JPH0831751B2 - 増幅装置 - Google Patents

増幅装置

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JPH0831751B2
JPH0831751B2 JP62058594A JP5859487A JPH0831751B2 JP H0831751 B2 JPH0831751 B2 JP H0831751B2 JP 62058594 A JP62058594 A JP 62058594A JP 5859487 A JP5859487 A JP 5859487A JP H0831751 B2 JPH0831751 B2 JP H0831751B2
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芳洋 岡野
信久 河村
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Yokogawa Electric Corp
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Yokogawa Electric Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、例えば計測器に用いて好適な増幅装置に関
するものである。
(従来の技術) 従来の計測器における増幅装置は、一般に第3図に示
す如くの構成の演算増幅器OPが用いられている。図にお
いて、Vsは被測定の電圧源、Rsはその内部抵抗、Riは演
算増幅器OPの入力抵抗を示すものである。被測定の電圧
源Vsの出力はその電圧源の内部抵抗Rsと入力抵抗Riの直
列回路を介して演算増幅器OPの非反転入力端子に加えら
れる。演算増幅器OPのゲインをAとすると、この演算増
幅器OPの反転入力端子には出力電圧Voを抵抗(A−1)
Rと抵抗Rとで分圧した電圧が加えられるようになって
いる。
(発明が解決しようとする問題点) このような構成の増幅装置において、出力電圧Voは Vo=A(Vs+Eerr) …(1) Eerr=VoS+(Rs+Ri)IB …(2) で表される。(2)式において、VoSは演算増幅器OPの
入力換算オフセット電圧、IBは同じく演算増幅器OPのバ
イアス電流を示すものである。これらオフセット電圧Vo
S及びバイアス電流IBは演算増幅器OPには必然的に存在
するもので、第3図に示す増幅装置においてはこのVoS
及びIBにより(1)式で示す如くの誤差Eerrが生じる。
計測器に用いられる増幅装置としては高精度のものが必
要であり、VoS及びIBに起因する測定誤差Eerrは何等か
の手段で補正する必要がある。しかも、オフセット電圧
VoSが大きいと、増幅器OPが飽和し、測定が不能となる
恐れがある。
本発明は、このような問題点を改善するために成され
たものであって、その目的は、オフセット電圧成分VoS
及びバイアス電流成分IBによる誤差が補正され、かつ増
幅器が飽和することの無い極めて高精度で,計測器に用
いて好適な増幅装置を提供するものである。
(問題点を解決する為の手段) 本発明の増幅装置は、 増幅器に測定信号と,抵抗を介さない接地信号及び抵
抗を介した接地信号を選択的に加える入力切換手段、 前記増幅器から出力される測定信号と,抵抗を介さな
い接地信号及び抵抗を介した接地信号を夫々デジタル信
号に変換するA/D変換器、 このA/D変換器により変換された前記抵抗を介さない
接地信号に対応したデジタル信号に基づいて得られる前
記増幅器のオフセット電圧成分と,前記A/D変換器によ
り変換された抵抗を介した接地信号に対応したデジタル
信号に基づいて得られる前記増幅器のバイアス電流成分
とによりこれらオフセット電圧及びバイアス電流成分を
夫々補正する為の補正データを演算するマイクロプロセ
ッサ、 このマイクロプロセッサで求められたオフセット電圧
成分補正データをアナログ信号に変換して前記増幅器の
反転入力端子に帰還する第1のD/A変換器、 及び、前記マイクロプロセッサで求められたバイアス
電流成分補正データをアナログ信号に変換して前記増幅
器の非反転入力端子に帰還する第2のD/A変換器、 で構成されたことを特徴とする。以下、本発明の実施例
を詳細に説明する。
(実施例) 第1図は本発明装置の一実施例を示すブロック図であ
る。図において、9は入力切換手段として用いられるス
イッチであり、測定信号Mの他に、接地電圧Zを直接ま
たは抵抗値RBを有する抵抗10を介してRとして間接的に
増幅器11の非反転入力端子に切換え出力する。
増幅器11の出力端子はA/D変換器12に接続されると共
に、抵抗値R1を有する抵抗13と抵抗値R2を有する抵抗14
とで構成される抵抗分圧回路を介して接地電位点に接続
されている。抵抗分圧回路を構成する抵抗13と14との接
続点は増幅器11の反転入力端子に接続されている。
A/D変換器12で変換されたデジタル信号は各種の演算
制御を行うマイクロプロセッサ15に加えられている。16
はマイクロプロセッサ15から出力されるデジタル信号を
アナログ信号に変換し、抵抗値Rcvを有する抵抗17を介
して増幅器11の反転入力端子に帰還する第1のD/A変換
器、18はマイクロプロセッサ15から出力されるデジタル
信号をアナログ信号に変換し、抵抗値RcIを有する抵抗1
9を介して増幅器11の非反転入力端子に帰還する第2のD
/A変換器である。なお、マイクロプロセッサ15は、スイ
ッチ9の切換制御も行う。このような構成に係わる本発
明装置の動作について以下に説明する。
いま、増幅器11のゲインをAとすると、 A=(R1+R2)/R2 …(3) で表される。各D/A変換器16,18の出力が零の状態でスイ
ッチ9を接地電圧Zの位置にしたときの増幅器11の出力
電圧をVAz1とし、増幅器11の入力換算オフセット電圧を
Vosとすると、VAz1は VAz1=A・Vos …(4) で表される。(4)式で表される増幅器11の出力電圧VA
z1はA/D変換器12でデジタル信号に変換された後、マイ
クロプロセッサ15に与えられてその値が記憶される。マ
イクロプロセッサ15はこの測定値VAz1が第2図に示す許
容誤差電圧範囲±Ve maxを越えているか否かを判断す
る。±Ve mexを越えている場合には、このマイクロプロ
セッサ15に予め格納されている設計データに基づいて測
定値VAz1が許容誤差電圧範囲±Ve max内に入るのに充分
な電圧VDを発生する為の補正データを演算し、D/A変換
器16に出力する。
D/A変換器16の出力VDは、抵抗Rcvを介して増幅器11
の反転入力端子に補正電圧として帰還される。この状態
でのA/D変換器12の変換出力をVAz2とすると、このVAz2
は許容誤差電圧範囲±Ve max内に入ることになり、マイ
クロプロセッサ15はこの変換出力VAz2を演算時の補正デ
ータとして格納する。
このように、スイッチ9を接地電圧Zの位置にしたと
きのA/D変換器12の変換出力VAz2が許容誤差電圧範囲±V
e max内に入っている状態でスイッチ9をM位置に切り
換えて測定信号源1の出力信号Esを測定するようにすれ
ば(その測定値をVAMとする)、マイクロプロセッサ15
は格納している前記演算補正データVAz2を用いて Es=VAM−VAz2 …(5) の演算を行い、オフセット電圧Vosが許容誤差電圧範囲
にあるように補正された演算を行う。
このように、第1図の増幅装置においては、D/A変換
器16で上記(5)式で示すようにオフセット電圧成分Vo
sを補正するようにしているので、 増幅器11として測定信号よりもオフセット電圧成分Vo
sが大きい安価な増幅器を用いて高精度の測定が行なう
ことができる。
オフセット電圧成分Vosが大きくても、増幅器11が飽
和するようなことはなくなる。
等の効果があるものである。
一方、各D/A変換器16,18の出力が零の状態でスイッチ
9をR位置にしたときの増幅器11の出力信号VARは、 VAR=A(IB・RB+Vos) …(6) となる。(6)式において、IBは第3図で説明した如く
増幅器11のバイアス電流成分を示すものである。(6)
式に示す出力信号VARがA/D変換器12でデジタル信号に変
換された後、マイクロプロセッサ15に与えられる。マイ
クロプロセッサ15は、この信号VARと、このマイクロプ
ロセッサに記憶されていた(4)式で示したオフセット
電圧成分Vosをゲイン倍した値VAZ1を基に VC2=VAR−VAZ1=A・IB・RB …(7) の演算を行う。
マイクロプロセッサ15の出力により、D/A変換器18は
このVC2に対応した電圧を出力し、この出力電圧は抵抗
RCIを介してバイアス電流IBを打ち消すように増幅器11
の非反転入力端子に帰還されている。即ち、バイアス電
流IBの補正データとしてD/A変換器18の出力VC2により、
このD/A変換器は −IB=−IC …(8) の関係を有する電流ICを出力する。これによりバイアス
電流IBが補正される。
ここで例えば、|IB|<1nAとし、VC2の感度が1mV/1nA
に対応するものとすると、マイクロプロセッサ15は、±
4ビット分解能(最大電圧は1mV)のデジタル設定値をD
/A変換器18に出力する。これにより、D/A変換器18は±
4ビット分解能で、上記の如く−IB=−ICの関係を有す
る補正電流ICを出力することになる。被測定の信号源1
は内部抵抗Rsを有する。この内部抵抗Rsに下式(8)で
示す如く、バイアス電流IBと補正電流ICとの差の電流
IB′が流れる。
IB′=IB−IC …(9) 第3図に示す従来装置にあってはバイアス電流IBの補
正手段がなく、その為IB×Rsで表されるバイアス電流成
分による誤差が出る。一方、本発明においても、IB′×
Rsで表されるバイアス電流による誤差は出るが、その誤
差としてのIB′の値はIBの値に対してD/A変換器18の±
4ビットの分解能で定まる±(1/16)nAに減少させるこ
とが出来る。
なお、D/A変換器18の出力は、電流出力であっても良
いし、電圧出力であっても良く、必要に応じてカーレン
トミラー等の定電流源を介在させても良い。
以上の如く、マイクロプロセッサ15は、増幅系から出
力される接地信号の直接入力Zに対応したデジタル信号
と、間接入力Rに対応したデジタル信号及び間接入力の
抵抗値RBに基づいてバイアス電流成分IBを求めると共に
接地信号の直接入力Zに対応したデジタル信号に基づい
てオフセット電圧成分Vosを求め、これらバイアス電流I
B及びオフセット電圧成分VOSに基づいてこれらバイアス
電流成分IBおよびオフセット電圧成分VOSを補正するた
めのデータを演算する。そして、オフセット電圧成分補
正データをD/A変換器16に加え、バイアス電流成分補正
データをD/A変換器18に加える。これにより、D/A変換器
16から抵抗17を介してオフセット電圧補正アナログ信号
が増幅器11の反転入力端子に帰還されることになり、D/
A変換器18から抵抗19を介してバイアス電流補正アナロ
グ信号Icが増幅器11の非反転入力端子に帰還されること
になる。従って、この状態で入力切換え手段9をM位置
に切り換えて測定信号源1の出力信号Esを測定すれば、
その測定値VAMは増幅器11によるオフセット電圧成分VOS
及びバイアス電流成分IBが補正され、測定信号Esを正確
に測定することができる。
(発明の効果) 以上説明したように、本発明によれば、比較的安価な
部品で、増幅器とA/D変換器を含む増幅系のオフセット
電圧及びバイアス電流成分に起因する誤差の影響を除去
して高精度の測定が行える増幅装置が実現でき、実用上
の効果極めて大なるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明装置の一実施例を示すブロック図、第2
図は本発明装置の動作説明図、第3図は従来装置の一例
を示すブロック図である。 1……信号線、2……信号源抵抗、3……装置の内部抵
抗、9……スイッチ、10,13,14,17,19……抵抗、11……
増幅器、12……A/D変換器、15……マイクロプロセッ
サ、16,18……D/A変換器。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】増幅器に測定信号と,抵抗を介さない接地
    信号及び抵抗を介した接地信号を選択的に加える入力切
    換手段、 前記増幅器から出力される測定信号と,抵抗を介さない
    接地信号及び抵抗を介した接地信号を夫々デジタル信号
    に変換するA/D変換器、 このA/D変換器により変換された前記抵抗を介さない接
    地信号に対応したデジタル信号に基づいて得られる前記
    増幅器のオフセット電圧成分と,前記A/D変換器により
    変換された抵抗を介した接地信号に対応したデジタル信
    号に基づいて得られる前記増幅器のバイアス電流成分と
    によりこれらオフセット電圧及びバイアス電流成分を夫
    々補正する為の補正データを演算するマイクロプロセッ
    サ、 このマイクロプロセッサで求められたオフセット電圧成
    分補正データをアナログ信号に変換して前記増幅器の反
    転入力端子に帰還する第1のD/A変換器、 及び、前記マイクロプロセッサで求められたバイアス電
    流成分補正データをアナログ信号に変換して前記増幅器
    の非反転入力端子に帰還する第2のD/A変換器、 で構成されたことを特徴とする増幅装置。
JP62058594A 1987-03-13 1987-03-13 増幅装置 Expired - Lifetime JPH0831751B2 (ja)

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