JPH0653142A - 半導体薄膜気相成長装置 - Google Patents

半導体薄膜気相成長装置

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Publication number
JPH0653142A
JPH0653142A JP22192092A JP22192092A JPH0653142A JP H0653142 A JPH0653142 A JP H0653142A JP 22192092 A JP22192092 A JP 22192092A JP 22192092 A JP22192092 A JP 22192092A JP H0653142 A JPH0653142 A JP H0653142A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thin film
susceptor
wafer
semiconductor thin
vapor phase
Prior art date
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Pending
Application number
JP22192092A
Other languages
English (en)
Inventor
Satoshi Hattori
聡 服部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Furukawa Electric Co Ltd
Original Assignee
Furukawa Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Furukawa Electric Co Ltd filed Critical Furukawa Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 バレル型半導体薄膜気相成長装置において、
ウエハに成長する薄膜の膜厚を均一化する。 【構成】 円筒状リアクタ(3)内に、側面に半導体薄
膜を気相成長させるウエハを装着した角錐台型サセプタ
(1)を設けて、該サセプタを縦軸の回りに回転し、且
つ各ウエハを、装着した側面内でそれぞれ自転させ、さ
らにリアクタの上端部より下端部に向って原料ガスを流
す自公転型の薄膜気相成長装置において、サセプタ
(1)のウエハ(2)装着位置から下部をガス流路断面
積が増加するように該サセプタ側面に面取(4)を加え
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体薄膜気相成長装置
に関するもので、成長する薄膜の膜厚を均一化したもの
である。
【0002】
【従来の技術】円筒状リアクタ内にウエハ装着用の角錐
台型サセプタを設けて、半導体薄膜を気相成長させる装
置(バレル型気相成長装置)において、最近図5に示す
ようにサセプタ(1)全体が回転するとともにウエハ
(2)の乗ったトレーも回転する自公転機構が用いられ
ている。尚図において(3)はリアクタを示す。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで円筒状リアク
タ内に角錐台型サセプタを設けた装置においては、サセ
プタの回転のみで薄膜を成長させると、膜厚分布は図6
(a)に示すように縦方向は単調増加(減少)である
が、図6(b)に示すように横方向はサセプタの角影響
を受け、極小値をもったU字に近い形となる。これにウ
エハに自転を加えることにより上記縦方向の分布は打ち
消されるが、上記横方向のU字は残ってしまい、ウエハ
全体として中央がへこんだ膜厚分布となり、膜厚の均一
性が良好ではなかった。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明はこれに鑑み種々
検討の結果、成長する膜厚を均一化することができる半
導体薄膜気相成長装置を開発したものである。即ち本発
明は、円筒状リアクタ内に、側面に半導体薄膜を気相成
長させるウエハを装着した角錐台型サセプタを設けて、
該サセプタを縦軸の回りに回転し、且つ各ウエハを装着
した側面内でそれぞれ自転させ、さらにリアクタ内の上
端部より下端部に向って原料ガスを流す自公転型の薄膜
気相成長装置において、サセプタのウエハ装着位置から
下部を、ガス流路断面積が増加するように該サセプタ側
面に面取を加えたことを特徴とするものである。
【0005】
【作用】図6に示す従来の角錐台型サセプタ(1)のウ
エハ(2)装着位置から下端部にかけて、図1に示すよ
うに該サセプタの角部を取り除いて逆円錐状曲面(4)
となるように次第に深く面取りを入れ、下方に向けて小
さくなってゆく形状とすることにより、サセプタの上部
位置と下部位置とでリアクタ内壁面とサセプタ側面とで
形成されるガス流路断面積が図2に示すようにウエハ中
央部に対して上下が共に大きいほぼ対称の湾曲形状とな
る。したがってガスの流速は図3に示すように流路断面
積の小さい場所で極大な対称形となり、成長速度を決め
るよどみ層の厚さも上下対称となり、その結果サセプタ
の回転(公転)のみでは膜厚は図4に示すように上下方
向に見ると中央で厚い対称な形状となる。そしてこれに
ウエハの自転を加えると、成長膜厚の分布は図4の上下
方向での凸形状と図7(b)に示すような凹形状が打ち
消しあい、より均一な膜厚をもつ薄膜とすることができ
る。
【0006】
【実施例】以下本発明を実施例について説明する。円筒
状リアクタ内にウエハ装着用の角錐台型サセプタを設け
て半導体薄膜を気相成長させる装置において、サセプタ
に図1に示すようにサセプタ(1)のウエハ(2)装着
位置から下部の側面を逆円錐状曲面(4)となるよう
に、即ち、ウエハ装着位置から下方へ向うほどガス流路
断面積を増加するように面取を加えた。
【0007】このようにしてサセプタにウエハを取付
け、ウエハ(2)を自転させながらサセプタ(1)を公
転させてリアクタ(3)内に原料ガスを導入し、ウエハ
上に半導体薄膜を気相成長させた。半導体薄膜を気相成
長させたウエハを取り外し、これについて膜厚分布を調
べた。その結果上下方向、左右方向ともに均一な膜厚を
もつ薄膜を得ることができた。
【0008】
【発明の効果】このように本発明によれば、バレル型の
半導体薄膜気相成長装置においてより均一な膜厚の薄膜
を得ることができるもので、工業上顕著な効果を奏す
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明装置の一例を示す説明図である。
【図2】本発明装置のリアクタ内の上下方向のガス流路
断面積を示す説明図である。
【図3】本発明装置のリアクタ内の上下方向のガス流速
を示す説明図である。
【図4】本発明装置によりウエハを回転(自転)させな
い場合の成長する薄膜の上下方向の膜厚分布を示す説明
図である。
【図5】従来のバレル型半導体薄膜気相成長装置の一例
を示す説明図である。
【図6】従来装置でウエハを回転(自転)させないとき
にウエハ上に成長する薄膜の膜厚分布を示すもので、
(a)は上下方向の説明図、(b)は左右方向の説明図
である。
【符号の説明】
1 サセプタ 2 ウエハ 3 リアクタ 4 逆円錐状曲面(面取り)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 円筒状リアクタ内に、側面に半導体薄膜
    を気相成長させるウエハを装着した角錐台型サセプタを
    設けて、該サセプタを縦軸の回りに回転し、且つ各ウエ
    ハを、装着した側面内でそれぞれ自転させ、さらにリア
    クタ内の上端部より下端部に向って原料ガスを流す自公
    転型の薄膜気相成長装置において、サセプタのウエハ装
    着位置から下部をガス流路断面積が増加するように該サ
    セプタ側面に面取を加えたことを特徴とする半導体薄膜
    気相成長装置。
JP22192092A 1992-07-29 1992-07-29 半導体薄膜気相成長装置 Pending JPH0653142A (ja)

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JPH0653142A true JPH0653142A (ja) 1994-02-25

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JP (1) JPH0653142A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5558721A (en) * 1993-11-15 1996-09-24 The Furukawa Electric Co., Ltd. Vapor phase growth system and a gas-drive motor
US8951347B2 (en) * 2008-11-14 2015-02-10 Tokyo Electron Limited Film deposition apparatus

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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