JPH0634664A - 信号観測装置 - Google Patents
信号観測装置Info
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- JPH0634664A JPH0634664A JP18662992A JP18662992A JPH0634664A JP H0634664 A JPH0634664 A JP H0634664A JP 18662992 A JP18662992 A JP 18662992A JP 18662992 A JP18662992 A JP 18662992A JP H0634664 A JPH0634664 A JP H0634664A
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- signal
- data
- input
- pattern
- circuit
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は入力信号の中の予め設定された特定
の信号パターン又は特定の波形パターンの所を毎回確実
に表示することができる信号観測装置を提供することを
目的としている。 【構成】 本発明において、トリガ検出回路72は入力
信号100に特定の条件が生じると、サンプリングカウ
ンタ73を起動する。これにより、データ記録用メモリ
75はサンプリング回路71から入力された前記入力信
号100を記憶する。その後、パターン検出回路78の
比較器783は前記メモリ75からデータを読み出し
て、シフトレジスタ781に入力した後、シフトレジス
タ782に設定されている基準データと比較して両者が
一致すると、近似率チェック回路785が前記両信号の近
似率をチェックし、これが所定の近似率以上であった場
合、位置調整回路79によって決められた範囲の信号が
前記メモリ75から読み出され、これがデータ変換回路
76を介して表示部77に表示される。
の信号パターン又は特定の波形パターンの所を毎回確実
に表示することができる信号観測装置を提供することを
目的としている。 【構成】 本発明において、トリガ検出回路72は入力
信号100に特定の条件が生じると、サンプリングカウ
ンタ73を起動する。これにより、データ記録用メモリ
75はサンプリング回路71から入力された前記入力信
号100を記憶する。その後、パターン検出回路78の
比較器783は前記メモリ75からデータを読み出し
て、シフトレジスタ781に入力した後、シフトレジス
タ782に設定されている基準データと比較して両者が
一致すると、近似率チェック回路785が前記両信号の近
似率をチェックし、これが所定の近似率以上であった場
合、位置調整回路79によって決められた範囲の信号が
前記メモリ75から読み出され、これがデータ変換回路
76を介して表示部77に表示される。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は入力される1ないし複数
の信号の波形やハイかロウかを表示したり記録する信号
観測装置に係わり、特に同様の波形パターンが繰り返し
現れる信号を繰り返し表示するための構成に関する。
の信号の波形やハイかロウかを表示したり記録する信号
観測装置に係わり、特に同様の波形パターンが繰り返し
現れる信号を繰り返し表示するための構成に関する。
【0002】
【従来の技術】図9は従来この種の信号観測装置の一例
を示したブロック図である。入力端子70からは複数の
デジタル信号100が入力され、これらデジタル信号1
00はサンプリング回路71とトリガ検出回路72に入
力される。サンプリング回路71は入力されるデ−タが所
定の基準値に対してハイレベルであるかロ−レベルであ
るかを、例えば100n秒間隔程度でサンプリングし
(2値化し)、そのサンプリング結果702をデ−タ記
録用メモリ75に出力する。一方、トリガ検出回路72
は入力される複数のデジタル信号100の組み合わせパ
タ−ンが予め決められた条件になった時を検出し、この
検出時点でトリガ信号703をサンプリングカウンタ7
3に出力する。サンプリングカウンタ73は発振器74
から供給されるクロック50に基づいて書き込み信号7
04を発生し、この書き込み信号704をデ−タ記録用メ
モリ75に供給する。デ−タ記録用メモリ75は供給さ
れる書き込み信号704に従って、サンプリング回路7
1から出力されるサンプリング信号702を記憶する。
を示したブロック図である。入力端子70からは複数の
デジタル信号100が入力され、これらデジタル信号1
00はサンプリング回路71とトリガ検出回路72に入
力される。サンプリング回路71は入力されるデ−タが所
定の基準値に対してハイレベルであるかロ−レベルであ
るかを、例えば100n秒間隔程度でサンプリングし
(2値化し)、そのサンプリング結果702をデ−タ記
録用メモリ75に出力する。一方、トリガ検出回路72
は入力される複数のデジタル信号100の組み合わせパ
タ−ンが予め決められた条件になった時を検出し、この
検出時点でトリガ信号703をサンプリングカウンタ7
3に出力する。サンプリングカウンタ73は発振器74
から供給されるクロック50に基づいて書き込み信号7
04を発生し、この書き込み信号704をデ−タ記録用メ
モリ75に供給する。デ−タ記録用メモリ75は供給さ
れる書き込み信号704に従って、サンプリング回路7
1から出力されるサンプリング信号702を記憶する。
【0003】このような状態でサンプリングカウンタ7
3にトリガ検出回路72からトリガ信号703が入力さ
れると、サンプリングカウンタ73は前記トリガ信号7
03が入力された時点で、或いはこのトリガ信号703
が入力されてから所定時間経過してからデ−タ記録用メ
モリ75に供給していた書き込み信号704の出力を停
止する。これにより、デ−タ記録用メモリ75にはトリ
ガ検出回路72が検出した組み合わせパタ−ンを有する
複数のデジタル信号のサンプリング値が記録されること
になる。一方この時、デ−タ変換回路76はデ−タ記録
用メモリ75に記録されている複数の信号を読み出し
て、これを表示形式に変換し、変換して得た表示信号を
表示部77に出力する。これにより、CRTのような表
示部77には前述した予め決められた組み合わせパタ−
ンを有する複数のデジタル信号波形が表示される。
3にトリガ検出回路72からトリガ信号703が入力さ
れると、サンプリングカウンタ73は前記トリガ信号7
03が入力された時点で、或いはこのトリガ信号703
が入力されてから所定時間経過してからデ−タ記録用メ
モリ75に供給していた書き込み信号704の出力を停
止する。これにより、デ−タ記録用メモリ75にはトリ
ガ検出回路72が検出した組み合わせパタ−ンを有する
複数のデジタル信号のサンプリング値が記録されること
になる。一方この時、デ−タ変換回路76はデ−タ記録
用メモリ75に記録されている複数の信号を読み出し
て、これを表示形式に変換し、変換して得た表示信号を
表示部77に出力する。これにより、CRTのような表
示部77には前述した予め決められた組み合わせパタ−
ンを有する複数のデジタル信号波形が表示される。
【0004】図10は図9に示したトリガ検出回路72
の詳細構成例を示した回路図である。トリガ検出回路7
2は図示の如く排他的論理和ゲ−ト81、84、論理和
ゲ−ト82、85及びアンドゲ−ト83が組み合わさっ
て構成されており、排他的論理和ゲ−ト81、84の一
方の端子に上記した複数(ここでは2個)のデジタル信
号100が入力される。一方、デ−タ保持回路86は検
出する入力デジタル信号100の組み合わせパタ−ンに
よって“1”又は“0”の信号を前記排他的論理和ゲ−
ト81、84及びオアゲ−ト82、85に出力する。こ
れにより、デ−タ保持回路86が出力する信号の種類に
対応するパタ−ンの信号が排他的論理和ゲ−ト81、8
4に入力された時、アンドゲ−ト83のアンド条件が整
って、このゲート83からトリガ検出信号703が出力
される。
の詳細構成例を示した回路図である。トリガ検出回路7
2は図示の如く排他的論理和ゲ−ト81、84、論理和
ゲ−ト82、85及びアンドゲ−ト83が組み合わさっ
て構成されており、排他的論理和ゲ−ト81、84の一
方の端子に上記した複数(ここでは2個)のデジタル信
号100が入力される。一方、デ−タ保持回路86は検
出する入力デジタル信号100の組み合わせパタ−ンに
よって“1”又は“0”の信号を前記排他的論理和ゲ−
ト81、84及びオアゲ−ト82、85に出力する。こ
れにより、デ−タ保持回路86が出力する信号の種類に
対応するパタ−ンの信号が排他的論理和ゲ−ト81、8
4に入力された時、アンドゲ−ト83のアンド条件が整
って、このゲート83からトリガ検出信号703が出力
される。
【0005】図11は図9に示したトリガ検出回路72
の他の例であって、入力信号がアナログ信号であった場
合に対応している。入力信号100は電圧比較器91の
一方の入力端子に入力され、電圧比較器91の他方の入
力には基準電圧発生器92から発生される基準電圧Vf
が入力されている。このため、電圧比較器91は入力信
号100と前記基準電圧Vfとを比較し、その比較結果
(入力信号100の電圧が前記基準電圧に比較して高い
か又は低いか)によってトリガ信号703を発生する。
の他の例であって、入力信号がアナログ信号であった場
合に対応している。入力信号100は電圧比較器91の
一方の入力端子に入力され、電圧比較器91の他方の入
力には基準電圧発生器92から発生される基準電圧Vf
が入力されている。このため、電圧比較器91は入力信
号100と前記基準電圧Vfとを比較し、その比較結果
(入力信号100の電圧が前記基準電圧に比較して高い
か又は低いか)によってトリガ信号703を発生する。
【0006】上記のような従来の信号観測装置では、入
力信号の組み合わせパターン又は電圧レベルを指定して
前記入力信号のサンプリングのためのトリガを発生させ
るため、前記トリガ発生点を基準にしてサンプリングし
たデータの表示を行うことになる。従って、入力信号と
して同様のパターンを繰り返し持つ信号をデータ記録用
メモリ75に繰り返し記憶した後、表示部77に表示を
行うと、例えば前記指定した組み合わせパターンとなる
ような場所が入力信号中に複数箇所ある場合、前記表示
部77に表示される表示パターンが毎回必ずしも同じに
ならないという欠点があった。
力信号の組み合わせパターン又は電圧レベルを指定して
前記入力信号のサンプリングのためのトリガを発生させ
るため、前記トリガ発生点を基準にしてサンプリングし
たデータの表示を行うことになる。従って、入力信号と
して同様のパターンを繰り返し持つ信号をデータ記録用
メモリ75に繰り返し記憶した後、表示部77に表示を
行うと、例えば前記指定した組み合わせパターンとなる
ような場所が入力信号中に複数箇所ある場合、前記表示
部77に表示される表示パターンが毎回必ずしも同じに
ならないという欠点があった。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記の如く従来の信号
観測装置では、入力される複数の入力信号が予め決めら
れた組み合わせパタ−ンになった時点又は前記入力され
るアナログ信号が予め設定された電圧以上又は以下にな
った時点で、前記入力信号の波形を表示させる構成のた
め、入力信号として同様のパターンが繰り返し生じる信
号を繰り返し表示した場合、前記入力信号中に前記指定
した組み合わせパターンとなるような場所が複数箇所あ
る場合、前記表示部77に表示される表示パターンが毎
回必ずしも同じにならないという欠点があった。
観測装置では、入力される複数の入力信号が予め決めら
れた組み合わせパタ−ンになった時点又は前記入力され
るアナログ信号が予め設定された電圧以上又は以下にな
った時点で、前記入力信号の波形を表示させる構成のた
め、入力信号として同様のパターンが繰り返し生じる信
号を繰り返し表示した場合、前記入力信号中に前記指定
した組み合わせパターンとなるような場所が複数箇所あ
る場合、前記表示部77に表示される表示パターンが毎
回必ずしも同じにならないという欠点があった。
【0008】そこで本発明は上記の欠点を除去し、入力
信号の中の予め設定された特定の組み合わせパターン又
は特定の電圧レベルの所を毎回確実に表示することがで
きる信号観測装置を提供することを目的としている。
信号の中の予め設定された特定の組み合わせパターン又
は特定の電圧レベルの所を毎回確実に表示することがで
きる信号観測装置を提供することを目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は1ないし複数の
入力信号に予め設定された特定の条件が現れたことが検
出されると、前記複数の入力信号の所定範囲を記憶手段
により記憶し、その後、この記憶手段から読み出した信
号を表示する信号観測装置において、表示したい信号部
分の特徴的な波形を有する基準データを予め設定する設
定手段と、前記記憶手段に記憶された信号の波形と前記
設定手段に設定されている基準データの波形とが所定の
近似度で一致するか否かを比較する比較手段と、この比
較手段により前記両信号が所定の近似度で一致したと判
定された場合、前記両信号の一致点で決まる範囲の信号
を前記記憶手段から読み出す読出手段と、この読出手段
によって前記記憶手段から読み出された信号を表示する
表示手段とを具備した構成を有する。
入力信号に予め設定された特定の条件が現れたことが検
出されると、前記複数の入力信号の所定範囲を記憶手段
により記憶し、その後、この記憶手段から読み出した信
号を表示する信号観測装置において、表示したい信号部
分の特徴的な波形を有する基準データを予め設定する設
定手段と、前記記憶手段に記憶された信号の波形と前記
設定手段に設定されている基準データの波形とが所定の
近似度で一致するか否かを比較する比較手段と、この比
較手段により前記両信号が所定の近似度で一致したと判
定された場合、前記両信号の一致点で決まる範囲の信号
を前記記憶手段から読み出す読出手段と、この読出手段
によって前記記憶手段から読み出された信号を表示する
表示手段とを具備した構成を有する。
【0010】
【作用】本発明の信号観測装置において、設定手段は表
示したい信号部分の特徴的な波形を有する基準データを
予め設定する。比較手段は前記記憶手段に記憶された信
号の波形と前記設定手段に設定されている基準データの
波形とが所定の近似度で一致するか否かを比較する。こ
の比較手段により前記両信号が所定の近似度で一致した
と判定された場合、読出手段は前記両信号の一致点で決
まる範囲の信号を前記記憶手段から読み出す。表示手段
は前記読出手段によって前記記憶手段から読み出された
信号を表示する。
示したい信号部分の特徴的な波形を有する基準データを
予め設定する。比較手段は前記記憶手段に記憶された信
号の波形と前記設定手段に設定されている基準データの
波形とが所定の近似度で一致するか否かを比較する。こ
の比較手段により前記両信号が所定の近似度で一致した
と判定された場合、読出手段は前記両信号の一致点で決
まる範囲の信号を前記記憶手段から読み出す。表示手段
は前記読出手段によって前記記憶手段から読み出された
信号を表示する。
【0011】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面を参照して説
明する。図1は本発明の信号観測装置の一実施例を示し
たブロック図である。70は被観測信号100が入力さ
れる入力端子、71は入力信号100を所定間隔でサン
プリングしてデータ記録用メモリ75に出力するサンプ
リング回路、72は入力信号100の中の予め決められ
た組み合わせパターンを検出するトリガ検出回路、73
はトリガ検出回路72からトリガ信号703が入力される
と、発振器74から供給されるクロック50に基づい
て、データ書き込み信号704を作成してデータ記録用
メモリ75に出力するサンプリングカウンタ、74はサ
ンプリングカウンタ73を動作させるクロック50を発
振する発振器、75はサンプリング回路71から入力さ
れるサンプリング値をサンプリングカウンタ73から供
給される書き込み信号又は読み出し信号によって入/出
力するデータ記録用メモリ、76はデータ記録用メモリ
75から出力されたデータを表示形式に変換するデータ変
換回路、77は入力信号100の所定の組み合わせパタ
ーンがある場所で且つ予め設定された波形を有する部分
を表示する表示部、78はデータ記録用メモリ75に記
録された入力信号のパターン部分が所定の波形を有する
パターン部分であるか否かを検出するパターン検出回
路、79はパターン検出回路78からの検出結果に基づ
いて、データ記録用メモリ75から読み出されるデータ
の読み出し位置を調整する信号をサンプリングカウンタ
73に出力する位置調整器である。尚、前記パターン検
出回路78はデータ記録用メモリ75から入力される信
号をシリアル化するシフトレジスタ781、表示させた
いデータの波形と同一の波形を有する基準データを入れ
ておくシフトレジスタ782、シフトレジスタ781と
シフトレジスタ782のデータを比較する比較器78
3、前記基準データを保存するシフトレジスタ784及び
データ記録用メモリ75から読み出されたデータとシフ
トレジスタ784に保存されているデータを比較して、
その近似率をチェックする近似率チェック回路785を
有している。
明する。図1は本発明の信号観測装置の一実施例を示し
たブロック図である。70は被観測信号100が入力さ
れる入力端子、71は入力信号100を所定間隔でサン
プリングしてデータ記録用メモリ75に出力するサンプ
リング回路、72は入力信号100の中の予め決められ
た組み合わせパターンを検出するトリガ検出回路、73
はトリガ検出回路72からトリガ信号703が入力される
と、発振器74から供給されるクロック50に基づい
て、データ書き込み信号704を作成してデータ記録用
メモリ75に出力するサンプリングカウンタ、74はサ
ンプリングカウンタ73を動作させるクロック50を発
振する発振器、75はサンプリング回路71から入力さ
れるサンプリング値をサンプリングカウンタ73から供
給される書き込み信号又は読み出し信号によって入/出
力するデータ記録用メモリ、76はデータ記録用メモリ
75から出力されたデータを表示形式に変換するデータ変
換回路、77は入力信号100の所定の組み合わせパタ
ーンがある場所で且つ予め設定された波形を有する部分
を表示する表示部、78はデータ記録用メモリ75に記
録された入力信号のパターン部分が所定の波形を有する
パターン部分であるか否かを検出するパターン検出回
路、79はパターン検出回路78からの検出結果に基づ
いて、データ記録用メモリ75から読み出されるデータ
の読み出し位置を調整する信号をサンプリングカウンタ
73に出力する位置調整器である。尚、前記パターン検
出回路78はデータ記録用メモリ75から入力される信
号をシリアル化するシフトレジスタ781、表示させた
いデータの波形と同一の波形を有する基準データを入れ
ておくシフトレジスタ782、シフトレジスタ781と
シフトレジスタ782のデータを比較する比較器78
3、前記基準データを保存するシフトレジスタ784及び
データ記録用メモリ75から読み出されたデータとシフ
トレジスタ784に保存されているデータを比較して、
その近似率をチェックする近似率チェック回路785を
有している。
【0012】次に本実施例の動作について説明する。入
力端子70からは複数のデジタル信号100が入力さ
れ、これらデジタル信号100はサンプリング回路71
とトリガ検出回路72に入力される。サンプリング回路
71は所定の基準値に対して入力されるデ−タがハイレ
ベルであるかロ−レベルであるかを、例えば100n秒
間隔程度でサンプリングし(2値化し)、そのサンプリ
ング結果702をデ−タ記録用メモリ75に出力する。
一方、トリガ検出回路72は入力される複数のデジタル
信号100の組み合わせパタ−ンが予め決められたパタ
−ンになった時を検出し、この検出時点でトリガ信号7
03をサンプリングカウンタ73に出力する。サンプリ
ングカウンタ73は発振器74から供給されるクロック
50に基づいて書き込み信号704を発生し、この書き
込み信号704をデ−タ記録用メモリ75に供給する。
デ−タ記録用メモリ75は供給される書き込み信号70
4によって、サンプリング回路71から出力されるサン
プリング信号702を記憶する。
力端子70からは複数のデジタル信号100が入力さ
れ、これらデジタル信号100はサンプリング回路71
とトリガ検出回路72に入力される。サンプリング回路
71は所定の基準値に対して入力されるデ−タがハイレ
ベルであるかロ−レベルであるかを、例えば100n秒
間隔程度でサンプリングし(2値化し)、そのサンプリ
ング結果702をデ−タ記録用メモリ75に出力する。
一方、トリガ検出回路72は入力される複数のデジタル
信号100の組み合わせパタ−ンが予め決められたパタ
−ンになった時を検出し、この検出時点でトリガ信号7
03をサンプリングカウンタ73に出力する。サンプリ
ングカウンタ73は発振器74から供給されるクロック
50に基づいて書き込み信号704を発生し、この書き
込み信号704をデ−タ記録用メモリ75に供給する。
デ−タ記録用メモリ75は供給される書き込み信号70
4によって、サンプリング回路71から出力されるサン
プリング信号702を記憶する。
【0013】このような状態でサンプリングカウンタ7
3にトリガ検出回路72からトリガ信号703が入力さ
れると、サンプリングカウンタ73は前記トリガ信号7
03が入力された時点で、或いはこのトリガ信号703
が入力されてから所定時間経過してからデ−タ記録用メ
モリ75に供給していた書き込み信号704の出力を停
止する。これにより、デ−タ記録用メモリ75にはトリ
ガ検出回路72が検出した組み合わせパタ−ンを有する
複数のデジタル信号100のサンプリング値が記憶され
ることになる。次に、サンプリングカウンタ73はデー
タ記録用メモリ75に読み出し信号60を供給して、前
記メモリ75からデータを読み出すが、読み出されたデ
ータはパターン検出回路78に入力される。
3にトリガ検出回路72からトリガ信号703が入力さ
れると、サンプリングカウンタ73は前記トリガ信号7
03が入力された時点で、或いはこのトリガ信号703
が入力されてから所定時間経過してからデ−タ記録用メ
モリ75に供給していた書き込み信号704の出力を停
止する。これにより、デ−タ記録用メモリ75にはトリ
ガ検出回路72が検出した組み合わせパタ−ンを有する
複数のデジタル信号100のサンプリング値が記憶され
ることになる。次に、サンプリングカウンタ73はデー
タ記録用メモリ75に読み出し信号60を供給して、前
記メモリ75からデータを読み出すが、読み出されたデ
ータはパターン検出回路78に入力される。
【0014】パターン検出回路78のシフトレジスタ7
81はデータ記録用メモリ75からデータを読み出す読
み出し信号60に同期して動作し、データ記録用メモリ
75から入力されるパラレルデータをシリアルデータに
変換して比較器783に出力する。比較器783では前
記シフトレジスタ781から入力されるデータとシフト
レジスタ782に予め設定されているデータとを比較
し、両データが一致した時のみ、近似率チェック回路7
85を起動すると共に、サンプリングカウンタ73に一致
信号を出力する。サンプリングカウンタ73は前記一致
点が入力されると、データ記録用メモリ75に記憶され
ているデータを再び最初から読み出すように読み出し信
号60をメモリ75に出力するため、近似率チェック回
路785に前記メモリ75に記録されているデータが最
初から再び入力される。
81はデータ記録用メモリ75からデータを読み出す読
み出し信号60に同期して動作し、データ記録用メモリ
75から入力されるパラレルデータをシリアルデータに
変換して比較器783に出力する。比較器783では前
記シフトレジスタ781から入力されるデータとシフト
レジスタ782に予め設定されているデータとを比較
し、両データが一致した時のみ、近似率チェック回路7
85を起動すると共に、サンプリングカウンタ73に一致
信号を出力する。サンプリングカウンタ73は前記一致
点が入力されると、データ記録用メモリ75に記憶され
ているデータを再び最初から読み出すように読み出し信
号60をメモリ75に出力するため、近似率チェック回
路785に前記メモリ75に記録されているデータが最
初から再び入力される。
【0015】近似率チェック回路785はメモリ75か
ら入力されるデータとシフトレジスタ784に予め設定
されている基準データとを比較し、その近似率を計算し
て、近似率が所定以上あるパターン部分を位置調整器7
9に知らせる。位置調整器79は近似率チェック回路7
85から知らせてきた前記パターン部分が表示部77の
所定位置に正しく表示されるように、サンプリングカウ
ンタ73を制御してデータ記録用メモリ75のデータ読
み出し位置を調整する。これにより、データ記録用メモ
リ75からは前記パターン検出回路78にて予め設定さ
れた基準データの波形と一致した波形部分の信号が読み
出され、これがデータ変換回路76にて表示形式に変換
されて表示部77に出力される。これにより、表示部7
7には入力信号100の中の予め設定された所定波形部
分が表示される。
ら入力されるデータとシフトレジスタ784に予め設定
されている基準データとを比較し、その近似率を計算し
て、近似率が所定以上あるパターン部分を位置調整器7
9に知らせる。位置調整器79は近似率チェック回路7
85から知らせてきた前記パターン部分が表示部77の
所定位置に正しく表示されるように、サンプリングカウ
ンタ73を制御してデータ記録用メモリ75のデータ読
み出し位置を調整する。これにより、データ記録用メモ
リ75からは前記パターン検出回路78にて予め設定さ
れた基準データの波形と一致した波形部分の信号が読み
出され、これがデータ変換回路76にて表示形式に変換
されて表示部77に出力される。これにより、表示部7
7には入力信号100の中の予め設定された所定波形部
分が表示される。
【0016】図2は上記したデータ記録用メモリ75か
らデータを読み出して所定のパターンであるか否かを検
出した後、前記所定のパターンを表示部77に表示する
までの動作を示したフローチャートである。まず、ステ
ップ201にてデータ記録用メモリ75から信号が読み
出されて、パターン検出回路78のシフトレジスタ78
1に入力する。次にステップ202では、比較器783
にて前記読み出した信号とシフトレジスタ782に設定
されている基準データとを比較し、ステップ203にて
両信号が一致するか否かを判定し、一致しない場合はス
テップ201ヘ戻り、一致した場合はステップ204へ
進む。ステップ204では、サンプリングカウンタ73
のデータ記録用メモリ75に対する読み出し位置を前記
両信号が一致した点で決められる位置に戻してから、ス
テップ205にて再びデータ記録用メモリ75のデータ
を前記決められた点から読み出して、これをパターン検
出回路78の近似率チェック回路785に出力してステ
ップ206へ進む。
らデータを読み出して所定のパターンであるか否かを検
出した後、前記所定のパターンを表示部77に表示する
までの動作を示したフローチャートである。まず、ステ
ップ201にてデータ記録用メモリ75から信号が読み
出されて、パターン検出回路78のシフトレジスタ78
1に入力する。次にステップ202では、比較器783
にて前記読み出した信号とシフトレジスタ782に設定
されている基準データとを比較し、ステップ203にて
両信号が一致するか否かを判定し、一致しない場合はス
テップ201ヘ戻り、一致した場合はステップ204へ
進む。ステップ204では、サンプリングカウンタ73
のデータ記録用メモリ75に対する読み出し位置を前記
両信号が一致した点で決められる位置に戻してから、ス
テップ205にて再びデータ記録用メモリ75のデータ
を前記決められた点から読み出して、これをパターン検
出回路78の近似率チェック回路785に出力してステ
ップ206へ進む。
【0017】ステップ206では、近似率チェック回路
785がデータ記録用メモリ75から読み出された信号
とシフトレジスタ784に設定されている基準データと
を比較して、両信号の一致点数を計算して、ステップ2
07へ進む。ステップ207にて前記計算の終了待ちを
行い、計算が終了するとステップ208へ進む。ステッ
プ208では前記計算した一致点数から前記両信号の近
似率を計算した後、ステップ209へ進み、近似率が指
定値以上でなかった場合はステップ201へ戻り、近似
率以上であった場合はステップ210へ進む。ステップ
210では、位置調整器79にて前記一致点位置を基準
に表示信号波形の読み出しスタート位置を計算して、こ
れをサンプリングカウンタ73に知らせた後、ステップ
211へ進む。ステップ211では、前記位置調整回路
79から入力されるスタート位置に従って1画面分のデ
ータをデータ記録用メモリ75から読み出す読み出し信
号60がサンプリングカウンタ73によりデータ記録用
メモリ75に供給され、前記メモリ75から該当の信号が
読み出されて、データ変換回路76に入力される。ステ
ップ 212では、データ変換回路76により前記信号
が表示形式に変換された後、表示部77へ出力され、ス
テップ213にて前記1画面分の信号の波形が表示部77
の画面に表示される。
785がデータ記録用メモリ75から読み出された信号
とシフトレジスタ784に設定されている基準データと
を比較して、両信号の一致点数を計算して、ステップ2
07へ進む。ステップ207にて前記計算の終了待ちを
行い、計算が終了するとステップ208へ進む。ステッ
プ208では前記計算した一致点数から前記両信号の近
似率を計算した後、ステップ209へ進み、近似率が指
定値以上でなかった場合はステップ201へ戻り、近似
率以上であった場合はステップ210へ進む。ステップ
210では、位置調整器79にて前記一致点位置を基準
に表示信号波形の読み出しスタート位置を計算して、こ
れをサンプリングカウンタ73に知らせた後、ステップ
211へ進む。ステップ211では、前記位置調整回路
79から入力されるスタート位置に従って1画面分のデ
ータをデータ記録用メモリ75から読み出す読み出し信
号60がサンプリングカウンタ73によりデータ記録用
メモリ75に供給され、前記メモリ75から該当の信号が
読み出されて、データ変換回路76に入力される。ステ
ップ 212では、データ変換回路76により前記信号
が表示形式に変換された後、表示部77へ出力され、ス
テップ213にて前記1画面分の信号の波形が表示部77
の画面に表示される。
【0018】図3は上記の如くして表示部77に表示さ
れる信号波形の表示例である。又、図4は図3に示した
2個の信号波形例(サンプル)の中から基準データに近
い波形を検出して表示した表示波形例である。図3の範
囲r1と範囲r2は前記基準データに対して一定値以上
の近似を有すると判定された範囲を示しており、この範
囲r1、r2に基づいて表示範囲h1、h2が計算され
る。その結果、表示範囲h1の表示部77に表示された
画面の波形例が図4に示す如くhh1で、同様に範囲h
2の表示画面例がhh2となる。通常hh1とhh2は
同一の位置にかさねて表示されるが、この例では見やす
いようにhh1とhh2を上下に表示した。又、図4の
erで示した表示波形例は異常信号の例であって、本例
ではこのような本来の信号波形に対して多少異なるとこ
ろがある異常信号をも検索して表示部77に表示するこ
とができる。
れる信号波形の表示例である。又、図4は図3に示した
2個の信号波形例(サンプル)の中から基準データに近
い波形を検出して表示した表示波形例である。図3の範
囲r1と範囲r2は前記基準データに対して一定値以上
の近似を有すると判定された範囲を示しており、この範
囲r1、r2に基づいて表示範囲h1、h2が計算され
る。その結果、表示範囲h1の表示部77に表示された
画面の波形例が図4に示す如くhh1で、同様に範囲h
2の表示画面例がhh2となる。通常hh1とhh2は
同一の位置にかさねて表示されるが、この例では見やす
いようにhh1とhh2を上下に表示した。又、図4の
erで示した表示波形例は異常信号の例であって、本例
ではこのような本来の信号波形に対して多少異なるとこ
ろがある異常信号をも検索して表示部77に表示するこ
とができる。
【0019】図1の装置にて上記した異常信号er部分
を入力信号100の中から検索して表示させるのは、次
に述べるような方法を採る。(1)周期的な信号の場合
で特定値以上の近似率の部分がデータ記録用メモリ75
に記憶されていなければ、この信号を異常とする。
(2)近似率チェック回路785による近似率計算にて
算出された近似率を所定値で区分し、ある範囲に入るも
のを異常信号とする。例えば、近似率95%以上を正
常、近似率80〜95%までを異常はあるが指定パター
ンと見なし、近似率80%未満は指定パターンでないと
判断して他のパターンを探す。(3)入力信号のパター
ンを細かく区切って前記正常、異常を判断する。例え
ば、検出区間をn個に区切ってU1 〜Un とし、各区間
で近似率95%以上のものが7割り以上であれば、指定
パターンであると判断し、それ以外は指定パターンでな
いと判断して他の場所を探す。又、前記各区間での近似
率95%以上のものが全部であれば正常と判断し、前記
近似率95%の区間が7割以上10割り未満であれば異
常と見なす。このようにして定義した異常の方のパター
ンを表示したい場合、前記した定義を図1に示した装置
にセットすることにより、入力信号100の中の異常パ
ターンだけを表示部77に表示させることができ、又こ
のような場合は表示部77の表示時の色を変えたり、或
いは点滅表示して異常表示を強調することができる。
を入力信号100の中から検索して表示させるのは、次
に述べるような方法を採る。(1)周期的な信号の場合
で特定値以上の近似率の部分がデータ記録用メモリ75
に記憶されていなければ、この信号を異常とする。
(2)近似率チェック回路785による近似率計算にて
算出された近似率を所定値で区分し、ある範囲に入るも
のを異常信号とする。例えば、近似率95%以上を正
常、近似率80〜95%までを異常はあるが指定パター
ンと見なし、近似率80%未満は指定パターンでないと
判断して他のパターンを探す。(3)入力信号のパター
ンを細かく区切って前記正常、異常を判断する。例え
ば、検出区間をn個に区切ってU1 〜Un とし、各区間
で近似率95%以上のものが7割り以上であれば、指定
パターンであると判断し、それ以外は指定パターンでな
いと判断して他の場所を探す。又、前記各区間での近似
率95%以上のものが全部であれば正常と判断し、前記
近似率95%の区間が7割以上10割り未満であれば異
常と見なす。このようにして定義した異常の方のパター
ンを表示したい場合、前記した定義を図1に示した装置
にセットすることにより、入力信号100の中の異常パ
ターンだけを表示部77に表示させることができ、又こ
のような場合は表示部77の表示時の色を変えたり、或
いは点滅表示して異常表示を強調することができる。
【0020】図5は図1に示した装置に入力される入力
信号100がアナログ信号の場合の例で、入力電圧波形
の中で所定の電圧Vf以上をトリガ点とした場合、k3
、k4 の2個の点が存在する。このような電圧波形の
中で、k4で始まる期間h4とk3で始まる期間h3の
範囲で示される信号波形の内、前記h3の範囲で示され
る信号波形のみを表示したい場合、このh3で示される
信号波形の部分を基準データとしてシフトレジスタ78
2、784にセットしておけば、上記した入力信号10
0がデジタル信号の場合と同様に、表示部77には図5
のhh3で示した区間の波形が毎回表示されることにな
る。尚、この場合のパターン検出回路78の構成は図1に
示したものと同様でよいが、データの構成がアナログ信
号をアナログデジタルコンバータを使って変換した各サ
ンプルに点ごとのレベル数値になるため、各サンプルご
とに数値の近似を演算する必要がある。
信号100がアナログ信号の場合の例で、入力電圧波形
の中で所定の電圧Vf以上をトリガ点とした場合、k3
、k4 の2個の点が存在する。このような電圧波形の
中で、k4で始まる期間h4とk3で始まる期間h3の
範囲で示される信号波形の内、前記h3の範囲で示され
る信号波形のみを表示したい場合、このh3で示される
信号波形の部分を基準データとしてシフトレジスタ78
2、784にセットしておけば、上記した入力信号10
0がデジタル信号の場合と同様に、表示部77には図5
のhh3で示した区間の波形が毎回表示されることにな
る。尚、この場合のパターン検出回路78の構成は図1に
示したものと同様でよいが、データの構成がアナログ信
号をアナログデジタルコンバータを使って変換した各サ
ンプルに点ごとのレベル数値になるため、各サンプルご
とに数値の近似を演算する必要がある。
【0021】図6は図1に示したパターン検出回路の他
の例を示した図である。41は図1に示したデータ記録
用メモリ75から読み出された信号を保存するシフトレ
ジスタで、25は基準データを保存するシフトレジスタ
である。比較回路42はシフトレジスタ41内の信号と
シフトレジスタ25内の基準データとを1ビットずつ比
較して、各ビットが一致したか否かの比較結果を加算回
路44に出力する。加算回路44は一致したビット数を
加算し、その加算結果を近似率判定回路45に出力す
る。近似率判定回路45は入力された加算結果からシフ
トレジスタ41に入力されている信号とシフトレジスタ
25に設定されている基準データとの近似率を判定し、
その判定結果を図1の位置調整器79に出力する。
の例を示した図である。41は図1に示したデータ記録
用メモリ75から読み出された信号を保存するシフトレ
ジスタで、25は基準データを保存するシフトレジスタ
である。比較回路42はシフトレジスタ41内の信号と
シフトレジスタ25内の基準データとを1ビットずつ比
較して、各ビットが一致したか否かの比較結果を加算回
路44に出力する。加算回路44は一致したビット数を
加算し、その加算結果を近似率判定回路45に出力す
る。近似率判定回路45は入力された加算結果からシフ
トレジスタ41に入力されている信号とシフトレジスタ
25に設定されている基準データとの近似率を判定し、
その判定結果を図1の位置調整器79に出力する。
【0022】図7は表示部77に表示された信号波形の
パターンから基準となるパターン(図1に示したシフト
レジスタ782や784にセットされる基準データ)を
指定する方法について述べたものである。上記した基準
パターンを選択するには、表示部77の画面上に表示さ
れている図7(A)に示したような信号波形の中から前
記基準となるパターン部分を画面上のカーソルC1、C
2を動かして指定する。これにより、指定されたパター
ン部分の基準データがシフトレジスタ782、784に
セットされる。
パターンから基準となるパターン(図1に示したシフト
レジスタ782や784にセットされる基準データ)を
指定する方法について述べたものである。上記した基準
パターンを選択するには、表示部77の画面上に表示さ
れている図7(A)に示したような信号波形の中から前
記基準となるパターン部分を画面上のカーソルC1、C
2を動かして指定する。これにより、指定されたパター
ン部分の基準データがシフトレジスタ782、784に
セットされる。
【0023】図8は上記のような表示部77に表示され
た信号波形から表示させたい基準パターンを選択して装
置にセットする際の手順を示したフローチャートであ
る。まず、ステップ801にて、表示部77の画面上の
カーソルによって指定された範囲の信号波形部分をデー
タ記録用メモリ75から読み出してきて、これを図1に
示したパターン検出回路78のシフトレジスタ781に
候補データとしてセットする。次にステップ802にて
前記シフトレジスタ781からデータを読み出すための
ポインタを初期化した後、ステップ803に進む。ステ
ップ803ではシフトレジスタ781から前記候補デー
タの長さ分のパターンを前記ポインタが示す冒頭部分か
ら読み出し、ステップ804に進む。ステップ804は
この読み出した候補データの波形の中心から±1/4の
範囲に変化点があるかないかを判定し、ない場合はステ
ップ806へ進み、ある場合はステップ805へ進む。
ステップ806では前記基準データの長さの1/2をポ
インタに加算した後、ステップ803へ戻る。ステップ
805ではシフトレジスタ781にセットされている候
補データを前記ポインタの指示する部分から読み出し、
これを基準データとしてシフトレジスタ782、784
にセットした後、処理を終了する。
た信号波形から表示させたい基準パターンを選択して装
置にセットする際の手順を示したフローチャートであ
る。まず、ステップ801にて、表示部77の画面上の
カーソルによって指定された範囲の信号波形部分をデー
タ記録用メモリ75から読み出してきて、これを図1に
示したパターン検出回路78のシフトレジスタ781に
候補データとしてセットする。次にステップ802にて
前記シフトレジスタ781からデータを読み出すための
ポインタを初期化した後、ステップ803に進む。ステ
ップ803ではシフトレジスタ781から前記候補デー
タの長さ分のパターンを前記ポインタが示す冒頭部分か
ら読み出し、ステップ804に進む。ステップ804は
この読み出した候補データの波形の中心から±1/4の
範囲に変化点があるかないかを判定し、ない場合はステ
ップ806へ進み、ある場合はステップ805へ進む。
ステップ806では前記基準データの長さの1/2をポ
インタに加算した後、ステップ803へ戻る。ステップ
805ではシフトレジスタ781にセットされている候
補データを前記ポインタの指示する部分から読み出し、
これを基準データとしてシフトレジスタ782、784
にセットした後、処理を終了する。
【0024】上記したシフトレジスタ781は8ビット
から16ビット程度の短いデータを保存するため、この
データを構成するビット全部が0又は1の場合、1ビッ
トずれても同一となって特定パターンを検索するための
基準データとしては適当でない。即ち、基準データとし
てはなるべく特徴のあるパターンの方がよいため、区間
の中心部、例えば中心から±1/2の範囲に変化がある
ように選定するため、上記したステップ803、80
4、806の処理が行われ、このようすを図7(B)に
ついて説明すると、X1は図7(A)に示した波形の左
端1/4区間に変化点が有るが、中心部にはない。X2
では全区間に変化点がない。X3では中心部に変化点が
あるので、これが基準データの候補としてシフトレジス
タ781にセットされる。又、各区間は8ビット長であ
るので、X1とX2及びX2とX3の位置は半分の4ビ
ットづつずらして変化点のチェックを行っており、この
ような簡単な手順によって基準データとして適切な候補
を選択することができる。尚、上記実施例では基準デー
タの選択として1つの信号波形について説明したが、2
つ以上の信号波形を組み合わせたものを前記基準データ
として選択してもよい。
から16ビット程度の短いデータを保存するため、この
データを構成するビット全部が0又は1の場合、1ビッ
トずれても同一となって特定パターンを検索するための
基準データとしては適当でない。即ち、基準データとし
てはなるべく特徴のあるパターンの方がよいため、区間
の中心部、例えば中心から±1/2の範囲に変化がある
ように選定するため、上記したステップ803、80
4、806の処理が行われ、このようすを図7(B)に
ついて説明すると、X1は図7(A)に示した波形の左
端1/4区間に変化点が有るが、中心部にはない。X2
では全区間に変化点がない。X3では中心部に変化点が
あるので、これが基準データの候補としてシフトレジス
タ781にセットされる。又、各区間は8ビット長であ
るので、X1とX2及びX2とX3の位置は半分の4ビ
ットづつずらして変化点のチェックを行っており、この
ような簡単な手順によって基準データとして適切な候補
を選択することができる。尚、上記実施例では基準デー
タの選択として1つの信号波形について説明したが、2
つ以上の信号波形を組み合わせたものを前記基準データ
として選択してもよい。
【0025】本実施例によれば、表示部77に表示させ
たい信号波形に対応する基準データをパターン検出回路
78にセットしておけば、入力信号の中で予め決められ
たパターンの部分で且つ前記基準データに一致するもの
をデータ記録用メモリ75のデータから探して、これを
表示部77に表示するため、入力信号100が繰り返し
信号で且つこの信号を前記条件で繰り返し表示部77に
表示させても、毎回所定の信号波形部分を表示させるこ
とができる。又、パターン検出回路78に異常パターン
の条件をセットしておけば、入力信号100の中から前
記異常パターンに対応するデータを検索して、これを表
示部77に表示させることができる。
たい信号波形に対応する基準データをパターン検出回路
78にセットしておけば、入力信号の中で予め決められ
たパターンの部分で且つ前記基準データに一致するもの
をデータ記録用メモリ75のデータから探して、これを
表示部77に表示するため、入力信号100が繰り返し
信号で且つこの信号を前記条件で繰り返し表示部77に
表示させても、毎回所定の信号波形部分を表示させるこ
とができる。又、パターン検出回路78に異常パターン
の条件をセットしておけば、入力信号100の中から前
記異常パターンに対応するデータを検索して、これを表
示部77に表示させることができる。
【0026】
【発明の効果】以上記述した如く本発明の信号観測装置
によれば、入力信号の中の予め設定された特定の組み合
わせパターン又は特定の電圧レベルの所を毎回確実に表
示することができる。
によれば、入力信号の中の予め設定された特定の組み合
わせパターン又は特定の電圧レベルの所を毎回確実に表
示することができる。
【図1】本発明の信号観測装置の一実施例を示したブロ
ック図。
ック図。
【図2】図2は上記したデータ記録用メモリからデータ
を読み出して所定のパターンであるか否かを検出した
後、前記所定のパターンを表示部に表示するまでの動作
を示したフローチャート。
を読み出して所定のパターンであるか否かを検出した
後、前記所定のパターンを表示部に表示するまでの動作
を示したフローチャート。
【図3】上記の如くして表示部に表示される信号波形例
を示した図。
を示した図。
【図4】図3に示したサンプル波形を図1に示した表示
部に表示した際の波形例を示した図。
部に表示した際の波形例を示した図。
【図5】図1に入力される入力信号がアナログ信号の場
合のパターン検出例を説明する図。
合のパターン検出例を説明する図。
【図6】図1に示したパターン検出回路の他の例を示し
た図。
た図。
【図7】図1に示した表示部に表示された信号波形のパ
ターンから基準となるパターンを指定する方法について
説明した図。
ターンから基準となるパターンを指定する方法について
説明した図。
【図8】図1に示した表示部に表示された信号波形から
基準パターンを選択して装置にセットする際の手順を示
したフローチャート。
基準パターンを選択して装置にセットする際の手順を示
したフローチャート。
【図9】従来この種の信号観測装置の一例を示したブロ
ック図。
ック図。
【図10】図9に示したトリガ検出回路の詳細構成例を
示した回路図。
示した回路図。
【図11】図9に示したトリガ検出回路の他の詳細構成
例を示した回路図。
例を示した回路図。
70…入力端子 71…サンプ
リング回路 72…トリガ検出回路 73…サンプ
リングカウンタ 74…発振器 75…データ
記録用メモリ 76…データ変換回路 77…表示部 78…パターン検出回路 79…位置調
整回路
リング回路 72…トリガ検出回路 73…サンプ
リングカウンタ 74…発振器 75…データ
記録用メモリ 76…データ変換回路 77…表示部 78…パターン検出回路 79…位置調
整回路
Claims (1)
- 【請求項1】 入力信号に予め設定された特定の電圧条
件または組合せ条件が現れたことが検出されると、前記
複数の入力信号の所定範囲を記憶手段により記憶し、そ
の後、この記憶手段から読み出した信号を表示する信号
観測装置において、表示したい信号部分の特徴的な波形
を有する基準データを予め設定する設定手段と、前記記
憶手段に記憶された信号の波形と前記設定手段に設定さ
れている基準データの波形とが所定の近似度で一致する
か否かを比較する比較手段と、この比較手段により前記
両信号が所定の近似度で一致したと判定された場合、前
記両信号の一致点で決まる範囲の信号を前記記憶手段か
ら読み出す読出手段と、この読出手段によって前記記憶
手段から読み出された信号を表示する表示手段とを具備
したことを特徴とする信号観測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18662992A JPH0634664A (ja) | 1992-07-14 | 1992-07-14 | 信号観測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18662992A JPH0634664A (ja) | 1992-07-14 | 1992-07-14 | 信号観測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0634664A true JPH0634664A (ja) | 1994-02-10 |
Family
ID=16191928
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18662992A Withdrawn JPH0634664A (ja) | 1992-07-14 | 1992-07-14 | 信号観測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0634664A (ja) |
-
1992
- 1992-07-14 JP JP18662992A patent/JPH0634664A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19991005 |