JPH06331311A - 移動体の変位測定方法 - Google Patents
移動体の変位測定方法Info
- Publication number
- JPH06331311A JPH06331311A JP14154093A JP14154093A JPH06331311A JP H06331311 A JPH06331311 A JP H06331311A JP 14154093 A JP14154093 A JP 14154093A JP 14154093 A JP14154093 A JP 14154093A JP H06331311 A JPH06331311 A JP H06331311A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measured
- displacement
- moving body
- sensor
- origin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 被測定面に微小な窪みがある場合に、その影
響を無くし、本来の平坦面の変位のみを測定する移動体
の変位測定方法を提供する。 【構成】 センサを横切って移動する移動体の平面の原
点からの変位を該センサで非接触で測定する移動体の変
位測定方法において、局部的に微小な窪みを有する被測
定面にセンサから間欠的にレーザ光を照射して原点から
の距離を測定し、一定移動距離の各測定値から窪みの部
分の測定値を検出し、その測定値を消去して平坦面の変
位のみを算出する。
響を無くし、本来の平坦面の変位のみを測定する移動体
の変位測定方法を提供する。 【構成】 センサを横切って移動する移動体の平面の原
点からの変位を該センサで非接触で測定する移動体の変
位測定方法において、局部的に微小な窪みを有する被測
定面にセンサから間欠的にレーザ光を照射して原点から
の距離を測定し、一定移動距離の各測定値から窪みの部
分の測定値を検出し、その測定値を消去して平坦面の変
位のみを算出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、移動体の変位測定方法
に関し、特に、センサを横切って移動する移動体の平面
の原点からの変位を該センサで非接触で測定する方法に
関する。本発明は、特に、移動体の平面が局部的に微小
な窪みを有する場合に、窪みの影響を除いて、平面の平
坦部の変位のみを測定するのに好適なものである。
に関し、特に、センサを横切って移動する移動体の平面
の原点からの変位を該センサで非接触で測定する方法に
関する。本発明は、特に、移動体の平面が局部的に微小
な窪みを有する場合に、窪みの影響を除いて、平面の平
坦部の変位のみを測定するのに好適なものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、微小な窪みを平面に有するような
例えばＡＬＣパネル（軽量気泡コンクリートパネル）の
寸法を移動中に非接触で測定するには、パネルの両側に
距離測定器を配置し、各センサから間欠的にレーザ光を
照射して原点からの距離を連続的に測定し、その測定値
からパネル幅を算出する方法がある。そして、このよう
な測定方法では、前記パネル面が一定距離移動する間の
変位の加算平均を測定値としている。
例えばＡＬＣパネル（軽量気泡コンクリートパネル）の
寸法を移動中に非接触で測定するには、パネルの両側に
距離測定器を配置し、各センサから間欠的にレーザ光を
照射して原点からの距離を連続的に測定し、その測定値
からパネル幅を算出する方法がある。そして、このよう
な測定方法では、前記パネル面が一定距離移動する間の
変位の加算平均を測定値としている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、ＡＬＣパネル
のように被測定面が気泡等の微小な窪みがある場合に
は、加算平均値を測定値とすると、窪みの各点も計測し
て加算平均値を算出するために本来の平坦面の変位とは
相違し、測定精度を低下させる問題があった。
のように被測定面が気泡等の微小な窪みがある場合に
は、加算平均値を測定値とすると、窪みの各点も計測し
て加算平均値を算出するために本来の平坦面の変位とは
相違し、測定精度を低下させる問題があった。
【０００４】したがって、本発明の目的は、被測定面に
微小な窪みがある場合に、その影響を無くし、本来の平
坦面の変位のみを測定する移動体の変位測定方法を提供
することである。
微小な窪みがある場合に、その影響を無くし、本来の平
坦面の変位のみを測定する移動体の変位測定方法を提供
することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、センサを横切
って移動する移動体の平面の原点からの変位を該センサ
で非接触で測定する移動体の変位測定方法において、局
部的に微小な窪みを有する被測定面にセンサから間欠的
にレーザ光を照射して原点からの距離を測定し、一定移
動距離の各測定値から窪みの部分の測定値を検出し、そ
の測定値を消去して平坦面の変位のみを算出するように
したものである。
って移動する移動体の平面の原点からの変位を該センサ
で非接触で測定する移動体の変位測定方法において、局
部的に微小な窪みを有する被測定面にセンサから間欠的
にレーザ光を照射して原点からの距離を測定し、一定移
動距離の各測定値から窪みの部分の測定値を検出し、そ
の測定値を消去して平坦面の変位のみを算出するように
したものである。
【０００６】
【作用】微小な窪みがある被測定面に、センサから間欠
的にレーザ光を照射して原点からの距離を測定し、一定
移動距離の各測定値から窪みの部分の測定値を検出し、
その測定値を消去して平坦面の変位のみを算出するよう
にしたので、測定精度を向上させることができる。
的にレーザ光を照射して原点からの距離を測定し、一定
移動距離の各測定値から窪みの部分の測定値を検出し、
その測定値を消去して平坦面の変位のみを算出するよう
にしたので、測定精度を向上させることができる。
【０００７】
【実施例】次に、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。図１は、本発明の変位測定方法の原理を説明する
ための斜視図であり、図２は、移動体の移動距離と変位
の関係を示すグラフであり、図３は、本発明をＡＬＣの
幅寸法の測定に適用した場合の測定装置の斜視図であ
り、図４は、図３の測定装置による測定結果から窪みの
影響の除去を説明するためのグラフである。
する。図１は、本発明の変位測定方法の原理を説明する
ための斜視図であり、図２は、移動体の移動距離と変位
の関係を示すグラフであり、図３は、本発明をＡＬＣの
幅寸法の測定に適用した場合の測定装置の斜視図であ
り、図４は、図３の測定装置による測定結果から窪みの
影響の除去を説明するためのグラフである。
【０００８】図１を参照すると、センサヘッド４が所定
位置に配置されており、このセンサヘッド４はレーザ式
変位計アンプ２０を介してコンピュータ２１に接続され
ている。気泡による窪み１を被測定面５に持つ移動体２
の変位測定は、移動体２を矢印３の方向にセンサヘッド
４を横切って移動させながら行う。
位置に配置されており、このセンサヘッド４はレーザ式
変位計アンプ２０を介してコンピュータ２１に接続され
ている。気泡による窪み１を被測定面５に持つ移動体２
の変位測定は、移動体２を矢印３の方向にセンサヘッド
４を横切って移動させながら行う。
【０００９】図２は、移動体の単位移動距離ごとにサン
プリングして得られた変位の測定結果を示す。図２に示
すように、移動体の被測定面の気泡等によって生じた窪
みの影響による測定値６と被測定面の窪みがない本来の
面の変位を表す測定値７が混在した状態にある。本来の
面は、窪みがないので、当然移動距離に対して測定値の
変化が小さい領域である。したがって、或る移動距離ａ
の間のレーザ変位計の測定値の相互の差が或る一定値ｂ
以下である領域が本来の面（後述する窪みが或る領域に
わたって平坦な特殊な場合を除く）を表すものと考えら
れ、一方、一定値ｂ以上である領域は窪みが含まれてい
る面を表すものと考えらえる。
プリングして得られた変位の測定結果を示す。図２に示
すように、移動体の被測定面の気泡等によって生じた窪
みの影響による測定値６と被測定面の窪みがない本来の
面の変位を表す測定値７が混在した状態にある。本来の
面は、窪みがないので、当然移動距離に対して測定値の
変化が小さい領域である。したがって、或る移動距離ａ
の間のレーザ変位計の測定値の相互の差が或る一定値ｂ
以下である領域が本来の面（後述する窪みが或る領域に
わたって平坦な特殊な場合を除く）を表すものと考えら
れ、一方、一定値ｂ以上である領域は窪みが含まれてい
る面を表すものと考えらえる。
【００１０】説明の便宜上、図２に示すように、サンプ
リング数がｎ個であるとし、サンプリングした測定値を
移動距離の小さい方から順に１、２、３・・・ｉ、ｉ＋
１・・・ｎ−１、ｎの番号を付ける。いま仮に、測定値
の相互の差の計算を開始する測定値をｉ番目とすると、
次のｉ＋１番面の測定値とｉ番目の測定値との差がｂ以
下であれば、次のｉ＋２番目とｉ番目の測定値との差を
調べる。以下、同様に、ｉ＋３、ｉ＋４、・・・ｉ＋ａ
番目まで調べる。その結果、ｉ＋１番目からｉ＋ａ番目
の測定値とｉ番面の測定値との差がすべてｂ以下であれ
ば、この領域はレーザ変位計の測定値の変化が小さい領
域とみなす。なお、以下、この領域を説明の便宜上ブロ
ックという。また、ｉ＋ａ番目まで差を調べる途中で、
ｉ番目の測定値との差がｂより大きくなったときは、ブ
ロックでないとみなす。その後、計算の開始位置をｉ番
目からｉ＋１番目に移す。このように、計算の開始位置
を１番目からｎ−ａまで順に移すことによって、ｎ個の
測定値から、前述の条件を満たす例えばｍ個のブロック
を抽出し、各々の含まれる測定値を加算平均し、ｍ個の
ブロック平均値（Ｃ1 、Ｃ2 、・・・Ｃm ）を得る。次
に、ｍ個のブロック平均値を加算平均し、代表平均値
［Ｄ＝（Ｃ1 ＋Ｃ2 ＋・・・Ｃm ）／ｍ］を得る。
リング数がｎ個であるとし、サンプリングした測定値を
移動距離の小さい方から順に１、２、３・・・ｉ、ｉ＋
１・・・ｎ−１、ｎの番号を付ける。いま仮に、測定値
の相互の差の計算を開始する測定値をｉ番目とすると、
次のｉ＋１番面の測定値とｉ番目の測定値との差がｂ以
下であれば、次のｉ＋２番目とｉ番目の測定値との差を
調べる。以下、同様に、ｉ＋３、ｉ＋４、・・・ｉ＋ａ
番目まで調べる。その結果、ｉ＋１番目からｉ＋ａ番目
の測定値とｉ番面の測定値との差がすべてｂ以下であれ
ば、この領域はレーザ変位計の測定値の変化が小さい領
域とみなす。なお、以下、この領域を説明の便宜上ブロ
ックという。また、ｉ＋ａ番目まで差を調べる途中で、
ｉ番目の測定値との差がｂより大きくなったときは、ブ
ロックでないとみなす。その後、計算の開始位置をｉ番
目からｉ＋１番目に移す。このように、計算の開始位置
を１番目からｎ−ａまで順に移すことによって、ｎ個の
測定値から、前述の条件を満たす例えばｍ個のブロック
を抽出し、各々の含まれる測定値を加算平均し、ｍ個の
ブロック平均値（Ｃ1 、Ｃ2 、・・・Ｃm ）を得る。次
に、ｍ個のブロック平均値を加算平均し、代表平均値
［Ｄ＝（Ｃ1 ＋Ｃ2 ＋・・・Ｃm ）／ｍ］を得る。
【００１１】ここで、上記のように抽出したブロックに
は、気泡によって生じた窪みが広範囲にわたって比較的
平坦であれば、図２に示すように、ブロックには符号８
で示すような窪みによるブロックも含まれることにな
る。このため、前述のように計算した代表平均値をその
まま原点からの距離とすると、明らかに、誤差を含むこ
とになる。このことを回避して正確な距離を算出するた
めに、計算した代表平均値から或る値以上のブロック平
均値（窪みによって生じるブロックの測定値は、原点
（センサ）から遠いのでより大きな値となる）を除外
し、除外されなかったブロック平均値のみで加算平均
し、代表平均値 ［Ｄ’＝（Ｃ1 ＋Ｃ3 ＋・・・Ｃm ）
／（ｍ−１）、例えば、Ｃ2 が除外された場合］を得
る。このことにより、正確な原点（センサ）からの距離
が算出できる。
は、気泡によって生じた窪みが広範囲にわたって比較的
平坦であれば、図２に示すように、ブロックには符号８
で示すような窪みによるブロックも含まれることにな
る。このため、前述のように計算した代表平均値をその
まま原点からの距離とすると、明らかに、誤差を含むこ
とになる。このことを回避して正確な距離を算出するた
めに、計算した代表平均値から或る値以上のブロック平
均値（窪みによって生じるブロックの測定値は、原点
（センサ）から遠いのでより大きな値となる）を除外
し、除外されなかったブロック平均値のみで加算平均
し、代表平均値 ［Ｄ’＝（Ｃ1 ＋Ｃ3 ＋・・・Ｃm ）
／（ｍ−１）、例えば、Ｃ2 が除外された場合］を得
る。このことにより、正確な原点（センサ）からの距離
が算出できる。
【００１２】図４は、測定値のうち、ブロックとして抽
出され、除外されなかったブロックを符号１６で示して
いる。図４に示すように、ＡＬＣパネルの気泡による窪
みの影響を受けることない本来の面の変位（原点からの
距離）が得られる。
出され、除外されなかったブロックを符号１６で示して
いる。図４に示すように、ＡＬＣパネルの気泡による窪
みの影響を受けることない本来の面の変位（原点からの
距離）が得られる。
【００１３】次に、本発明をＡＬＣの幅寸法の測定に適
用した場合の測定装置の斜視図である図３を参照する
と、図３において、測定しよとするＡＣＬパネル１１を
載置したコンベヤ１０は矢印９の方向に移動するように
なっている。移動するＡＬＣパネルの両側に位置には、
光電スイッチ１３、センサヘッド１４、１５、光電スイ
ッチ１２が配置されている。センサヘッド１４、１５は
レーザ変位計アンプ２２に接続されている。また、コン
ピュータ２３には、レーザ変位計アンプ２２と光電スイ
ッチ１２、１３が接続されている。
用した場合の測定装置の斜視図である図３を参照する
と、図３において、測定しよとするＡＣＬパネル１１を
載置したコンベヤ１０は矢印９の方向に移動するように
なっている。移動するＡＬＣパネルの両側に位置には、
光電スイッチ１３、センサヘッド１４、１５、光電スイ
ッチ１２が配置されている。センサヘッド１４、１５は
レーザ変位計アンプ２２に接続されている。また、コン
ピュータ２３には、レーザ変位計アンプ２２と光電スイ
ッチ１２、１３が接続されている。
【００１４】移動しているＡＬＣパネル１１が光電スイ
ッチ１３、さらに光電スイッチ１２によって検出される
と、レーザ光変位計アンプ２２はサンプリングを開始す
る。コンピュータ２３は、センサヘッド１４による測定
値を１個読取り、次に、センサヘッド１５による測定値
を１個読取る。コンピュータ２３は、センサヘッド１４
および１５による測定値を交互に読取り、各測定値をｎ
個読取ると、サンプリングは終了する。このサンプリン
グの間の２つのレーザ変位計の測定値から、コンピュー
タ２３は、ブロックの抽出、窪みによって生じたブロッ
クの除外を行い、窪みの影響を除去して２個の平均値を
算出する。この算出した値と２つのセンサヘッドの間の
距離からパネルの幅寸法の測定を、光電スイッチ１２お
よび１３がパネルを検出している間繰り返して行う。
ッチ１３、さらに光電スイッチ１２によって検出される
と、レーザ光変位計アンプ２２はサンプリングを開始す
る。コンピュータ２３は、センサヘッド１４による測定
値を１個読取り、次に、センサヘッド１５による測定値
を１個読取る。コンピュータ２３は、センサヘッド１４
および１５による測定値を交互に読取り、各測定値をｎ
個読取ると、サンプリングは終了する。このサンプリン
グの間の２つのレーザ変位計の測定値から、コンピュー
タ２３は、ブロックの抽出、窪みによって生じたブロッ
クの除外を行い、窪みの影響を除去して２個の平均値を
算出する。この算出した値と２つのセンサヘッドの間の
距離からパネルの幅寸法の測定を、光電スイッチ１２お
よび１３がパネルを検出している間繰り返して行う。
【００１５】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、ＡＬＣパネルのような気泡を持つ材料の幅を、気
泡によって生じる窪みの影響をなくして、測定できる。
れば、ＡＬＣパネルのような気泡を持つ材料の幅を、気
泡によって生じる窪みの影響をなくして、測定できる。
【図１】図１は、本発明の変位測定方法の原理を説明す
るための斜視図である。
るための斜視図である。
【図２】図２は、移動体の移動距離と変位の関係を示す
グラフである。
グラフである。
【図３】図３は、本発明をＡＬＣの幅寸法の測定に適用
した場合の測定装置の斜視図である。
した場合の測定装置の斜視図である。
【図４】図４は、図３の測定装置による測定結果から窪
みの影響の除去を説明するためのグラフである。
みの影響の除去を説明するためのグラフである。
１ 気泡 ２ 移動体 ４ センサヘッド ５ 被測定面 １０ コンベヤ １１ ＡＬＣパネル １２ 光電スイッチ １３ 光電スイッチ １４ センサヘッド １５ センサヘッド ２０ レーザ変位計アンプ ２１ コンピュータ ２２ レーザ変位計アンプ ２３ コンピュータ
Claims (2)
- 【請求項１】 センサを横切って移動する移動体の平面
の原点からの変位を該センサで非接触で測定する移動体
の変位測定方法において、局部的に微小な窪みを有する
被測定面にセンサから間欠的にレーザ光を照射して原点
からの距離を測定し、一定移動距離の各測定値から窪み
の部分の測定値を検出し、その測定値を消去して平坦面
の変位のみを算出することを特徴とする移動体の変位測
定方法。 - 【請求項２】 センサを横切って移動する移動体の平面
の原点からの変位を該センサで非接触で測定する移動体
の変位測定方法において、局部的に微小な窪みを有する
被測定面にセンサから間欠的にレーザ光を照射して原点
からの距離をサンプリングにより測定し、サンプリング
した測定値から一定移動距離の範囲内で相互の測定値の
差を検出し、差が所定の値以下のときには、ブロック値
とし、差が所定の値より大きいときにはブロックでない
とし、ブロック値の加算平均を算出し、窪みの影響によ
るブロック値が含まれると判断されるときは、その値を
除去して加算平均を算出することを特徴とする移動体の
変位測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14154093A JPH06331311A (ja) | 1993-05-20 | 1993-05-20 | 移動体の変位測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14154093A JPH06331311A (ja) | 1993-05-20 | 1993-05-20 | 移動体の変位測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06331311A true JPH06331311A (ja) | 1994-12-02 |
Family
ID=15294350
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14154093A Pending JPH06331311A (ja) | 1993-05-20 | 1993-05-20 | 移動体の変位測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06331311A (ja) |
-
1993
- 1993-05-20 JP JP14154093A patent/JPH06331311A/ja active Pending
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