JPH06325637A - 透明導電性被膜形成用塗布液及び低反射透明導電膜 - Google Patents
透明導電性被膜形成用塗布液及び低反射透明導電膜Info
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- JPH06325637A JPH06325637A JP11336093A JP11336093A JPH06325637A JP H06325637 A JPH06325637 A JP H06325637A JP 11336093 A JP11336093 A JP 11336093A JP 11336093 A JP11336093 A JP 11336093A JP H06325637 A JPH06325637 A JP H06325637A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 低粘度で面内バラツキが小さい低反射の透明
導電膜を得る。 【構成】 アセチルアセトンインジウムと、アセチルア
セトン錫とをアルキルフェノールを溶解したアセチルア
セトン溶液に溶解した透明導電性被膜形成用塗布液であ
る。粘性が小さく、スピンコートによる展延性に優れ、
コーティング液のなじみがよく、オーバーコートを施し
て低反射の透明導電膜の形成が可能である。
導電膜を得る。 【構成】 アセチルアセトンインジウムと、アセチルア
セトン錫とをアルキルフェノールを溶解したアセチルア
セトン溶液に溶解した透明導電性被膜形成用塗布液であ
る。粘性が小さく、スピンコートによる展延性に優れ、
コーティング液のなじみがよく、オーバーコートを施し
て低反射の透明導電膜の形成が可能である。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、電界シールド用の透明
導電膜形成用塗布液、特にCRTなどのガラス面上に塗
布して透明な導電膜の形成に用いる透明導電性被膜形成
用塗布液及びこの塗布液を用いてガラス面上に形成した
低反射透明導電膜に関する。
導電膜形成用塗布液、特にCRTなどのガラス面上に塗
布して透明な導電膜の形成に用いる透明導電性被膜形成
用塗布液及びこの塗布液を用いてガラス面上に形成した
低反射透明導電膜に関する。
【0002】
【従来の技術】ディスプレイ,テレビのブラウン管表面
の静電気帯電防止膜の形成用インクとしては、従来より
主としてATO(錫−アンチモン系酸化物)系のゾルゲ
ルインクが実用化されてきた。静電気対策用には表面抵
抗値で1011Ω/□程度が要求されるが、このレベル
は、ATOで十分に対応ができるレベルである。
の静電気帯電防止膜の形成用インクとしては、従来より
主としてATO(錫−アンチモン系酸化物)系のゾルゲ
ルインクが実用化されてきた。静電気対策用には表面抵
抗値で1011Ω/□程度が要求されるが、このレベル
は、ATOで十分に対応ができるレベルである。
【0003】ところが、近年欧州を中心にCRTから発
生する電磁界の人体に対する影響について関心が高ま
り、スウェーデンをはじめ一部の国では既にガイドライ
ンができている。米国及びに本国内でも規制には至って
ないが、対応策が検討されている状況にある。漏洩磁界
は装置的な工夫で解決されると言われているが、電界に
ついては対応が一様でない。
生する電磁界の人体に対する影響について関心が高ま
り、スウェーデンをはじめ一部の国では既にガイドライ
ンができている。米国及びに本国内でも規制には至って
ないが、対応策が検討されている状況にある。漏洩磁界
は装置的な工夫で解決されると言われているが、電界に
ついては対応が一様でない。
【0004】CRT表面の電界をシールドする方法とし
て、CRTブラウン管ガラス表面にITO膜を蒸着又は
スパッター法で成膜したガラス、又はプラスチックパネ
ルをはめ込む方式等があり、限定された分野向けには実
用化されている。この方法は十分に低抵抗化できること
から、性能的には満足できるが、製造コストが高いこと
から広く一般的に実用化されるには至っていない。
て、CRTブラウン管ガラス表面にITO膜を蒸着又は
スパッター法で成膜したガラス、又はプラスチックパネ
ルをはめ込む方式等があり、限定された分野向けには実
用化されている。この方法は十分に低抵抗化できること
から、性能的には満足できるが、製造コストが高いこと
から広く一般的に実用化されるには至っていない。
【0005】このような背景から塗布により導電膜を形
成する方法が検討されている。この方法は、例えば有機
金属化合物の溶液を基板に塗布したのち、加熱焼成する
ことにより導電膜を形成するものである。塗布法によれ
ば、大がかりな設備を必要とせず、大面積化や大量生産
が容易である利点を有している。
成する方法が検討されている。この方法は、例えば有機
金属化合物の溶液を基板に塗布したのち、加熱焼成する
ことにより導電膜を形成するものである。塗布法によれ
ば、大がかりな設備を必要とせず、大面積化や大量生産
が容易である利点を有している。
【0006】特公昭57−138108号公報には、イ
ンジウム化合物,錫化合物及び溶剤を含み、溶剤として
アルコール類,セロソルブ類,カルビトール類,グリコ
ール類が開示されている。
ンジウム化合物,錫化合物及び溶剤を含み、溶剤として
アルコール類,セロソルブ類,カルビトール類,グリコ
ール類が開示されている。
【0007】また、特公昭61−26679号公報に
は、アセチルアセトン基などを含む有機インジウム化合
物,[Y]2Sn[X]2で示される有機錫化合物及び有
機溶剤を含み、有機溶剤としてメチルエチルケトン,酢
酸エチル,ベンゼンが開示されている。
は、アセチルアセトン基などを含む有機インジウム化合
物,[Y]2Sn[X]2で示される有機錫化合物及び有
機溶剤を含み、有機溶剤としてメチルエチルケトン,酢
酸エチル,ベンゼンが開示されている。
【0008】また、特開平4−255768号公報に
は、硝酸インジウム,有機錫化合物,ヘキシレングリコ
ール並びに酢酸及び/又は無水酢酸を含有する塗布液が
開示されている。
は、硝酸インジウム,有機錫化合物,ヘキシレングリコ
ール並びに酢酸及び/又は無水酢酸を含有する塗布液が
開示されている。
【0009】また、特開昭57−36714号公報に
は、無機インジウム化合物,配位能を有する有機化合
物,錫化合物,セルロース類の如き粘性剤及び溶剤から
なり、配位能を有する有機化合物としてカルボン酸類,
カルボン酸エステル類,ヒドロキシ酸が開示されてい
る。
は、無機インジウム化合物,配位能を有する有機化合
物,錫化合物,セルロース類の如き粘性剤及び溶剤から
なり、配位能を有する有機化合物としてカルボン酸類,
カルボン酸エステル類,ヒドロキシ酸が開示されてい
る。
【0010】また、特開昭57−212268号公報に
は、インジウム化合物,錫化合物,有機溶剤及びセルロ
ース化合物からなるペースト状組成物が開示されてい
る。
は、インジウム化合物,錫化合物,有機溶剤及びセルロ
ース化合物からなるペースト状組成物が開示されてい
る。
【0011】また、特公昭63−25448号公報に
は、インジウム化合物,抵抗値調整用としてスズ化合
物,粘性剤としてニトロセルロースと溶剤としてセルソ
ルブ,カルビトール,ベンジルアセテート,ジメチルフ
タレートを含む組成物が開示されている。
は、インジウム化合物,抵抗値調整用としてスズ化合
物,粘性剤としてニトロセルロースと溶剤としてセルソ
ルブ,カルビトール,ベンジルアセテート,ジメチルフ
タレートを含む組成物が開示されている。
【0012】また、特公平2−20706号公報には、
トリアセトナートインジウム,ビスアセナルアセトナー
ト錫,セルロース化合物,高沸点アルコール類を含む組
成物が開示されている。
トリアセトナートインジウム,ビスアセナルアセトナー
ト錫,セルロース化合物,高沸点アルコール類を含む組
成物が開示されている。
【0013】また、特公昭63−19046号公報に
は、トリアセチルアセトナートインジウムなどのインジ
ウム化合物,ジメチルスズアセトーブなどの有機錫錯
体,粘性剤,有機溶剤からなるペーストに、モノアゾ系
有機化合物が加えられた組成物が開示されている。
は、トリアセチルアセトナートインジウムなどのインジ
ウム化合物,ジメチルスズアセトーブなどの有機錫錯
体,粘性剤,有機溶剤からなるペーストに、モノアゾ系
有機化合物が加えられた組成物が開示されている。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】透明導電膜形成用塗布
液は、要するに導電性微粒子の有機物,無機物を有機溶
剤に添加して得られたペーストである。導電膜の成膜
性,導電性,透明性,機械的強度は、選定された導電性
微粒子の種類,性質,粒径,添加量,有機溶剤の性質に
よって左右され、導電性微粒子と、有機溶剤との相互作
用によって膜特性が決定されるため、その組合せの選定
は、トライアンドエラーの繰返しであったといえる。
液は、要するに導電性微粒子の有機物,無機物を有機溶
剤に添加して得られたペーストである。導電膜の成膜
性,導電性,透明性,機械的強度は、選定された導電性
微粒子の種類,性質,粒径,添加量,有機溶剤の性質に
よって左右され、導電性微粒子と、有機溶剤との相互作
用によって膜特性が決定されるため、その組合せの選定
は、トライアンドエラーの繰返しであったといえる。
【0015】また、塗布液の粘度は、有機溶剤中に含ま
れたセルロースの添加量によって増大するため、低粘度
が必要とされるスピンコートによる成膜に用いる塗布液
には、セルロースが添加されていない特公昭57−13
8108号,特公昭61−26679号に記載された組
成物を用いるのが望ましい。このような組成物を用いる
ことによって、スピンコート法により一応透明な導電性
薄膜を形成できるが、この組成物によって必ずしも十分
満足できる膜特性が保証されるわけではなく、改善の余
地は残されている。
れたセルロースの添加量によって増大するため、低粘度
が必要とされるスピンコートによる成膜に用いる塗布液
には、セルロースが添加されていない特公昭57−13
8108号,特公昭61−26679号に記載された組
成物を用いるのが望ましい。このような組成物を用いる
ことによって、スピンコート法により一応透明な導電性
薄膜を形成できるが、この組成物によって必ずしも十分
満足できる膜特性が保証されるわけではなく、改善の余
地は残されている。
【0016】さらに透明な導電膜をガラス基板上に形成
した場合の問題点として、塗布液を塗布し、これを加熱
して基板上に焼付けたのみでは、導電膜の光沢のため、
光を反射し、画面が見づらいという問題がある。一般に
は光沢をなくすため、低反射のオーバーコートを施す技
術があり、シリコンアルキシド液を含むコーティング液
(アルキルシリケートゾル液)のような低反射で高い光
透過性を有するコート液が知られているが、このような
コーティング液は、導電性塗布液に対するなじみが悪
く、前記各塗布液により形成された膜上にアルキルシリ
ケートゾル液をオーバーコートし、乾燥並びに焼成によ
って得られた膜は、面内でバラツキが生じて不均質とな
り、あるいはスジムラが生じて実用に供しうるものでは
ない。
した場合の問題点として、塗布液を塗布し、これを加熱
して基板上に焼付けたのみでは、導電膜の光沢のため、
光を反射し、画面が見づらいという問題がある。一般に
は光沢をなくすため、低反射のオーバーコートを施す技
術があり、シリコンアルキシド液を含むコーティング液
(アルキルシリケートゾル液)のような低反射で高い光
透過性を有するコート液が知られているが、このような
コーティング液は、導電性塗布液に対するなじみが悪
く、前記各塗布液により形成された膜上にアルキルシリ
ケートゾル液をオーバーコートし、乾燥並びに焼成によ
って得られた膜は、面内でバラツキが生じて不均質とな
り、あるいはスジムラが生じて実用に供しうるものでは
ない。
【0017】本発明の目的は、低粘度で、導電性に優れ
た透明導電性被膜形成用塗布液並びにこの液を用いて光
透過性,機械的強度に優れた低反射の透明導電膜を提供
することにある。
た透明導電性被膜形成用塗布液並びにこの液を用いて光
透過性,機械的強度に優れた低反射の透明導電膜を提供
することにある。
【0018】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明による透明導電性被膜形成用塗布液において
は、有機インジウム化合物と、有機錫と、有機溶剤とを
含む透明導電性被膜形成用塗布液であって、有機インジ
ウム化合物は、アセチルアセトンインジウム,オクチル
酸インジウムの内の少なくとも1種類が選択されたもの
であり、有機錫は、アセチルアセトン錫,オクチル酸錫
の内の少なくとも1種類が選択されたものであり、有機
溶剤は、アルキルフェノール及び/又はアルケニルフェ
ノールを溶解したアセチルアセトン溶液,アルキルフェ
ノール及び/又はアルケニルフェノールを溶解したアセ
チルアセトン溶液をアルコールで希釈した液の少なくと
も1種類が選択されたものである。
め、本発明による透明導電性被膜形成用塗布液において
は、有機インジウム化合物と、有機錫と、有機溶剤とを
含む透明導電性被膜形成用塗布液であって、有機インジ
ウム化合物は、アセチルアセトンインジウム,オクチル
酸インジウムの内の少なくとも1種類が選択されたもの
であり、有機錫は、アセチルアセトン錫,オクチル酸錫
の内の少なくとも1種類が選択されたものであり、有機
溶剤は、アルキルフェノール及び/又はアルケニルフェ
ノールを溶解したアセチルアセトン溶液,アルキルフェ
ノール及び/又はアルケニルフェノールを溶解したアセ
チルアセトン溶液をアルコールで希釈した液の少なくと
も1種類が選択されたものである。
【0019】また、本発明による透明導電性被膜形成用
塗布液においては、ヒドロキシプロピルセルロースを含
む透明導電性被膜形成用塗布液であって、ヒドロキシプ
ロピルセルロースは、有機溶剤中に含まれた全アルキル
フェノール及び/又はアルケニルフェノール量の内の
1.0〜12.5重量%の等量を置換したものである。
塗布液においては、ヒドロキシプロピルセルロースを含
む透明導電性被膜形成用塗布液であって、ヒドロキシプ
ロピルセルロースは、有機溶剤中に含まれた全アルキル
フェノール及び/又はアルケニルフェノール量の内の
1.0〜12.5重量%の等量を置換したものである。
【0020】また、本発明による低反射透明導電膜にお
いては、透明導電性被膜とコーティング膜との積層から
なる低反射透明導電膜であって、透明導電性被膜は、前
記透明導電性被膜形成用塗布液の塗布により基板上に形
成された被膜であり、コーティング膜は、シリコンアル
コキシドを含むコーティング液を前記透明導電性被膜上
にオーバーコートしたものである。
いては、透明導電性被膜とコーティング膜との積層から
なる低反射透明導電膜であって、透明導電性被膜は、前
記透明導電性被膜形成用塗布液の塗布により基板上に形
成された被膜であり、コーティング膜は、シリコンアル
コキシドを含むコーティング液を前記透明導電性被膜上
にオーバーコートしたものである。
【0021】
【作用】本発明においては有機インジウムとして、イン
ジウムアセチルアセトナート(AcAcIn),オクチ
ル酸インジウム(OctIn)、実施例では、商品名ナ
ーセムインジウム(Metal Acetylacet
onate,In28%,日本化学産業(株)製),ホ
ープIn(In25%,ホープ製薬(株)製),有機錫
としてビスアセチルアセトナートジメチル錫(AcAc
Sn),オクチル酸錫(OctSn)、実施例では商品
名ナーセム錫(日本化学産業(株)製),ニッカオクチ
ック錫(Stannous Octoate,Sn28
%,日本化学産業(株)製)を使用した。
ジウムアセチルアセトナート(AcAcIn),オクチ
ル酸インジウム(OctIn)、実施例では、商品名ナ
ーセムインジウム(Metal Acetylacet
onate,In28%,日本化学産業(株)製),ホ
ープIn(In25%,ホープ製薬(株)製),有機錫
としてビスアセチルアセトナートジメチル錫(AcAc
Sn),オクチル酸錫(OctSn)、実施例では商品
名ナーセム錫(日本化学産業(株)製),ニッカオクチ
ック錫(Stannous Octoate,Sn28
%,日本化学産業(株)製)を使用した。
【0022】アルキルフェノールとしては、パラターシ
ャリーブチルフェノール,オクチルフェノール,ノニル
フェノールなど、アルケニルフェノールとしては、3ペ
ンタデカデシルフェノールなどが使用できる。アルコー
ル類としては、メチル,エチル,プロピル,ブチルアル
ーコルのほかにもシクロヘキサノールなどが使用でき
る。勿論、エチルアルコールに上記のその他のアルコー
ル類を適宜添加してもよい。
ャリーブチルフェノール,オクチルフェノール,ノニル
フェノールなど、アルケニルフェノールとしては、3ペ
ンタデカデシルフェノールなどが使用できる。アルコー
ル類としては、メチル,エチル,プロピル,ブチルアル
ーコルのほかにもシクロヘキサノールなどが使用でき
る。勿論、エチルアルコールに上記のその他のアルコー
ル類を適宜添加してもよい。
【0023】本発明の塗布液は、通常上記a)インジウ
ム化合物,b)錫化合物,c)アルキル及び/又はアル
ケニルフェノール,d)アセチルアセトン溶液及び/又
はアセチルアセトンとアルコールの混液を含む透明な溶
液又は、アルキル及び/又はアルケニルフェノールの
1.0〜12.5wt%をヒドロキシプロピルセルロー
スで置換した透明な溶液である。かかる溶液は、例えば
これらの成分を常温〜150℃の間に0.5〜12時間
撹拌することにより得られる。上記製造条件によって得
られた溶液粘度の例を示せば表1のとおりである。表1
の成分配合はwt%を示している。以下の表においても
同じである。
ム化合物,b)錫化合物,c)アルキル及び/又はアル
ケニルフェノール,d)アセチルアセトン溶液及び/又
はアセチルアセトンとアルコールの混液を含む透明な溶
液又は、アルキル及び/又はアルケニルフェノールの
1.0〜12.5wt%をヒドロキシプロピルセルロー
スで置換した透明な溶液である。かかる溶液は、例えば
これらの成分を常温〜150℃の間に0.5〜12時間
撹拌することにより得られる。上記製造条件によって得
られた溶液粘度の例を示せば表1のとおりである。表1
の成分配合はwt%を示している。以下の表においても
同じである。
【0024】
【表1】
【0025】本発明の塗布液は、スピンコート,スプレ
ーコート,バーコート及びブレードコートにより成膜す
ることができる。
ーコート,バーコート及びブレードコートにより成膜す
ることができる。
【0026】本発明の塗布液は、ガラス基板との濡れ性
も申し分なく、使用されている溶剤が中沸点及び/ある
いは中沸点と低沸点の混液であることから、塗布作業中
に適度に揮発し、揮発によって膜形成成分の基板への固
着とオーバーコートに対する耐性(粒の発生,帯状模様
の生成,白化がない)が得られ、また残留溶剤によって
レベリングを生じ、従って膜厚の面内バラツキが非常に
小さい導電膜が得られる。
も申し分なく、使用されている溶剤が中沸点及び/ある
いは中沸点と低沸点の混液であることから、塗布作業中
に適度に揮発し、揮発によって膜形成成分の基板への固
着とオーバーコートに対する耐性(粒の発生,帯状模様
の生成,白化がない)が得られ、また残留溶剤によって
レベリングを生じ、従って膜厚の面内バラツキが非常に
小さい導電膜が得られる。
【0027】a)AcAcIn(又はOctIn),
b)AcAcSn(又はOctSn),c)アルキル及
び/又はアルケニルフェノール,d)アセチルアセトン
及び/又はアセチルアセトンとエチルアルコール混液で
構成される本発明の塗布液は、塗布作業時の基板温度を
45〜60℃に設定して行う。45℃未満では塗布液が
基板上ではじきの現象を呈し、60℃を越えると、蒸発
速度が早く、表面張力が大きくなって、膜厚が不均一に
なる。
b)AcAcSn(又はOctSn),c)アルキル及
び/又はアルケニルフェノール,d)アセチルアセトン
及び/又はアセチルアセトンとエチルアルコール混液で
構成される本発明の塗布液は、塗布作業時の基板温度を
45〜60℃に設定して行う。45℃未満では塗布液が
基板上ではじきの現象を呈し、60℃を越えると、蒸発
速度が早く、表面張力が大きくなって、膜厚が不均一に
なる。
【0028】基板温度を45〜60℃に設定した場合、
塗布液中のAcAcIn(又はOctIn)+AcAc
Sn(又はOctSn)が5wt%を越えると、アルキ
ルシリケートゾル液をオーバーコートすることなく乾
燥,焼成して得られた膜には、亀裂が発生していた。反
対に、5wt%未満であると塗布作業時にはじきを生じ
た。しかし、5wt%の塗布液によって得られた膜は、
はじきや亀裂などの不都合もなく、表面抵抗値に6KΩ
/□が示された。
塗布液中のAcAcIn(又はOctIn)+AcAc
Sn(又はOctSn)が5wt%を越えると、アルキ
ルシリケートゾル液をオーバーコートすることなく乾
燥,焼成して得られた膜には、亀裂が発生していた。反
対に、5wt%未満であると塗布作業時にはじきを生じ
た。しかし、5wt%の塗布液によって得られた膜は、
はじきや亀裂などの不都合もなく、表面抵抗値に6KΩ
/□が示された。
【0029】塗布液中のAcAcIn(又はOctI
n)+AcAcSn(又はOctSn)が5wt%ない
しそれ以上の塗布液を、45〜60℃に設定された基板
上に塗布し、数分後にシリコンアルドキシドを含むコー
ティング液をオーバーコートし、次いで乾燥,焼成して
得た膜は、亀裂などの不都合のない光透過性,機械的速
度に優れたものであった。
n)+AcAcSn(又はOctSn)が5wt%ない
しそれ以上の塗布液を、45〜60℃に設定された基板
上に塗布し、数分後にシリコンアルドキシドを含むコー
ティング液をオーバーコートし、次いで乾燥,焼成して
得た膜は、亀裂などの不都合のない光透過性,機械的速
度に優れたものであった。
【0030】これは導電層の焼成に伴う収縮をオーバー
コート層が吸収することによるものと思われる。かくし
て1層目の導電層はInとSnの含有量が多いことから
導電性が良好な膜として形成される。
コート層が吸収することによるものと思われる。かくし
て1層目の導電層はInとSnの含有量が多いことから
導電性が良好な膜として形成される。
【0031】上記本発明の塗布液において、アルキル及
び/又はアルケニルフェノールの1.0〜12.5wt
%をヒドロキシプロピルセルローズで置き換えた塗布液
は、塗布作業時の基板温度が室温〜60℃の間で均一に
塗布することができる。ヒドロキシプロピルセルローズ
の代替量が1.0wt%未満では塗布時にはじきの現象
が、また12.5%を越えると、焼成膜にスジムラの不
都合が生じることが分かった。
び/又はアルケニルフェノールの1.0〜12.5wt
%をヒドロキシプロピルセルローズで置き換えた塗布液
は、塗布作業時の基板温度が室温〜60℃の間で均一に
塗布することができる。ヒドロキシプロピルセルローズ
の代替量が1.0wt%未満では塗布時にはじきの現象
が、また12.5%を越えると、焼成膜にスジムラの不
都合が生じることが分かった。
【0032】図1に、AcAcIn+AcAcSn=1
5wt%(In/Sn=92/8),パラターシャリー
ブチルフェノール+ヒドロキシプロピルセルロース=1
5wt%(フェノール/セルロース=95/5)及びア
セチルアセトン70wt%で構成される塗布液を調整
し、これをエチルアルコールで希釈してAcAcIn+
AcAcSnが12.5wt%,8wt%,5wt%及
び2.5wt%とし、各々についてスピンコートにより
成膜,乾燥,焼成して得た膜のシート抵抗値を示した。
いずれの膜も亀裂など不都合のない、光透過性,機械的
強度に優れ、面内バラツキの非常に小さいものであっ
た。
5wt%(In/Sn=92/8),パラターシャリー
ブチルフェノール+ヒドロキシプロピルセルロース=1
5wt%(フェノール/セルロース=95/5)及びア
セチルアセトン70wt%で構成される塗布液を調整
し、これをエチルアルコールで希釈してAcAcIn+
AcAcSnが12.5wt%,8wt%,5wt%及
び2.5wt%とし、各々についてスピンコートにより
成膜,乾燥,焼成して得た膜のシート抵抗値を示した。
いずれの膜も亀裂など不都合のない、光透過性,機械的
強度に優れ、面内バラツキの非常に小さいものであっ
た。
【0033】図2に、AcAcInの代りにOctIn
を、AcAcSnの代りにOctSnを用いたほかは、
図1と全く同様の方法で行った結果を示した。図2に明
らかなとおり、OctInとOctSnとの組合せによ
るときには、AcAcIn,AcAcSnの組合せによ
るものより、表面抵抗値が高い。したがって、AcAc
In,AcAcSnと、OctIn,OctSnとの任
意の組合せでは、表面抵抗値が、図1,図2の特性の間
に納まるものと考えられる。ヒドロキシプロピルセルロ
ースを含まない塗布液を用いて成膜,乾燥,焼成して得
た膜にコーティング液を塗布した二層の表面抵抗値につ
いても、同程度の表面抵抗値を有しているものと考えら
れる。
を、AcAcSnの代りにOctSnを用いたほかは、
図1と全く同様の方法で行った結果を示した。図2に明
らかなとおり、OctInとOctSnとの組合せによ
るときには、AcAcIn,AcAcSnの組合せによ
るものより、表面抵抗値が高い。したがって、AcAc
In,AcAcSnと、OctIn,OctSnとの任
意の組合せでは、表面抵抗値が、図1,図2の特性の間
に納まるものと考えられる。ヒドロキシプロピルセルロ
ースを含まない塗布液を用いて成膜,乾燥,焼成して得
た膜にコーティング液を塗布した二層の表面抵抗値につ
いても、同程度の表面抵抗値を有しているものと考えら
れる。
【0034】
【実施例】以下実施例により本発明を詳細に説明する。
【0035】オーバーコートに使用するシリコンアルキ
シドを含むコーティング液は次のようにして調整した。
すなわち、5grのエチルシリケート40(多摩化学
(株)製)に1grの5%塩酸を加えよく振盤する。こ
れを冷却して9grの水を加え良く撹拌しながら薄めた
後、110grのエチルアルコールを加えて4wt%溶
液に調整した。
シドを含むコーティング液は次のようにして調整した。
すなわち、5grのエチルシリケート40(多摩化学
(株)製)に1grの5%塩酸を加えよく振盤する。こ
れを冷却して9grの水を加え良く撹拌しながら薄めた
後、110grのエチルアルコールを加えて4wt%溶
液に調整した。
【0036】(実施例1〜3)撹拌棒,温度計と還流冷
却管を付した3つ口フラスコ中に150grのアセチル
アセトンと25grのハラターシャリーブチルフェノー
ルを加え、120〜135℃で0.5時間撹拌しながら
溶解した。次いで23grのAcAcInと2grのA
cAcSnを加え、同温度で3時間溶解した。冷時1μ
mの濾紙を用いて濾過し、透明導電性被膜形成用塗布液
を調整した。
却管を付した3つ口フラスコ中に150grのアセチル
アセトンと25grのハラターシャリーブチルフェノー
ルを加え、120〜135℃で0.5時間撹拌しながら
溶解した。次いで23grのAcAcInと2grのA
cAcSnを加え、同温度で3時間溶解した。冷時1μ
mの濾紙を用いて濾過し、透明導電性被膜形成用塗布液
を調整した。
【0037】得られた塗布液の半分を分取してこれを実
施例1の試料とし、残りの半分をエタノールで希釈して
AcAcIn+AcAcSnが8wt%(実施例2)及
び5wt%(実施例3)の塗布液とした。150mm×
200mm×9mmの青板硝子基板を50℃の熱風乾燥
炉に20分間入れて加温した後、スピンナーにセット
し、前記塗布液10grを150rpmの回転速度で2
分間塗布、次いで4wt%のアルキルシリケートゾル液
10grを1分間塗布した。120℃の熱風乾燥炉で1
0分間乾燥した後、焼成炉に入れ、常温〜450℃まで
1時間掛けて昇温し、450℃に達してから30分間焼
成した。200℃以下で取り出して得られた膜の特性
は、表2に示したとおりである。
施例1の試料とし、残りの半分をエタノールで希釈して
AcAcIn+AcAcSnが8wt%(実施例2)及
び5wt%(実施例3)の塗布液とした。150mm×
200mm×9mmの青板硝子基板を50℃の熱風乾燥
炉に20分間入れて加温した後、スピンナーにセット
し、前記塗布液10grを150rpmの回転速度で2
分間塗布、次いで4wt%のアルキルシリケートゾル液
10grを1分間塗布した。120℃の熱風乾燥炉で1
0分間乾燥した後、焼成炉に入れ、常温〜450℃まで
1時間掛けて昇温し、450℃に達してから30分間焼
成した。200℃以下で取り出して得られた膜の特性
は、表2に示したとおりである。
【0038】
【表2】 青板硝子基板 LT 85.9% H 0.0%
【0039】(実施例4〜6)AcAcSnの代りにO
ctSnを用いたほかは実施例1〜3と全く同様の材料
構成及び製造方法で行った結果を表3に示した。
ctSnを用いたほかは実施例1〜3と全く同様の材料
構成及び製造方法で行った結果を表3に示した。
【0040】
【表3】 青板硝子基板 LT 85.9% H 0.0%
【0041】(実施例7〜9)AcAcInの代りにO
ctInを用いたほかは実施例1〜3と全く同様の材料
構成及び製造方法で行った結果を表4に示した。
ctInを用いたほかは実施例1〜3と全く同様の材料
構成及び製造方法で行った結果を表4に示した。
【0042】
【表4】 青板硝子基板 LT 85.9% H 0.0%
【0043】(実施例10〜12)AcAcInの代り
にOctIn,AcAcSnの代りにOctSnを用い
たほかは実施例1〜3と全く同様の材料構成及び製造方
法で行った結果を表5に示した。
にOctIn,AcAcSnの代りにOctSnを用い
たほかは実施例1〜3と全く同様の材料構成及び製造方
法で行った結果を表5に示した。
【0044】
【表5】 青板硝子基板 LT 85.9% H 0.0%
【0045】(実施例13〜22)撹拌棒,温度計及び
還流冷却管を付した3つ口フラスコ中にアセチルアセト
ンとパラターシャリーブチルフェノールを120〜13
5℃で0.5時間撹拌しながら溶解した。次いで計算量
のヒドロキシプロピルセルロースを徐々に加え、同温度
で1時間溶解した。AcAcIn(又はOctIn)を
23grとAcAcSn(又はOctSn)を2gr加
えて3時間撹拌溶解した後、1μmの濾紙を用いて濾過
し、透明導電性被膜形成用塗布液を調整した。得られた
塗布液を基板温度が室温[20℃]である以外は実施例
1〜3と全く同様の方法でスピンコートし、オーバーコ
ートをせずにそのまま乾燥,焼成して得た膜の特性を表
6,表7に示した。
還流冷却管を付した3つ口フラスコ中にアセチルアセト
ンとパラターシャリーブチルフェノールを120〜13
5℃で0.5時間撹拌しながら溶解した。次いで計算量
のヒドロキシプロピルセルロースを徐々に加え、同温度
で1時間溶解した。AcAcIn(又はOctIn)を
23grとAcAcSn(又はOctSn)を2gr加
えて3時間撹拌溶解した後、1μmの濾紙を用いて濾過
し、透明導電性被膜形成用塗布液を調整した。得られた
塗布液を基板温度が室温[20℃]である以外は実施例
1〜3と全く同様の方法でスピンコートし、オーバーコ
ートをせずにそのまま乾燥,焼成して得た膜の特性を表
6,表7に示した。
【0046】
【表6】
【0047】
【表7】
【0048】(実施例23〜26)撹拌棒,温度計及び
還流冷却管を付した3つ口フラスコ中に150grのア
セチルアセトンと25[1−x]gr,ただし、xはヒ
ドロキシプロピルセルロースの代替率で0.125,
0.08,0.05及び0.10のパラターシャリーブ
チルフェノールを120〜135℃で0.5時間撹拌し
ながら溶解した。次いで計算量のヒドロキシプロピルセ
ルロースを徐々に加え、同温度で1時間溶解した。Ac
AcInを23grとAcAc2grを加えて3時間撹
拌溶解した後、1μmの濾紙を用いて濾過し、実施例2
3〜26の透明導電性被膜形成用塗布液を調整した。得
られた塗布液を基板温度が室温[20℃]である以外は
実施例1〜3と全く同様の方法でスピンコート,オーバ
ーコートし、そのまま乾燥,焼成して得た膜の特性を表
8に示した。
還流冷却管を付した3つ口フラスコ中に150grのア
セチルアセトンと25[1−x]gr,ただし、xはヒ
ドロキシプロピルセルロースの代替率で0.125,
0.08,0.05及び0.10のパラターシャリーブ
チルフェノールを120〜135℃で0.5時間撹拌し
ながら溶解した。次いで計算量のヒドロキシプロピルセ
ルロースを徐々に加え、同温度で1時間溶解した。Ac
AcInを23grとAcAc2grを加えて3時間撹
拌溶解した後、1μmの濾紙を用いて濾過し、実施例2
3〜26の透明導電性被膜形成用塗布液を調整した。得
られた塗布液を基板温度が室温[20℃]である以外は
実施例1〜3と全く同様の方法でスピンコート,オーバ
ーコートし、そのまま乾燥,焼成して得た膜の特性を表
8に示した。
【0049】
【表8】 青板硝子基板 LT 85.9% H 0.0%
【0050】
【発明の効果】以上のように本発明の透明導電性被膜形
成用塗布液によれば、透明性に優れ、粘性が低く、ガラ
ス基板に対する濡れ性が良いため、スピンコート法,ス
プレーコート,バーコート法を用いて、ガラス基板上に
均一な透明な導電性薄膜を形成でき、しかも、一般に使
用されるシリコンアルコキジドを含むコーティング液に
対するなじみがよいため、表面にオーバーコートを施し
て、低反射で機械的強度に優れた透明導電膜を形成で
き、CRTなどの電界シールド,静電防止に優れた効果
が得られる。
成用塗布液によれば、透明性に優れ、粘性が低く、ガラ
ス基板に対する濡れ性が良いため、スピンコート法,ス
プレーコート,バーコート法を用いて、ガラス基板上に
均一な透明な導電性薄膜を形成でき、しかも、一般に使
用されるシリコンアルコキジドを含むコーティング液に
対するなじみがよいため、表面にオーバーコートを施し
て、低反射で機械的強度に優れた透明導電膜を形成で
き、CRTなどの電界シールド,静電防止に優れた効果
が得られる。
【0051】また、本発明において、特筆すべきは、塗
布液中のAcAcIn[又は、OctIn]とAcAc
Sn[又は、OctSn]との総量が5重量%であると
きに、低抵抗で亀裂やはじきの不都合のない導電膜が得
られたことである。したがって、成分配合量を特定する
ことにより、粘性剤の添加が不要となり、極めて粘度の
低い、したがって、スピンコートによる展延性に優れた
透明導電膜を形成することが可能である。
布液中のAcAcIn[又は、OctIn]とAcAc
Sn[又は、OctSn]との総量が5重量%であると
きに、低抵抗で亀裂やはじきの不都合のない導電膜が得
られたことである。したがって、成分配合量を特定する
ことにより、粘性剤の添加が不要となり、極めて粘度の
低い、したがって、スピンコートによる展延性に優れた
透明導電膜を形成することが可能である。
【図1】AcAcInとAcAcSnとの添加量と、膜
の表面抵抗値との関係を示す図である。
の表面抵抗値との関係を示す図である。
【図2】OctInとOctSnとの添加量と、膜の表
面抵抗値との関係を示す図である。
面抵抗値との関係を示す図である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小泉 啓寿 東京都品川区西五反田7丁目9番4号 東 北化工株式会社内
Claims (3)
- 【請求項1】 有機インジウム化合物と、有機錫と、有
機溶剤とを含む透明導電性被膜形成用塗布液であって、 有機インジウム化合物は、アセチルアセトンインジウ
ム,オクチル酸インジウムの内の少なくとも1種類が選
択されたものであり、 有機錫は、アセチルアセトン錫,オクチル酸錫の内の少
なくとも1種類が選択されたものであり、 有機溶剤は、アルキルフェノール及び/又はアルケニル
フェノールを溶解したアセチルアセトン溶液,アルキル
フェノール及び/又はアルケニルフェノールを溶解した
アセチルアセトン溶液をアルコールで希釈した液の少な
くとも1種類が選択されたものであることを特徴とする
透明導電性被膜形成用塗布液。 - 【請求項2】 ヒドロキシプロピルセルロースを含む透
明導電性被膜形成用塗布液であって、 ヒドロキシプロピルセルロースは、有機溶剤中に含まれ
た全アルキルフェノール及び/又はアルケニルフェノー
ル量の内の1.0〜12.5重量%の等量を置換したも
のであることを特徴とする請求項1に記載の透明導電性
被膜形成用塗布液。 - 【請求項3】 透明導電性被膜とコーティング膜との積
層からなる低反射透明導電膜であって、 透明導電性被膜は、請求項1又は2に記載の透明導電性
被膜形成用塗布液の塗布により基板上に形成された被膜
であり、 コーティング膜は、シリコンアルコキシドを含むコーテ
ィング液を前記透明導電性被膜上にオーバーコートした
ものであることを特徴とする低反射透明導電膜。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11336093A JP3338970B2 (ja) | 1993-05-14 | 1993-05-14 | 透明導電性被膜形成用塗布液及び低反射透明導電膜 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11336093A JP3338970B2 (ja) | 1993-05-14 | 1993-05-14 | 透明導電性被膜形成用塗布液及び低反射透明導電膜 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06325637A true JPH06325637A (ja) | 1994-11-25 |
| JP3338970B2 JP3338970B2 (ja) | 2002-10-28 |
Family
ID=14610313
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11336093A Expired - Fee Related JP3338970B2 (ja) | 1993-05-14 | 1993-05-14 | 透明導電性被膜形成用塗布液及び低反射透明導電膜 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3338970B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005154654A (ja) * | 2003-11-27 | 2005-06-16 | Nof Corp | インジウム−スズ酸化物薄膜形成用塗布液 |
| JP2006028431A (ja) * | 2004-07-20 | 2006-02-02 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | 透明導電膜とその製造方法、及び透明導電膜形成用塗布液 |
| US7119218B2 (en) | 2003-03-31 | 2006-10-10 | Nof Corporation | Low melting point tin salt of carboxylic acid and method for producing the same |
| WO2011055856A1 (ja) * | 2009-11-05 | 2011-05-12 | 住友金属鉱山株式会社 | 透明導電膜の製造方法及び透明導電膜、それを用いた素子、透明導電基板並びにそれを用いたデバイス |
| US8753987B2 (en) | 2010-06-08 | 2014-06-17 | Sumitomo Metal Mining Co., Ltd. | Method of manufacturing metal oxide film |
| US9040119B2 (en) | 2008-12-01 | 2015-05-26 | Sumitomo Metal Mining Co., Ltd. | Method for producing transparent conductive film, transparent conductive film, transparent conductive substrate and device comprising the same |
| US9701849B2 (en) | 2010-02-17 | 2017-07-11 | Sumitomo Metal Mining Co., Ltd. | Method of manufacturing transparent conductive film, the transparent conductive film, element and transparent conductive substrate using the film, as well as device using the substrate |
-
1993
- 1993-05-14 JP JP11336093A patent/JP3338970B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7119218B2 (en) | 2003-03-31 | 2006-10-10 | Nof Corporation | Low melting point tin salt of carboxylic acid and method for producing the same |
| JP2005154654A (ja) * | 2003-11-27 | 2005-06-16 | Nof Corp | インジウム−スズ酸化物薄膜形成用塗布液 |
| JP2006028431A (ja) * | 2004-07-20 | 2006-02-02 | Sumitomo Metal Mining Co Ltd | 透明導電膜とその製造方法、及び透明導電膜形成用塗布液 |
| US9040119B2 (en) | 2008-12-01 | 2015-05-26 | Sumitomo Metal Mining Co., Ltd. | Method for producing transparent conductive film, transparent conductive film, transparent conductive substrate and device comprising the same |
| WO2011055856A1 (ja) * | 2009-11-05 | 2011-05-12 | 住友金属鉱山株式会社 | 透明導電膜の製造方法及び透明導電膜、それを用いた素子、透明導電基板並びにそれを用いたデバイス |
| JP5403293B2 (ja) * | 2009-11-05 | 2014-01-29 | 住友金属鉱山株式会社 | 透明導電膜の製造方法及び透明導電膜、それを用いた素子、透明導電基板並びにそれを用いたデバイス |
| US8963146B2 (en) | 2009-11-05 | 2015-02-24 | Sumitomo Metal Mining Co., Ltd. | Method of manufacturing transparent conductive film, the transparent conductive substrate using the film, as well as device using the substrate |
| US9701849B2 (en) | 2010-02-17 | 2017-07-11 | Sumitomo Metal Mining Co., Ltd. | Method of manufacturing transparent conductive film, the transparent conductive film, element and transparent conductive substrate using the film, as well as device using the substrate |
| US8753987B2 (en) | 2010-06-08 | 2014-06-17 | Sumitomo Metal Mining Co., Ltd. | Method of manufacturing metal oxide film |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3338970B2 (ja) | 2002-10-28 |
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