JPH063465B2 - 信号処理装置 - Google Patents
信号処理装置Info
- Publication number
- JPH063465B2 JPH063465B2 JP60007175A JP717585A JPH063465B2 JP H063465 B2 JPH063465 B2 JP H063465B2 JP 60007175 A JP60007175 A JP 60007175A JP 717585 A JP717585 A JP 717585A JP H063465 B2 JPH063465 B2 JP H063465B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- voltage
- amplifier
- converter
- gain
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、マルチプレクサを介して選択的にアンプに取
り込まれた複数のアナログ測定電圧を増幅して積分形の
Ａ／Ｄ変換器に加え、デジタル信号に変換するように構
成された信号処理装置に関するものである。
り込まれた複数のアナログ測定電圧を増幅して積分形の
Ａ／Ｄ変換器に加え、デジタル信号に変換するように構
成された信号処理装置に関するものである。
（従来の技術） 第２図は、従来のこのような信号処理装置の一例を要部
を示す構成構成図であり、記録計の例を示している。第
２図において、Ｈ，Ｌは熱電対や直流電圧などの入力端
子であり、Ｈ端子は抵抗Ｒ1およびスイッチＳＷ1を介し
てアンプ１に接続され、Ｌ端子は共通電位点に接続され
ている。２は熱電対の冷接点温度を補償するための温度
信号を出力する温度センサであり、その出力端子はスイ
ッチＳＷ2を介してアンプ１に接続されている。このよ
うな温度センサ２としては、例えばトランジスタのVbe
の温度変化を利用したものが用いられる。Ｒｔは３端子
Ａ，Ｂ，ｂを有する測温抵抗体であり、端子Ａには基準
電流を加える定電流源３が接続され、端子ｂは抵抗Ｒ2
を介して共通電位点に接続されている。４は測温抵抗体
Ｒｔの端子Ａ，Ｂ間の電位差に基づいて抵抗値（Ω）を
温度値（℃）に変換する信号変換回路であり、その出力
端子スイッチＳＷ3を介してアンプ１に接続されている
ＳＷ4は共通電位点をアンプ１に接続するためのスイッ
チである。これらスイッチＳＷ1〜ＳＷ4はアンプ１の入
力を切り換えるマルチプレクサを構成している。アンプ
１の出力は抵抗Ｒ3および加算器５を介して例えば積分
形のＡ／Ｄ変換器６に加えられ、デジタル信号に変換さ
れる。７は正極性の基準電圧を出力する基準電圧源であ
り、８は負極性の基準電圧を出力する基準電圧源であ
る。基準電圧源７の出力電圧はＡ／Ｄ変換器６の積分器
の放電電流を設定する基準としてＡ／Ｄ変換器６に加え
られるとともに、基準電圧源８の出力電圧の基準として
基準電圧源８に加えられている。基準電圧源８の出力電
圧は抵抗Ｒ4および加算器５を介してＡ／Ｄ変換器６に
加えられ、Ａ／Ｄ変換器６を電圧零を中心とする正極性
および負極性の電圧に対応させるためのオフセット電流
を設定する基準として用いられている。Ａ／Ｄ変換器６
で変換されたデジタル信号は、フォトカプラなどの信号
絶縁回路９を介してマイクロプロセッサやデジタル回路
などで構成された演算回路10に加えられる。演算回路10
は、例えばＳＷ4をオンにした状態でのＡ／Ｄ変換器６
のデジタル信号出力を基準にした測定結果に対するソフ
トウェアによる自動零点補償や熱電対の出力電圧の温度
信号への変換，測定信号に対するリニヤライズなどの必
要な演算処理を行う。このようにして演算された結果
は、図示しない記録部に加えられて記録される。
を示す構成構成図であり、記録計の例を示している。第
２図において、Ｈ，Ｌは熱電対や直流電圧などの入力端
子であり、Ｈ端子は抵抗Ｒ1およびスイッチＳＷ1を介し
てアンプ１に接続され、Ｌ端子は共通電位点に接続され
ている。２は熱電対の冷接点温度を補償するための温度
信号を出力する温度センサであり、その出力端子はスイ
ッチＳＷ2を介してアンプ１に接続されている。このよ
うな温度センサ２としては、例えばトランジスタのVbe
の温度変化を利用したものが用いられる。Ｒｔは３端子
Ａ，Ｂ，ｂを有する測温抵抗体であり、端子Ａには基準
電流を加える定電流源３が接続され、端子ｂは抵抗Ｒ2
を介して共通電位点に接続されている。４は測温抵抗体
Ｒｔの端子Ａ，Ｂ間の電位差に基づいて抵抗値（Ω）を
温度値（℃）に変換する信号変換回路であり、その出力
端子スイッチＳＷ3を介してアンプ１に接続されている
ＳＷ4は共通電位点をアンプ１に接続するためのスイッ
チである。これらスイッチＳＷ1〜ＳＷ4はアンプ１の入
力を切り換えるマルチプレクサを構成している。アンプ
１の出力は抵抗Ｒ3および加算器５を介して例えば積分
形のＡ／Ｄ変換器６に加えられ、デジタル信号に変換さ
れる。７は正極性の基準電圧を出力する基準電圧源であ
り、８は負極性の基準電圧を出力する基準電圧源であ
る。基準電圧源７の出力電圧はＡ／Ｄ変換器６の積分器
の放電電流を設定する基準としてＡ／Ｄ変換器６に加え
られるとともに、基準電圧源８の出力電圧の基準として
基準電圧源８に加えられている。基準電圧源８の出力電
圧は抵抗Ｒ4および加算器５を介してＡ／Ｄ変換器６に
加えられ、Ａ／Ｄ変換器６を電圧零を中心とする正極性
および負極性の電圧に対応させるためのオフセット電流
を設定する基準として用いられている。Ａ／Ｄ変換器６
で変換されたデジタル信号は、フォトカプラなどの信号
絶縁回路９を介してマイクロプロセッサやデジタル回路
などで構成された演算回路10に加えられる。演算回路10
は、例えばＳＷ4をオンにした状態でのＡ／Ｄ変換器６
のデジタル信号出力を基準にした測定結果に対するソフ
トウェアによる自動零点補償や熱電対の出力電圧の温度
信号への変換，測定信号に対するリニヤライズなどの必
要な演算処理を行う。このようにして演算された結果
は、図示しない記録部に加えられて記録される。
（発明が解決しようとする問題点） しかし、このような従来の構成によれば、Ａ／Ｄ変換器
６のスパンを基準電圧源７，８の出力電圧に従って設定
しているために、これら基準電圧源７，８を含む周辺回
路を長期間にわたって高精度、高安定度を保たなければ
ならず、回路構成が複雑になるとともに高価な回路部品
を用いなければならないことからコストが高くなるとい
う欠点がある。
６のスパンを基準電圧源７，８の出力電圧に従って設定
しているために、これら基準電圧源７，８を含む周辺回
路を長期間にわたって高精度、高安定度を保たなければ
ならず、回路構成が複雑になるとともに高価な回路部品
を用いなければならないことからコストが高くなるとい
う欠点がある。
本発明は、このような点に着目したものであって、その
目的は、比較的簡単な回路構成で精度の高い測定が行え
る信号処理装置を提供することにある。
目的は、比較的簡単な回路構成で精度の高い測定が行え
る信号処理装置を提供することにある。
（問題点を解決するための手段） このような目的を達成する本発明は、マルチプレクサを
介して選択的にアンプに取り込まれた複数のアナログ測
定電圧Ｖｉを増幅して積分形のＡ／Ｄ変換器に加え、デ
ジタル信号に変換するように構成された信号処理装置に
おいて、複数のアナログ測定電圧Ｖｉのそれぞれの測定
を１測定周期とする各測定周期毎に共通電位点の電圧Ｖ
ＺおよびＡ／Ｄ変換器のフルスパンに対応した既知の基
準電圧ＶＦをマルチプレクサを介して選択的にアンプに
加え、アンプのゲインを第１のゲインＧ１に設定してＶ
Ｚ，ＶＦを測定することにより測定結果ＶＺ(G1)，ＶＦ
(G1)を求めるとともに第２のゲインＧ２に設定して
Ｖｉ，ＶＺを測定することにより測定結果Ｖｉ(G2)，Ｖ
Ｚ(G2)を求め、これら測定結果および既知の基準電圧Ｖ
Ｆに基づいて、 Ｖｉ＝［｛Ｖｉ（Ｇ２）−ＶＺ（Ｇ２）｝／ ｛ＶＦ（Ｇ１）−ＶＺ（Ｇ１）｝］ＶＦ で表わされる演算を行うことを特徴とする。
介して選択的にアンプに取り込まれた複数のアナログ測
定電圧Ｖｉを増幅して積分形のＡ／Ｄ変換器に加え、デ
ジタル信号に変換するように構成された信号処理装置に
おいて、複数のアナログ測定電圧Ｖｉのそれぞれの測定
を１測定周期とする各測定周期毎に共通電位点の電圧Ｖ
ＺおよびＡ／Ｄ変換器のフルスパンに対応した既知の基
準電圧ＶＦをマルチプレクサを介して選択的にアンプに
加え、アンプのゲインを第１のゲインＧ１に設定してＶ
Ｚ，ＶＦを測定することにより測定結果ＶＺ(G1)，ＶＦ
(G1)を求めるとともに第２のゲインＧ２に設定して
Ｖｉ，ＶＺを測定することにより測定結果Ｖｉ(G2)，Ｖ
Ｚ(G2)を求め、これら測定結果および既知の基準電圧Ｖ
Ｆに基づいて、 Ｖｉ＝［｛Ｖｉ（Ｇ２）−ＶＺ（Ｇ２）｝／ ｛ＶＦ（Ｇ１）−ＶＺ（Ｇ１）｝］ＶＦ で表わされる演算を行うことを特徴とする。
（実施例） 以下、図面を用いて詳細に説明する。
第１図は、本発明の一実施例の要部を示す構成説明図で
あり、第２図と同一部分には同一符号を付けている。第
１図において、測温抵抗体Ｒｔの端子Ａは抵抗Ｒ5を介
して電圧−Ｖが加えられる端子11に接続されるとともに
抵抗Ｒ6およびスイッチＳＷ5を介してアンプ１に接続さ
れ、端子Ｂは抵抗Ｒ7およびスイッチＳＷ6を介してアン
プ１に接続され、端子ｂは抵抗Ｒｓを介して共通電位点
に接続されるとともに抵抗Ｒ8およびスイッチＳＷ7を介
してアンプ１に接続されている。ここで、抵抗Ｒｓとし
ては、抵抗値が既知で測定物理量による抵抗値の変化が
少ない安定度の高い抵抗体を用いるようにする。また、
アンプ１には、スイッチＳＷ8を介してＡ／Ｄ変換器６
のフルスパン入力に対応した基準電圧ＶＦを発生する基
準電圧源12が接続されている。Ａ／Ｄ変換器６には従来
の基準電圧源７の代わりに電圧＋Ｖが加えられる端子13
が接続され、加算器５には従来の基準電圧源８の代わり
に切換スイッチＳＷ9および抵抗Ｒ9，Ｒ10を介して電圧
−Ｖが加えられる端子14が接続されている。ここで、ス
イッチＳＷ1〜ＳＷ8はマルチプレクサを構成している。
あり、第２図と同一部分には同一符号を付けている。第
１図において、測温抵抗体Ｒｔの端子Ａは抵抗Ｒ5を介
して電圧−Ｖが加えられる端子11に接続されるとともに
抵抗Ｒ6およびスイッチＳＷ5を介してアンプ１に接続さ
れ、端子Ｂは抵抗Ｒ7およびスイッチＳＷ6を介してアン
プ１に接続され、端子ｂは抵抗Ｒｓを介して共通電位点
に接続されるとともに抵抗Ｒ8およびスイッチＳＷ7を介
してアンプ１に接続されている。ここで、抵抗Ｒｓとし
ては、抵抗値が既知で測定物理量による抵抗値の変化が
少ない安定度の高い抵抗体を用いるようにする。また、
アンプ１には、スイッチＳＷ8を介してＡ／Ｄ変換器６
のフルスパン入力に対応した基準電圧ＶＦを発生する基
準電圧源12が接続されている。Ａ／Ｄ変換器６には従来
の基準電圧源７の代わりに電圧＋Ｖが加えられる端子13
が接続され、加算器５には従来の基準電圧源８の代わり
に切換スイッチＳＷ9および抵抗Ｒ9，Ｒ10を介して電圧
−Ｖが加えられる端子14が接続されている。ここで、ス
イッチＳＷ1〜ＳＷ8はマルチプレクサを構成している。
このように構成された装置の動作について説明する。
まず、直流電圧および熱電対の出力電圧Ｖｉの測定にあ
たっては、アンプ１のゲインを第１のゲインＧ１（例え
ば１）に設定した状態でスイッチＳＷ4およびＳＷ8を順
次選択的にオンにして共通電位点の電圧ＶＺおよび基準
電圧源12の出力電圧ＶＦを測定するとともに、アンプ１
のゲインを直流電圧および熱電対の出力電圧Ｖｉの測定
に必要な第２のゲインＧ２に設定した状態でスイッチＳ
Ｗ1およびＳＷ4を順次選択的にオンにして直流電圧また
は熱電対の出力電圧Ｖｉおよびアンプ１のオフセットを
補償するための共通電位点の電圧ＶＺを測定し、これら
各測定結果ＶＺ（Ｇ１），ＶＦ（Ｇ１），Ｖｉ（Ｇ
２），ＶＺ（Ｇ２）を演算回路10に格納する。そして、
演算回路10において、これら各測定結果ＶＺ（Ｇ１），
ＶＦ（Ｇ１），Ｖｉ（Ｇ２），ＶＦ（Ｇ２）および既知
の基準電圧源12の出力電圧値ＶＦに基づいて第(1)式で
示すような演算を行う。
たっては、アンプ１のゲインを第１のゲインＧ１（例え
ば１）に設定した状態でスイッチＳＷ4およびＳＷ8を順
次選択的にオンにして共通電位点の電圧ＶＺおよび基準
電圧源12の出力電圧ＶＦを測定するとともに、アンプ１
のゲインを直流電圧および熱電対の出力電圧Ｖｉの測定
に必要な第２のゲインＧ２に設定した状態でスイッチＳ
Ｗ1およびＳＷ4を順次選択的にオンにして直流電圧また
は熱電対の出力電圧Ｖｉおよびアンプ１のオフセットを
補償するための共通電位点の電圧ＶＺを測定し、これら
各測定結果ＶＺ（Ｇ１），ＶＦ（Ｇ１），Ｖｉ（Ｇ
２），ＶＺ（Ｇ２）を演算回路10に格納する。そして、
演算回路10において、これら各測定結果ＶＺ（Ｇ１），
ＶＦ（Ｇ１），Ｖｉ（Ｇ２），ＶＦ（Ｇ２）および既知
の基準電圧源12の出力電圧値ＶＦに基づいて第(1)式で
示すような演算を行う。
Ｖｉ＝［｛Ｖｉ（Ｇ２）−ＶＺ（Ｇ２）｝／ ｛ＶＦ（Ｇ１）−ＶＺ（Ｇ１）｝］ＶＦ (1) このように構成することにより、基準電圧源12以外の各
回路は、これら４カ所の電圧を測定する期間においての
み特性が変化しなければよく、比較的簡単な回路構成と
することができ、回路部品も安価なものを用いることが
できることからコストの低減も図れる。
回路は、これら４カ所の電圧を測定する期間においての
み特性が変化しなければよく、比較的簡単な回路構成と
することができ、回路部品も安価なものを用いることが
できることからコストの低減も図れる。
また、熱電対の冷接点温度を補償するための温度センサ
２の出力電圧ＶＪの測定にあたっては、前述と同様にア
ンプ１のゲインを１にしてＶＺ（Ｇ１），ＶＦ（Ｇ１）
を測定するとともに、アンプ１のゲインを温度センサ２
の出力電圧の測定に必要なゲインＧに設定した状態でス
イッチＳＷ2およびＳＷ4を順次選択的にオンにして温度
センサ２の出力電圧ＶＪおよびアンプ１のオフセットを
補償するための共通電位点の電圧ＶＺを測定し、これら
各測定結果ＶＺ（Ｇ１），ＶＦ（Ｇ１），ＶＪ（Ｇ
２），ＶＺ（Ｇ２）を演算回路10に格納する。そして、
演算回路10はこれら各測定結果ＶＺ（Ｇ１），ＶＦ（Ｇ
１），ＶＪ（Ｇ２），ＶＦ（Ｇ２）および既知の基準電
圧源12の出力電圧値ＶＦに基づいて第(2)式で示すよう
な演算を行う。
２の出力電圧ＶＪの測定にあたっては、前述と同様にア
ンプ１のゲインを１にしてＶＺ（Ｇ１），ＶＦ（Ｇ１）
を測定するとともに、アンプ１のゲインを温度センサ２
の出力電圧の測定に必要なゲインＧに設定した状態でス
イッチＳＷ2およびＳＷ4を順次選択的にオンにして温度
センサ２の出力電圧ＶＪおよびアンプ１のオフセットを
補償するための共通電位点の電圧ＶＺを測定し、これら
各測定結果ＶＺ（Ｇ１），ＶＦ（Ｇ１），ＶＪ（Ｇ
２），ＶＺ（Ｇ２）を演算回路10に格納する。そして、
演算回路10はこれら各測定結果ＶＺ（Ｇ１），ＶＦ（Ｇ
１），ＶＪ（Ｇ２），ＶＦ（Ｇ２）および既知の基準電
圧源12の出力電圧値ＶＦに基づいて第(2)式で示すよう
な演算を行う。
ＶＪ＝［｛ＶＪ（Ｇ２）−ＶＺ（Ｇ２）｝／ ｛ＶＦ（Ｇ１）−ＶＺ（Ｇ１）｝］ＶＦ (2) さらに演算回路10は、このようにして演算された電圧Ｖ
Ｊを温度信号（℃）に変換する。
Ｊを温度信号（℃）に変換する。
次に、測温抵抗体Ｒｔによる温度測定について説明す
る。測温抵抗体Ｒｔには、端子11から一定の電圧−Ｖを
加える。この状態で、アンプ１のゲインを一定に保ちな
がらスイッチＳＷ5，ＳＷ6，ＳＷ7，ＳＷ4を順次選択的
にオンにし、測温抵抗体Ｒｔの各端子Ａ，Ｂ，ｂの電圧
ＶＡ，ＶＢ，Ｖｂおよび共通電位点の電圧ＶＺを測定し
てこれら各測定結果ＶＡ，ＶＢ，Ｖｂ，ＶＺを演算回路
10に格納する。そして、演算回路10において、これら各
測定結果ＶＡ，ＶＢ，Ｖｂ，ＶＺおよび既知の抵抗値Ｒ
ｓに基づいて第(3)式で示すような演算を行う。
る。測温抵抗体Ｒｔには、端子11から一定の電圧−Ｖを
加える。この状態で、アンプ１のゲインを一定に保ちな
がらスイッチＳＷ5，ＳＷ6，ＳＷ7，ＳＷ4を順次選択的
にオンにし、測温抵抗体Ｒｔの各端子Ａ，Ｂ，ｂの電圧
ＶＡ，ＶＢ，Ｖｂおよび共通電位点の電圧ＶＺを測定し
てこれら各測定結果ＶＡ，ＶＢ，Ｖｂ，ＶＺを演算回路
10に格納する。そして、演算回路10において、これら各
測定結果ＶＡ，ＶＢ，Ｖｂ，ＶＺおよび既知の抵抗値Ｒ
ｓに基づいて第(3)式で示すような演算を行う。
Ｒｔ＝［｛ＶＡ＋Ｖｂ−２ＶＢ｝／｛Ｖｂ−Ｖ Ｚ｝］Ｒｓ (3) そしてさらに、演算回路10は、このようにして演算され
た抵抗値Ｒｔ（Ω）を温度信号（℃）に変換する。
た抵抗値Ｒｔ（Ω）を温度信号（℃）に変換する。
このように構成することにより、従来の測温抵抗体Ｒｔ
を用いた温度測定装置に必要であった測温抵抗体Ｒｔに
基準電流を加えるための定電流源および測温抵抗体Ｒｔ
の端子Ａ，Ｂ間の電位差に基づいて抵抗値（Ω）を温度
値（℃）に変換する信号変換回路は不要になり、回路構
成が比較的簡単になるとともに、長期間にわたって高精
度，高安定度が必要な回路部品も少なくてよく、コスト
の低減を図ることができる。
を用いた温度測定装置に必要であった測温抵抗体Ｒｔに
基準電流を加えるための定電流源および測温抵抗体Ｒｔ
の端子Ａ，Ｂ間の電位差に基づいて抵抗値（Ω）を温度
値（℃）に変換する信号変換回路は不要になり、回路構
成が比較的簡単になるとともに、長期間にわたって高精
度，高安定度が必要な回路部品も少なくてよく、コスト
の低減を図ることができる。
ところで、第１図の構成において、測温抵抗体の抵抗値
測定動作時の測定電圧ＶＡ，ＶＢ，Ｖｂ，ＶＺに関連し
たアンプ１の出力は、零から正極性の範囲のみになる。
これは、Ａ／Ｄ変換器６がフルスパンで正，負の両極性
の範囲のアナログ入力信号をデジタル信号に変換できる
ように構成されている場合、1/2の分解能で変換するこ
とになってしまう。そこで、第１図の装置では、切換ス
イッチＳＷ9により抵抗Ｒ9またはＲ10を選択的に加算器
５に接続してＡ／Ｄ変換器６に加えるオフセット量を変
えるようにしている。すなわち、例えば抵抗Ｒ9を接続
した場合にはＡ／Ｄ変換器６はフルスパンで零を中心に
して正，負両極性の範囲のアナログ入力信号をデジタル
信号に変換することができ、例えば抵抗Ｒ10を接続した
場合にはＡ／Ｄ変換器６はフルスパンで零から正極性の
範囲のアナログ入力信号をデジタル信号に変換できて、
分解能を高めることができる。
測定動作時の測定電圧ＶＡ，ＶＢ，Ｖｂ，ＶＺに関連し
たアンプ１の出力は、零から正極性の範囲のみになる。
これは、Ａ／Ｄ変換器６がフルスパンで正，負の両極性
の範囲のアナログ入力信号をデジタル信号に変換できる
ように構成されている場合、1/2の分解能で変換するこ
とになってしまう。そこで、第１図の装置では、切換ス
イッチＳＷ9により抵抗Ｒ9またはＲ10を選択的に加算器
５に接続してＡ／Ｄ変換器６に加えるオフセット量を変
えるようにしている。すなわち、例えば抵抗Ｒ9を接続
した場合にはＡ／Ｄ変換器６はフルスパンで零を中心に
して正，負両極性の範囲のアナログ入力信号をデジタル
信号に変換することができ、例えば抵抗Ｒ10を接続した
場合にはＡ／Ｄ変換器６はフルスパンで零から正極性の
範囲のアナログ入力信号をデジタル信号に変換できて、
分解能を高めることができる。
なお、上記実施例では、変換抵抗体として温度を測定物
理量とする測温抵抗体を用いる例を示したが、圧力や歪
に応じて抵抗値が変化するゲージ抵抗体などであっても
よく、これら変換抵抗体よりなる測定系統を複数設けて
おいてマルチプレクサで切り換えるようにしてもよい。
理量とする測温抵抗体を用いる例を示したが、圧力や歪
に応じて抵抗値が変化するゲージ抵抗体などであっても
よく、これら変換抵抗体よりなる測定系統を複数設けて
おいてマルチプレクサで切り換えるようにしてもよい。
また、上記実施例では、信号処理装置を記録計に組み込
んだ例について説明したが、データロガーなどにも組み
込むことができるものである。
んだ例について説明したが、データロガーなどにも組み
込むことができるものである。
（発明の効果） 以上説明したように、本発明によれば、比較的簡単な回
路構成で精度の高い測定が行える信号処理装置が実現で
きる。
路構成で精度の高い測定が行える信号処理装置が実現で
きる。
第１図は本発明の一実施例を用いた記録計の要部を示す
構成説明図、第２図は従来の信号処理装置を用いた記録
計の一例の要部を示す構成構成図である。 １…アンプ、２…温度センサ、５…加算器、６…Ａ／Ｄ
変換器、９…信号絶縁回路、10…演算回路、12…基準電
圧源、Ｒｔ…測温抵抗体、Ｒｓ…基準抵抗。
構成説明図、第２図は従来の信号処理装置を用いた記録
計の一例の要部を示す構成構成図である。 １…アンプ、２…温度センサ、５…加算器、６…Ａ／Ｄ
変換器、９…信号絶縁回路、10…演算回路、12…基準電
圧源、Ｒｔ…測温抵抗体、Ｒｓ…基準抵抗。
Claims (1)
- 【請求項１】マルチプレクサを介して選択的にアンプに
取り込まれた複数のアナログ測定電圧Ｖｉを増幅して積
分形のＡ／Ｄ変換器に加え、デジタル信号に変換するよ
うに構成された信号処理装置において、複数のアナログ
測定電圧Ｖｉのそれぞれの測定を１測定周期とする各測
定周期毎に共通電位点の電圧ＶＺおよびＡ／Ｄ変換器の
フルスパンに対応した既知の基準電圧ＶＦをマルチプレ
クサを介して選択的にアンプに加え、アンプのゲインを
第１のゲインＧ１に設定してＶＺ，ＶＦを測定すること
により測定結果ＶＺ(G1)，ＶＦ(G1)を求めるとともに第
２のゲインＧ２に設定してＶｉ，ＶＺを測定することに
より測定結果Ｖｉ(G2)，ＶＺ(G2)を求め、これら測定結
果および既知の基準電圧ＶＦに基づいて、 Ｖｉ＝［｛Ｖｉ(G2)−ＶＺ(G2)｝／｛ＶＦ (G1)−ＶＺ(G1)｝］ＶＦ で表わされる演算を行うことを特徴とする信号処理装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60007175A JPH063465B2 (ja) | 1985-01-18 | 1985-01-18 | 信号処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60007175A JPH063465B2 (ja) | 1985-01-18 | 1985-01-18 | 信号処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61167875A JPS61167875A (ja) | 1986-07-29 |
| JPH063465B2 true JPH063465B2 (ja) | 1994-01-12 |
Family
ID=11658736
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60007175A Expired - Fee Related JPH063465B2 (ja) | 1985-01-18 | 1985-01-18 | 信号処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH063465B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004245851A (ja) * | 2004-05-17 | 2004-09-02 | Shimadzu Corp | 検出信号処理装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5750783Y2 (ja) * | 1977-07-25 | 1982-11-06 | ||
| JPS5632211U (ja) * | 1979-08-18 | 1981-03-30 | ||
| JPS5645756U (ja) * | 1979-09-19 | 1981-04-24 |
-
1985
- 1985-01-18 JP JP60007175A patent/JPH063465B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004245851A (ja) * | 2004-05-17 | 2004-09-02 | Shimadzu Corp | 検出信号処理装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61167875A (ja) | 1986-07-29 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5121051A (en) | Method and apparatus for measuring small electrical signals | |
| JP3244212B2 (ja) | ディジタル測定器 | |
| JPS61210965A (ja) | 低抵抗測定装置 | |
| JP2530950B2 (ja) | Ａｄコンバ―タを用いたサ―ミスタ温度検出装置 | |
| JPH063465B2 (ja) | 信号処理装置 | |
| JPH05196667A (ja) | 測温抵抗体回路 | |
| JP2863758B2 (ja) | 入力オフセット電圧補正装置 | |
| JPH0527828B2 (ja) | ||
| JP3765915B2 (ja) | 増幅器の温度零点補正装置 | |
| JP2595858B2 (ja) | 温度測定回路 | |
| JPH0812114B2 (ja) | デジタル温度検出装置 | |
| JPS6248280B2 (ja) | ||
| JPS60165527A (ja) | 温度計測回路 | |
| SU368574A1 (ru) | Цифровой измеритель относительной влажности воздуха | |
| JPH0537248Y2 (ja) | ||
| JPH0631390Y2 (ja) | デイジタル温度計 | |
| JPS61209331A (ja) | 測温抵抗体入力装置 | |
| JPH064307Y2 (ja) | 圧力計測器の温度補正回路 | |
| JPH0831751B2 (ja) | 増幅装置 | |
| JPS6210382B2 (ja) | ||
| JPS6275326A (ja) | 熱電対入力装置 | |
| JPH0220654Y2 (ja) | ||
| JPS5821213Y2 (ja) | 入力切換装置 | |
| JPS5937710Y2 (ja) | 温度測定装置 | |
| JPH0743219A (ja) | 温度測定装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |