JPH06342012A - 導通テスト用プロ−ブ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 導通テスト用プロ−ブ（10）の構成部材であ
る測子（3A）を測定対象部位に当接させて導通テストを
実施するとき、接触不良に起因する導通の阻害を防止す
る。 【構成】 バレル（２）、先端に測子（3A）を有するプ
ランジャ−（３）、およびスプリング（４）からなる導
通テスト用プロ−ブ（10）に、螺旋状体（12）と、夾搾
部からなるガイド（13）との組合せ、もしくは、ピン状
突起（14）（14A）と、くの字状のガイド溝（15）（15
A）との組合せからなるプランジャ−（３）の旋回方向
反転手段を設け、測定対象部分に向って押込まれるプラ
ンジャ−（３）の旋回方向を、その押込みストロ−クの
途上で反転させ、これによって絶縁層の突き破りを容易
にする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、電気部品の導通テスト
用プロ−ブに関するものであり、詳細には、半導体装置
等を実装したプリント基板の電気的特性を測定するため
の導通テスト用プロ−ブにおいて、プリント基板の表面
に付着しているぺ−スト、フラックス、あるいは酸化被
膜を突破り、導通状態の測定を確実にするための接触型
測子の改良に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】半導体装置、あるいは、ＩＣ、抵抗、コ
ンデンサ等を実装した電子機器用プリント基板の電気的
特性を測定する手段として、導通テスト用プロ−ブが使
用されている。

【０００３】導通テスト用プロ−ブは、測定対象部品の
種類と形状ならびに寸法に応じて種々の形式のものが市
販されている。図４乃至図６は、導通テスト用プロ−ブ
の従来例を示す拡大縦断面図であって、導通テスト用プ
ロ−ブ（１）は、洋白あるいは表面にＡｕメッキを施こ
されたリン青銅等の導電性金属材料から製作されたバレ
ル（２）内に、先端部分に導通検出用の接触型測子（3
A）を形成したプランジャ−（３）と、このプランジャ
−（３）を上記バレル（２）の軸線方向に押圧付勢する
スプリング（４）を内蔵している。プランジャ−（３）
は、炭素鋼あるいはＢｅＣｕ合金等からなる軸状部材の
表面にＲｈあるいはＡｕメッキを施こすことによって、
図７に例示するように、その先端部分を導電性の測子に
形成しており、これに対応してプランジャ−（３）の押
圧付勢部材として使用されるバネ鋼製スプリング（４）
の表面にもＡｕメッキ等が施こされている。

【０００４】スプリング（４）による押圧付勢下に、プ
ランジャ−（３）の先端部分に形成されている測子（3
A）を、半導体装置や半導体装置を実装した電子機器用
プリント基板（何れも図示省略）の測定対象部位、例え
ば電極パタ−ン等に押し付けることによって、上記測定
対象部位と導通テスト用プロ−ブ（１）との間が導通状
態となり、これによって上記半導体装置やこれを実装し
た電子機器の電気的特性が測定される。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】スプリング（４）によ
る押圧付勢下に測子（3A）を半導体装置の外部リ−ドや
電子機器のプリント基板の電極パタ−ン等に押し付ける
ことによって測定対象部品の電気的特性が測定される
が、このとき、測子（3A）の押し付け圧力が不足する
と、半導体装置の外部リ−ドや電子機器の電極パタ−ン
の表面に付着している半田付け用ぺ−スト、フラックス
あるいは酸化被膜等からなる絶縁層を突き破ることがで
きなくなる。この結果、測子（3A）の先端部分が半導体
装置や電子機器の測定対象部位に届かなくなり、接触不
良状態に於ける電気的特性の測定は不可能となる。

【０００６】このような接触不良に起因する事故を防止
するには、図４に示す導通テスト用プロ−グ（１）で、
プランジャ−（３）に押圧力を伝達するスプリング
（４）の押圧荷重（バネ定数）を大きくする方法が検討
されている。しかしながら、スプリング（４）の押圧荷
重を増大させると、上記絶縁層の突き破り力は大きくな
るものの、測定対象部位に付加される荷重が増大し、電
極パタ−ンの損傷やプランジャ−（３）の変形等の不都
合が発生し易く、導通テスト用プロ−ブ（１）の耐用期
間も短くなる。

【０００７】一方、上記スプリング（４）の押圧荷重を
比較的低減させた状態で上記絶縁層の突き破りを容易化
する手段として、図５に例示するように螺旋状軸部
（５）を有する一方向回転型のプランジャ−（３’）
と、上記螺旋状軸部（５）を含むプランジャ−（３’）
全体を導通状態の測定時に一方向に回転させるための夾
搾されたガイド溝（６）を有するバレル（２）からなる
導通テスト用プロ−ブ（１）が提案されている。図６は
図５に示す導通テスト用プロ−グ（１）の変形例を示す
もので、上記螺旋状軸部（５）の代替手段として、バレ
ル（２）の器壁面にプランジャ−（３’）の軸線方向に
対して一定の傾斜角を持つガイド溝（５’）を形成する
と共に、上記ガイド溝（６）に替えて、バレル（２）内
にスライド可能に嵌挿されたプランジャ−（３’）の側
胴面に、上記ガイド溝（５’）内へ嵌まり込む突起
（６’）を付設している。

【０００８】図５あるいは図６に示す一方向旋回型のプ
ランジャ−（３’）を使用することによって、図４に示
す導通テスト用プロ−ブ（１）で問題とされていた過大
な押圧力の付加による測定対象部位の破損やプロ−ブ
（１）の変形等の問題が或る程度迄回避される。しかし
ながら、図５および図６に示す一方向のみに旋回するプ
ランジャ−（３’）を使用した場合プランジャ−
（３’）の回転と共にミクロンオ−ダ−の切粉が発生
し、接触型測子（3A）と、これによって突き破られる絶
縁層との間に切粉が詰まり、摺動抵抗が増大する。この
結果、時間の経過と共にプランジャ−（３’）による絶
縁層の破砕力が低下し、測子（3A）と測定対象部位との
接触が阻害され、導通テストの継続が困難になる。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記課題の解決手段とし
て、本発明は、導電性のバレル内に、導電性で上記バレ
ルの一方の側端面から突出した先端部分に導通検出用の
測子を形成したプランジャ−と、このプランジャ−を上
記バレルの軸線方向に押圧付勢する導電性のスプリング
を内蔵してなる導通テスト用プロ−ブにおいて、

【００１０】偏平な横断面図形状を有し、長手方向沿う
所定の区間長毎に捩り方向を逆転させた螺旋状プランジ
ャ−と、この螺旋状プランジャ−のガイド手段として機
能する夾搾部を具えたバレルとの係合構体、あるいは、
プランジャ−の側周壁面とバレルの器壁面に設けられた
ピン状突起と、長手方向に沿う所定周期毎に傾斜方向が
逆転するガイド溝との係合構体で、プランジャ−の旋回
方向の反転手段を形成する。

【００１１】

【作用】上記所定周期毎に捻捩り方向が逆転する螺旋状
プランジャ−と、夾搾部を具えたバレルとの組合せ、あ
るいはプランジャ−の側周壁面とこれを滑動可能に支持
するバレルの器壁面に設けられたピン状突起と、所定周
期毎に傾斜方向が逆転するガイド溝との組合せを利用し
て、被測定部位、例えば電子機器の電極パタ−ンに向っ
て押込まれるプランジャ−の旋回方向をその押込みスト
ロ−クの途上で逆転させ、錐もみ状の突き破り力を発生
させることによって、被測定部位の表面に形成されてい
る絶縁層、例えば半田付け用ぺ−ストやフラックスを突
き破り、被側定部位にプランジャ−の先端部分に形成さ
れている測子を所定の押付け圧力で密着させ、両者の間
に導通状態を創り出す。

【００１２】

【実施例】以下、添付の図１乃至図３を参照して、本発
明の具体例を説明する。尚、以下の記述において、従来
技術を示す図４乃至図７と同一の構成部材は原則として
同一の参照番号で表示し、重複事項に関しては説明を省
略する。図１（Ａ）は本発明の第１の具体例を示す導通
テスト用プロ−ブ（10）の縦断面図である。導通テスト
用プロ−グ（10）は、導電性のバレル（２）と、導電性
で上記バレル（２）の一方の測端面（11）から突出した
先端部分に測子（3A）を形成したプランジャ−（３）
と、このプランジャ−（３）をバレル（２）の軸線方向
に押圧付勢する導電性のスプリング（４）から構成され
ている。そして、バレル（２）内に滑動可能に嵌挿支持
されているプランジャー（３）の基端側には、図１
（Ｂ）および（Ｃ）（Ｄ）に拡大図示するように、偏平
な横断面形状を有し、長手方向に沿う所定の区間長毎に
捩り方向を逆転させた螺旋状体（12）が形成されてい
る。この螺旋状体（12）に対応してバレル（２）の中間
胴部には、上記螺旋状プランジャ−（12）の旋回方向の
反転手段として、夾搾部からなるガイド（13）が設けら
れている。

【００１３】図２は、図１に示す導通テスト用プロ−ブ
（10）の変形例を示す斜視図であって、この具体例にお
いては、螺旋状体（12）が測子（3A）に隣接するように
設けられており、これに対応して図１でバレル（２）の
中間胴部に設けられていたガイド（13）が、バレル
（２）のプランジャ−（３）突出側の端面部分（2A）に
設けられている。スプリング（４）による圧縮荷重の作
用下にプランジャ−（３）に押込みストロ−クを与える
と、螺旋状体（12）がガイド（13）と係合する。この結
果、プランジャ−（３）は、押込みの途上で所定の区間
長毎に旋回方向を逆転させ、これによって測子（3A）に
は錐もみ状の突き破り力が発生する。プランジャ−
（３）の旋回方向を所定の時間的周期で反転させること
によって、被測定部位に発生した破砕微細粒が反堰止め
方向即ち、反旋回方向に移動し、測子（3A）による絶縁
層の突き破り力が略一定の水準に維持される。この結
果、測子（3A）が被測定部位に確実に当接するようにな
る。

【００１４】図３（Ａ）は本発明の第３の具体例を示す
導通テスト用プロ−ブ（10）の部分縦断面図である。導
通テスト用プロ−ブ（10）が、バレル（２）、プランジ
ャ−（３）および押圧付勢用のスプリング（４）により
構成されている点は図１および図２に示す具体例と同一
であるが、この具体例においては、プランジャ−（３）
の旋回方向を押込みストロ−クの途上で所定の区間長毎
に逆転させる手段が、プランジャ−（３）の側周壁面に
設けられたピン状突起（14）と、バレル（２）の器壁面
に設けられたくの字状のガイド溝（15）で形成されてい
る。ガイド溝（15）は、図３（Ａ）に示すようにバレル
（２）の長手方向に沿う所定の区間長毎に傾斜方向、即
ち、螺旋状溝の巻付方向が反転するように穿設形状が選
定されている。 図３（Ｃ）は、本発明の第４の具体例
を示す導通テスト用プロ−ブ（10）の縦断面図である。
この具体例においては、図３（Ａ）に示すものと反対に
ピン状突起（14A）がバレル（２）の内周壁面に設けら
れており、これに対応してプランジャ−（３）の側周壁
面に、長手方向に沿う所定の区間長毎に傾斜方向が反転
するガイド溝（15A）が設けられている。

【００１５】スプリング（４）による圧縮荷重の作用下
にプランジャ−（３）に押込みストロ−クを与えると、
第３の具体例ではピン状突起（14）とガイド溝（15）が
係合し、これによって測子（3A）に錐もみ状の突き破り
力が発生する。これと同様に第４の具体例ではプランジ
ャ−（３）の押込みと共にピン状突起（14A）とガイド
溝（15A）が係合し、これによって測子（3A）の旋回方
向が所定の時間的周期で反転する。押込み途上でプラン
ジャ−（３）の旋回方向を所定の時間的周期で反転させ
ることによって、被測定部位に発生したミクロンオ−ダ
−の破砕微細粒が反堰止め方向即ち、反旋回方向に移動
し、測子（3A）による絶縁層の突き破り力が略一定の水
準に維持される。この結果、測子（3A）が被測定部位に
確実に当接するようになる。

【００１６】

【発明の効果】 【図面の簡単な説明】

【図１】（Ａ）は、本発明に係る導電テスト用プロ−ブ
の第１の具体例を示す縦断面図、 （Ｂ）は、（Ａ）の
線Ｉ−Ｉに沿う横断面図、（Ｃ）は、螺旋状プランジャ
−の上面図、（Ｄ）は、螺旋状プランジャ−の正面図。

【図２】本発明に係る導通テスト用プロ−ブの第２の具
体例を示す斜視図。

【図３】（Ａ）は、本発明に係る導通テスト用プロ−ブ
の第３の具体例を示す部分縦断面図、（Ｂ）は、（Ａ）
の線III−IIIに沿う横断面図、（Ｃ）は、本発明に係る
導通テスト用プロ−ブの第４の具体例を示す縦断面図
（Ｄ）は、（Ｃ）の線III−IIIに沿う横断面図、

【図４】導通テスト用プロ−ブの第１の従来例を示す縦
断面図。

【図５】導通テスト用プロ−ブの第２の従来例を示す縦
断面図。

【図６】導通テスト用プロ−ブの第３の従来例を示す部
分縦断面図。

【図７】プランジャ−の先端、測子部分の形状を例示す
る正面図。

【符号の説明】

２ バレル ３ プランジャ− 3A 測子 ４ スプリング 10 導通テスト用プロ−ブ 11 バレルの一方の側端面図 12 螺旋状体 13 夾搾部からなるガイド 14 ピン状突起 14A ピン状突起 15 ガイド溝 15A ガイド溝

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 導電性のバレル内に、導電性で上記バレ
   ルの一方の側端面から突出した先端部分に導通検出用の
   測子を形成したプランジャ−と、このプランジャ−を上
   記バレルの軸線方向に押圧付勢する導電性のスプリング
   を内蔵した導通テスト用プロ−ブにおいて、 上記プランジャ−を偏平な横断面形状を有し、長手方向
   に沿う所定の区間長毎に捩り方向を逆転させた螺旋状体
   で、上記バレルの中間胴部に、上記螺旋状プランジャ−
   の旋回方向反転手段として夾搾部からなるガイドを設け
   たことを特徴とする導通テスト用プロ−ブ。
2. 【請求項２】 導電性のバレル内に、導電性で、上記バ
   レルの一方の側端面から突出した先端部分に導通検出用
   の測子を形成したプランジャ−と、このプランジャ−を
   上記バレルの軸線方向に押圧付勢する導電性のスプリン
   グを内蔵してなる導通テスト用プロ−ブにおいて、 上記プランジャ−を偏平な横断面形状を有し、長手方向
   に沿う所定の区間長毎に捩り方向を逆転させた螺旋状
   で、上記バレルのプランジャ−突出側の端面部分に、上
   記螺施状プランジャ−の旋回方向反転手段として夾搾部
   からなるガイドを設けたことを特徴とする導通テスト用
   プロ−ブ。
3. 【請求項３】 導電性のバレル内に、導電性で上記バレ
   ルの一方の側端面から突出した先端部分に導通検出用の
   測子を形成したプランジャ−と、このプランジャ−を上
   記バレルの軸線方向に押圧付勢する導電性のスプリング
   を内蔵してなる導通テスト用プロ−ブにおいて、 上記バレル内に滑動自在に支持されている上記プランジ
   ャ−の側周壁面に、ピン状突起を設け、これに対応して
   上記プランジャ−の側周壁面と対向するバレルの器壁面
   にその長手方向に沿う所定の区間長毎に傾斜方向が逆転
   するガイド溝を形成し、このガイド溝と上記ピン状突起
   との係合構体によって上記プランジャ−の旋回方向の反
   転手段を形成したことを特徴とする導通テスト用プロ−
   ブ。
4. 【請求項４】 導電性のバレル内に、導電性で、上記バ
   レルの一方の側端面から突出した先端部分に導通検出用
   の測子を形成したプランジャ−と、このプランジャ−を
   上記バレルの軸線方向に押圧付勢する導電性スプリング
   を内蔵してなる導通テスト用プロ−ブにおいて、 上記バレル内に滑動自在に支持されている上記プランジ
   ャ−の側周壁面に、その長手方向に沿う所定の区間長毎
   に傾斜方向が逆転するガイド溝を形成し、これに対応し
   て上記プランジャ−の側周壁面と対向するバレルの内側
   壁面にピン状突起と上記ガイド溝との係合構体によって
   上記プランジャ−の旋回方向の反転手段を形成したこと
   を特徴とする導通テスト用プロ−ブ。