JPH063259A - 比旋光計 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 計測対象試料の簡単な選択操作のみによっ
て、誤検出を伴わせないで、試料セル内の試料の計測基
準温度下における比旋光度を、コスト的に安価に且つ高
精度で計測できるようにする。 【構成】 光源１と検出器２との間に、偏光子４と試料
セル７と検光子９を、その順に配置すると共に、試料の
旋光角を検出する手段15と、試料温度の検出手段16と、
計測対象試料の特性に依存する係数ＺをメモリするＣＰ
Ｕ18とを設け、かつ、旋光角検出時の温度下における試
料の比旋光度と、旋光角検出時における試料温度の計測
基準温度に対する温度差と、メモリされた係数とを基に
して、選択された試料の計測基準温度下における比旋光
度を演算する比旋光度演算手段19を備えて成る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光学的零位法による比
旋光計の改良技術に関する。

【０００２】

【従来の技術】上記の比旋光計として、光源と検出器と
の間に、光源からの光を平面偏光させる偏光子と、試料
温度を計測基準温度付近に置くように制御される試料セ
ルと、検光子を、その順に配置すると共に、検出器から
の出力信号を基にした検光子の回転制御量から試料の旋
光角を検出する手段と、旋光角を基にして比旋光度を演
算する比旋光度演算手段を設けたものがある。

【０００３】ここで、上記試料の旋光角は、計測時の試
料温度や試料の特性によって著しく変化することから従
来では、例えばセルホルダーの温度を基にして試料セル
内の試料温度を間接的に計測する温度検出手段を設け、
かつ、計測基準温度が２０℃に定められている日本薬局
方の規格に基づく比旋光度の計測に際しては、計測対象
である試料の特性に依存する係数Ｚの値を日本工業規格
に基づく表から読み取って、その係数Ｚと、試料温度ｔ
と計測基準温度２０℃との温度差（ｔ−２０）とを、そ
の都度、比旋光度演算手段に入力して、旋光角検出時の
温度下における旋光角を基にした試料の比旋光度〔α〕
_D ^t と係数Ｚおよび温度差（ｔ−２０）を基にして、２
０℃の計測基準温度に補正した比旋光度〔α〕_D ²⁰＝
〔α〕_D ^t＋Ｚ（ｔ−２０）を求めるようにしている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかし、計測の度に温
度差と係数を入力させる煩わしさがあるだけでなく、数
値の読み取りや入力ミスによる誤検出の危険性があり、
あるいは、試料温度ひいては試料セルを２０℃の恒温下
に置く非常にシビアな制御形態をとれば、上記した温度
補正の必要はなくなるが、コスト的に高く付く上に、補
正係数の入力を必要とすることにかわりはなく、かつ、
何れにしても計測時間が長くかゝる点で問題があった。
本発明は、かゝる実情に鑑みて成されたものであって、
誤検出に繋がる虞れのある温度補正ならびに補正係数の
入力手間が一切不要であり、あるいは試料を所定の恒温
下に置かずとも、所定通りの温度補正が成された比旋光
度が求められる比旋光計を提供することを目的としてい
る。

【０００５】

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するに
至った本発明による比旋光計は、光源と検出器との間
に、光源からの光を平面偏光させる偏光子と、試料温度
を計測基準温度付近に置くように制御される試料セル
と、検光子を、その順に配置すると共に、検出器からの
出力信号を基にした検光子の回転制御量から試料の旋光
角を検出する手段と、試料セル内の試料温度を直接また
は間接的に計測する温度検出手段と、計測対象試料の特
性に依存する係数をメモリするＣＰＵとを設け、かつ、
旋光角検出時の温度下における旋光角を基にした比旋光
度と、旋光角検出時における試料温度の計測基準温度に
対する温度差と、予めメモリされ且つ選択された計測対
象試料の特性に依存する係数とを基にして、選択された
試料の計測基準温度下における比旋光度を演算する比旋
光度演算手段を備えさせた点に特徴がある。

【０００６】

【作用】即ち、比旋光度の計測に際して、その都度、計
測対象である試料の特性に依存する係数と、計測基準温
度に対する計測時の試料温度の温度差とを入力させるの
ではなく、試料の特性に依存する係数を予めメモリさせ
ておいて、後は計測対象とする試料を選択するだけの操
作で、その選択された試料の計測基準温度下における比
旋光度が計測されるのである。

【０００７】

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図１は比旋光計の原理図を示し、１はナトリウム
ランプ等の光源、２はフォトマル等の検出器で、この光
源１と検出器２との間には、所定の波長のみを透過させ
るフィルタ３と、光源１からの光を平面偏光させる偏光
子４と、交流電流によって平面偏光を振動させるファラ
デーセル５と、試料温度を計測基準温度付近に置くよう
に制御されるセルホルダー６に設けられた試料セル７
と、駆動回転手段８に連設された検光子９が、その順に
配置されている。前記駆動回転手段８は、検光子９を備
えたウォームホイール10と、このウォームホイール10に
噛合されたウォームギア11、及び、当該ウォームギア11
を回転させるステッピングモータ12から成り、かつ、ス
テッピングモータ12にはモータドライバ13が電気的に接
続されている。

【０００８】14は前記検出器２から出力される信号を増
幅させるアンプ、15は検出器２からの出力信号をモータ
ドライバ13にフィードバックして、前記検光子８の回転
制御量を基にして試料セル７内の試料の旋光角を検出す
る旋光角検出手段、16は試料セル７内の試料温度を直接
または間接的に計測する温度検出手段、17は計測対象試
料の特性に依存する係数をＣＰＵ18にメモリさせるキー
スイッチである。19は温度補正された試料の比旋光度を
演算する比旋光度演算手段で、前記旋光角検出手段15か
ら出力される旋光角検出時の温度下における旋光角を基
にした試料の比旋光度〔α〕_D ^t と、旋光角検出時にお
ける試料温度の計測基準温度２０℃に対する温度差（ｔ
−２０）と、予めメモリされ且つ選択された計測対象試
料の特性に依存する係数Ｚとを基にして、選択された試
料の計測基準温度に補正した比旋光度〔α〕_D ²⁰＝
〔α〕_D ^t ＋Ｚ（ｔ−２０）を自動的に演算し、その演
算結果をパネル20に表示すると共に、必要に応じてプリ
ンタ21にプリントさせるように構成されている。

【０００９】かゝる構成の比旋光計によれば、計測対象
とする試料を選択して、試料の特性に依存する係数Ｚを
ＣＰＵ18に入力させるだけの操作で、その選択された試
料の計測基準温度下における比旋光度が、温度補正され
た状態で自動的に且つ短時間で計測される。そして、上
記のように温度補正されるので、試料を恒温の計測基準
温度下に置く必要がなく、即ち、試料を計測基準温度に
近い恒温下に置くことによって、その試料の比旋光度を
高精度で計測することができる。

【００１０】尚、温度検出手段16によって試料の平衡温
度を検出させることが望ましいが、温度変化曲線を基に
して最終予想される温度を制御基準にするもよい。ま
た、温度検出手段16によって試料温度を直接検出させて
いるが、試料セル７またはセルホルダー６の温度を検出
させるようにして、試料温度と試料セル７またはセルホ
ルダー６の温度とが充分同じになった時点での温度検出
を基にして、間接的に試料温度を検出させるようにして
もよい。

【００１１】

【発明の効果】以上説明したように本発明の比旋光計に
よれば、これまでのように、煩わしく且つ誤検出に繋が
る虞れのある温度補正ならびに補正係数の入力手間を一
切不要にした状態で、あるいは試料を所定の恒温下に置
かずとも、単に計測対象とする試料を選択するだけの操
作で、その選択された試料の計測基準温度下における比
旋光度を、コスト的に安価に且つ高精度で計測できるに
至ったのである。

【図面の簡単な説明】

【図１】比旋光計の原理図である。

【符号の説明】

１…光源、２…検出器、４…偏光子、７…試料セル、９
…検光子、15…旋光角検出手段、16…温度検出手段、18
…ＣＰＵ、19…比旋光度演算手段。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 光源と検出器との間に、光源からの光を
   平面偏光させる偏光子と、試料温度を計測基準温度付近
   に置くように制御される試料セルと、検光子を、その順
   に配置すると共に、検出器からの出力信号を基にした検
   光子の回転制御量から試料の旋光角を検出する手段と、
   試料セル内の試料温度を直接または間接的に計測する温
   度検出手段と、計測対象試料の特性に依存する係数をメ
   モリするＣＰＵとを設け、かつ、旋光角検出時の温度下
   における旋光角を基にした比旋光度と、旋光角検出時に
   おける試料温度の計測基準温度に対する温度差と、予め
   メモリされ且つ選択された計測対象試料の特性に依存す
   る係数とを基にして、選択された試料の計測基準温度下
   における比旋光度を演算する比旋光度演算手段を備えて
   成ることを特徴とする比旋光計。