JPH0634764A - 素線絶縁導体の絶縁皮膜除去の確認装置 - Google Patents
素線絶縁導体の絶縁皮膜除去の確認装置Info
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- JPH0634764A JPH0634764A JP21460992A JP21460992A JPH0634764A JP H0634764 A JPH0634764 A JP H0634764A JP 21460992 A JP21460992 A JP 21460992A JP 21460992 A JP21460992 A JP 21460992A JP H0634764 A JPH0634764 A JP H0634764A
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Geophysics And Detection Of Objects (AREA)
- Removal Of Insulation Or Armoring From Wires Or Cables (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ケーブル導体を構成する絶縁素線に対して、
絶縁皮膜の除去を行った際に、その任意の素線に対して
表面の絶縁抵抗を測定できるようにする。 【構成】 測定部材10は、ガイドロッド11の先端部
に電極13を形成し、そのガイドロッドの本体部の表面
に絶縁被覆を設けたものを用い、ガイドロッドの先端部
付近にガイドリング15を設けている。そして、前記ガ
イドリング15をセグメント導体の素線のうちの1本の
素線5に対して装着し、素線の表面に電極13を押圧し
て、素線5とガイドロッド11の端部とを、電線を介し
てそれぞれ測定器19に接続し、素線の絶縁皮膜の除去
の状態を、導通性または絶縁性を示す値として、電気的
に知ることができるようにする。
絶縁皮膜の除去を行った際に、その任意の素線に対して
表面の絶縁抵抗を測定できるようにする。 【構成】 測定部材10は、ガイドロッド11の先端部
に電極13を形成し、そのガイドロッドの本体部の表面
に絶縁被覆を設けたものを用い、ガイドロッドの先端部
付近にガイドリング15を設けている。そして、前記ガ
イドリング15をセグメント導体の素線のうちの1本の
素線5に対して装着し、素線の表面に電極13を押圧し
て、素線5とガイドロッド11の端部とを、電線を介し
てそれぞれ測定器19に接続し、素線の絶縁皮膜の除去
の状態を、導通性または絶縁性を示す値として、電気的
に知ることができるようにする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、素線絶縁導体を構成す
る素線に対して、絶縁皮膜除去を行った際に、その素線
における絶縁皮膜の除去の状態を測定する装置に関す
る。
る素線に対して、絶縁皮膜除去を行った際に、その素線
における絶縁皮膜の除去の状態を測定する装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】大容量送電ケーブルにおいて、表皮効果
に起因する送電損失を低減する目的で、導体素線にエナ
メル絶縁(例えばポリイミドアミド被覆)した絶縁皮膜
付き導体素線が用いられることがある。そして、前記ケ
ーブル導体の終端の処理を行う場合、または、接続処理
を行う場合には、そのケーブルの端部の電気的導通性を
確保するために、素線の絶縁皮膜の処理を行う必要があ
る。そこで、前記素線の絶縁皮膜の除去を行うために、
一般にサンドブラスト方式による処理手段が用いられて
おり、かかるサンドブラスト方式の装置としては、実開
平4−17614号公報等に示されるように、筐体内に
設けたショットガンからサンド(アルミナ粉末)を圧縮
空気とともに吹付けて、皮膜の除去を行う手段が知られ
ている。
に起因する送電損失を低減する目的で、導体素線にエナ
メル絶縁(例えばポリイミドアミド被覆)した絶縁皮膜
付き導体素線が用いられることがある。そして、前記ケ
ーブル導体の終端の処理を行う場合、または、接続処理
を行う場合には、そのケーブルの端部の電気的導通性を
確保するために、素線の絶縁皮膜の処理を行う必要があ
る。そこで、前記素線の絶縁皮膜の除去を行うために、
一般にサンドブラスト方式による処理手段が用いられて
おり、かかるサンドブラスト方式の装置としては、実開
平4−17614号公報等に示されるように、筐体内に
設けたショットガンからサンド(アルミナ粉末)を圧縮
空気とともに吹付けて、皮膜の除去を行う手段が知られ
ている。
【0003】また、前述したように、サンドブラスト方
式を用いて素線の絶縁皮膜を除去した際に、その絶縁皮
膜の除去の状態を確認することが必要である。そこで、
例えば、特公平3−60056号公報等に示されるよう
に、セグメント導体を一括した状態で電気抵抗を測定
し、その計測値から素線の絶縁皮膜の除去の状態を判断
することが提案されている。前記従来例の絶縁皮膜の除
去程度の検知方法では、図7に示されるように構成した
装置が用いられている。前記図7に示される測定装置2
0では、ケーブル1の絶縁体を剥離して、ケーブル導体
3を露出させ、その露出されたケーブル導体3の先端部
から所定の長さの範囲Lに亘って、絶縁皮膜の除去を行
った後で、切断端部と長さLの間隔を介した部分に対し
て、それぞれ電極21、22を装着する。
式を用いて素線の絶縁皮膜を除去した際に、その絶縁皮
膜の除去の状態を確認することが必要である。そこで、
例えば、特公平3−60056号公報等に示されるよう
に、セグメント導体を一括した状態で電気抵抗を測定
し、その計測値から素線の絶縁皮膜の除去の状態を判断
することが提案されている。前記従来例の絶縁皮膜の除
去程度の検知方法では、図7に示されるように構成した
装置が用いられている。前記図7に示される測定装置2
0では、ケーブル1の絶縁体を剥離して、ケーブル導体
3を露出させ、その露出されたケーブル導体3の先端部
から所定の長さの範囲Lに亘って、絶縁皮膜の除去を行
った後で、切断端部と長さLの間隔を介した部分に対し
て、それぞれ電極21、22を装着する。
【0004】そして、前記2つの電極21、22を、テ
スター等の抵抗測定器に接続し、ケーブル導体の絶縁皮
膜を剥離した2つの測定部の間での絶縁抵抗を測定す
る。また、前記従来例では、2つの電極21、22を、
それぞれ2つ割り状の半円形の部材で構成し、その半円
形の部材に設けたフランジ23を介して、固定ねじ24
等により締め付けて固定することにより、電極とケーブ
ル導体との接触状態を良好に設定できるようにする。
スター等の抵抗測定器に接続し、ケーブル導体の絶縁皮
膜を剥離した2つの測定部の間での絶縁抵抗を測定す
る。また、前記従来例では、2つの電極21、22を、
それぞれ2つ割り状の半円形の部材で構成し、その半円
形の部材に設けたフランジ23を介して、固定ねじ24
等により締め付けて固定することにより、電極とケーブ
ル導体との接触状態を良好に設定できるようにする。
【0005】さらに、前記2つの電極21、22の間に
は、絶縁パイプ部材25を取り付けており、該絶縁パイ
プ25も、前記電極の場合と同様に、2つ割にした半円
形断面の部材を組み合わせて、フランジ26を固定ねじ
27により締め付けることによって、抵抗測定区間での
ケーブル導体の素線を圧縮している。そして、前記従来
例に示されるような手段を用いて、絶縁皮膜を除去した
区間での抵抗値を測定することにより、絶縁皮膜除去の
状態を知ることができるとされている。
は、絶縁パイプ部材25を取り付けており、該絶縁パイ
プ25も、前記電極の場合と同様に、2つ割にした半円
形断面の部材を組み合わせて、フランジ26を固定ねじ
27により締め付けることによって、抵抗測定区間での
ケーブル導体の素線を圧縮している。そして、前記従来
例に示されるような手段を用いて、絶縁皮膜を除去した
区間での抵抗値を測定することにより、絶縁皮膜除去の
状態を知ることができるとされている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来例に示されたように、絶縁皮膜を除去したケーブル導
体に対して、一括して抵抗値の測定を行う場合には、抵
抗測定区間が短いことに加えて、抵抗値は各素線の接触
状態に依存するものであり、そのケーブル導体の各素線
が不完全な状態で締め付けられているような場合には、
その測定値にバラツキが生じやすく、正確な測定値を得
ることが困難である。そして、絶縁皮膜の除去の状態を
誤って判断して、ケーブルの接続の処理等を行い、大電
流を流した場合に、素線の絶縁皮膜の除去が不完全な位
置で、電気抵抗が増大して発熱したりするという問題が
発生する。また、サンドブラスト方式の手段を用いて絶
縁皮膜の除去を行う場合に、作業者の技量により、素線
の絶縁皮膜が除去される程度に差があるような場合に、
前記従来例に示されるような一括測定方式では、容易に
絶縁皮膜の残留する程度を知ることができず、目視によ
る測定手段を用いることも必要となる。
来例に示されたように、絶縁皮膜を除去したケーブル導
体に対して、一括して抵抗値の測定を行う場合には、抵
抗測定区間が短いことに加えて、抵抗値は各素線の接触
状態に依存するものであり、そのケーブル導体の各素線
が不完全な状態で締め付けられているような場合には、
その測定値にバラツキが生じやすく、正確な測定値を得
ることが困難である。そして、絶縁皮膜の除去の状態を
誤って判断して、ケーブルの接続の処理等を行い、大電
流を流した場合に、素線の絶縁皮膜の除去が不完全な位
置で、電気抵抗が増大して発熱したりするという問題が
発生する。また、サンドブラスト方式の手段を用いて絶
縁皮膜の除去を行う場合に、作業者の技量により、素線
の絶縁皮膜が除去される程度に差があるような場合に、
前記従来例に示されるような一括測定方式では、容易に
絶縁皮膜の残留する程度を知ることができず、目視によ
る測定手段を用いることも必要となる。
【0007】しかし、目視による素線の絶縁皮膜の除去
程度の判定の作業において、例えば、図6に示されるよ
うに、ケーブル1の導体を圧縮セグメント導体4として
構成し、該セグメント導体4を撚線を圧縮したもので構
成している場合には、露出されたケーブル導体3の基部
まで、素線5の間隔を広げることが困難である。前記図
6に示されるケーブル1では、ケーブルの接続端部の素
線の絶縁皮膜をサンドブラストにより処理して、素線の
表面から絶縁皮膜を除去する場合に、ケーブル1の絶縁
体2を除去して、ケーブル導体3を露出させる。そし
て、前記ケーブル導体3が露出され、セグメント導体4
を構成する素線をほぐした状態で、それぞれの素線の表
面の絶縁皮膜を除去する手段を用いている。
程度の判定の作業において、例えば、図6に示されるよ
うに、ケーブル1の導体を圧縮セグメント導体4として
構成し、該セグメント導体4を撚線を圧縮したもので構
成している場合には、露出されたケーブル導体3の基部
まで、素線5の間隔を広げることが困難である。前記図
6に示されるケーブル1では、ケーブルの接続端部の素
線の絶縁皮膜をサンドブラストにより処理して、素線の
表面から絶縁皮膜を除去する場合に、ケーブル1の絶縁
体2を除去して、ケーブル導体3を露出させる。そし
て、前記ケーブル導体3が露出され、セグメント導体4
を構成する素線をほぐした状態で、それぞれの素線の表
面の絶縁皮膜を除去する手段を用いている。
【0008】ところが、一般のサンドブラストによる絶
縁皮膜の除去手段では、ケーブル導体の露出側の基部の
うち、特に、中心部7では、絶縁皮膜の除去が困難であ
るという問題がある。また、絶縁皮膜の除去状態の確認
を、目視手法により調べる場合には、基部の中心部を大
きく開いたりすることができず、検査が不完全になると
いう問題もある。
縁皮膜の除去手段では、ケーブル導体の露出側の基部の
うち、特に、中心部7では、絶縁皮膜の除去が困難であ
るという問題がある。また、絶縁皮膜の除去状態の確認
を、目視手法により調べる場合には、基部の中心部を大
きく開いたりすることができず、検査が不完全になると
いう問題もある。
【0009】
【発明の目的】本発明は、前述したような従来の素線絶
縁導体の絶縁皮膜除去の確認装置の問題を解決するもの
で、素線表面に接する電極を設けたガイドロッドを用
い、ガイドロッドの端部と素線との間の絶縁抵抗を測定
することにより、絶縁皮膜の除去状態を容易に行い得る
とともに、ガイドロッドに設けたガイド部材により対象
とする素線を特定し、素線が密集したケーブル導体の基
部に対しても、測定装置を差し込んで測定作業を容易に
行い得るような手段を提供することを目的としている。
縁導体の絶縁皮膜除去の確認装置の問題を解決するもの
で、素線表面に接する電極を設けたガイドロッドを用
い、ガイドロッドの端部と素線との間の絶縁抵抗を測定
することにより、絶縁皮膜の除去状態を容易に行い得る
とともに、ガイドロッドに設けたガイド部材により対象
とする素線を特定し、素線が密集したケーブル導体の基
部に対しても、測定装置を差し込んで測定作業を容易に
行い得るような手段を提供することを目的としている。
【0010】
【課題を解決するための手段および作用】本発明は、素
線に絶縁皮膜を設けたケーブルにおいて、サンドブラス
ト等の手段を用いて素線の絶縁皮膜の除去を行ったもの
に対して、該素線の表面抵抗を測定する装置に関する。
本発明の装置では、導電体で構成したガイドロッドの先
端部に電極を設け、該ガイドロッドの電極以外の表面部
に絶縁被覆を施すとともに、ガイドロッドの所定の位置
に素線に沿って電極を案内するためのガイドリングを設
けて測定部材を構成し、前記ケーブルを構成する素線の
表面にガイドロッドの電極を当接させ、素線とガイドロ
ッドの各々の端部に接続した測定器により素線の表面の
抵抗値を測定する機構を構成している。
線に絶縁皮膜を設けたケーブルにおいて、サンドブラス
ト等の手段を用いて素線の絶縁皮膜の除去を行ったもの
に対して、該素線の表面抵抗を測定する装置に関する。
本発明の装置では、導電体で構成したガイドロッドの先
端部に電極を設け、該ガイドロッドの電極以外の表面部
に絶縁被覆を施すとともに、ガイドロッドの所定の位置
に素線に沿って電極を案内するためのガイドリングを設
けて測定部材を構成し、前記ケーブルを構成する素線の
表面にガイドロッドの電極を当接させ、素線とガイドロ
ッドの各々の端部に接続した測定器により素線の表面の
抵抗値を測定する機構を構成している。
【0011】前述したように構成したことにより、本発
明の測定部材では、先端部に電極を設けたガイドロッド
と、特定の素線に対して、電極を案内するガイド部材を
用いるのみであるから、装置の構成を簡素化できるとと
もに、信頼性の高い絶縁性/導通性の測定値を得ること
ができる。また、本発明の装置では、ケーブル導体を構
成する各素線に対して、ガイドロッドの先端部の電極を
接触させながら移動させることにより、絶縁皮膜の除去
の状態を知ることができる。そして、本発明の測定部材
は、セグメント導体等において素線が密集している基部
にまで電極を差し込んで、絶縁抵抗を測定することがで
きるので、サンドブラスト等の手段による絶縁皮膜の除
去作業を行った後で、通常の検査手段を用いた場合に比
較して、素線の表面の絶縁状態を容易に知ることができ
る。
明の測定部材では、先端部に電極を設けたガイドロッド
と、特定の素線に対して、電極を案内するガイド部材を
用いるのみであるから、装置の構成を簡素化できるとと
もに、信頼性の高い絶縁性/導通性の測定値を得ること
ができる。また、本発明の装置では、ケーブル導体を構
成する各素線に対して、ガイドロッドの先端部の電極を
接触させながら移動させることにより、絶縁皮膜の除去
の状態を知ることができる。そして、本発明の測定部材
は、セグメント導体等において素線が密集している基部
にまで電極を差し込んで、絶縁抵抗を測定することがで
きるので、サンドブラスト等の手段による絶縁皮膜の除
去作業を行った後で、通常の検査手段を用いた場合に比
較して、素線の表面の絶縁状態を容易に知ることができ
る。
【0012】
【実施例】図示される例にしたがって、本発明の素線絶
縁導体の絶縁皮膜除去の確認装置を説明する。図1に示
される本発明の測定部材10は、銅等の導電性を有する
金属で構成したガイドロッド11を用い、そのガイドロ
ッドの先端部に大径の電極13を一体に形成し、該電極
13以外の部分では、絶縁被覆12を形成したものを用
いている。また、前記ガイドロッド11の所定の位置に
は、導電性を有しないプラスチック等の材料を用いて構
成したガイドリング15を取り付けている。前記ガイド
リング15は、素線をリングの中に摺動させる状態で、
ガイドロッドを案内するために使用されるもので、特定
の素線を対象として、表面の絶縁抵抗を測定する際に、
ガイドロッドの電極が対象とする素線から離間しないよ
うに、案内する作用を行う。そして、前記電極が接する
素線と、ガイドロッド11の基部との各々に接続した電
線を、測定器19に接続し、素線の絶縁性/導通性を測
定する装置として構成している。
縁導体の絶縁皮膜除去の確認装置を説明する。図1に示
される本発明の測定部材10は、銅等の導電性を有する
金属で構成したガイドロッド11を用い、そのガイドロ
ッドの先端部に大径の電極13を一体に形成し、該電極
13以外の部分では、絶縁被覆12を形成したものを用
いている。また、前記ガイドロッド11の所定の位置に
は、導電性を有しないプラスチック等の材料を用いて構
成したガイドリング15を取り付けている。前記ガイド
リング15は、素線をリングの中に摺動させる状態で、
ガイドロッドを案内するために使用されるもので、特定
の素線を対象として、表面の絶縁抵抗を測定する際に、
ガイドロッドの電極が対象とする素線から離間しないよ
うに、案内する作用を行う。そして、前記電極が接する
素線と、ガイドロッド11の基部との各々に接続した電
線を、測定器19に接続し、素線の絶縁性/導通性を測
定する装置として構成している。
【0013】前記図1に示される測定部材10の他に、
本発明においては、図2に示されるように、2つの電極
を設けた測定部材10aを構成することもできる。前記
測定部材10aにおいては、前記測定部材の場合と同様
に、ガイドロッド11の先端部に電極13を一体に構成
するとともに、そのガイドロッドの表面部に絶縁被覆1
2を一体に被覆している。また、前記ガイドロッド11
の外側には、絶縁性と対摩耗性を有するテフロン等の収
縮チューブ部材18を被覆し、該チューブの端部に電極
14、14aを設けている。なお、前記チューブに代え
て、絶縁性と対摩耗性とを有するパイプを用いることが
できる。
本発明においては、図2に示されるように、2つの電極
を設けた測定部材10aを構成することもできる。前記
測定部材10aにおいては、前記測定部材の場合と同様
に、ガイドロッド11の先端部に電極13を一体に構成
するとともに、そのガイドロッドの表面部に絶縁被覆1
2を一体に被覆している。また、前記ガイドロッド11
の外側には、絶縁性と対摩耗性を有するテフロン等の収
縮チューブ部材18を被覆し、該チューブの端部に電極
14、14aを設けている。なお、前記チューブに代え
て、絶縁性と対摩耗性とを有するパイプを用いることが
できる。
【0014】さらに、前記電極14、14aから電線1
7、17aを、ガイドロッド11に沿わせてそれぞれ配
置し、絶縁チューブ部材18の内部にガイドロッド11
と電線17、17aとを収容する状態で一体に構成して
いる。また、前記ガイドロッド11と絶縁チューブ部材
18の所定の位置には、ガイドリング15、16をそれ
ぞれ設けており、前記ガイドリングを素線に対して取り
付けた状態で、2つの電極を素線に押圧しながら移動さ
せる機構を構成する。そして、前記ガイドロッドの基部
と、電極14、14aに接続する電線17、17aを、
それぞれ測定器19に接続して、素線に対して接触する
2つの電極の間で、絶縁性/導通性を測定し、絶縁皮膜
の除去の状態を判定する装置として構成している。
7、17aを、ガイドロッド11に沿わせてそれぞれ配
置し、絶縁チューブ部材18の内部にガイドロッド11
と電線17、17aとを収容する状態で一体に構成して
いる。また、前記ガイドロッド11と絶縁チューブ部材
18の所定の位置には、ガイドリング15、16をそれ
ぞれ設けており、前記ガイドリングを素線に対して取り
付けた状態で、2つの電極を素線に押圧しながら移動さ
せる機構を構成する。そして、前記ガイドロッドの基部
と、電極14、14aに接続する電線17、17aを、
それぞれ測定器19に接続して、素線に対して接触する
2つの電極の間で、絶縁性/導通性を測定し、絶縁皮膜
の除去の状態を判定する装置として構成している。
【0015】前記図1または図2に示される測定部材1
0、10aは、図3ないし図5に示されるようにして、
素線に沿わせて電極を摺動させながら、素線の表面の絶
縁抵抗、または、導通性を測定し、絶縁皮膜の除去の状
態を測定することができる。前記図3に示される例は、
図1に示される測定部材10を用いて、素線の表面での
絶縁抵抗の測定を行う場合を示しているもので、測定す
る素線5に対して、測定部材10のガイドリング15を
装着し、該ガイドリング15を介して、ガイドロッド1
1の先端部に形成した電極13を、素線5の表面に摺動
させる状態を維持させるようにする。そして、前記素線
5の端部と、ガイドロッド11の端部とを測定器19に
接続し、電極と素線の本体との間の導通性を測定する。
0、10aは、図3ないし図5に示されるようにして、
素線に沿わせて電極を摺動させながら、素線の表面の絶
縁抵抗、または、導通性を測定し、絶縁皮膜の除去の状
態を測定することができる。前記図3に示される例は、
図1に示される測定部材10を用いて、素線の表面での
絶縁抵抗の測定を行う場合を示しているもので、測定す
る素線5に対して、測定部材10のガイドリング15を
装着し、該ガイドリング15を介して、ガイドロッド1
1の先端部に形成した電極13を、素線5の表面に摺動
させる状態を維持させるようにする。そして、前記素線
5の端部と、ガイドロッド11の端部とを測定器19に
接続し、電極と素線の本体との間の導通性を測定する。
【0016】また、前記図3に示されるように、本発明
の測定部材10は、硬い棒状の部材として構成している
ものであるから、撚線で構成したセグメント導体のよう
に、素線5、5a、5b……が密集している状態でも、
ガイドロッド11の先端部を奥の部分にまで挿入でき
る。そして、サンドブラスト等の手段を用いて素線の表
面から絶縁皮膜を除去した後で、素線5の表面の状態
を、電極を接触させながら測定し、絶縁皮膜6が残留し
ている地点を容易に確認することができる。また、前記
測定方法を用いる場合には、素線5に対してガイドロッ
ドの先端部に設けた電極を正確に接触させることがで
き、ケーブル導体の基部の部分にまで測定作業を行うこ
とを可能にする。
の測定部材10は、硬い棒状の部材として構成している
ものであるから、撚線で構成したセグメント導体のよう
に、素線5、5a、5b……が密集している状態でも、
ガイドロッド11の先端部を奥の部分にまで挿入でき
る。そして、サンドブラスト等の手段を用いて素線の表
面から絶縁皮膜を除去した後で、素線5の表面の状態
を、電極を接触させながら測定し、絶縁皮膜6が残留し
ている地点を容易に確認することができる。また、前記
測定方法を用いる場合には、素線5に対してガイドロッ
ドの先端部に設けた電極を正確に接触させることがで
き、ケーブル導体の基部の部分にまで測定作業を行うこ
とを可能にする。
【0017】前記図3に示された測定法は、図4に示さ
れるように、多数の素線が平行に配置されているケーブ
ル導体に対しては、より容易に適用することが可能であ
る。前記図4に示されるように、素線が撚線でない場合
には、測定部材をケーブル導体の基部にまで挿入して、
絶縁状態を測定する作業を容易に行うことができる。ま
た、本発明の測定方法は、図5に示されるように、素線
が交差した状態の場合にも、容易に測定作業を行うこと
ができる。
れるように、多数の素線が平行に配置されているケーブ
ル導体に対しては、より容易に適用することが可能であ
る。前記図4に示されるように、素線が撚線でない場合
には、測定部材をケーブル導体の基部にまで挿入して、
絶縁状態を測定する作業を容易に行うことができる。ま
た、本発明の測定方法は、図5に示されるように、素線
が交差した状態の場合にも、容易に測定作業を行うこと
ができる。
【0018】前記図5に示される例では、測定する素線
に対して、他の素線が交差して電極が他の素線にも接し
ているために、対象とする素線に対して、絶縁皮膜が残
っていても、電極が接している別の素線の露出部を通っ
た電流が測定されることになる。しかし、前記図5に示
されるような状態が発生することは極めて希な例であ
り、一般のケーブル導体では、1本の素線に対して絶縁
皮膜が残っている状態では、他の素線での絶縁皮膜が残
った状態にあるものと推定される。さらに、本発明の測
定方法では、素線の絶縁皮膜の除去の状態を測定するこ
とは、そのケーブル導体の平均的な状態を知ることも1
つの目的であるから、前述したような不都合が局部的に
発生したとしても、大きな問題とならない。
に対して、他の素線が交差して電極が他の素線にも接し
ているために、対象とする素線に対して、絶縁皮膜が残
っていても、電極が接している別の素線の露出部を通っ
た電流が測定されることになる。しかし、前記図5に示
されるような状態が発生することは極めて希な例であ
り、一般のケーブル導体では、1本の素線に対して絶縁
皮膜が残っている状態では、他の素線での絶縁皮膜が残
った状態にあるものと推定される。さらに、本発明の測
定方法では、素線の絶縁皮膜の除去の状態を測定するこ
とは、そのケーブル導体の平均的な状態を知ることも1
つの目的であるから、前述したような不都合が局部的に
発生したとしても、大きな問題とならない。
【0019】また、本発明の測定部材10に設けたガイ
ドリング15は、特定の素線に沿って差し込むように構
成しているものであり、そのガイドロッドが硬い金属で
構成されていること等により、絡み合っている周囲の素
線を除けるようにして、基部にまで差し込むことができ
る。したがって、ガイドロッドの強度が許す範囲の力で
は、素線の密集部に対しても測定部材を容易に差し込む
ことができ、任意の素線に対する絶縁抵抗の測定作業を
行うことを可能にする。
ドリング15は、特定の素線に沿って差し込むように構
成しているものであり、そのガイドロッドが硬い金属で
構成されていること等により、絡み合っている周囲の素
線を除けるようにして、基部にまで差し込むことができ
る。したがって、ガイドロッドの強度が許す範囲の力で
は、素線の密集部に対しても測定部材を容易に差し込む
ことができ、任意の素線に対する絶縁抵抗の測定作業を
行うことを可能にする。
【0020】
【発明の効果】本発明の素線絶縁導体の絶縁皮膜除去の
確認装置は、前述したように構成した測定部材を用いる
ことにより、先端部に電極を設けたガイドロッドと、特
定の素線に対して電極を案内するガイド部材を用いるの
みであるから、装置の構成を簡素化できるとともに、信
頼性の高い絶縁性/導通性の測定値を得ることができ
る。また、本発明の装置では、ケーブル導体を構成する
各素線に対して、ガイドロッドの先端部の電極を接触さ
せながら移動させることにより、絶縁皮膜の除去の状態
を知ることができる。そして、本発明の測定部材は、セ
グメント導体等において素線が密集している基部にまで
電極を差し込んで、絶縁抵抗を測定することができるの
で、サンドブラスト等の手段による絶縁皮膜の除去作業
を行った後で、通常の検査手段を用いた場合に比較し
て、素線の表面の絶縁状態を容易に知ることができる。
確認装置は、前述したように構成した測定部材を用いる
ことにより、先端部に電極を設けたガイドロッドと、特
定の素線に対して電極を案内するガイド部材を用いるの
みであるから、装置の構成を簡素化できるとともに、信
頼性の高い絶縁性/導通性の測定値を得ることができ
る。また、本発明の装置では、ケーブル導体を構成する
各素線に対して、ガイドロッドの先端部の電極を接触さ
せながら移動させることにより、絶縁皮膜の除去の状態
を知ることができる。そして、本発明の測定部材は、セ
グメント導体等において素線が密集している基部にまで
電極を差し込んで、絶縁抵抗を測定することができるの
で、サンドブラスト等の手段による絶縁皮膜の除去作業
を行った後で、通常の検査手段を用いた場合に比較し
て、素線の表面の絶縁状態を容易に知ることができる。
【図1】 本発明の測定部材の構成を示す説明図であ
る。
る。
【図2】 本発明の別の測定部材の構成を示す説明図で
ある。
ある。
【図3】 本発明の測定部材を用いた測定方法の説明図
である。
である。
【図4】 素線が平行なセグメント導体に対する測定状
態の説明図である。
態の説明図である。
【図5】 素線が絡み合った状態のセグメント導体に対
する測定状態の説明図である。
する測定状態の説明図である。
【図6】 ケーブル導体をセグメント導体として構成し
ているケーブルの説明図である。
ているケーブルの説明図である。
【図7】 従来の絶縁抵抗の測定装置の説明図である。
1 ケーブル、 2 絶縁体、 3 ケーブル導
体、4 セグメント導体、 5 素線、 6 絶
縁皮膜、10 測定部材、 11 ガイドロッド、
12 絶縁被覆、13 電極、 15 ガイド
リング、 17 電線、18 チューブ部材、 1
9 測定器、 20 測定装置、21・22 電
極、 25 絶縁パイプ。
体、4 セグメント導体、 5 素線、 6 絶
縁皮膜、10 測定部材、 11 ガイドロッド、
12 絶縁被覆、13 電極、 15 ガイド
リング、 17 電線、18 チューブ部材、 1
9 測定器、 20 測定装置、21・22 電
極、 25 絶縁パイプ。
Claims (1)
- 【請求項1】 素線に絶縁皮膜を設けたケーブルにおい
て、サンドブラスト等の手段を用いて素線の絶縁皮膜の
除去を行ったものに対して、該素線の表面抵抗を測定す
る装置であって、 導電体で構成したガイドロッドの先端部に電極を設け、
該ガイドロッドの電極以外の表面部に絶縁被覆を施すと
ともに、ガイドロッドの所定の位置に素線に沿って電極
を案内するためのガイドリングを設けて測定部材を構成
し、 前記ケーブルを構成する素線の表面にガイドロッドの電
極を当接させ、素線とガイドロッドの各々の端部を測定
器に接続して、素線の表面の抵抗値を測定することを特
徴とする素線絶縁導体の絶縁皮膜除去の確認装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21460992A JPH0634764A (ja) | 1992-07-20 | 1992-07-20 | 素線絶縁導体の絶縁皮膜除去の確認装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21460992A JPH0634764A (ja) | 1992-07-20 | 1992-07-20 | 素線絶縁導体の絶縁皮膜除去の確認装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0634764A true JPH0634764A (ja) | 1994-02-10 |
Family
ID=16658556
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21460992A Pending JPH0634764A (ja) | 1992-07-20 | 1992-07-20 | 素線絶縁導体の絶縁皮膜除去の確認装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0634764A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US12303100B2 (en) | 2019-05-07 | 2025-05-20 | Olympus Corporation | Endoscope and method for confirming grounding of endoscope |
-
1992
- 1992-07-20 JP JP21460992A patent/JPH0634764A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US12303100B2 (en) | 2019-05-07 | 2025-05-20 | Olympus Corporation | Endoscope and method for confirming grounding of endoscope |
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