JPH06342048A - 光磁界センサ - Google Patents
光磁界センサInfo
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- JPH06342048A JPH06342048A JP5130817A JP13081793A JPH06342048A JP H06342048 A JPH06342048 A JP H06342048A JP 5130817 A JP5130817 A JP 5130817A JP 13081793 A JP13081793 A JP 13081793A JP H06342048 A JPH06342048 A JP H06342048A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 磁界に対して高い直線性を有する、ファラデ
ー効果を利用した光磁界センサの提供。 【構成】 少なくとも、光の進行方向に沿って、偏光子
3と、フェリ磁性ガーネット結晶である磁気光学素子4
と、前記偏光子に対して透過偏光方向を互いに異ならし
めた検光子5を用いた光磁界センサにおいて、出射側光
ファイバ8で高次の回折光まで受光することを可能とし
た光学系を構成したものであり、前記磁気光学素子の一
端に、前記検光子をはさんで設けられた第2の光伝送路
8の伝送路径が、前記磁気光学素子の一端であって前記
第2の光伝送路に対向する面に、前記偏光子をはさんで
設けられた第1の光伝送路1の伝送路径よりも大なるこ
とを特徴とする光磁界センサである。この光磁界センサ
は、5.0 Oeから200 Oeの磁界範囲で直線性が±1.0%以
下であり、従来よりも高い磁界測定精度を実現する。
ー効果を利用した光磁界センサの提供。 【構成】 少なくとも、光の進行方向に沿って、偏光子
3と、フェリ磁性ガーネット結晶である磁気光学素子4
と、前記偏光子に対して透過偏光方向を互いに異ならし
めた検光子5を用いた光磁界センサにおいて、出射側光
ファイバ8で高次の回折光まで受光することを可能とし
た光学系を構成したものであり、前記磁気光学素子の一
端に、前記検光子をはさんで設けられた第2の光伝送路
8の伝送路径が、前記磁気光学素子の一端であって前記
第2の光伝送路に対向する面に、前記偏光子をはさんで
設けられた第1の光伝送路1の伝送路径よりも大なるこ
とを特徴とする光磁界センサである。この光磁界センサ
は、5.0 Oeから200 Oeの磁界範囲で直線性が±1.0%以
下であり、従来よりも高い磁界測定精度を実現する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ファラデー効果を有す
る磁気光学素子を用いて磁界を検出し、その磁界強度を
測定する光磁界センサに関するものである。
る磁気光学素子を用いて磁界を検出し、その磁界強度を
測定する光磁界センサに関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、特に電力分野において、電線の周
りに発生する磁界強度を光を用いて測定する方法とし
て、ファラデー効果を有する磁気光学素子と光ファイバ
を組み合わせた電流測定装置が提案され、実用化されつ
つある。電流が流れている導体の周りの磁界強度を測定
して電流を検知する方法は、光を媒体とするために絶縁
性が良好であり、電磁誘導ノイズを受けないなどの特徴
を持ち、送配電設備への適用が考えられている。
りに発生する磁界強度を光を用いて測定する方法とし
て、ファラデー効果を有する磁気光学素子と光ファイバ
を組み合わせた電流測定装置が提案され、実用化されつ
つある。電流が流れている導体の周りの磁界強度を測定
して電流を検知する方法は、光を媒体とするために絶縁
性が良好であり、電磁誘導ノイズを受けないなどの特徴
を持ち、送配電設備への適用が考えられている。
【0003】図12にファラデー効果を用いた磁界の測
定方法の原理図を示す。図12において、磁界H中に磁
気光学素子4が配置されている。この磁気光学素子4に
偏光子3で直線偏光とされた光を通過させる。ファラデ
ー効果により偏光面は磁界強度Hに比例して回転を受け
る。図12はファラデー回転が負符号を示す場合を示し
ている。回転を受けた直線偏光は、偏光子3と透過偏光
方向を45度に異ならしめた検光子5を通過し、回転角
θの大きさが光量変化に変換される。この磁気測定方法
を実現するために、一般に図11のように構成される光
磁界センサが使用される(National Technical Report
Vol.38 No.2 P.127 (1992) 参照)。
定方法の原理図を示す。図12において、磁界H中に磁
気光学素子4が配置されている。この磁気光学素子4に
偏光子3で直線偏光とされた光を通過させる。ファラデ
ー効果により偏光面は磁界強度Hに比例して回転を受け
る。図12はファラデー回転が負符号を示す場合を示し
ている。回転を受けた直線偏光は、偏光子3と透過偏光
方向を45度に異ならしめた検光子5を通過し、回転角
θの大きさが光量変化に変換される。この磁気測定方法
を実現するために、一般に図11のように構成される光
磁界センサが使用される(National Technical Report
Vol.38 No.2 P.127 (1992) 参照)。
【0004】図11のように構成された光磁界センサで
は、光ファイバ9にコア径80μmのマルチモードファイ
バを使用し、レンズ2、7には0.25ピッチの自己集束型
ロッドレンズを用いている。また、偏光子3、検光子5
としては、偏光ビームスプリッタを使用し、光路を90
度曲げるために全反射ミラー6を用いている。偏光ビー
ムスプリッタと全反射ミラーは、一辺5mmの立方体であ
る。また、磁気光学素子4に使用するフェリ磁性ガーネ
ット結晶の膜厚は50μmである。
は、光ファイバ9にコア径80μmのマルチモードファイ
バを使用し、レンズ2、7には0.25ピッチの自己集束型
ロッドレンズを用いている。また、偏光子3、検光子5
としては、偏光ビームスプリッタを使用し、光路を90
度曲げるために全反射ミラー6を用いている。偏光ビー
ムスプリッタと全反射ミラーは、一辺5mmの立方体であ
る。また、磁気光学素子4に使用するフェリ磁性ガーネ
ット結晶の膜厚は50μmである。
【0005】しかしながら、光磁界センサに用いられる
磁気光学素子にフェリ磁性体である希土類鉄ガーネット
結晶を使用した場合、希土類鉄ガーネット結晶に特有の
多磁区構造によって、結晶を透過した光は回折される。
フェリ磁性ガーネット結晶の磁区構造がメイズ磁区の場
合は、回折光は図9ように観測され、中心から0次光3
2、1次光33、2次光34、・・・と定義される。図
11に示すように構成された光磁界センサでは、出射側
レンズ7での回折光の観測条件がほぼ0次光観測である
ために、その出力は(数1)で示される(日本応用磁気
学会誌 Vol.14,No.4 P.642 (1990) 参照)。
磁気光学素子にフェリ磁性体である希土類鉄ガーネット
結晶を使用した場合、希土類鉄ガーネット結晶に特有の
多磁区構造によって、結晶を透過した光は回折される。
フェリ磁性ガーネット結晶の磁区構造がメイズ磁区の場
合は、回折光は図9ように観測され、中心から0次光3
2、1次光33、2次光34、・・・と定義される。図
11に示すように構成された光磁界センサでは、出射側
レンズ7での回折光の観測条件がほぼ0次光観測である
ために、その出力は(数1)で示される(日本応用磁気
学会誌 Vol.14,No.4 P.642 (1990) 参照)。
【0006】
【数1】
【0007】ここで、θFは材料が磁気的に飽和したと
きのファラデー回転角であり、θF=F・Lと表され
る。また、Fは材料固有のファラデー回転係数で、Lは
光路長(素子長)である。Mは、磁界が印加されたとき
の材料の磁化であり、MSは、材料が磁気的に飽和した
ときの磁化(飽和磁化)である。
きのファラデー回転角であり、θF=F・Lと表され
る。また、Fは材料固有のファラデー回転係数で、Lは
光路長(素子長)である。Mは、磁界が印加されたとき
の材料の磁化であり、MSは、材料が磁気的に飽和した
ときの磁化(飽和磁化)である。
【0008】上述の様な光磁界センサに用いられている
磁気光学素子として、 一般式(化1)で示され、Xの
値がX=1.3、かつYの値がY=0.1、かつZの値がZ=0.1 、か
つWの値がW=0.6 である希土類鉄ガーネット結晶が開示
されている(電子情報通信学会技術研究報告 OQE92-105
(1992) 参照)。この従来の技術においては、YをBi
やGdで置換することにより温度特性の良い磁気光学素
子を実現している。この従来例で用いられている結晶の
化学式を(化1)に示す。
磁気光学素子として、 一般式(化1)で示され、Xの
値がX=1.3、かつYの値がY=0.1、かつZの値がZ=0.1 、か
つWの値がW=0.6 である希土類鉄ガーネット結晶が開示
されている(電子情報通信学会技術研究報告 OQE92-105
(1992) 参照)。この従来の技術においては、YをBi
やGdで置換することにより温度特性の良い磁気光学素
子を実現している。この従来例で用いられている結晶の
化学式を(化1)に示す。
【0009】
【化1】 BiXGdYLaZY3-(X+Y+Z)Fe5-WGaWO12
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この磁
気光学素子を用いて光磁界センサを構成した場合には、
図10に示すように、5.0 Oe〜190 Oeの範囲で±2.0%以
下の磁界測定の直線性誤差が示されており、光磁界セン
サの直線性に問題がある。
気光学素子を用いて光磁界センサを構成した場合には、
図10に示すように、5.0 Oe〜190 Oeの範囲で±2.0%以
下の磁界測定の直線性誤差が示されており、光磁界セン
サの直線性に問題がある。
【0011】このように、光磁界センサに用いられる磁
気光学素子に希土類鉄ガーネット結晶を使用した場合、
フェリ磁性体であるガーネット結晶に光を透過すると、
ガーネット結晶の多磁区構造によって、光の回折が生
じ、出射側の光学系に結晶を透過した回折光が完全に集
光しないために、磁界強度に対する直線性が悪くなると
いう課題があった。
気光学素子に希土類鉄ガーネット結晶を使用した場合、
フェリ磁性体であるガーネット結晶に光を透過すると、
ガーネット結晶の多磁区構造によって、光の回折が生
じ、出射側の光学系に結晶を透過した回折光が完全に集
光しないために、磁界強度に対する直線性が悪くなると
いう課題があった。
【0012】本発明はかかる従来技術の課題を鑑みてな
されたものであり、磁界に対する直線性の高い光磁界セ
ンサを提供することを目的としている。
されたものであり、磁界に対する直線性の高い光磁界セ
ンサを提供することを目的としている。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明は、出射側光ファ
イバで従来より高次の回折光まで受光するために光学系
を構成したものであり、少なくとも光の進行方向に沿っ
て、偏光子と、磁気光学素子と、前記偏光子に対して透
過偏光方向を互いに異ならしめた検光子を配置して被測
定磁界を出力光強度として検知する光磁界センサにおい
て、磁気光学素子の一端に、検光子をはさんで設けられ
た第2の光ファイバのコア径が、前記磁気光学素子の一
端であって第2の光ファイバに対向する面に、偏光子を
はさんで設けられた第1の光ファイバのコア径よりも大
なる光磁界センサである。
イバで従来より高次の回折光まで受光するために光学系
を構成したものであり、少なくとも光の進行方向に沿っ
て、偏光子と、磁気光学素子と、前記偏光子に対して透
過偏光方向を互いに異ならしめた検光子を配置して被測
定磁界を出力光強度として検知する光磁界センサにおい
て、磁気光学素子の一端に、検光子をはさんで設けられ
た第2の光ファイバのコア径が、前記磁気光学素子の一
端であって第2の光ファイバに対向する面に、偏光子を
はさんで設けられた第1の光ファイバのコア径よりも大
なる光磁界センサである。
【0014】
【作用】(数1)を展開すると、(数2)のように表さ
れる。
れる。
【0015】
【数2】
【0016】ここで、M=χHであり、χは磁化率であ
る。さらに、(数2)に印加磁界が交流磁界であること
を考慮し、H=H0sinωtを代入し変形すると、出力の
交流成分V0acは、(数3)のように表される。
る。さらに、(数2)に印加磁界が交流磁界であること
を考慮し、H=H0sinωtを代入し変形すると、出力の
交流成分V0acは、(数3)のように表される。
【0017】
【数3】
【0018】(数3)より、出力を表す式にsin2ωtの
項が含まれ、その係数には磁界強度の2乗項H0 2がかか
ることがわかる。したがって、交流磁界に対しては、si
nωtの基本波に対する第2高調波の存在が磁界に対する
直線性の歪みの原因になっている。よって、印加磁界の
強度H0が大きくなるほど第2高調波の振幅がH0の2乗
に比例して大きくなり、出力の線形性が悪化することに
なる。
項が含まれ、その係数には磁界強度の2乗項H0 2がかか
ることがわかる。したがって、交流磁界に対しては、si
nωtの基本波に対する第2高調波の存在が磁界に対する
直線性の歪みの原因になっている。よって、印加磁界の
強度H0が大きくなるほど第2高調波の振幅がH0の2乗
に比例して大きくなり、出力の線形性が悪化することに
なる。
【0019】一方、高次の回折光まですべて受光するよ
うに実像観測を行った場合は、センサからの出力は次式
のように表される。
うに実像観測を行った場合は、センサからの出力は次式
のように表される。
【0020】
【数4】
【0021】(数4)からわかる様に実像観測を行った
場合は、出力の実効値が印加磁界に単純に比例すると考
えられ、第2高調波の存在による出力の非線形性は生じ
ないと考えられる。
場合は、出力の実効値が印加磁界に単純に比例すると考
えられ、第2高調波の存在による出力の非線形性は生じ
ないと考えられる。
【0022】本発明は、このような観点からフェリ磁性
体である希土類鉄ガーネット結晶で回折した光を高次光
まで受光するように光磁界センサの光学系を構成してい
るので、磁界に対する直線性が改良される。
体である希土類鉄ガーネット結晶で回折した光を高次光
まで受光するように光磁界センサの光学系を構成してい
るので、磁界に対する直線性が改良される。
【0023】
【実施例】以下本発明の実施例について図面を参照しな
がら説明する。
がら説明する。
【0024】(実施例1)図1は、本発明の第1の実施
例を示した図である。図1において、入射側光ファイバ
1は光ファイバのコア径が50μmのマルチモードファイ
バを使用し、出射側光ファイバ8は光ファイバのコア径
が200μmのマルチモードファイバを使用している。入
射側レンズ2と出射側レンズ7は、0.25ピッチの自己集
束型ロッドレンズである。偏光子3と検光子5は、磁気
光学素子4である希土類鉄ガーネット結晶の対向する両
面に、互いの透過偏光方向を45度傾けて配置されてい
る。また、光路を90度曲げるために全反射ミラー6を
配置している。
例を示した図である。図1において、入射側光ファイバ
1は光ファイバのコア径が50μmのマルチモードファイ
バを使用し、出射側光ファイバ8は光ファイバのコア径
が200μmのマルチモードファイバを使用している。入
射側レンズ2と出射側レンズ7は、0.25ピッチの自己集
束型ロッドレンズである。偏光子3と検光子5は、磁気
光学素子4である希土類鉄ガーネット結晶の対向する両
面に、互いの透過偏光方向を45度傾けて配置されてい
る。また、光路を90度曲げるために全反射ミラー6を
配置している。
【0025】光源から入射された光は、光ファイバ1を
通過して、レンズ2で平行光とされ、偏光子3で直線偏
光となり、反射光が磁気光学素子4に入射される。この
とき、磁気光学素子4に入射される光のビーム径は800
μmである。磁気光学素子4に入射した光は、図9に示
すように多磁区構造を有する磁気光学素子4で回折を受
け、発散しながら進行し、検光子5で偏光子3に対して
45度成分のみを検光され、全反射ミラー6で進行方向
を90度曲げられる。進行方向を90度曲げられた光
は、レンズ7に入射され、出射側光ファイバ8に集光す
る。希土類鉄ガーネット結晶には、(BiGdLaY)3(FeGa)5O
12結晶を用いたので、波長880nmに対しては回折光1次
あたりの回折角θは2.6度である。
通過して、レンズ2で平行光とされ、偏光子3で直線偏
光となり、反射光が磁気光学素子4に入射される。この
とき、磁気光学素子4に入射される光のビーム径は800
μmである。磁気光学素子4に入射した光は、図9に示
すように多磁区構造を有する磁気光学素子4で回折を受
け、発散しながら進行し、検光子5で偏光子3に対して
45度成分のみを検光され、全反射ミラー6で進行方向
を90度曲げられる。進行方向を90度曲げられた光
は、レンズ7に入射され、出射側光ファイバ8に集光す
る。希土類鉄ガーネット結晶には、(BiGdLaY)3(FeGa)5O
12結晶を用いたので、波長880nmに対しては回折光1次
あたりの回折角θは2.6度である。
【0026】本実施例のように、入射側光ファイバ1の
コア径50μmよりも大きい、コア径200μmのマルチモ
ードファイバを出射側光ファイバ8に使用した場合は、
出射側光学系の開口数が、入射側光学系の開口数より大
きくなる。したがって、従来例の図11に示すように光
ファイバ9に同一のコア径の光ファイバを用いて光磁界
センサを構成する場合には0次光のみを受光していた
が、本実施例では出射側レンズ7で受光できる回折光の
次数が大きくなり、第2次光までを受光することが可能
となった。
コア径50μmよりも大きい、コア径200μmのマルチモ
ードファイバを出射側光ファイバ8に使用した場合は、
出射側光学系の開口数が、入射側光学系の開口数より大
きくなる。したがって、従来例の図11に示すように光
ファイバ9に同一のコア径の光ファイバを用いて光磁界
センサを構成する場合には0次光のみを受光していた
が、本実施例では出射側レンズ7で受光できる回折光の
次数が大きくなり、第2次光までを受光することが可能
となった。
【0027】次に、上記の光磁界センサの磁界に対する
直線性誤差を評価するために構成した電流測定装置の例
を図7に示す。光磁界センサ24は、電線30に直接設
置するか、もしくは図7に示すように測定磁界を強くす
るために設けたコア29のギャップ中に配置される。2
6は、光伝送路を形成する光ファイバである。25は光
信号発生手段であり、波長0.8μm帯のLEDまたは1.3
μm帯、1.5μm帯のLDを用いる。ここで、光磁界セ
ンサに用いた自己集束性ロッドレンズは、平行光を得る
ように異なる波長に対しては最適の長さのものを使用し
た。27は光磁界センサ24を透過した後の光を検知し
電気信号に変換する検知手段であり、Ge−PD、Si
PIN−PD等を用いるが、本実施例では0.8μm帯の
LEDを用いたので、Si PIN−PDを用いた。2
8は信号処理用電気回路である。
直線性誤差を評価するために構成した電流測定装置の例
を図7に示す。光磁界センサ24は、電線30に直接設
置するか、もしくは図7に示すように測定磁界を強くす
るために設けたコア29のギャップ中に配置される。2
6は、光伝送路を形成する光ファイバである。25は光
信号発生手段であり、波長0.8μm帯のLEDまたは1.3
μm帯、1.5μm帯のLDを用いる。ここで、光磁界セ
ンサに用いた自己集束性ロッドレンズは、平行光を得る
ように異なる波長に対しては最適の長さのものを使用し
た。27は光磁界センサ24を透過した後の光を検知し
電気信号に変換する検知手段であり、Ge−PD、Si
PIN−PD等を用いるが、本実施例では0.8μm帯の
LEDを用いたので、Si PIN−PDを用いた。2
8は信号処理用電気回路である。
【0028】上述のように構成した電流測定装置に図1
に示す光磁界センサを用いて、5.0Oeから200 Oeの磁界
範囲で直線性誤差を測定した結果を図8に示している。
交流磁界の周波数は、60Hzである。また、図8からの読
み取りデータを(表1)にまとめている。
に示す光磁界センサを用いて、5.0Oeから200 Oeの磁界
範囲で直線性誤差を測定した結果を図8に示している。
交流磁界の周波数は、60Hzである。また、図8からの読
み取りデータを(表1)にまとめている。
【0029】
【表1】
【0030】従来例の測定データである図10と比較す
ると、直線性が改善されていることがわかる。したがっ
て、図1に示すように光磁界センサを構成することによ
り、回折光をより高次まで受光し、出力に含まれる第2
高調波の信号強度を減少することができ、光磁界センサ
の磁界に対する直線性を大きく改善することが可能とな
った。
ると、直線性が改善されていることがわかる。したがっ
て、図1に示すように光磁界センサを構成することによ
り、回折光をより高次まで受光し、出力に含まれる第2
高調波の信号強度を減少することができ、光磁界センサ
の磁界に対する直線性を大きく改善することが可能とな
った。
【0031】(実施例2)第2の実施例を図2に示す。
図2の光磁界センサが、図11に示す従来例と異なる点
は、入射側レンズ10に直径1mmの0.25ピッチの自己集
束型ロッドレンズと、出射側レンズ11に直径3mmや5
mmの0.25ヒ゜ッチの自己集束型ロッドレンズを配置している
点である。
図2の光磁界センサが、図11に示す従来例と異なる点
は、入射側レンズ10に直径1mmの0.25ピッチの自己集
束型ロッドレンズと、出射側レンズ11に直径3mmや5
mmの0.25ヒ゜ッチの自己集束型ロッドレンズを配置している
点である。
【0032】本実施例のように、出射側レンズ11に入
射側レンズ10の直径よりも大きなレンズを使用した場
合は、第1の実施例と同様に出射側光学系の開口数が、
入射側光学系の開口数より大きくなる。したがって、従
来例の図11に示すようにレンズ2、7に同一の直径の
0.25ヒ゜ッチの自己集束型ロッドレンズを用いて光磁界セン
サを構成する場合には0次光のみを受光していたが、第
2の実施例では出射側レンズ 11で受光できる回折光
の次数をより高次光まで受光することが可能となった。
射側レンズ10の直径よりも大きなレンズを使用した場
合は、第1の実施例と同様に出射側光学系の開口数が、
入射側光学系の開口数より大きくなる。したがって、従
来例の図11に示すようにレンズ2、7に同一の直径の
0.25ヒ゜ッチの自己集束型ロッドレンズを用いて光磁界セン
サを構成する場合には0次光のみを受光していたが、第
2の実施例では出射側レンズ 11で受光できる回折光
の次数をより高次光まで受光することが可能となった。
【0033】図7のように構成した電流測定装置に図2
に示す光磁界センサを用いて、5.0Oeから200 Oeの磁界
範囲で直線性誤差を測定した。交流磁界の周波数は、60
Hzである。測定結果を(表1)に示している。従来例の
測定結果と比較すると、直線性が改善されていることが
わかる。したがって、第2の実施例においても、図2に
示すように光磁界センサを構成することにより、回折光
をより高次まで受光し、出力に含まれる第2高調波の信
号強度を減少することができ、光磁界センサの磁界に対
する直線性を大きく改善することが可能となった。
に示す光磁界センサを用いて、5.0Oeから200 Oeの磁界
範囲で直線性誤差を測定した。交流磁界の周波数は、60
Hzである。測定結果を(表1)に示している。従来例の
測定結果と比較すると、直線性が改善されていることが
わかる。したがって、第2の実施例においても、図2に
示すように光磁界センサを構成することにより、回折光
をより高次まで受光し、出力に含まれる第2高調波の信
号強度を減少することができ、光磁界センサの磁界に対
する直線性を大きく改善することが可能となった。
【0034】なお、図7の自己集束型ロッドレンズ1
0、11の代わりに平行光を得ることの出来る非球面レ
ンズを用いて、出射側レンズの直径を入射側レンズの直
径より大きくした場合にも同様の効果が認められた。
0、11の代わりに平行光を得ることの出来る非球面レ
ンズを用いて、出射側レンズの直径を入射側レンズの直
径より大きくした場合にも同様の効果が認められた。
【0035】(実施例3)第3の実施例を図3に示す。
図3の光磁界センサが、図11に示す従来例と異なる点
は、従来例の光磁界センサにおいて、光路上の磁気光学
素子4に対して偏光子3の対向する面に図3に示す方向
にフレネルレンズ12を配置した点である。フレネルレ
ンズには、直径3mmで開口数0.3のものを使用した。し
たがって、波長880nmに対して用いたフレネルレンズの
全ゾーン数は、実際には約2.56×105である。
図3の光磁界センサが、図11に示す従来例と異なる点
は、従来例の光磁界センサにおいて、光路上の磁気光学
素子4に対して偏光子3の対向する面に図3に示す方向
にフレネルレンズ12を配置した点である。フレネルレ
ンズには、直径3mmで開口数0.3のものを使用した。し
たがって、波長880nmに対して用いたフレネルレンズの
全ゾーン数は、実際には約2.56×105である。
【0036】本実施例のように、光の進行方向に対して
磁気光学素子の直後に、発散する光を平行光とするよう
にフレネルレンズを配置した場合は、磁気光学素子4で
回折された光を効率よく平行光とすることが可能とな
る。したがって、従来例の図11に示す光磁界センサを
構成する場合には0次光のみを受光していたが、第3の
実施例では出射側レンズ7で受光できる回折光の次数を
より高次光まで受光することが可能となった。
磁気光学素子の直後に、発散する光を平行光とするよう
にフレネルレンズを配置した場合は、磁気光学素子4で
回折された光を効率よく平行光とすることが可能とな
る。したがって、従来例の図11に示す光磁界センサを
構成する場合には0次光のみを受光していたが、第3の
実施例では出射側レンズ7で受光できる回折光の次数を
より高次光まで受光することが可能となった。
【0037】また、フレネルレンズは平凸レンズ等より
もレンズの肉厚が薄いので、光磁界センサをケースに収
納する際に、センサの外形が大きくならないという利点
があった。なお、フレネルレンズの代わりにグレーティ
ングレンズを使用しても同様の効果が認められた。
もレンズの肉厚が薄いので、光磁界センサをケースに収
納する際に、センサの外形が大きくならないという利点
があった。なお、フレネルレンズの代わりにグレーティ
ングレンズを使用しても同様の効果が認められた。
【0038】図3に示す第3の実施例の光磁界センサを
図7に示す電流測定装置に構成して5.0 Oeから200 Oeの
磁界範囲で直線性誤差を測定した。交流磁界の周波数
は、60Hzである。測定結果を同様に(表1)に示してい
る。従来例の測定結果と比較すると、直線性が改善され
ていることがわかる。したがって、第3の実施例におい
ても、図3に示すように光磁界センサを構成することに
より、回折光をより高次まで受光し、出力に含まれる第
2高調波の信号強度を減少することができ、光磁界セン
サの磁界に対する直線性を大きく改善することが可能と
なった。
図7に示す電流測定装置に構成して5.0 Oeから200 Oeの
磁界範囲で直線性誤差を測定した。交流磁界の周波数
は、60Hzである。測定結果を同様に(表1)に示してい
る。従来例の測定結果と比較すると、直線性が改善され
ていることがわかる。したがって、第3の実施例におい
ても、図3に示すように光磁界センサを構成することに
より、回折光をより高次まで受光し、出力に含まれる第
2高調波の信号強度を減少することができ、光磁界セン
サの磁界に対する直線性を大きく改善することが可能と
なった。
【0039】(実施例4)第4の実施例を図4に示す。
図4の光磁界センサが、図11に示す従来例と異なる点
は、入射側レンズ10と出射側レンズ11に直径3mmの
球レンズ13、14を配置し、集光光学系を構成してい
る点である。ここで、集光光学系を構成する際には、光
路上で入射側光ファイバ9と入射側球レンズ13の距離
c、入射側球レンズ13と偏光子3の距離d、全反射ミ
ラー6と出射側球レンズ14の距離e、出射側球レンズ
14と出射側光ファイバ9の距離fに注意が必要であ
り、本実施例ではそれぞれの距離をすべて1mmに設計し
た。但し、偏光子3、検光子5、全反射ミラー6は、一
辺5mm角の立方体である。球レンズの材質をBK7と
し、光源波長に880nmを使用した場合、結晶位置での光
のビーム径は、480μmである。本実施例のように集光
光学系を構成した場合、結晶位置がビームウエストに近
くなり、従来よりも結晶位置でのビーム径が小さくなっ
た。その結果、出射側球レンズ14でより高次光まで受
光することが可能となった。
図4の光磁界センサが、図11に示す従来例と異なる点
は、入射側レンズ10と出射側レンズ11に直径3mmの
球レンズ13、14を配置し、集光光学系を構成してい
る点である。ここで、集光光学系を構成する際には、光
路上で入射側光ファイバ9と入射側球レンズ13の距離
c、入射側球レンズ13と偏光子3の距離d、全反射ミ
ラー6と出射側球レンズ14の距離e、出射側球レンズ
14と出射側光ファイバ9の距離fに注意が必要であ
り、本実施例ではそれぞれの距離をすべて1mmに設計し
た。但し、偏光子3、検光子5、全反射ミラー6は、一
辺5mm角の立方体である。球レンズの材質をBK7と
し、光源波長に880nmを使用した場合、結晶位置での光
のビーム径は、480μmである。本実施例のように集光
光学系を構成した場合、結晶位置がビームウエストに近
くなり、従来よりも結晶位置でのビーム径が小さくなっ
た。その結果、出射側球レンズ14でより高次光まで受
光することが可能となった。
【0040】図7のように構成した電流測定装置に図4
に示す光磁界センサを用いて、5.0Oeから200 Oeの磁界
範囲で直線性誤差を測定した。交流磁界の周波数は、60
Hzである。測定結果を(表1)に示している。従来例の
測定結果と比較すると、直線性が改善されていることが
わかる。したがって、第4の実施例においても、図4に
示すように光磁界センサを構成することにより、回折光
をより高次まで受光し、出力に含まれる第2高調波の信
号強度を減少することができ、光磁界センサの磁界に対
する直線性を大きく改善することが可能となった。
に示す光磁界センサを用いて、5.0Oeから200 Oeの磁界
範囲で直線性誤差を測定した。交流磁界の周波数は、60
Hzである。測定結果を(表1)に示している。従来例の
測定結果と比較すると、直線性が改善されていることが
わかる。したがって、第4の実施例においても、図4に
示すように光磁界センサを構成することにより、回折光
をより高次まで受光し、出力に含まれる第2高調波の信
号強度を減少することができ、光磁界センサの磁界に対
する直線性を大きく改善することが可能となった。
【0041】(実施例5)第5の実施例を図5に示す。
図5の光磁界センサが、図11に示す従来例と異なる点
は、磁気光学素子15を光軸に対して角度αだけ傾けて
配置した点である。磁気光学素子15を光軸に対して傾
けて配置することによって、磁気光学素子で発生する回
折効果を低減することが可能となる。
図5の光磁界センサが、図11に示す従来例と異なる点
は、磁気光学素子15を光軸に対して角度αだけ傾けて
配置した点である。磁気光学素子15を光軸に対して傾
けて配置することによって、磁気光学素子で発生する回
折効果を低減することが可能となる。
【0042】フェリ磁性体である希土類鉄ガーネット結
晶は、多磁区構造を有するため光に対して回折格子にな
る。一般に、回折格子に対する光の入射角をゼロから大
きくすると、回折格子の回折効果は極端に減少する。し
たがって、本実施例のように入射ビームの光軸に対し
て、磁気光学素子15を傾けることによって、磁気光学
素子の回折効果を小さくすることが可能となった。本実
施例では、センサの感度と光挿入損失の点から、傾き角
αを最適値の45度とした。 図7のように構成した電
流測定装置に図5に示す光磁界センサを用いて、5.0 Oe
から200 Oeの磁界範囲で直線性誤差を測定した。交流磁
界の周波数は、60Hzである。測定結果を(表1)に示し
ている。従来例の測定結果と比較すると、直線性が改善
されていることがわかる。したがって、第5の実施例に
おいては回折効果を消去することによって、直線性の歪
みの原因となる第2高調波の振幅を減少することがで
き、光磁界センサの磁界に対する直線性を大きく改善す
ることが可能となった。
晶は、多磁区構造を有するため光に対して回折格子にな
る。一般に、回折格子に対する光の入射角をゼロから大
きくすると、回折格子の回折効果は極端に減少する。し
たがって、本実施例のように入射ビームの光軸に対し
て、磁気光学素子15を傾けることによって、磁気光学
素子の回折効果を小さくすることが可能となった。本実
施例では、センサの感度と光挿入損失の点から、傾き角
αを最適値の45度とした。 図7のように構成した電
流測定装置に図5に示す光磁界センサを用いて、5.0 Oe
から200 Oeの磁界範囲で直線性誤差を測定した。交流磁
界の周波数は、60Hzである。測定結果を(表1)に示し
ている。従来例の測定結果と比較すると、直線性が改善
されていることがわかる。したがって、第5の実施例に
おいては回折効果を消去することによって、直線性の歪
みの原因となる第2高調波の振幅を減少することがで
き、光磁界センサの磁界に対する直線性を大きく改善す
ることが可能となった。
【0043】(実施例6)第6の実施例を図6に示す。
図6は、直線型光磁界センサであり、16はコア径50
μmのマルチモードファイバである。偏光子18と検光
子19は積層型偏光子薄膜であって、互いの透過偏光方
向を45度傾けて磁気光学素子4の両面に設置してい
る。磁気光学素子4、偏光子18、検光子19は、3mm
角を使用した。レンズ20は自己集束型ロッドレンズで
あり、23はコア径200μmのマルチモードファイバ
である。17、22はファイバの固定の為のフェルール
であり、これらの部品がケース21に収納されている。
図6に示す光磁界センサは、上述の実施例を組み合わせ
た構成となっている。
図6は、直線型光磁界センサであり、16はコア径50
μmのマルチモードファイバである。偏光子18と検光
子19は積層型偏光子薄膜であって、互いの透過偏光方
向を45度傾けて磁気光学素子4の両面に設置してい
る。磁気光学素子4、偏光子18、検光子19は、3mm
角を使用した。レンズ20は自己集束型ロッドレンズで
あり、23はコア径200μmのマルチモードファイバ
である。17、22はファイバの固定の為のフェルール
であり、これらの部品がケース21に収納されている。
図6に示す光磁界センサは、上述の実施例を組み合わせ
た構成となっている。
【0044】なお、透過光を光ファイバ23の端面に集
光することができれば、レンズ20は凸レンズも可能で
ある。さらに、光ファイバ23のコア径が光ファイバ1
6のコア径よりも大きく、互いのファイバ端面が近接し
ている場合は、レンズ20を配置しない構成も可能であ
った。
光することができれば、レンズ20は凸レンズも可能で
ある。さらに、光ファイバ23のコア径が光ファイバ1
6のコア径よりも大きく、互いのファイバ端面が近接し
ている場合は、レンズ20を配置しない構成も可能であ
った。
【0045】入射光aは光ファイバ16を通り、偏光子
18で直線偏光とされ、磁気光学素子4のフェリ磁性ガ
ーネット結晶で回折される。透過した光は45度成分を
検光子19で検光された後、高次回折光も含んで、レン
ズ20によって光ファイバ23に集光される。
18で直線偏光とされ、磁気光学素子4のフェリ磁性ガ
ーネット結晶で回折される。透過した光は45度成分を
検光子19で検光された後、高次回折光も含んで、レン
ズ20によって光ファイバ23に集光される。
【0046】図7のように構成した電流測定装置に図6
に示す光磁界センサを用いて、5.0Oeから200 Oeの磁界
範囲で直線性誤差を測定した。交流磁界の周波数は、60
Hzである。測定結果を(表1)に示している。従来例の
測定結果と比較すると、直線性が改善されていることが
わかる。したがって、第6の実施例においても、図6に
示すように光磁界センサを構成することにより、回折光
をより高次まで受光し、出力に含まれる第2高調波の信
号強度を減少することができ、光磁界センサの磁界に対
する直線性を大きく改善することが可能となった。
に示す光磁界センサを用いて、5.0Oeから200 Oeの磁界
範囲で直線性誤差を測定した。交流磁界の周波数は、60
Hzである。測定結果を(表1)に示している。従来例の
測定結果と比較すると、直線性が改善されていることが
わかる。したがって、第6の実施例においても、図6に
示すように光磁界センサを構成することにより、回折光
をより高次まで受光し、出力に含まれる第2高調波の信
号強度を減少することができ、光磁界センサの磁界に対
する直線性を大きく改善することが可能となった。
【0047】したがって、本発明の光磁界センサを図7
のように構成し、電流測定装置として使用する場合に
は、定格電流値Iに対して0.025I〜Iの電流測定範囲
で±1%以下の比誤差を有する光CTを構成することが
可能となる。
のように構成し、電流測定装置として使用する場合に
は、定格電流値Iに対して0.025I〜Iの電流測定範囲
で±1%以下の比誤差を有する光CTを構成することが
可能となる。
【0048】なお、本実施例では偏光子及び検光子を偏
光ビームスプリッタとしたが、グラントンプソンプリズ
ムやガラス製偏光板、積層型偏光子薄膜を用いることも
可能である。特に、ガラス製偏光子や積層型偏光子薄膜
を偏光子と検光子に用いた光磁界センサは、小型化でき
るという大きな利点がある。また、自己集束型ロッドレ
ンズを、平行光を得ることの出来るレンズで置換するこ
とも可能である。さらには、全反射ミラーを使用せずに
直線型光磁界センサを構成することも可能であった。
光ビームスプリッタとしたが、グラントンプソンプリズ
ムやガラス製偏光板、積層型偏光子薄膜を用いることも
可能である。特に、ガラス製偏光子や積層型偏光子薄膜
を偏光子と検光子に用いた光磁界センサは、小型化でき
るという大きな利点がある。また、自己集束型ロッドレ
ンズを、平行光を得ることの出来るレンズで置換するこ
とも可能である。さらには、全反射ミラーを使用せずに
直線型光磁界センサを構成することも可能であった。
【0049】また、この直線性の改善は0.8μm帯の光
源だけでなく、希土類鉄ガーネット結晶を透過する1.3
μm帯や1.5μm帯の他の波長についても認められた。
また、周波数60Hzだけでなく、直流磁界から数百kHz程
度まで直線性よく磁界を測定することを確認した。
源だけでなく、希土類鉄ガーネット結晶を透過する1.3
μm帯や1.5μm帯の他の波長についても認められた。
また、周波数60Hzだけでなく、直流磁界から数百kHz程
度まで直線性よく磁界を測定することを確認した。
【0050】また、本実施例の磁気光学素子には、光磁
界センサの温度特性も考慮するために(化1)で表す希
土類鉄ガーネット結晶を使用した例について示している
が、本実施例の光学系の構成はフェリ磁性体であるガー
ネット結晶を磁気光学素子に使用した光磁界センサすべ
てに適応可能であり、またこれらの実施例を組み合わせ
て光磁界センサを構成することも可能である。
界センサの温度特性も考慮するために(化1)で表す希
土類鉄ガーネット結晶を使用した例について示している
が、本実施例の光学系の構成はフェリ磁性体であるガー
ネット結晶を磁気光学素子に使用した光磁界センサすべ
てに適応可能であり、またこれらの実施例を組み合わせ
て光磁界センサを構成することも可能である。
【0051】
【発明の効果】以上述べてきたことから明かな様に、本
発明よれば、従来よりも磁界に対する直線性の高い光磁
界センサを提供することが可能である。
発明よれば、従来よりも磁界に対する直線性の高い光磁
界センサを提供することが可能である。
【図1】本発明による第1の実施例の光磁界センサの構
成図である。
成図である。
【図2】本発明による第2の実施例の光磁界センサの構
成図である。
成図である。
【図3】本発明による第3の実施例の光磁界センサの構
成図である。
成図である。
【図4】本発明による第4の実施例の光磁界センサの構
成図である。
成図である。
【図5】本発明による第5の実施例の光磁界センサの構
成図である。
成図である。
【図6】本発明による第6の実施例の光磁界センサの構
成図である。
成図である。
【図7】本発明による光磁界センサを用いた電流測定装
置の実施例の概略図である。
置の実施例の概略図である。
【図8】本発明による第1の実施例の光磁界センサを用
いた電流測定装置の出力の直線性誤差を示す図である。
いた電流測定装置の出力の直線性誤差を示す図である。
【図9】従来の光磁界センサを用いた電流測定装置の出
力の直線性誤差を示す図である。
力の直線性誤差を示す図である。
【図10】フェリ磁性ガーネット結晶による光の回折現
象を説明した模式図である。
象を説明した模式図である。
【図11】従来の光磁界センサの構成図である。
【図12】ファラデー効果を用いた磁界の測定原理を示
す図である。
す図である。
a 入射光 b 出射光 c 入射側光ファイバ9と入射側球レンズ13の距離 d 入射側球レンズ13と偏光子3の距離 e 全反射ミラー6と出射側球レンズ14の距離 f 出射側球レンズ14と出射側光ファイバ9の距離 1、8、9、16、23、26 光ファイバ 2、7、10、11、20 レンズ 3、18 偏光子 4、15 磁気光学素子 5、19 検光子 6 全反射ミラー 12 フレネルレンズまたはグレーティングレンズ 13、14 球レンズ 17、22、38 フェ
ルール 21 ケース 24 光磁界センサ 25 光源 27 光検出部 28 信号処理用電気回路 29 コア 30 電線 31 フェリ磁性ガーネ
ット結晶 32 0次光 33 1次光 34 2次光 35 3次光 36 スクリーン 37 ホルダー
ルール 21 ケース 24 光磁界センサ 25 光源 27 光検出部 28 信号処理用電気回路 29 コア 30 電線 31 フェリ磁性ガーネ
ット結晶 32 0次光 33 1次光 34 2次光 35 3次光 36 スクリーン 37 ホルダー
Claims (6)
- 【請求項1】少なくとも光の進行方向に沿って、偏光子
と、磁気光学素子と、前記偏光子に対して透過偏光方向
を互いに異ならしめた検光子を配置して被測定磁界を出
力光強度として検知する光磁界センサにおいて、前記磁
気光学素子の一端に、前記検光子をはさんで設けられた
第2の光伝送路の伝送路径が、前記磁気光学素子の他端
に、前記偏光子をはさんで設けられた第1の光伝送路の
伝送路径よりも大なることを特徴とする光磁界センサ。 - 【請求項2】少なくとも光の進行方向に沿って、偏光子
と、磁気光学素子と、前記偏光子に対して透過偏光方向
を互いに異ならしめた検光子を配置して被測定磁界を出
力光強度として検知する光磁界センサにおいて、前記磁
気光学素子の一端に、前記検光子をはさんで設けられた
第2のレンズのレンズ径が、前記磁気光学素子の他端
に、前記偏光子をはさんで設けられた第1のレンズのレ
ンズ径よりも大なることを特徴とする光磁界センサ。 - 【請求項3】少なくとも光の進行方向に沿って、偏光子
と、磁気光学素子と、前記偏光子に対して透過偏光方向
を互いに異ならしめた検光子を配置して被測定磁界を出
力光強度として検知する光磁界センサにおいて、前記磁
気光学素子と前記検光子の間の光路上に、発散光を平行
光となす方向にフレネルレンズまたはグレーティングが
設けられていることを特徴とする光磁界センサ。 - 【請求項4】少なくとも光の進行方向に沿って、偏光子
と、磁気光学素子と、前記偏光子に対して透過偏光方向
を互いに異ならしめた検光子を配置して被測定磁界を出
力光強度として検知する光磁界センサにおいて、前記磁
気光学素子の一端に、前記偏光子をはさんで設けられた
第1のレンズと、前記磁気光学素子の他端に、前記検光
子をはさんで設けられた第2のレンズが集光光学系で構
成されていることを特徴とする光磁界センサ。 - 【請求項5】少なくとも光の進行方向に沿って、偏光子
と、磁気光学素子と、前記偏光子に対して透過偏光方向
を互いに異ならしめた検光子を配置して被測定磁界を出
力光強度として検知する光磁界センサにおいて、前記磁
気光学素子が光軸に対して45度傾けて配置されている
ことを特徴とする光磁界センサ。 - 【請求項6】磁気光学素子がフェリ磁性ガーネット結晶
であることを特徴とする請求項1〜5記載のいずれかの
光磁界センサ。
Priority Applications (8)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05130817A JP3135744B2 (ja) | 1993-06-01 | 1993-06-01 | 光磁界センサ |
| US08/214,462 US5485079A (en) | 1993-03-29 | 1994-03-18 | Magneto-optical element and optical magnetic field sensor |
| DE69434204T DE69434204T2 (de) | 1993-03-29 | 1994-03-29 | Optischer Magnetfeldfühler |
| EP01125240A EP1176427B1 (en) | 1993-03-29 | 1994-03-29 | Optical magnetic field sensor |
| EP94104978A EP0618456A3 (en) | 1993-03-29 | 1994-03-29 | Magneto-optical element and optical magnetic field sensor. |
| US08/547,870 US5635830A (en) | 1993-03-29 | 1995-10-25 | Optical magnetic field sensor employing differently sized transmission lines |
| US08/769,374 US5861741A (en) | 1993-03-29 | 1996-12-19 | Magneto-optical element |
| US09/168,905 US6232763B1 (en) | 1993-03-29 | 1998-10-09 | Magneto-optical element and optical magnetic field sensor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP05130817A JP3135744B2 (ja) | 1993-06-01 | 1993-06-01 | 光磁界センサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06342048A true JPH06342048A (ja) | 1994-12-13 |
| JP3135744B2 JP3135744B2 (ja) | 2001-02-19 |
Family
ID=15043412
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP05130817A Expired - Fee Related JP3135744B2 (ja) | 1993-03-29 | 1993-06-01 | 光磁界センサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3135744B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6333809B1 (en) | 1996-02-21 | 2001-12-25 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Magneto-optical element |
| US6370288B1 (en) | 1996-02-21 | 2002-04-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical magnetic field sensor probe |
-
1993
- 1993-06-01 JP JP05130817A patent/JP3135744B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6333809B1 (en) | 1996-02-21 | 2001-12-25 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Magneto-optical element |
| US6370288B1 (en) | 1996-02-21 | 2002-04-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical magnetic field sensor probe |
| US6404190B1 (en) | 1996-02-21 | 2002-06-11 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical magnetic field sensor probe |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3135744B2 (ja) | 2001-02-19 |
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