係るものである。
【0002】
【従来の技術】従来よりのこの種のコンタクトプローブ
は、検査対象とされる電子部品により種々のものが利用
されているが、その一例として第3図に示されたものが
ある。かかるコンタクトプローブ101は出願人が先に
開示(特願平4−156235号)したものであり、ス
リーブ102から一方端が突き出されている極細径の導
電ワイヤー105がこのスリーブ102内に内装されて
いるコイルスプリング103によって、該突き出し側に
向けて常時付勢されていて、検査対象物たる端子10
4、104等に接触することにより、この導電ワイヤー
105が前記付勢に抗して螺退状に押しもどされる構成
としたものである。
【0003】かかる従来のコンタクトプローブ101
は、検査対象の端子間のピッチが、例えば液晶パネルの
カラー化等が進むにつれて狭小となる一方フラックス等
の無洗浄化が求められている現状に鑑み発明されたもの
であり、プランジャーを極細径の線状体たる導電ワイヤ
ーとして、ピッチの広狭に拘らず、導通絶縁検査を可能
とし、且つこの導電ワイヤーはその軸線が捻られながら
回転しつつ前進後退動するものであるため、フラックス
等があっても回転力により押しのけて、検査対象たる端
子等に接触することを可能にしたものである。又、プラ
ンジャーは回転しつつ前進後退動するものであるから、
回転量によりプランジャーの突出幅が異なり、検査対象
が通常複数個の端子等であるため、この端子等の相互間
に高低差が生じている場合にもかかる高低差に対応して
検査対象に的確に接触することを可能にした等の利点を
有していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、かかるコン
タクトプローブのプランジャーは検査対象たる端子等の
ピッチに対応して直径が0.1〜0.2mm程度の極細
径とされているものであり、この場合には、耐摩耗性を
重視して硬度の高いタングステン線を使用している。し
かし、プランジャー先端の面が必ずしも平滑面でない
為、前記したフラックス等により平面精度の悪い検査対
象物との接触抵抗のバラツキが大きく正確な測定をなし
得ないことがあり(図5)、又、プランジャーの先端の
押圧によって検査対象物を損傷することがあった。
【0005】
【課題を解決するための手段】この発明は、かかる従来
の技術が有する課題に鑑みて案出されたものであり、請
求項1の発明は、スリーブ2から一方端が突き出されて
いる導電ワイヤー5が、このスリーブ2内に内装されて
いるコンタクトプローブ3によって、該突き出し側に向
けて常時付勢されていると共にこの導電ワイヤー5が前
記付勢に抗して螺退状に押しもどされるコンタクトプロ
ーブ1であって、前記スリーブ2から一方端が突き出さ
れている導電ワイヤー5の直径が、0.1mm〜0.0
5mmであり、且つ該導電ワイヤー5の先端が、凸球面
状とされているコンタクトプローブ1である。又、請求
項2の発明は、直径が0.1mm〜0.05mmであ
り、且つ先端が凸球面状とされている導電ワイヤー5の
固定されるブッシュ13の外側面又はこのブッシュ13
の納まっているスリーブ12の内側面のいずれか一方に
前記導電ワイヤー5の動作方向に螺回する溝13bが設
けられており、他方のブッシュ13の外側面又はスリー
ブ12の内側面には、この溝13bに係合する小球12
cが納まる小孔12bが設けられているコンタクトプロ
ーブ11である。
【0006】
【作用】この発明は、以下の作用を有している。即ち、
通常スプリング3により導電ワイヤ5はブッシュ6と共
に突き出し方向に付勢されているが、この導電ワイヤー
5は、検査箇所にその先端を押し当てることにより、ピ
ン6aと溝2aとの係合作用、あるいは小球12cと溝
16bとの係合作用とに規制されつつ、前記スプリング
5の付勢に抗して螺退状に押しもどされることになり、
前記導電ワイヤー5はその軸線が捻られながら回転す
る。そしてその際に前記導電ワイヤー5は、先端に押圧
力を受けているので検査対象の面の形状に追随して凸球
面状部5aが検査対象に面的に接触する(図4)。尚、
前記導電ワイヤー5は必ずしも1回転以上回転させる必
要はない。
【0007】
【実施例】以下、この発明の一実施例の詳細を添付の図
1をもとに説明する。1は、この発明に係るコンタクト
プローブである。2は、略円筒状のスリーブでありコイ
ルスプリング3を内装し、該コイルスプリング3を挟ん
でその一方の開口部側に計測部(図示せず)に接続され
るターミナル4の一方端が嵌着されており、又、他方の
開口部側には、後述する導電ワイヤー5の固定ブッシュ
6が前記コイルスプリング3と該スリーブ2の開口縁に
ある内向きの鍔2bとの間に納められている。前記スリ
ーブ2の内側面には該スリーブ2の長さ方向へ向かって
螺回する溝2aが設けられており、この溝2aには、前
記固定ブッシュ6の外側に設けられたピン6aが前記溝
2aの周面と間隙を介して係合されている。
【0008】前記固定ブッシュ6からは、前記スリーブ
2の外方向に向けて導電ワイヤー5が突出されており、
この導電ワイヤー5は、0.1mm〜0.05mmのタ
ングステン等の極細状の線材を用いるものとし、検査対
象物の端子14、14等に接触する先端を凸球面状に形
成している。又、この導電ワイヤー5にはこの導電ワイ
ヤー5が前進後退を行う際にその横ブレ等の動きを規制
するガイドチューブ7が被嵌されており、更にこのガイ
ドチューブ7と前記スリーブ2とを一体として保持すべ
く、ガイドチューブ固定ブッシュ8を介して、ハウジン
グ9が、前記スリーブ2と螺合してある。尚、ガイドチ
ューブ固定ブッシュ8は、ハウジング9の一部としてこ
のハウジング9と一体的に成形される場合もある。
【0009】尚、10は、前記スリーブ2に一方端を嵌
入したターミナル4の他方端に嵌合するソケットであ
る。
【0010】かかる実施例においては、前記スリーブ2
の内側面に設けた溝2aを前記固定ブッシュ6の外周面に
螺回状に設け、この固定ブッシュ6に設けたピン6aを前
記スリーブ2の内側面から突設させ、前記固定ブッシュ
6に設けた溝に該ピンを嵌合させることもある。
【0011】次いで、この発明の他の実施例について図
2をもとに説明する。尚、前記実施例と同一の符号は同
一もしくは相応部分を示す。11は、この実施例に係る
コンタクトプローブであり、スリーブ12と、導電ワイ
ヤー5の固定ブッシュ13との構成を除くすべての構成
を前記第1の実施例と同一にしている。
【0012】そこで、前記スリーブ12と導電ワイヤー
5の固定ブッシュ13とについて説明する。先ず、固定
ブッシュ13は前記コイルスプリング3と前記スリーブ
12の開口縁にある内向きの鍔12aとの間に納めら
れ、その外側面には、前記導電ワイヤー5の進退方向に
向って螺回する断面略半円形状の溝13bが設けられて
おり、又前記スリーブ12には所定の個所に該溝13b
と連通する小孔12bが開設されている。そして前記小
孔12bと溝13bとを連絡するように小球12cが回
動可能に前記小孔12bと溝13bとで構成される空間
に位置付けされている。
【0013】尚、かかる実施例においては前記固定ブッ
シュ13の外側面に設けられた溝13bをスリーブ12
の内側面に前記第一の実施例同様該スリーブ12の長さ
方向に向って、螺回状に設け、又、該スリーブ12に設
けられている小孔12bを固定ブッシュ13の外側面に
設け、前記スリーブ12の溝と固定ブッシュ13に設け
られた小孔とにより構成される空間に小球12cを位置
付けすることもある。
【0014】
【発明の効果】この発明は、叙上の構成を有しているこ
とにより、以下の効果を奏しうる。
【0015】プランジャーを0.1mm〜0.05mm
の極細径の線状体たる導電ワイヤーとし、しかも該導電
ワイヤーの先端を凸球面状とすることにより、ピッチが
狭少であり且つ通常粗面とされる検査対象物の端子等に
対しても、導電ワイヤー先端の追随性が良く充分な接触
抵抗を得ることが可能であり、正確な測定をなすことが
できる。又、導電ワイヤーの先端は凸球面状であるため
検査対象物の端子等への押圧による損傷を回避すること
が可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の典型的な一実施例を示す断面図。
【図2】この発明の他の実施例を示す断面図。
【図3】従来の技術を示す断面図。
【図4】この発明の導電ワイヤーの接触状態を示す拡大
断面図。
【図5】従来の技術の導電ワイヤーの接触状態を示す拡
大断面図。
【符号の説明】
1 コンタクトプローブ 2 スリーブ 3 スプリング 4 ターミナル 5 導電ワイヤー 5a 凸球面状部 6 固定ブッシュ 7 ガイドチューブ 8 ガイドチューブ固定ブッシュ 9 ハウジング 10 ソケット 11 コンタクトプローブ 12 スリーブ 12b 小孔 12c 小球 13 固定ブッシュ 14 検査対象物の端子
【手続補正書】
【提出日】平成5年6月3日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正内容】
【書類名】 明細書
【発明の名称】 コンタクトプローブ
【特許請求の範囲】
【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明はLSI、実装基板、L
CDパネル等、各種電子部品の電気的検査に利用される
コンタクトプローブの開示に係るものである。
【0002】
【従来の技術】従来よりのこの種のコンタクトプローブ
は、検査対象とされる電子部品により種々のものが利用
されているが、その一例として第3図に示されたものが
ある。かかるコンタクトプローブ101は出願人が先に
開示(特願平4−156235号)したものであり、ス
リーブ102から一方端が突き出されている極細径の導
電ワイヤー105がこのスリーブ102内に内装されて
いるコイルスプリング103によって、該突き出し側に
向けて常時付勢されていて、検査対象物たる端子10
4、104等に接触することにより、この導電ワイヤー
105が前記付勢に抗して螺退状に押しもどされる構成
としたものである。
【0003】かかる従来のコンタクトプローブ101
は、検査対象の端子間のピッチが、例えば液晶パネルの
カラー化等が進むにつれて狭小となる一方フラックス等
の無洗浄化が求められている現状に鑑み発明されたもの
であり、プランジャーを極細径の線状体たる導電ワイヤ
ーとして、ピッチの広狭に拘らず、導通絶縁検査を可能
とし、且つこの導電ワイヤーはその軸線が捻られながら
回転しつつ前進後退動するものであるため、フラックス
等があっても回転力により押しのけて、検査対象たる端
子等に接触することを可能にしたものである。又、プラ
ンジャーは回転しつつ前進後退動するものであるから、
回転量によりプランジャーの突出幅が異なり、検査対象
が通常複数個の端子等であるため、この端子等の相互間
に高低差が生じている場合にもかかる高低差に対応して
検査対象に的確に接触することを可能にした等の利点を
有していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで、かかるコン
タクトプローブのプランジャーは検査対象たる端子等の
ピッチに対応して直径が0.1〜0.2mm程度の極細
径とされているものであり、この場合には、耐摩耗性を
重視して硬度の高いタングステン線を使用している。し
かし、プランジャー先端の面が必ずしも平滑面でない
為、前記したフラックス等により平面精度の悪い検査対
象物との接触抵抗のバラツキが大きく正確な測定をなし
得ないことがあり(図5)、又、プランジャーの先端の
押圧によって検査対象物を損傷することがあった。
【0005】
【課題を解決するための手段】この発明は、かかる従来
の技術が有する課題に鑑みて案出されたものであり、請
求項1の発明は、スリーブ2から一方端が突き出されて
いる導電ワイヤー5が、このスリーブ2内に内装されて
いるコンタクトプローブ3によって、該突き出し側に向
けて常時付勢されていると共にこの導電ワイヤー5が前
記付勢に抗して螺退状に押しもどされるコンタクトプロ
ーブ1であって、前記スリーブ2から一方端が突き出さ
れている導電ワイヤー5の直径が、0.1mm〜0.0
5mmであり、且つ該導電ワイヤー5の先端が、凸球面
状とされているコンタクトプローブ1である。又、請求
項2の発明は、直径が0.1mm〜0.05mmであ
り、且つ先端が凸球面状とされている導電ワイヤー5の
固定されるブッシュ13の軸線方向に設けられている螺
旋溝13bと、小球12cの収まる凹部12bとが、前
記ブッシュ13とこのブッシュ13の収められているス
リーブ12との対向した周面に設けられており、前記凹
部12bに収められている小球12cの一部が前記螺旋
溝13b内に収められているコンタクトプローブ11で
ある。
【0006】
【作用】この発明は、以下の作用を有している。即ち、
通常スプリング3により導電ワイヤ5はブッシュ6と共
に突き出し方向に付勢されているが、この導電ワイヤー
5は、検査箇所にその先端を押し当てることにより、ピ
ン6aと溝2aとの係合作用、あるいは小球12cと溝
16bとの係合作用とに規制されつつ、前記スプリング
5の付勢に抗して螺退状に押しもどされることになり、
前記導電ワイヤー5はその軸線が捻られながら回転す
る。そしてその際に前記導電ワイヤー5は、先端に押圧
力を受けているので検査対象の面の形状に追随して凸球
面状部5aが検査対象に面的に接触する(図4)。
【0007】
【実施例】以下、この発明の一実施例の詳細を添付の図
1に基づいて説明する。1は、この実施例に係るコンタ
クトプローブである。2は、略円筒状のスリーブであり
コイルスプリング3を内装し、該コイルスプリング3を
挟んでその一方の開口部側に計測部(図示せず)に接続
されるターミナル4の一方端が嵌着されており、又、他
方の開口部側には、後述する導電ワイヤー5の固定ブッ
シュ6が嵌入されている。前記スリーブ2はまた、内周
の軸線方向に螺旋状の溝2aを有すると共に、一方の開
口端に内向きの鍔2bが設けられており、この鍔2bの
設けられている側のスリーブ2の外周が雄螺子部2cと
されている。
【0008】前記スリーブ2に螺進退自在に組みつけら
れる固定ブッシュ6は、その外周から突き出すピン6a
を有すると共に、導電ワイヤー5を嵌着状態に取りつけ
てあり、前記溝2aに該ピン6aを嵌め入れて、前記ス
リーブ2内に組みつけられている。
【0009】このように組み付けられた前記ブッシュ6
を前記導電ワイヤー5の突き出し方向に押すように、コ
イルスプリング3が前記スリーブ2内に収め入れられて
おり、このコイルスプリング3の他方端が前記ターミナ
ル4で支持されるように、該ターミナル4が前記スリー
ブ2に嵌着状態で止着してある。また、前記固定ブッシ
ュ6に設けられている前記導電ワイヤー5は、ガイドチ
ューブ7内を移動自在としてあり、このガイドチューブ
7は雌螺子部9aを有する筒状のハウジング9内に嵌め
込み状態で止着されているガイドチューブ固定ブッシュ
8に対して嵌着状態で組み付けられている。なお、ガイ
ドチューブ固定ブッシュ8は、ハウジング9の一部とし
て該ハウジング9と一体的に成形される場合もある。そ
して前記ハウジング9は、前記固定ブッシュ6に組み付
けられている前記導電ワイヤー5を前記ガイドチューブ
固定ブッシュ8に止着されている前記ガイドチューブ7
内より突き出すように、前記スリーブ2の雄螺子部2c
に前記雌螺子部9aを螺着させることにより組み付けら
れている。
【0010】前記導電ワイヤー5は、0.1mm〜0.
05mmのタングステン等の極細状の線材を用いるもの
とし、検査対象物の端子14、14等に接触する先端を
凸球面状に形成している。前記ガイドチューブ7は、こ
の導電ワイヤー5が前進後退を行う際にその横ブレ等の
動きを規制する機能を有している。
【0011】なお、図中10で示されるのは、前記スリ
ーブ2に一方端を嵌入したターミナル4の他方端に嵌合
するソケットである。
【0012】また、かかる実施例においては、前記スリ
ーブ2の内側面に設けた溝2aを前記固定ブッシュ6の
外周面に螺回状に設け、この固定ブッシュ6に設けたピ
ン6aを前記スリーブ2の内側面から突設させ、前記固
定ブッシュ6に設けた溝に該ピンを嵌合させることもあ
る。
【0013】次いで、この発明の他の実施例を図2に基
づいて説明する。尚、前記実施例と同一の符号は同一も
しくは相応部分を示す。11は、この実施例に係るコン
タクトプローブであり、スリーブ12と、導電ワイヤー
5の固定ブッシュ13との構成を除くすべての構成を前
記第1の実施例と同一にしている。
【0014】そこで、前記スリーブ12と導電ワイヤー
5の固定ブッシュ13とについて説明する。先ず、固定
ブッシュ13は前記コイルスプリング3と前記スリーブ
12の開口縁にある内向きの鍔12aとの間に納めら
れ、その外側面には、前記導電ワイヤー5の進退方向に
向って螺回する断面略半円形状の溝13bが設けられて
おり、又前記スリーブ12には所定の個所に該溝13b
と連通する凹部12bが開設されている。そして前記凹
部12bと溝13bとを連絡するように小球12cが回
動可能に前記凹部12bと溝13bとで構成される空間
に位置付けされている。
【0015】尚、かかる実施例においては前記固定ブッ
シュ13の外側面に設けられた溝13bをスリーブ12
の内側面に前記第一の実施例同様該スリーブ12の長さ
方向に向って、螺回状に設け、又、該スリーブ12に設
けられている凹部12bを固定ブッシュ13の外側面に
設け、前記スリーブ12の溝と固定ブッシュ13に設け
られた凹部とにより構成される空間に小球12cを位置
付けすることもある。
【0016】
【発明の効果】この発明は、叙上の構成を有しているこ
とにより、以下の効果を奏しうる。
【0017】プランジャーを0.1mm〜0.05mm
の極細径の線状体たる導電ワイヤーとし、しかも該導電
ワイヤーの先端を凸球面状とすることにより、ピッチが
狭少であり且つ通常粗面とされる検査対象物の端子等に
対しても、導電ワイヤー先端の追随性が良く充分な接触
抵抗を得ることが可能であり、正確な測定をなすことが
できる。又、導電ワイヤーの先端は凸球面状であるため
検査対象物の端子等への押圧による損傷を回避すること
が可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の典型的な一実施例を示す断面図。
【図2】この発明の他の実施例を示す断面図。
【図3】従来の技術を示す断面図。
【図4】この発明の導電ワイヤーの接触状態を示す拡大
断面図。
【図5】従来の技術の導電ワイヤーの接触状態を示す拡
大断面図。
【符号の説明】 1 コンタクトプローブ 2 スリーブ 3 スプリング 4 ターミナル 5 導電ワイヤー 5a 凸球面状部 6 固定ブッシュ 7 ガイドチューブ 8 ガイドチューブ固定ブッシュ 9 ハウジング 10 ソケット 11 コンタクトプローブ 12 スリーブ 12b 凹部 12c 小球 13 固定ブッシュ 14 検査対象物の端子
【手続補正2】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図1
【補正方法】変更
【補正内容】
【図1】
【手続補正3】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図2
【補正方法】変更
【補正内容】
【図2】
【手続補正4】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図3
【補正方法】変更
【補正内容】
【図3】

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 スリーブから一方端が突き出されている
    導電ワイヤーが、このスリーブ内に内装されているコイ
    ルスプリングによって該突き出し側に向けて常時付勢さ
    れていると共にこの導電ワイヤーが前記付勢に抗して螺
    退状に押しもどされるコンタクトプローブであって、前
    記スリーブから突き出されている前記導電ワイヤーの直
    径が0.1mm〜0.05mmであり、且つ該導電ワイ
    ヤーの先端が凸球面状とされていることを特徴とするコ
    ンタクトプローブ。
  2. 【請求項2】 導電ワイヤーの固定されるブッシュの外
    側面又はこのブッシュの納まっているスリーブの内側面
    のいずれか一方に前記導電ワイヤーの動作方向に螺回す
    る溝が設けられており、他方のブッシュの外側面又はス
    リーブの内側面にはこの溝に係合する小球が納まる小孔
    が設けられていることを特徴とする請求項1に記載のコ
    ンタクトプローブ。
JP31397592A 1992-10-29 1992-10-29 コンタクトプローブ Pending JPH06324079A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023084888A1 (ja) * 2021-11-12 2023-05-19 株式会社村田製作所 測定用プローブ

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4831336U (ja) * 1971-08-23 1973-04-17
JPH0471248A (ja) * 1990-07-11 1992-03-05 Nec Kyushu Ltd 測定用プローブ

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4831336U (ja) * 1971-08-23 1973-04-17
JPH0471248A (ja) * 1990-07-11 1992-03-05 Nec Kyushu Ltd 測定用プローブ

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2023084888A1 (ja) * 2021-11-12 2023-05-19 株式会社村田製作所 測定用プローブ
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