JPH06342013A - 測定用プローブ - Google Patents
測定用プローブInfo
- Publication number
- JPH06342013A JPH06342013A JP13155293A JP13155293A JPH06342013A JP H06342013 A JPH06342013 A JP H06342013A JP 13155293 A JP13155293 A JP 13155293A JP 13155293 A JP13155293 A JP 13155293A JP H06342013 A JPH06342013 A JP H06342013A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sleeve
- lead
- probe
- taper
- measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 18
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title abstract description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 4
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 2
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】ＩＣ外部リードの位置ズレ，リード変形を防
ぐ。 【構成】リード案内（テーパ）部５を有し、外周に基板
固定部４を持つスリーブ１と、常にスリーブ１内に可動
範囲を有する測定子２とを持つ。 【効果】強度の小さいＩＣリードを有するパッケージの
測定に、その品質と作業性，コスト面に効果を有する。
ぐ。 【構成】リード案内（テーパ）部５を有し、外周に基板
固定部４を持つスリーブ１と、常にスリーブ１内に可動
範囲を有する測定子２とを持つ。 【効果】強度の小さいＩＣリードを有するパッケージの
測定に、その品質と作業性，コスト面に効果を有する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は測定用プローブに関し、
特に被測定物の変形防止の構造に関する。
特に被測定物の変形防止の構造に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の測定用プローブの上面図，断面図
を各々示す図２の（Ａ），（Ｂ）を参照すると、スリー
ブ１に特に測定子２の案内部分はなく、通常この測定子
２はスリーブ１から、バネ３の圧力で、外に露出してい
る。又、スリーブ１の外周にもなんら突起部を有してい
ない。
を各々示す図２の（Ａ），（Ｂ）を参照すると、スリー
ブ１に特に測定子２の案内部分はなく、通常この測定子
２はスリーブ１から、バネ３の圧力で、外に露出してい
る。又、スリーブ１の外周にもなんら突起部を有してい
ない。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】この従来の測定用プロ
ーブでは、最近の半導体集積回路（ＩＣ）の多ピン化
や、ピン径小化、リード材軟化等の新パッケージでは、
プローブ圧力がリード強度よりも強くなり、測定中にリ
ード曲がりを起こしたり、これを防止するため治具を製
作し、キャリヤと呼ばれるリードガイドを装着し、測定
を行なうという、品質面や作業面、コスト面等でのデメ
リットがあった。
ーブでは、最近の半導体集積回路（ＩＣ）の多ピン化
や、ピン径小化、リード材軟化等の新パッケージでは、
プローブ圧力がリード強度よりも強くなり、測定中にリ
ード曲がりを起こしたり、これを防止するため治具を製
作し、キャリヤと呼ばれるリードガイドを装着し、測定
を行なうという、品質面や作業面、コスト面等でのデメ
リットがあった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明の測定用プローブ
の構成は、リードの案内部分にテーパを持つスリーブを
有し、このスリーブ内を全移動範囲とする測定子を持
ち、このスリーブ本体の外周に突起部を有することを特
徴とする。
の構成は、リードの案内部分にテーパを持つスリーブを
有し、このスリーブ内を全移動範囲とする測定子を持
ち、このスリーブ本体の外周に突起部を有することを特
徴とする。
【０００５】
【実施例】本発明の一実施例の測定用プローブの上面図
及び断面図を各々示す図１の（Ａ），（Ｂ）を参照する
と、この実施例は、スリーブ１の外周に本体固定と傾き
防止との為の円板状の基板固定部４を有し、リード挿入
口であるスリーブ先端にはリード案内部５を、リードを
受け易いように、テーパとして設ける。
及び断面図を各々示す図１の（Ａ），（Ｂ）を参照する
と、この実施例は、スリーブ１の外周に本体固定と傾き
防止との為の円板状の基板固定部４を有し、リード挿入
口であるスリーブ先端にはリード案内部５を、リードを
受け易いように、テーパとして設ける。
【０００６】又、測定子では、通常バネ３により押し上
げられた状態で、スリーブ１内にておさまり、可動部も
その範囲とする。
げられた状態で、スリーブ１内にておさまり、可動部も
その範囲とする。
【０００７】この動作については、図示していないＩＣ
外部リードが、リード案内部５によってスリーブ１内に
挿入されると、これが測定子２に接触し、目的の測定が
開始される。
外部リードが、リード案内部５によってスリーブ１内に
挿入されると、これが測定子２に接触し、目的の測定が
開始される。
【０００８】基板固定部を含むスリーブ１は絶縁体から
なる。バネ３の他端には電気的接続を取るためのコード
があるが、図示しない。
なる。バネ３の他端には電気的接続を取るためのコード
があるが、図示しない。
【０００９】
【発明の効果】以上説明した通り、本発明は、特にスリ
ーブに案内（テーパ）を設け、測定子がスリーブ内にあ
る為、ＩＣリードの測定を行なう際、スリーブによりリ
ードを案内し、確実に位置出しを行なうことができ、ス
リーブの内壁により、安定にガイドされつつ、挿入・測
定を行なうことができる。
ーブに案内（テーパ）を設け、測定子がスリーブ内にあ
る為、ＩＣリードの測定を行なう際、スリーブによりリ
ードを案内し、確実に位置出しを行なうことができ、ス
リーブの内壁により、安定にガイドされつつ、挿入・測
定を行なうことができる。
【００１０】この時、本発明は、測定用プローブのバネ
圧に対して、挿入されたＩＣリードがスリーブによりサ
ポートされている為、強度の小さいＩＣリードでも変形
や外観を損なうことなく、容易に測定が行なえる。
圧に対して、挿入されたＩＣリードがスリーブによりサ
ポートされている為、強度の小さいＩＣリードでも変形
や外観を損なうことなく、容易に測定が行なえる。
【図１】（Ａ），（Ｂ）は本発明の一実施例の各々上面
図，断面図である。
図，断面図である。
【図２】（Ａ），（Ｂ）は従来の測定用プローブの上面
図，断面図である。
図，断面図である。
１ スリーブ ２ 測定子 ３ バネ ４ 基板固定部 ５ リード案内部
Claims (1)
- 【請求項１】 リードの案内部分にテーパを持つスリー
ブを有し、このスリーブ内を全移動範囲とする測定子を
持ち、このスリーブ本体の外周に突起部を有することを
特徴とする測定用プローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13155293A JPH06342013A (ja) | 1993-06-02 | 1993-06-02 | 測定用プローブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13155293A JPH06342013A (ja) | 1993-06-02 | 1993-06-02 | 測定用プローブ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06342013A true JPH06342013A (ja) | 1994-12-13 |
Family
ID=15060748
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13155293A Pending JPH06342013A (ja) | 1993-06-02 | 1993-06-02 | 測定用プローブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06342013A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115308456A (zh) * | 2022-09-29 | 2022-11-08 | 深圳市道格特科技有限公司 | 一种垂直探针及探针卡 |
-
1993
- 1993-06-02 JP JP13155293A patent/JPH06342013A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115308456A (zh) * | 2022-09-29 | 2022-11-08 | 深圳市道格特科技有限公司 | 一种垂直探针及探针卡 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20000229 |