JPH0644549A - 磁気記録媒体及びその製造方法 - Google Patents
磁気記録媒体及びその製造方法Info
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- JPH0644549A JPH0644549A JP21735392A JP21735392A JPH0644549A JP H0644549 A JPH0644549 A JP H0644549A JP 21735392 A JP21735392 A JP 21735392A JP 21735392 A JP21735392 A JP 21735392A JP H0644549 A JPH0644549 A JP H0644549A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、磁性膜の磁気特性向上と媒体S/
Nの向上を目的とする。 【構成】 本発明の磁性膜は、Co(1-x-y) Ptx Cr
y (ただし、0.15≦x≦0.40 , 0<y≦0.
15) の組成を持ち、少なくとも酸素または窒素の一方を含有
しているとともに、結晶粒が、非晶質によって分離され
ている。また、このような磁性膜を作製するために、酸
素又は窒素を含む不活性雰囲気中で、スパッタ圧、スパ
ッタ電力、ターゲット−基板間距離、バイアス電圧の各
種スパッタ条件で作製する。
Nの向上を目的とする。 【構成】 本発明の磁性膜は、Co(1-x-y) Ptx Cr
y (ただし、0.15≦x≦0.40 , 0<y≦0.
15) の組成を持ち、少なくとも酸素または窒素の一方を含有
しているとともに、結晶粒が、非晶質によって分離され
ている。また、このような磁性膜を作製するために、酸
素又は窒素を含む不活性雰囲気中で、スパッタ圧、スパ
ッタ電力、ターゲット−基板間距離、バイアス電圧の各
種スパッタ条件で作製する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気記録媒体に用いら
れる薄膜型の面内磁気記録媒体及びその製造方法に関す
るものである。
れる薄膜型の面内磁気記録媒体及びその製造方法に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】磁気記録媒体の高記録密度化を図るため
には、高保磁力の磁性膜が必要である。例えば、CoN
iCr,CoCrM(M=Ta,Pt)等のCo系合金
は、大きな結晶磁気異方性を有するため、高保磁力媒体
用の磁性膜として知られており、Cr等の下地膜を利用
して結晶配向性を制御すると共に、高温スパッタによっ
て磁性膜中Crの粒界拡散を利用して高保磁力を得るこ
とができる(ヒューレットパッカード ジャーナル(NOV
ENBER.1985) )。
には、高保磁力の磁性膜が必要である。例えば、CoN
iCr,CoCrM(M=Ta,Pt)等のCo系合金
は、大きな結晶磁気異方性を有するため、高保磁力媒体
用の磁性膜として知られており、Cr等の下地膜を利用
して結晶配向性を制御すると共に、高温スパッタによっ
て磁性膜中Crの粒界拡散を利用して高保磁力を得るこ
とができる(ヒューレットパッカード ジャーナル(NOV
ENBER.1985) )。
【0003】しかしながら、上述の磁性膜を用いた磁気
記録媒体においては、従来の塗布型媒体と比較して媒体
ノイズが大きい欠点を有し、磁気記録媒体の記録密度の
向上を妨げている。すなわち、近年の磁気抵抗効果型ヘ
ッド(MRヘッド)の採用等に伴って、システム自体の
ノイズが低下しており、磁気記録媒体のS/N向上が装
置としての記録密度の向上に大きな要因を占めるように
なってきている。
記録媒体においては、従来の塗布型媒体と比較して媒体
ノイズが大きい欠点を有し、磁気記録媒体の記録密度の
向上を妨げている。すなわち、近年の磁気抵抗効果型ヘ
ッド(MRヘッド)の採用等に伴って、システム自体の
ノイズが低下しており、磁気記録媒体のS/N向上が装
置としての記録密度の向上に大きな要因を占めるように
なってきている。
【0004】ところで、媒体ノイズは、磁区構造をなし
た磁気記録媒体の磁性膜が、安定磁区を形成したときの
粒子間の強い磁気的相互作用により、磁化反転部(磁
壁)において不規則なジクザク形状を形成し、この不規
則なジクザク形状を原因として発生する。このため、媒
体ノイズを低下させる方法として、下地Cr膜の成膜の
際に所定のスパッタ条件下で孤立したCrの粒子形態を
形成し、このCrの粒子形態を利用して、磁性粒子間の
磁気的相互作用を低下させ、媒体ノイズを低下させた媒
体が知られている。(IEEE Trans.Magn.Vol.MAG-26(199
0))。
た磁気記録媒体の磁性膜が、安定磁区を形成したときの
粒子間の強い磁気的相互作用により、磁化反転部(磁
壁)において不規則なジクザク形状を形成し、この不規
則なジクザク形状を原因として発生する。このため、媒
体ノイズを低下させる方法として、下地Cr膜の成膜の
際に所定のスパッタ条件下で孤立したCrの粒子形態を
形成し、このCrの粒子形態を利用して、磁性粒子間の
磁気的相互作用を低下させ、媒体ノイズを低下させた媒
体が知られている。(IEEE Trans.Magn.Vol.MAG-26(199
0))。
【0005】しかしながら、このような媒体の製造は、
基板を高温に上げる必要や、厚膜のCr膜を低速で形成
する必要があり、生産性に問題がある。
基板を高温に上げる必要や、厚膜のCr膜を低速で形成
する必要があり、生産性に問題がある。
【0006】一方、下地Cr膜を必要としない磁性膜と
しては、CoNiNを用いたもの(J.Appl.Phys.53(10)
1982)やγ−Fe2 03 を用いたもの(IEEE Trans.Mag
n.Vol.MAG-15,1979 )が低ノイズ媒体として知られてい
るが、この磁性膜においても、磁性膜のスパッタ後の熱
処理が必要であり、生産性に問題がある。また、CoN
iN膜では磁性膜の保磁力が1400[Oe]程度で、
高記録密度媒体として適していない。
しては、CoNiNを用いたもの(J.Appl.Phys.53(10)
1982)やγ−Fe2 03 を用いたもの(IEEE Trans.Mag
n.Vol.MAG-15,1979 )が低ノイズ媒体として知られてい
るが、この磁性膜においても、磁性膜のスパッタ後の熱
処理が必要であり、生産性に問題がある。また、CoN
iN膜では磁性膜の保磁力が1400[Oe]程度で、
高記録密度媒体として適していない。
【0007】また、基板加熱や下地Cr膜、また、熱処
理も必要とせずに高保磁力が得られるCoPt系磁性膜
(IEEE Trans.Magn.,Vol.MAG-12,1982,J.Appl.Phys.,5
4(12)1983 )や、Cr等の第三元素の添加により耐蝕性
を向上させた磁性膜(テレビジョン学会誌 Vol.40,198
6)が知られている。また、CoNiPt膜における酸
素又は窒素が含有した不活性雰囲気中でスパッタする製
造方法及びこの方法で製造された媒体においては、保磁
力の低下という磁気特性の制御ができることが知られて
いる(特開昭63−13256号公報)。
理も必要とせずに高保磁力が得られるCoPt系磁性膜
(IEEE Trans.Magn.,Vol.MAG-12,1982,J.Appl.Phys.,5
4(12)1983 )や、Cr等の第三元素の添加により耐蝕性
を向上させた磁性膜(テレビジョン学会誌 Vol.40,198
6)が知られている。また、CoNiPt膜における酸
素又は窒素が含有した不活性雰囲気中でスパッタする製
造方法及びこの方法で製造された媒体においては、保磁
力の低下という磁気特性の制御ができることが知られて
いる(特開昭63−13256号公報)。
【0008】しかしながら、これらの磁性膜は、本発明
者らの実験によると、結晶粒が密に詰まった状態であ
り、結晶粒間の磁気的相互作用が強く、媒体ノイズは依
然として大きいことが判明した。
者らの実験によると、結晶粒が密に詰まった状態であ
り、結晶粒間の磁気的相互作用が強く、媒体ノイズは依
然として大きいことが判明した。
【0009】本発明者らは、CoPtCr合金の磁性膜
からなる磁気記録媒体の高速スパッタ時に垂直配向しや
すい欠点を、酸素又は窒素添加した雰囲気中でスパッタ
することにより垂直配向を制御することによって媒体ノ
イズを低減できることを明らかにした(特開平1−15
5606号公報)。しかしながら、この媒体では、現状
の面内リングヘッドを用いる限り、媒体S/Nを向上す
ると出力は低下し、装置としてのトータルS/Nは十分
でなかった。
からなる磁気記録媒体の高速スパッタ時に垂直配向しや
すい欠点を、酸素又は窒素添加した雰囲気中でスパッタ
することにより垂直配向を制御することによって媒体ノ
イズを低減できることを明らかにした(特開平1−15
5606号公報)。しかしながら、この媒体では、現状
の面内リングヘッドを用いる限り、媒体S/Nを向上す
ると出力は低下し、装置としてのトータルS/Nは十分
でなかった。
【0010】以上のような現状から、基板加熱、下地C
r膜及び熱処理を必要とせず、耐蝕性にも優れ、150
0[Oe]以上の保磁力を有すると共に、媒体ノイズが
小さい磁性膜が望まれていた。
r膜及び熱処理を必要とせず、耐蝕性にも優れ、150
0[Oe]以上の保磁力を有すると共に、媒体ノイズが
小さい磁性膜が望まれていた。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、Co
系合金を用いた磁性膜においては、高保持力を得ること
ができる反面、媒体ノイズが大きく、磁気記録媒体の記
録密度を向上させることができなかった。
系合金を用いた磁性膜においては、高保持力を得ること
ができる反面、媒体ノイズが大きく、磁気記録媒体の記
録密度を向上させることができなかった。
【0012】また、媒体ノイズを低下させるために磁性
粒子間の磁気的相互作用を断ち切る磁性膜は、その製造
過程において、基板を高温に上げる必要や、厚いCr膜
を低速で形成する必要があり、生産性に問題があった。
粒子間の磁気的相互作用を断ち切る磁性膜は、その製造
過程において、基板を高温に上げる必要や、厚いCr膜
を低速で形成する必要があり、生産性に問題があった。
【0013】一方、下地Cr膜を必要としないγ−Fe
2 03 を用いた磁性膜においても、磁性膜のスパッタ後
の熱処理が必要であり、生産性に問題があった。また、
CoNiN磁性膜は、保磁力が1400[Oe]程度
で、高記録密度媒体として適していなかった。
2 03 を用いた磁性膜においても、磁性膜のスパッタ後
の熱処理が必要であり、生産性に問題があった。また、
CoNiN磁性膜は、保磁力が1400[Oe]程度
で、高記録密度媒体として適していなかった。
【0014】さらに、基板加熱、下地Cr膜及び熱処理
を必要とせずに高保磁力が得られるCoPt系磁性膜や
Cr等の第三元素の添加された磁性膜、酸素又は窒素が
含有した不活性雰囲気中でスパッタされたCoNiPt
膜においては、結晶粒が密に詰まった状態であり、薄膜
媒体としての特性が強く、媒体ノイズは大きかった。
を必要とせずに高保磁力が得られるCoPt系磁性膜や
Cr等の第三元素の添加された磁性膜、酸素又は窒素が
含有した不活性雰囲気中でスパッタされたCoNiPt
膜においては、結晶粒が密に詰まった状態であり、薄膜
媒体としての特性が強く、媒体ノイズは大きかった。
【0015】本発明は、磁性膜の製造過程において、基
板加熱、下地Cr膜及びスパッタ後の熱処理も必要とせ
ず生産性に優れ、高保磁力、媒体ノイズの小さい磁性膜
を提供するものである。
板加熱、下地Cr膜及びスパッタ後の熱処理も必要とせ
ず生産性に優れ、高保磁力、媒体ノイズの小さい磁性膜
を提供するものである。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明は上記従来の課題
を解決するために、非磁性の基板と、この基板上に形成
されたCo(1-x-y) Ptx Cry (ただし、0.15≦x≦0.40 , 0<y≦0.
15)の組成を持つ少なくとも酸素又は窒素の一方を含
有した磁性膜とからなる磁気記録媒体において、前記磁
性膜を結晶質領域と非晶質領域とを有するようにしたこ
とを特徴とする。
を解決するために、非磁性の基板と、この基板上に形成
されたCo(1-x-y) Ptx Cry (ただし、0.15≦x≦0.40 , 0<y≦0.
15)の組成を持つ少なくとも酸素又は窒素の一方を含
有した磁性膜とからなる磁気記録媒体において、前記磁
性膜を結晶質領域と非晶質領域とを有するようにしたこ
とを特徴とする。
【0017】また、前記結晶質領域は前記非晶質領域内
に散在するようにし、前記一の結晶質領域の大きさは5
0nm以下にする。
に散在するようにし、前記一の結晶質領域の大きさは5
0nm以下にする。
【0018】このときのスパッタ条件として、酸素又は
窒素を含有する不活性雰囲気中で、ターゲットから基板
までの距離をd、スパッタ圧をPとの関係が、 d×P>100[mm×Pa] を満たすようにする。
窒素を含有する不活性雰囲気中で、ターゲットから基板
までの距離をd、スパッタ圧をPとの関係が、 d×P>100[mm×Pa] を満たすようにする。
【0019】また、酸素又は窒素を含有する不活性雰囲
気中で、スパッタ圧P、スパッタ電力Wの関係は、 P/W>0.16[Pa/(W/cm2 )] を満たすようにする。
気中で、スパッタ圧P、スパッタ電力Wの関係は、 P/W>0.16[Pa/(W/cm2 )] を満たすようにする。
【0020】さらには、酸素又は窒素を含有する不活性
雰囲気中で、前記基板にバイアスを印加しながらスパッ
タする。
雰囲気中で、前記基板にバイアスを印加しながらスパッ
タする。
【0021】
【作用】本発明における磁性膜内の結晶領域は、情報の
記録を担う微細な磁性粒子の作用をし、非晶質領域は軟
磁性であり透磁率が高いために、記録時にはヘッドとの
相互作用によってヘッド磁界をより急峻にして、鋭い磁
化反転を形成する作用がある。また、非晶質領域は、残
留磁化状態においては媒体ノイズとなる磁化成分を打ち
消す働きを持ち、媒体ノイズを低下させる。
記録を担う微細な磁性粒子の作用をし、非晶質領域は軟
磁性であり透磁率が高いために、記録時にはヘッドとの
相互作用によってヘッド磁界をより急峻にして、鋭い磁
化反転を形成する作用がある。また、非晶質領域は、残
留磁化状態においては媒体ノイズとなる磁化成分を打ち
消す働きを持ち、媒体ノイズを低下させる。
【0022】また、磁性膜中に酸素又は窒素を偏析させ
ると、非晶質領域を形成する。ここで、非晶質とは、加
速電圧100[keV]の電子線を照射したときの6
[オングストローム]径の領域における回折像に反射ス
ポットが認められないことをいうものとする。この酸素
又は窒素が存在した非晶質領域は飽和磁化量が減少する
ため、結晶粒間の磁気的相互作用を低下させ磁性膜の保
磁力の減少を抑制し、結晶質領域の部分については垂直
配向成長を抑制する。
ると、非晶質領域を形成する。ここで、非晶質とは、加
速電圧100[keV]の電子線を照射したときの6
[オングストローム]径の領域における回折像に反射ス
ポットが認められないことをいうものとする。この酸素
又は窒素が存在した非晶質領域は飽和磁化量が減少する
ため、結晶粒間の磁気的相互作用を低下させ磁性膜の保
磁力の減少を抑制し、結晶質領域の部分については垂直
配向成長を抑制する。
【0023】この際、組成を限定することによって、結
晶磁気異方性が大きいために、高保磁力を同時に達成で
きる。
晶磁気異方性が大きいために、高保磁力を同時に達成で
きる。
【0024】本発明の磁性膜の作製は、酸素又は窒素を
含有する不活性雰囲気中でスパッタする。ターゲットか
ら基板までの距離が大きければ、酸素又は窒素の取り込
み量が多く、非晶質領域が形成される。このとき、スパ
ッタ圧が高ければ、酸素又は窒素の取り込み時のエネル
ギーが小さいので、結晶粒内全体に酸素又は窒素が混入
しにくくなり、非晶質の形成は粒界にのみに限定され
る。成膜速度を増すためスパッタ電力を増大させた場
合、酸素又は窒素の取り込み時のエネルギーを増大させ
る結果、膜全体に一様に混入しやすくなるので、スパッ
タ圧を高くすればするほど取り込み時のエネルギーを低
下させる必要がある。
含有する不活性雰囲気中でスパッタする。ターゲットか
ら基板までの距離が大きければ、酸素又は窒素の取り込
み量が多く、非晶質領域が形成される。このとき、スパ
ッタ圧が高ければ、酸素又は窒素の取り込み時のエネル
ギーが小さいので、結晶粒内全体に酸素又は窒素が混入
しにくくなり、非晶質の形成は粒界にのみに限定され
る。成膜速度を増すためスパッタ電力を増大させた場
合、酸素又は窒素の取り込み時のエネルギーを増大させ
る結果、膜全体に一様に混入しやすくなるので、スパッ
タ圧を高くすればするほど取り込み時のエネルギーを低
下させる必要がある。
【0025】また、バイアスの印加は、Arイオンで膜
がスパッタする結果、形成中の磁性粒子の内部エネルギ
ー及び運動エネルギーを増大させるので、これらのエネ
ルギーを得て酸素又は窒素が、取り込まれた結晶粒表面
で素早く結合し、結晶粒内部まで入り込まないため、偏
析を促進する。
がスパッタする結果、形成中の磁性粒子の内部エネルギ
ー及び運動エネルギーを増大させるので、これらのエネ
ルギーを得て酸素又は窒素が、取り込まれた結晶粒表面
で素早く結合し、結晶粒内部まで入り込まないため、偏
析を促進する。
【0026】
【実施例】以下、図面を参照しながら本発明の一実施例
について説明する。 [実施例1]図1は、本発明に係る磁気記録媒体1を示
す部分縦断面図である。磁気記録媒体1は、ガラス等の
非磁性の基板2上にCoPtCr合金の磁性膜3が形成
され、さらにその上にSiO2 等の保護膜4が形成され
ている。この磁気記録媒体1は、以下の方法により製造
した。
について説明する。 [実施例1]図1は、本発明に係る磁気記録媒体1を示
す部分縦断面図である。磁気記録媒体1は、ガラス等の
非磁性の基板2上にCoPtCr合金の磁性膜3が形成
され、さらにその上にSiO2 等の保護膜4が形成され
ている。この磁気記録媒体1は、以下の方法により製造
した。
【0027】図2は、本発明に係る磁気記録媒体1の作
製に用いたDCマグネトロンスパッタ装置の構成を示す
模式図である。基板2はガラス製基板を使用し、また、
磁性膜用のターゲット5は、Co−20at%Pt−3
at%Cr組成のものを使用した。この基板2をチャン
バー6内の所定の位置にセットして、ターゲット5を基
板2の両面に磁性膜が作製できるように基板2の両面に
対向するようにセットした。このときの基板2とターゲ
ット5との距離(以下「ターゲット−基板間距離」とい
う)をdとする。次に、チャンバー6内の残留ガス圧を
4×10-5[Pa]まで真空引きした後、酸素含有量が
1%のArガスを封入し、所定のターゲット−基板間距
離d及びスパッタガス圧Pで基板2上に磁性膜3を40
[nm]形成した。このときのスパッタ電力は、1.6
[W/cm2 ]であった。そして、保護膜として、Si
O2 を20[nm]形成し、フォンブリンZ系の潤滑剤
を塗布して磁気記録媒体1を製造した。
製に用いたDCマグネトロンスパッタ装置の構成を示す
模式図である。基板2はガラス製基板を使用し、また、
磁性膜用のターゲット5は、Co−20at%Pt−3
at%Cr組成のものを使用した。この基板2をチャン
バー6内の所定の位置にセットして、ターゲット5を基
板2の両面に磁性膜が作製できるように基板2の両面に
対向するようにセットした。このときの基板2とターゲ
ット5との距離(以下「ターゲット−基板間距離」とい
う)をdとする。次に、チャンバー6内の残留ガス圧を
4×10-5[Pa]まで真空引きした後、酸素含有量が
1%のArガスを封入し、所定のターゲット−基板間距
離d及びスパッタガス圧Pで基板2上に磁性膜3を40
[nm]形成した。このときのスパッタ電力は、1.6
[W/cm2 ]であった。そして、保護膜として、Si
O2 を20[nm]形成し、フォンブリンZ系の潤滑剤
を塗布して磁気記録媒体1を製造した。
【0028】本実施例においては、ターゲット−基板間
距離d及びスパッタ圧Pをそれぞれ変化させて磁気記録
媒体1を製造した。これらの各種のスパッタ条件で製造
した磁気記録媒体に対して、非晶質の存在、面内保持力
Hc 、飽和磁化量Is 及び角型比S* の測定結果を表1
にまとめる。なお、非晶質の存在は、HR−STEM
(超高分解能走査型電子顕微鏡)によって確認した。す
なわち、図3は、HR−STEMによって10000倍
に拡大した図であり、図4(a),(b)はそれぞれ結
晶質領域及び非晶質領域における極微電子線回折像を示
す図である。
距離d及びスパッタ圧Pをそれぞれ変化させて磁気記録
媒体1を製造した。これらの各種のスパッタ条件で製造
した磁気記録媒体に対して、非晶質の存在、面内保持力
Hc 、飽和磁化量Is 及び角型比S* の測定結果を表1
にまとめる。なお、非晶質の存在は、HR−STEM
(超高分解能走査型電子顕微鏡)によって確認した。す
なわち、図3は、HR−STEMによって10000倍
に拡大した図であり、図4(a),(b)はそれぞれ結
晶質領域及び非晶質領域における極微電子線回折像を示
す図である。
【0029】
【表1】 表1に示すように、ターゲット−基板間距離dとスパッ
タガス圧Pとの積、すなわち、d×Pが100[mm×
Pa]より小さい条件で作製した磁性膜3は超高分解能
分析電子顕微鏡(HR−STEM)によって結晶粒のみ
の集合体であったが、d×Pが100[mm×Pa]以
上のときは、磁性膜中に明らかに非晶質領域の存在が認
められた。
タガス圧Pとの積、すなわち、d×Pが100[mm×
Pa]より小さい条件で作製した磁性膜3は超高分解能
分析電子顕微鏡(HR−STEM)によって結晶粒のみ
の集合体であったが、d×Pが100[mm×Pa]以
上のときは、磁性膜中に明らかに非晶質領域の存在が認
められた。
【0030】この非晶質領域の組成は、HR−STEM
と組み合わせたHR−AEM(EDX法)分析により結
晶粒の組成と若干異なっていることが確認された。図5
(a)及び(b)は、それぞれ磁性膜中の結晶質領域及
び非晶質領域についての分析結果を示す。これらの結果
より、O2 は常に非晶質部分に偏析していることを確認
した。なお、Ptは、その存在が多い領域と少ない領域
が混在していることを確認した。
と組み合わせたHR−AEM(EDX法)分析により結
晶粒の組成と若干異なっていることが確認された。図5
(a)及び(b)は、それぞれ磁性膜中の結晶質領域及
び非晶質領域についての分析結果を示す。これらの結果
より、O2 は常に非晶質部分に偏析していることを確認
した。なお、Ptは、その存在が多い領域と少ない領域
が混在していることを確認した。
【0031】これらの磁性膜の磁気特性は、非晶質領域
が存在する場合では面内保磁力が1200[Oe]以上
であるのに対し、非晶質領域が存在しない場合では面内
保磁力が1200[Oe]よりも小さい。また、d×P
が大きな値であるほど面内保磁力Hc は大きいことがわ
かる。 [実施例2]実施例1と同様に、スパッタ装置はDCス
パッタ装置を用い、基板2はガラス基板を使用した。本
実施例において、磁性膜用のターゲット5は、Co−3
0at%Pt−5at%Cr組成のものを使用した。ま
た、ターゲット−基板間距離dを80[mm]として、
スパッタガス圧P及びスパッタ電力Wをそれぞれ変化さ
せて磁気記録媒体1を製造した。このときの測定結果を
表2に示す。
が存在する場合では面内保磁力が1200[Oe]以上
であるのに対し、非晶質領域が存在しない場合では面内
保磁力が1200[Oe]よりも小さい。また、d×P
が大きな値であるほど面内保磁力Hc は大きいことがわ
かる。 [実施例2]実施例1と同様に、スパッタ装置はDCス
パッタ装置を用い、基板2はガラス基板を使用した。本
実施例において、磁性膜用のターゲット5は、Co−3
0at%Pt−5at%Cr組成のものを使用した。ま
た、ターゲット−基板間距離dを80[mm]として、
スパッタガス圧P及びスパッタ電力Wをそれぞれ変化さ
せて磁気記録媒体1を製造した。このときの測定結果を
表2に示す。
【0032】
【表2】 表2に示すように、P/Wが0.16[Pa/(W/c
m2 )]より大きい条件で作製した場合には、磁性膜中
の結晶粒間に明らかに非晶質領域の存在が認められた。
一方、P/Wが0.16[Pa/(W/cm2 )]より
小さい条件で作製した場合には、非晶質領域の存在は認
められなかった。
m2 )]より大きい条件で作製した場合には、磁性膜中
の結晶粒間に明らかに非晶質領域の存在が認められた。
一方、P/Wが0.16[Pa/(W/cm2 )]より
小さい条件で作製した場合には、非晶質領域の存在は認
められなかった。
【0033】また、これらの非晶質の存在の有無は、X
線回折における回折反射の積分反射強度の大小とも関係
していることを確認した。すなわち、非晶質が認められ
る膜は、回折反射の積分反射強度の合計が小さく、非晶
質が認められない膜では、回折反射の積分反射強度の合
計が大きかった。
線回折における回折反射の積分反射強度の大小とも関係
していることを確認した。すなわち、非晶質が認められ
る膜は、回折反射の積分反射強度の合計が小さく、非晶
質が認められない膜では、回折反射の積分反射強度の合
計が大きかった。
【0034】この非晶質部分の組成は、実施例1と同
様、HR−STEMと組み合わせたHR−AEM(ED
X法)分析により、結晶粒の組成と若干異なっているこ
とを確認した。すなわち、酸素は、常に、非晶質部分に
偏析し、Ptは少ない領域と多い領域の両方に存在して
いることが確認された。
様、HR−STEMと組み合わせたHR−AEM(ED
X法)分析により、結晶粒の組成と若干異なっているこ
とを確認した。すなわち、酸素は、常に、非晶質部分に
偏析し、Ptは少ない領域と多い領域の両方に存在して
いることが確認された。
【0035】また、これらの磁性膜の磁気特性は、非晶
質領域の存在しない場合では結晶粒径が大きいほど面内
保磁力が大きく、また、非晶質が存在する場合では、結
晶粒径が小さいほど面内保磁力が大きいことがわかる。
質領域の存在しない場合では結晶粒径が大きいほど面内
保磁力が大きく、また、非晶質が存在する場合では、結
晶粒径が小さいほど面内保磁力が大きいことがわかる。
【0036】さらに、これらの磁性膜について、薄膜ヘ
ッドを用いて、R/W特性を測定した。ヘッドギャップ
長は、0.3[um]であり、トラック幅は、8[u
m]である。また、ヘッド媒体スペーシングは、0.9
[um]であった。
ッドを用いて、R/W特性を測定した。ヘッドギャップ
長は、0.3[um]であり、トラック幅は、8[u
m]である。また、ヘッド媒体スペーシングは、0.9
[um]であった。
【0037】図6は、本実施例に係る磁気記録媒体の記
録分解能D70を示す図であり、図7は、同媒体の記録分
解能D70における媒体S/Nに示す図である。図6及び
図7より、非晶質領域が確認された磁気記録媒体の方が
ともに良好な結果を示した。また、非晶質領域が確認さ
れた磁気記録媒体どうしの比較においては、結晶粒径が
小さい媒体S/Nの方が良好であった。 [実施例3]本実施例においては、スパッタ装置は、R
Fスパッタ装置を用いた。基板2はガラス基板を使用
し、磁性膜用のターゲット5は、Pt及びCrペレット
を載置したCoターゲットを用いた。Pt及びCrペレ
ットは磁性膜の組成を制御するために用いられるもので
ある。また、ターゲット−基板間距離dは、70[m
m]、スパッタガス圧Pを3.0[Pa]として、膜厚
40[nm]の磁性膜2を形成した。このときのスパッ
タ電力は、1.6[W/cm2 ]であった。このように
して、作製した磁性膜には非晶領域が確認された。
録分解能D70を示す図であり、図7は、同媒体の記録分
解能D70における媒体S/Nに示す図である。図6及び
図7より、非晶質領域が確認された磁気記録媒体の方が
ともに良好な結果を示した。また、非晶質領域が確認さ
れた磁気記録媒体どうしの比較においては、結晶粒径が
小さい媒体S/Nの方が良好であった。 [実施例3]本実施例においては、スパッタ装置は、R
Fスパッタ装置を用いた。基板2はガラス基板を使用
し、磁性膜用のターゲット5は、Pt及びCrペレット
を載置したCoターゲットを用いた。Pt及びCrペレ
ットは磁性膜の組成を制御するために用いられるもので
ある。また、ターゲット−基板間距離dは、70[m
m]、スパッタガス圧Pを3.0[Pa]として、膜厚
40[nm]の磁性膜2を形成した。このときのスパッ
タ電力は、1.6[W/cm2 ]であった。このように
して、作製した磁性膜には非晶領域が確認された。
【0038】表3は、本実施例の磁気記録媒体1におけ
る磁性膜の組成と磁気特性の関係を示しており、表中数
値は面内保持力[Oe]を示している。
る磁性膜の組成と磁気特性の関係を示しており、表中数
値は面内保持力[Oe]を示している。
【0039】
【表3】 表3に示すように、磁性膜の磁気特性はその膜の組成に
依存しており、Ptの組成が15at%以上40at%
以下で、かつ、Cr組成が15at%以下のときが良好
であることがわかる。 [実施例4]図8は、本実施例においては、スパッタ装
置にはDCマグネトロンスパッタ装置を示す模式図であ
る。基板2はカーボン基板を使用し、磁性膜用のターゲ
ット5として、Co−30at%Pt−5at%Cr組
成を使用した。ターゲット−基板間距離dは100[m
m]、スパッタガス圧を1.8[Pa]として、電圧源
7よりDCバイアスVを基板2に印加しながら、膜厚4
0[nm]の磁性膜2を形成した。このときのスパッタ
電力Pは37[W/cm2 ]であった。
依存しており、Ptの組成が15at%以上40at%
以下で、かつ、Cr組成が15at%以下のときが良好
であることがわかる。 [実施例4]図8は、本実施例においては、スパッタ装
置にはDCマグネトロンスパッタ装置を示す模式図であ
る。基板2はカーボン基板を使用し、磁性膜用のターゲ
ット5として、Co−30at%Pt−5at%Cr組
成を使用した。ターゲット−基板間距離dは100[m
m]、スパッタガス圧を1.8[Pa]として、電圧源
7よりDCバイアスVを基板2に印加しながら、膜厚4
0[nm]の磁性膜2を形成した。このときのスパッタ
電力Pは37[W/cm2 ]であった。
【0040】以上のような条件で、DCバイアスVを所
要量変化させて印加したときの磁気特性の測定結果を表
4に示す。
要量変化させて印加したときの磁気特性の測定結果を表
4に示す。
【0041】
【表4】 表4に示すように、バイアスが無いときには、膜中に非
晶質領域は確認できなかったが、バイアスを印加した場
合には、非晶質部分を確認することができた。DCバイ
アスを印加して非晶質部分が確認された磁性膜の面内保
磁力は増大していることがわかる。
晶質領域は確認できなかったが、バイアスを印加した場
合には、非晶質部分を確認することができた。DCバイ
アスを印加して非晶質部分が確認された磁性膜の面内保
磁力は増大していることがわかる。
【0042】なお、以上の実施例においてはすべて酸素
を用いたが、窒素を用いても構わない。すなわち、窒素
が存在した非晶質領域は飽和磁化量が減少し、結晶粒間
の磁気的相互作用を低下させて磁性膜の保磁力の減少を
抑制し、結晶質領域の部分については垂直配向成長を抑
制する。
を用いたが、窒素を用いても構わない。すなわち、窒素
が存在した非晶質領域は飽和磁化量が減少し、結晶粒間
の磁気的相互作用を低下させて磁性膜の保磁力の減少を
抑制し、結晶質領域の部分については垂直配向成長を抑
制する。
【0043】また、基板2とターゲット5とは、必ずし
も対向していなくてもよく、スパッタされた合金が基板
2に堆積される位置であればどこにあっても構わない。
も対向していなくてもよく、スパッタされた合金が基板
2に堆積される位置であればどこにあっても構わない。
【0044】さらに、図9に示すように、磁気記録媒体
1の基板2と磁性膜3との間にCr等の軟磁性膜8を形
成するようにしても良い。
1の基板2と磁性膜3との間にCr等の軟磁性膜8を形
成するようにしても良い。
【0045】
【発明の効果】本発明によれば、Cr等からなる下地層
を必要とせず、また、成膜後の熱処理を行わなくとも、
磁気記録媒体に適した磁気特性を有する磁性膜を作製す
ることができる。従って、本発明によって製造された磁
気記録媒体は、角型比が向上し、その結果として記録分
解能、媒体S/Nが向上し、生産性の良い磁気記録媒体
が得られる。
を必要とせず、また、成膜後の熱処理を行わなくとも、
磁気記録媒体に適した磁気特性を有する磁性膜を作製す
ることができる。従って、本発明によって製造された磁
気記録媒体は、角型比が向上し、その結果として記録分
解能、媒体S/Nが向上し、生産性の良い磁気記録媒体
が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明に係る磁気記録媒体を示す図。
【図2】 本発明に係る磁気記録媒体の作製に用いられ
る装置の模式図。
る装置の模式図。
【図3】 本発明に係る媒体磁性膜のHR−STEM像
を示す図。
を示す図。
【図4】 本発明に係る媒体磁性膜の極微電子線回折像
を示す図。
を示す図。
【図5】 本発明に係る媒体磁性膜のAEM分析結果を
示す図。
示す図。
【図6】 実施例2において作製した磁気記録媒体の媒
体S/Nを示す図。
体S/Nを示す図。
【図7】 実施例2において作製した磁気記録媒体の記
録分解能D70を示す図。
録分解能D70を示す図。
【図8】 実施例3における磁気記録媒体の作製に用い
られる装置の模式図。
られる装置の模式図。
【図9】 本発明に係る他の磁気記録媒体を示す図。
1 磁気記録媒体 2 基板 3 磁性膜 4 保護膜 5 ターゲット 6 チャンバー 7 電圧源 8 軟磁性膜
Claims (5)
- 【請求項1】 非磁性の基板と、 この基板上に形成されたCo(1-x-y) Ptx Cry (ただし、0.15≦x≦0.40 , 0<y≦0.
15)の組成を持つ少なくとも酸素又は窒素の一方を含
有した磁性膜とからなる磁気記録媒体において、前記磁
性膜が結晶質領域と非晶質領域とを有することを特徴と
する磁気記録媒体。 - 【請求項2】 前記結晶質領域は前記非晶質領域内に散
在し、前記一の結晶質領域の大きさは50[nm]以下
であることを特徴とする請求項1記載の磁気記録媒体。 - 【請求項3】 酸素又は窒素を含有する不活性雰囲気中
で、スパッタ法によりターゲットをスパッタして基板上
に前記磁性膜を作製する磁気記録媒体の製造方法におい
て、前記ターゲットから前記基板までの距離をd、スパ
ッタ圧をPとして、 d×P>100[mm×Pa] を満たすことを特徴とする請求項1又は請求項2記載の
磁気記録媒体の製造方法。 - 【請求項4】 酸素又は窒素を含有する不活性雰囲気中
で、スパッタ法によりターゲットをスパッタして基板上
に前記磁性膜を作製する磁気記録媒体の製造方法におい
て、スパッタ圧をP、スパッタ電力をWとして、 P/W>0.16[Pa/(W/cm2 )] を満たすことを特徴とする請求項1又は請求項2の磁気
記録媒体の製造方法。 - 【請求項5】 酸素又は窒素を含有する不活性雰囲気中
で、スパッタ法により基板上に前記磁性膜を作製する磁
気記録媒体の製造方法において、前記基板にバイアスを
印加しながらスパッタすることを特徴とする請求項1又
は請求項2記載の磁気記録媒体の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21735392A JPH0644549A (ja) | 1992-07-24 | 1992-07-24 | 磁気記録媒体及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21735392A JPH0644549A (ja) | 1992-07-24 | 1992-07-24 | 磁気記録媒体及びその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0644549A true JPH0644549A (ja) | 1994-02-18 |
Family
ID=16702848
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21735392A Pending JPH0644549A (ja) | 1992-07-24 | 1992-07-24 | 磁気記録媒体及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0644549A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5792564A (en) * | 1993-03-10 | 1998-08-11 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Perpendicular recording medium and magnetic recording apparatus |
| SG106659A1 (en) * | 2001-05-31 | 2004-10-29 | Ibm | Method of making a spin valve sensor with a free layer structure sputter deposited in a nitrogen atmosphere |
| US8728036B2 (en) | 2009-03-18 | 2014-05-20 | Unisis Corporation | Anesthetic compound needle |
-
1992
- 1992-07-24 JP JP21735392A patent/JPH0644549A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5792564A (en) * | 1993-03-10 | 1998-08-11 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Perpendicular recording medium and magnetic recording apparatus |
| SG106659A1 (en) * | 2001-05-31 | 2004-10-29 | Ibm | Method of making a spin valve sensor with a free layer structure sputter deposited in a nitrogen atmosphere |
| US8728036B2 (en) | 2009-03-18 | 2014-05-20 | Unisis Corporation | Anesthetic compound needle |
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