JPH0643801U - 磁気ディスク検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 煩雑で時間のかかる作業を必要とせずに、磁
気ヘッドに対して所望の値の記録電流を流すことができ
るように記録電流の設定値を補正する。 【構成】 Ｒ／Ｗ回路２１から磁気ヘッドＨに流す記録
電流の設定値を順次切り換え、記録電流検出部３０によ
って記録電流を検出し、オシロスコープ２９によって電
流波形を取り込む。ＣＰＵ１によってオシロスコープ２
９の波形データを取り込み、記録電流の設定値と測定値
の関係を求め、この関係に基づいて記録電流の設定値を
補正する。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は磁気ディスク検査装置に係り、詳細には、ハードディスク、フロッピ ーディスク等の磁気ディスクに対する磁気記録再生特性の検査を行う磁気ディス ク検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】

従来、磁気ディスクを製造、検査する過程において、磁気ディスクを評価する ため、飽和特性（記録電流の変化に対する再生信号レベルの変化を測定する）や 、重ね書き特性（ある記録電流値において、異なる周波数の信号を重ね書き（記 録）し、重ね書き前後の再生信号レベルの変化を測定する）など、記録電流値を 変化させての測定が行われていた。

【０００３】 また、記録電流値の制御は、磁気ヘッドに記録電流を流す再生／記録（以下、 Ｒ／Ｗと記す。）回路において、その記録電流制御端子に流れる電流を制御する ことにより行われていた。

【０００４】

【考案が解決しようとする課題】

しかしながら、実際に磁気ヘッドに流れる電流は、Ｒ／Ｗ回路に接続される磁 気ヘッドの抵抗とインダクタンスによって変わってしまう。従って、ある磁気ヘ ッドで電流値を適切に設定しても、異種の磁気ヘッドが接続されると、意図した 電流値が流れないという問題点があった。

【０００５】 そのため、従来は、実際に使用する磁気ヘッドか、あるいは等価的な回路をＲ ／Ｗ回路に接続し、予め特性を調べ、目的とする電流値になるように合わせこん でいた。しかしながら、この方法では、異種の磁気ヘッドを採用するたびに、マ ニュアルにて、いちいち測定を行い、先に合わせこんだ設定電流値との比較デー タを取らなければならず、その作業が煩雑で、また時間を要するという問題点が あった。

【０００６】 そこで、本考案の目的は、煩雑で時間のかかる作業を必要とせずに、磁気ヘッ ドに対して所望の値の記録電流を流すことができるようにした磁気ディスク検査 装置を提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】

請求項１記載の考案の磁気ディスク検査装置は、検査対象となる磁気ディスク を回転する回転手段と、この回転手段によって回転される磁気ディスクに検査用 磁気信号の記録および再生を行う磁気ヘッドと、この磁気ヘッドに、設定値に応 じた記録電流を供給する記録電流供給手段と、この記録電流供給手段に磁気ヘッ ドを接続した状態で記録電流の値を検出する記録電流検出手段と、記録電流供給 手段に対して所定の値の記録電流の供給を指示し、そのときに記録電流検出手段 によって検出される値を取り込み、指示値と検出値の関係に基づいて、実際の磁 気ディスク検査時における記録電流の値が所望の値となるように記録電流供給手 段に対する設定値を補正する補正手段とを備えたものである。

【０００８】 請求項２記載の考案の磁気ディスク検査装置は、請求項１記載の磁気ディスク 検査装置における補正手段が、記録電流供給手段に対する記録電流の指示値を順 次変化させると共に各指示値に対応する記録電流検出手段による検出値を取り込 み、複数の指示値と検出値に基づいて指示値と検出値の関係を求めるものである 。

【０００９】

【作用】

請求項１記載の磁気ディスク検査装置では、補正手段によって、記録電流供給 手段に対して所定の値の記録電流の供給が指示されると共に、そのときに記録電 流検出手段によって検出される値が取り込まれ、指示値と検出値の関係に基づい て、実際の磁気ディスク検査時における記録電流の値が所望の値となるように記 録電流供給手段に対する設定値が補正される。そして、実際の磁気ディスク検査 時には、補正手段によって補正された設定値に基づいて磁気ヘッドに記録電流が 供給される。

【００１０】 請求項２記載の磁気ディスク検査装置では、補正手段によって、記録電流供給 手段に対する記録電流の指示値が順次変化されると共に各指示値に対応する記録 電流検出手段による検出値が取り込まれ、複数の指示値と検出値に基づいて指示 値と検出値の関係が求められ、この関係に基づいて記録電流供給手段に対する設 定値が補正される。

【００１１】

【実施例】

以下本考案の磁気ディスク検査装置における好適な実施例について、図１から 図８を参照して詳細に説明する。 図１は磁気ディスク検査装置の外観構成を表したものである。

【００１２】 磁気ディスク検査装置は、各部が配置されるベット１００を備えている。この ベット１００の上には、所定回転数で回転するスピンドルモータＭが配置されて いる。このスピンドルモータＭの上部には検査対象となる磁気ディスクＤが取り 付けられるようになっており、磁気ディスクＤを所定回転数で回転する。

【００１３】 さらに、ベット１００上にはキャリッジ１０１が配置されており、モータ１０ ３とボールネジ機構とにより、磁気ディスクＤ（スピンドルモータＭ）の中心方 向に往復移動するようになっている。 このキャリッジ１０１には、磁気ディスクＤの表裏面を移動して磁気記録、再 生するための磁気ヘッドＨが設けられている。

【００１４】 また、ローディング機構１０２が設けられており、検査測定時には上記の各磁 気ヘッドＨが磁気ディスクＤ面に接近するようになっている。 図２は磁気ディスク検査装置の電気回路構成を表したものである。 この図２に示すように、磁気ディスク検査装置は、ＣＰＵ１を備えている。こ のＣＰＵ１は、図示しないＲＯＭ（リード・オンリ・メモリ）やワーキングメモ リとしてのＲＡＭ（ランダム・アクセス・メモリ）を備えている。ＣＰＵ１は、 ＲＯＭに格納された各種プログラムに従って、検査対象となっている磁気ディス クＤの各種ディフェクト検査を行うようになっている。

【００１５】 ＣＰＵ１には、各種ディスプレイやプリンタ等の出力装置１７、キーボード等 の入力装置１５が接続されており、また、データバス等のバスライン２を介して 、ＴＡＡ検出回路３、エラー検出回路５、比較レベル設定回路７、記録制御回路 ９、モータ制御回路１１、タイミング発生回路１３が接続され、さらに例えば汎 用インタフェースバス（ＧＰ−ＩＢ）２８を介してオシロスコープ２９が接続さ れている。

【００１６】 磁気ディスク検査装置は、モータ制御回路１１の制御によって磁気ディスクＤ を回転させるスピンドルモータＭと、磁気ディスクＤに信号の記録および再生を 行う磁気ヘッドＨと、この磁気ヘッドＨに対して記録電流を供給すると共に磁気 ヘッドＨで再生された信号を入力するＲ／Ｗ回路２１とを備えている。Ｒ／Ｗ回 路２１は、記録制御回路９からの制御信号によって制御されるようになっている 。また、Ｒ／Ｗ回路２１と磁気ヘッドＨの間には、記録電流を検出する記録電流 検出部３０が設けられている。この記録電流検出部３０は記録制御回路９によっ て制御され、またこの記録電流検出部３０で検出された記録電流はオシロスコー プ２９に入力されるようになっている。

【００１７】 スピンドルモータＭには、エンコーダ１９が取付けられており、このエンコー ダ１９からは、１回転当たり１パルスの信号でセクタの基準となるインデックス 信号、および、１回転当たり複数パルスの信号でセクタ分割の基準となるクロッ ク信号が出力され、両信号は、タイミング発生回路１３に供給されるようになっ ている。

【００１８】 磁気ヘッドＨで再生された信号は、Ｒ／Ｗ回路２１を介してアンプ２３に供給 されて増幅された後、トラック一周分の再生信号に対する出力平均値（ＴＡＡ） を求めるＴＡＡ検出回路３およびコンパレータ１０に供給されるようになってい る。

【００１９】 さらに、磁気ディスク検査装置はエラー検出回路５を備えている。このエラー 検出回路５には、インデックス信号とクロック信号がエンコーダ１９から、記録 時のタイミングを取るクロック信号としての記録信号が記録制御回路９から、タ イミング信号がタイミング発生回路１３から、各々入力されるようになっている 。

【００２０】 また、ＴＡＡ検出回路３で検出されたＴＡＡに基づいて比較レベルが設定され 、この比較レベルが比較レベル設定回路７に与えられるようになっている。そし て、アンプ２３からの再生信号と、比較レベル設定回路７からの比較レベルとが コンパレータ１０で比較され、その比較結果がエラー検出回路５に供給されるよ うになっている。このエラー検出回路５からは、トリガ信号が出力され、オシロ スコープ２９に供給されるようになっている。

【００２１】 図３は、図２における記録電流検出部３０の構成を示す回路図である。この図 に示すように記録電流検出部３０は、カレントプローブ等の記録電流検出回路３ １と、この記録電流検出回路３１の両端に設けられ、Ｒ／Ｗ回路２１と磁気ヘッ ドＨとの間を直接接続するかあるいは記録電流検出回路３１を介して接続するか を選択する２つのセレクタ３２、３３と、Ｒ／Ｗ回路２１とセレクタ３２の間に 設けられ、記録電流のオーバシュートを軽減するためのダンピング抵抗３４と備 えている。記録電流検出回路３１は、Ｒ／Ｗ回路２１と磁気ヘッドＨとの間を流 れる電流すなわち実際の記録電流の値を検出するものであり、検出した電流値は オシロスコープ２９に入力されるようになっている。また、セレクタ３２、３３ は、記録制御回路９によって切り換えられるようになっている。

【００２２】 図４は、記録電流の設定値の補正に関してＣＰＵ１によって実現される機能を 示す機能ブロック図である。この図に示すように、本実施例では、記録制御回路 ９に対して所定の指示値による記録電流の設定を行う記録電流設定手段４１と、 オシロスコープ２９の波形データを取り込み、記録電流の測定値（検出値）とな る平均振幅値および後述するオーバシュート量を算出する平均振幅値算出手段４ ２と、この平均振幅値算出手段４２で算出した測定値（検出値）と記録電流設定 手段４１で設定した設定値（指示値）とを対応付けて記憶するメモリ４３と、こ のメモリ４３に記憶された設定値と測定値のデータに基づいて、設定値と測定値 の関係を示す回帰パラメータを算出する回帰パラメータ算出手段４４と、この回 帰パラメータ算出手段４４で算出した回帰パラメータに基づいて、実際の磁気デ ィスク検査時における記録電流の設定値を補正し、補正後の設定値にて記録制御 回路９に対して記録電流値の設定を行う記録電流補正手段４５とを備えている。

【００２３】 次に、このように構成された磁気ディスク検査装置における記録電流の設定値 の補正動作について図５に示すフローチャートを参照して説明する。 この図５に示す動作は、例えば磁気ヘッドＨを交換するたびに行う。この動作 では、まずステップ（以下、Ｓと記す。）１で、磁気ディスクＤに書き込む検査 用磁気信号の周波数と、記録電流の初期値、最終値および増加分と、オーバシュ ート量の許容値等の初期設定を行う。次にＳ２で、図３における記録電流検出部 ３０のセレクタ３２、３３を記録電流検出回路３１側に切り換え、Ｒ／Ｗ回路２ １から磁気ヘッドＨに記録電流を流し、磁気ディスクＤに対して検査用磁気信号 の記録動作を行う。この場合、記録電流は始めはＳ１で初期設定した初期値に設 定される。この記録電流の設定は、図４における記録電流設定手段４１が行う。 次にＳ３で、記録電流検出回路３１にて記録電流を検出し、その電流波形をオシ ロスコープ２９に取り込む。次にＳ４で、オシロスコープ２９の波形データを、 バス２８を介してＣＰＵ１に取り込み、図４における平均振幅値算出手段４２に よって平均振幅値およびオーバシュート量を算出し、これらのデータをメモリ４ ３に記憶させる。

【００２４】 ここで、図６を用いて平均振幅値およびオーバシュート量について説明する。 図６は記録電流波形の一例を示すものであり、この図に示すように、波形の最大 のピーク値と最小のピーク値の差をＩ_MAX 、波形が安定した状態における最大値 と最小値の差をＩ_AVE としたとき、平均振幅値はＩ_AVE であり、オーバシュート 量は（Ｉ_MAX −Ｉ_AVE ）／Ｉ_AVE ×１００（％）で表される。

【００２５】 次にＳ５で、Ｓ４において算出したオーバシュート量が許容値以下か否かをＣ ＰＵ１によって判断する。許容値以下ではない場合（Ｎ）は、Ｓ６でダンピング 抵抗３４の変更を要求するメッセージを出力装置１７に表示して終了する。一方 、オーバシュート量が許容値以下の場合（Ｙ）は、Ｓ７で、記録電流値が最終値 か否かをＣＰＵ１によって判断する。最終値ではない場合（Ｎ）は、Ｓ８で、記 録電流の設定値を、Ｓ１で初期設定した増加分だけ１ステップ分増加してＳ２へ 戻る。このようにして、記録電流の設定値が順次増加され、図７に示すように、 メモリ４３に、記録電流の各設定値と測定値とが対応付けられて記億される。そ して、Ｓ７において記録電流値が最終値である（Ｙ）と判断されると、Ｓ９で、 メモリ４３に記憶された測定データより、回帰パラメータを算出し、この算出し た回帰パラメータにて既存のパラメータの値を更新して終了する。

【００２６】 ここで、図８を参照して回帰パラメータについて説明する。図８は記録電流の 各設定値と測定値の関係を示す特性図である。この図に示すように、設定値をｘ 、測定値をｙとしたとき、各設定値と測定値の関係は、例えば回帰直線ｙ＝ａｘ ＋ｂで表すことができ、この式における係数ａおよびｂを、設定値と測定値の関 係を表す回帰パラメータとする。

【００２７】 このようにして、図５に示す動作によって、記録電流の設定値と測定値の関係 が求められる。 そして、実際の磁気ディスク検査時には、回帰パラメータの値に基づいて、図 ４における記録電流補正手段４５によって、実際の記録電流の値が所望の値とな るように設定値を補正し、この補正した設定値を記録制御回路９に指示する。記 録制御回路９は、補正された設定値に基づいてＲ／Ｗ回路２１に記録電流の供給 を指示する。また、実際の磁気ディスク検査時には、記録制御回路９によって図 ３におけるセレクタ３２、３３を切り換え、Ｒ／Ｗ回路２１と磁気ヘッドＨを直 接接続する。

【００２８】 なお、記録電流の周波数によって設定値と測定値の関係が変化する場合には、 複数の周波数について図５に示す動作によって設定値と測定値の関係を求め、実 際の磁気ディスク検査時には、検査に使用する周波数における設定値と測定値の 関係に基づいて設定値を補正するようにしてもよい。

【００２９】

【考案の効果】

以上説明したように本考案によれば、所定の指示値にて磁気ヘッドに記録電流 を供給すると共に、その時の実際の記録電流を検出し、記録電流の指示値と検出 値の関係を求め、この関係に基づいて自動的に記録電流の設定値を補正するよう にしたので、煩雑で時間のかかる作業を必要とせずに、磁気ヘッドに対して所望 の値の記録電流を流すことができるようになるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例の磁気ディスク検査装置の外
観構成を示す斜視図である。

【図２】一実施例の磁気ディスク検査装置の電気回路の
構成を示すブロック図である。

【図３】図２における記録電流検出部の構成を示す回路
図である。

【図４】図２におけるＣＰＵによって実現される機能を
示す機能ブロック図である。

【図５】一実施例の磁気ディスク検査装置における記録
電流の設定値の補正動作を示すフローチャートである。

【図６】記録電流波形の一例を示す波形図である。

【図７】図４におけるメモリに記憶されるデータを示す
説明図である。

【図８】一実施例の磁気ディスク検査装置における記録
電流の設定値と測定値の関係を示す特性図である。

【符号の説明】

１ ＣＰＵ ９ 記録制御回路 ２１ Ｒ／Ｗ回路 ２９ オシロスコープ ３０ 記録電流検出部 ３１ 記録電流検出回路 ３２、３３ セレクタ Ｄ 磁気ディスク Ｈ 磁気ヘッド Ｍ スピンドルモータ

Claims (2)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 検査対象となる磁気ディスクを回転する
   回転手段と、 この回転手段によって回転される前記磁気ディスクに検
   査用磁気信号の記録および再生を行う磁気ヘッドと、 この磁気ヘッドに、設定値に応じた記録電流を供給する
   記録電流供給手段と、 この記録電流供給手段に磁気ヘッドを接続した状態で記
   録電流の値を検出する記録電流検出手段と、 前記記録電流供給手段に対して所定の値の記録電流の供
   給を指示し、そのときに前記記録電流検出手段によって
   検出される値を取り込み、指示値と検出値の関係に基づ
   いて、実際の磁気ディスク検査時における記録電流の値
   が所望の値となるように前記記録電流供給手段に対する
   設定値を補正する補正手段とを具備することを特徴とす
   る磁気ディスク検査装置。
2. 【請求項２】 前記補正手段は、前記記録電流供給手段
   に対する記録電流の指示値を順次変化させると共に各指
   示値に対応する前記記録電流検出手段による検出値を取
   り込み、複数の指示値と検出値に基づいて指示値と検出
   値の関係を求めることを特徴とする請求項１記載の磁気
   ディスク検査装置。