JPH0658675B2 - 構文検査方式 - Google Patents
構文検査方式Info
- Publication number
- JPH0658675B2 JPH0658675B2 JP63114321A JP11432188A JPH0658675B2 JP H0658675 B2 JPH0658675 B2 JP H0658675B2 JP 63114321 A JP63114321 A JP 63114321A JP 11432188 A JP11432188 A JP 11432188A JP H0658675 B2 JPH0658675 B2 JP H0658675B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- vector
- check
- phrases
- syntax
- phrase
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- Expired - Lifetime
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は構文検査方式に関し、特に文の記述に矛盾がな
いかどうかを判定する構文検査方式に関する。
いかどうかを判定する構文検査方式に関する。
従来の構文検査方式は、検査対象文を構成しているそれ
ぞれの句を認識した時点で、その句と同一文で使用でき
ない句が、既に検査対象分の中で認識されているかどう
かを、その句と同一文に使用できない句のすべてについ
て調べている。
ぞれの句を認識した時点で、その句と同一文で使用でき
ない句が、既に検査対象分の中で認識されているかどう
かを、その句と同一文に使用できない句のすべてについ
て調べている。
例えば、句ａと句ｂとが同一文では使用できず、句ａと
句ｃとも同一文には使用できないときには、句ａを認識
した時点で、既に句ｂが認識されているかどうかを調べ
るとともに、既に句ｃが認識されているかどうかも調べ
ている。
句ｃとも同一文には使用できないときには、句ａを認識
した時点で、既に句ｂが認識されているかどうかを調べ
るとともに、既に句ｃが認識されているかどうかも調べ
ている。
上述した従来の構文検査方式では、例えば、句ａと句ｂ
とが同一文では使用できないときには、句ａを認識した
時点で、既に句ｂが認識されているかどうかを調べる処
理が必要となり、逆に句ｂを認識した時点で、既に句ａ
が認識されているかどうかを調べる処理が必要となる。
とが同一文では使用できないときには、句ａを認識した
時点で、既に句ｂが認識されているかどうかを調べる処
理が必要となり、逆に句ｂを認識した時点で、既に句ａ
が認識されているかどうかを調べる処理が必要となる。
このように、上述した従来の構文検査方式は、検査対象
文を構成しているそれぞれの句を認識した時点で、その
句と同一文で使用できない句が、既に検査対象分の中で
認識されているかどうかを、その句と同一文で使用でき
ない句のすべてについて調べる処理が必要となるので、
冗長な処理のため構文チェックを行う処理が大きくなり
処理時間が長くなるという欠点がある。
文を構成しているそれぞれの句を認識した時点で、その
句と同一文で使用できない句が、既に検査対象分の中で
認識されているかどうかを、その句と同一文で使用でき
ない句のすべてについて調べる処理が必要となるので、
冗長な処理のため構文チェックを行う処理が大きくなり
処理時間が長くなるという欠点がある。
また、構文を構成する句の種類が増えると、増えた句に
対するチェックをお互いに加えなくてはならないため、
処理全体を変更しなければならないという問題点があ
る。
対するチェックをお互いに加えなくてはならないため、
処理全体を変更しなければならないという問題点があ
る。
本発明の目的は、同一文で使用できない句の組合わせを
検査マトリックスで示し、検査対象文を構成する句を被
検査ベクトルで示すことにより、検査対象文を構成する
句の組合わせの矛盾を容易に検出することができる構文
検査方式を提供することにある。
検査マトリックスで示し、検査対象文を構成する句を被
検査ベクトルで示すことにより、検査対象文を構成する
句の組合わせの矛盾を容易に検出することができる構文
検査方式を提供することにある。
本発明の構文検査方式は、検査対象文を構成する句の組
合わせに矛盾がないかどうかを判定し、矛盾があれば検
出する構文検査方式において、 （Ａ）構文に使用されるすべての句に一対一に対応する
各ビット位置を構成要素とする被検査ベクトル、 （Ｂ）構文に使用されるすべての句に一対一に対応する
それぞれの行および列を有し、同一文で使用できない句
の組合わせに対応するビット位置だけをオンの状態にし
た検査マトリックス、 （Ｃ）すべてのビット位置がオフの初期状態にある前記
被検査ベクトルに対して、前記検査対象文を構成する句
のそれぞれに対応する前記被検査ベクトルのビット位置
をそれぞれオンの状態に設定する句対応ビット設定手
段、 （Ｄ）前記句対応ビット設定手段で設定された前記被検
査ベクトルと前記検査マトリックスとをつき合わせ、前
記被検査ベクトルがオンである各ビット位置に対応する
前記検査マトリックスの各行をそれぞれ検査ベクトルと
呼ぶとき、それぞれの検査ベクトルがオンであるビット
位置と前記被検査ベクトルがオンであるビット位置とが
一致する場合が存在するかどうかをそれぞれの検査ベク
トルについて調べることにより、前記検査対象文に同一
文で使用できない句の組合わせがあるかどうかを判定す
る矛盾検出手段、 を備えて構成されている。
合わせに矛盾がないかどうかを判定し、矛盾があれば検
出する構文検査方式において、 （Ａ）構文に使用されるすべての句に一対一に対応する
各ビット位置を構成要素とする被検査ベクトル、 （Ｂ）構文に使用されるすべての句に一対一に対応する
それぞれの行および列を有し、同一文で使用できない句
の組合わせに対応するビット位置だけをオンの状態にし
た検査マトリックス、 （Ｃ）すべてのビット位置がオフの初期状態にある前記
被検査ベクトルに対して、前記検査対象文を構成する句
のそれぞれに対応する前記被検査ベクトルのビット位置
をそれぞれオンの状態に設定する句対応ビット設定手
段、 （Ｄ）前記句対応ビット設定手段で設定された前記被検
査ベクトルと前記検査マトリックスとをつき合わせ、前
記被検査ベクトルがオンである各ビット位置に対応する
前記検査マトリックスの各行をそれぞれ検査ベクトルと
呼ぶとき、それぞれの検査ベクトルがオンであるビット
位置と前記被検査ベクトルがオンであるビット位置とが
一致する場合が存在するかどうかをそれぞれの検査ベク
トルについて調べることにより、前記検査対象文に同一
文で使用できない句の組合わせがあるかどうかを判定す
る矛盾検出手段、 を備えて構成されている。
次に本発明の実施例について図面を参照して説明する。
第１図は本発明の構文検査方式の一実施例を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
第１図に示す本実施例の構文検査方式は、検査対象文Ｓ
を構成する句の組合わせに矛盾がないかどうかを判定
し、検査対象文Ｓに矛盾があれば検出している。
を構成する句の組合わせに矛盾がないかどうかを判定
し、検査対象文Ｓに矛盾があれば検出している。
第２図は検査対象文Ｓの一例を示すコボル言語の対象文
記述図である。
記述図である。
第２図の検査対象文Ｓは、ＰＩＣＴＵＲＥ句、ＰＣＣＵ
ＲＳ句およびＶＬＵＥ句を有している。
ＲＳ句およびＶＬＵＥ句を有している。
また、第１図の被検査ベクトル１は、構文に使用される
すべての句に一対一に対応する各ビット位置を構成要素
とするベクトルである。
すべての句に一対一に対応する各ビット位置を構成要素
とするベクトルである。
第３図は被検査ベクトル１の一例を示すベクトル構成図
である。
である。
第３図の被検査ベクトル１は、構文に使用される１６個
の句に一対一に対応するビット位置を構成要素としてい
る。
の句に一対一に対応するビット位置を構成要素としてい
る。
さらに、検査マトリックス２は、構文に使用されるすべ
ての句に一対１に対応するそれぞれの行および列を有
し、同一文で使用できない句の組合わせに対応するビッ
ト位置だけをオンの状態にしている。
ての句に一対１に対応するそれぞれの行および列を有
し、同一文で使用できない句の組合わせに対応するビッ
ト位置だけをオンの状態にしている。
第４図は検査マトリックス２の一例を示すマトリックス
構成図である。
構成図である。
第４図に示すように、検査マトリックス２は、構文に使
用される１６個の句に一対一に対応するそれぞれの行お
よび列を有し、同一文で使用できない句の組合わせに対
応するビット位置だけをオンの状態にしている。
用される１６個の句に一対一に対応するそれぞれの行お
よび列を有し、同一文で使用できない句の組合わせに対
応するビット位置だけをオンの状態にしている。
一方、最初、すべてのビット位置がオフの初期状態にあ
る被検査ベクトル１に対して、句対応ビット設定手段３
は、句認識手段Ｋによって、検査対象文Ｓの一つの句が
認識されるたびに起動され、認識された句に対応する被
検査ベクトル１のビット位置をそれぞれオンの状態に設
定している。
る被検査ベクトル１に対して、句対応ビット設定手段３
は、句認識手段Ｋによって、検査対象文Ｓの一つの句が
認識されるたびに起動され、認識された句に対応する被
検査ベクトル１のビット位置をそれぞれオンの状態に設
定している。
この場合には、第３図に示しているように、ＰＩＣＴＵ
ＲＥ句，ＯＣＣＵＲＳ句およびＶＬＵＥ句のそれぞれに
対応するビット位置の２，５および７がそれぞれオンの
状態に設定される。
ＲＥ句，ＯＣＣＵＲＳ句およびＶＬＵＥ句のそれぞれに
対応するビット位置の２，５および７がそれぞれオンの
状態に設定される。
次に、矛盾検出手段４は、まず、句対応ビット設定手段
３で設定された第３図の被検査ベクトル１と第４図の検
査マトリックス２とをつき合わせ、被検査ベクトル１が
オンである各ビット位置に対応する検査マトリックス２
の各行をそれぞれ検査ベクトルとして取出す。
３で設定された第３図の被検査ベクトル１と第４図の検
査マトリックス２とをつき合わせ、被検査ベクトル１が
オンである各ビット位置に対応する検査マトリックス２
の各行をそれぞれ検査ベクトルとして取出す。
この場合には、次の三つの検査ベクトルが取出される。
ビット位置の２に対応する検査ベクトル →０１０００００００１００００００ ビット位置の５に対応する検査ベクトル →０００１０００１００００１０００ ビット位置の７に対応する検査ベクトル →０００００１００００００００００ そこで、矛盾検出手段４は、検査ベクトルがオンである
ビット位置と被検査ベクトル１がオンであるビット位置
とが一致する場合が存在するかどうかをそれぞれの検査
ベクトルについて調べることにより、検査対象文Ｓに同
一文で使用できない句の組合わせがあるかどうかを判定
することができる。
ビット位置と被検査ベクトル１がオンであるビット位置
とが一致する場合が存在するかどうかをそれぞれの検査
ベクトルについて調べることにより、検査対象文Ｓに同
一文で使用できない句の組合わせがあるかどうかを判定
することができる。
この場合には、ビット位置の５に対応する検査ベクトル
がオンであるビット位置と被検査ベクトル１がオンであ
るビット位置とが７の列で一致し、ビット位置の７に対
応する検査ベクトルがオンであるビット位置と被検査ベ
クトル１がオンであるビット位置とが５の列で一致して
おり、検査対象文Ｓに同一文で使用できない句の組合わ
せがあるので、矛盾検出手段４は、メッセージ出力手段
Ｍにエラーメッセージを出力する。
がオンであるビット位置と被検査ベクトル１がオンであ
るビット位置とが７の列で一致し、ビット位置の７に対
応する検査ベクトルがオンであるビット位置と被検査ベ
クトル１がオンであるビット位置とが５の列で一致して
おり、検査対象文Ｓに同一文で使用できない句の組合わ
せがあるので、矛盾検出手段４は、メッセージ出力手段
Ｍにエラーメッセージを出力する。
第５図は矛盾検出手段４の動作の一例を示す流れ図であ
る。
る。
矛盾検出手段４は、第５図に示すように、まず、ステッ
プＦ１で、第３図の被検査ベクトル１のビット位置を示
すｉを初期値の０に設定する。
プＦ１で、第３図の被検査ベクトル１のビット位置を示
すｉを初期値の０に設定する。
次に、ステップＦ２で、被検査ベクトル１のビット位置
のｉがオンかオフかを判断し、オンのときには、次のス
テップＦ３に移行するが、オフのときには、処理を省い
てステップＦ１０へ飛躍する。
のｉがオンかオフかを判断し、オンのときには、次のス
テップＦ３に移行するが、オフのときには、処理を省い
てステップＦ１０へ飛躍する。
次のステップＦ３では、第４図の検査マトリックス２か
ら、ビット位置のｉに対応する検査ベクトルとして取出
す。
ら、ビット位置のｉに対応する検査ベクトルとして取出
す。
次に、ステップＦ４で、被検査ベクトル１とその検査ベ
クトルとの対応する各構成要素の論理積を求めて、その
結果を構成要素とする検査ベクトルを作成する。
クトルとの対応する各構成要素の論理積を求めて、その
結果を構成要素とする検査ベクトルを作成する。
次に、ステップＦ５で、作成した検査ベクトルのビット
位置を示すｊを初期値の０に設定する。
位置を示すｊを初期値の０に設定する。
次のステップＦ６で、その検査ベクトルのｊのビット位
置がオンかオフかを判断し、オンのときにのみ、次のス
テップＦ７で、メッセージ出力手段Ｍにエラーメッセー
ジを出力する。
置がオンかオフかを判断し、オンのときにのみ、次のス
テップＦ７で、メッセージ出力手段Ｍにエラーメッセー
ジを出力する。
次に、ステップＦ８で、ｊに１を加え、次のステップＦ
９で、ｊが１６になったかどうかを判断し、ｊが１６で
ない（ＮＯ）ときには、ステップＦ６に戻り、ｊが１６
である。（ＹＥＳ）ときには、次のステップＦ１０へ移
行する。
９で、ｊが１６になったかどうかを判断し、ｊが１６で
ない（ＮＯ）ときには、ステップＦ６に戻り、ｊが１６
である。（ＹＥＳ）ときには、次のステップＦ１０へ移
行する。
次のステップＦ１０で、ｉに１を加え、次のステップＦ
１１で、ｉが１６になったかどうかを判断し、ｉが１６
でない（ＮＯ）ときには、ステップＦ２に戻り、ｉが１
６である（ＹＥＳ）ときには、終了することとなる。
１１で、ｉが１６になったかどうかを判断し、ｉが１６
でない（ＮＯ）ときには、ステップＦ２に戻り、ｉが１
６である（ＹＥＳ）ときには、終了することとなる。
以上述べたように、本実施例の構文検査方式は、同一文
で使用できない句の組合わせを検査マトリックスで示
し、検査対象文を構成する句を被検査ベクトルで示すこ
とにより、検査対象文を構成する句の組合わせの矛盾を
容易に検出することができる。
で使用できない句の組合わせを検査マトリックスで示
し、検査対象文を構成する句を被検査ベクトルで示すこ
とにより、検査対象文を構成する句の組合わせの矛盾を
容易に検出することができる。
以上説明したように、本発明の構文検査方式は、同一文
で使用できない句の組合わせを検査マトリックスで示
し、検査対象文を構成する句を被検査ベクトルで示すこ
とにより、検査対象文を構成する句の組合わせの矛盾を
容易に検出することができるという効果を有している。
で使用できない句の組合わせを検査マトリックスで示
し、検査対象文を構成する句を被検査ベクトルで示すこ
とにより、検査対象文を構成する句の組合わせの矛盾を
容易に検出することができるという効果を有している。
また、本発明の構文検査方式は、新たな句が加わった
り、これまでの句の取扱いが変更になったりした場合で
も、処理全体を変更することなく、被検査ベクトルのビ
ット数および検査マトリックスの大きさと内容とを変更
することにより容易に対応することができるという効果
がある。
り、これまでの句の取扱いが変更になったりした場合で
も、処理全体を変更することなく、被検査ベクトルのビ
ット数および検査マトリックスの大きさと内容とを変更
することにより容易に対応することができるという効果
がある。
第１図は本発明の構文検査方式の一実施例を示すブロッ
ク図、第２図は検査対象文の一例を示すコボル言語の対
象文記述図、第３図は被検査ベクトルの一例を示すベク
トル構成図、第４図は検査マトリックスの一例を示すマ
トリックス構成図、第５図は矛盾検出手段の動作の一例
を示す流れ図である。 １……被検査ベクトル、２……検査マトリックス、３…
…句対応ビット設定手段、４……矛盾検出手段、Ｋ……
句認識手段、Ｍ……メッセージ出力手段、Ｓ……検査対
象文。
ク図、第２図は検査対象文の一例を示すコボル言語の対
象文記述図、第３図は被検査ベクトルの一例を示すベク
トル構成図、第４図は検査マトリックスの一例を示すマ
トリックス構成図、第５図は矛盾検出手段の動作の一例
を示す流れ図である。 １……被検査ベクトル、２……検査マトリックス、３…
…句対応ビット設定手段、４……矛盾検出手段、Ｋ……
句認識手段、Ｍ……メッセージ出力手段、Ｓ……検査対
象文。
Claims (1)
- 【請求項１】検査対象文を構成する句の組合わせに矛盾
がないかどうかを判定し、矛盾があれば検出する構文検
査方式において、 （Ａ）構文に使用されるすべての句に一対一に対応する
各ビット位置を構成要素とする被検査ベクトル、 （Ｂ）構文に使用されるすべての句に一対一に対応する
それぞれの行および列を有し、同一文で使用できない句
の組合わせに対応するビット位置だけをオンの状態にし
た検査マトリックス、 （Ｃ）すべてのビット位置がオフの初期状態にある前記
被検査ベクトルに対して、前記検査対象文を構成する句
のそれぞれに対応する前記被検査ベクトルのビット位置
をそれぞれオンの状態に設定する句対応ビット設定手
段、 （Ｄ）前記句対応ビット設定手段で設定された前記被検
査ベクトルと前記検査マトリックスとをつき合わせ、前
記被検査ベクトルがオンである各ビット位置に対応する
前記検査マトリックスの各行をそれぞれ検査ベクトルと
呼ぶとき、それぞれの検査ベクトルがオンであるビット
位置と前記被検査ベクトルがオンであるビット位置とが
一致する場合が存在するかどうかをそれぞれの検査ベク
トルについて調べることにより、前記検査対象文に同一
文で使用できない句の組合わせがあるかどうかを判定す
る矛盾検出手段、 を備えることを特徴とする構文検査方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63114321A JPH0658675B2 (ja) | 1988-05-10 | 1988-05-10 | 構文検査方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63114321A JPH0658675B2 (ja) | 1988-05-10 | 1988-05-10 | 構文検査方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01283669A JPH01283669A (ja) | 1989-11-15 |
| JPH0658675B2 true JPH0658675B2 (ja) | 1994-08-03 |
Family
ID=14634917
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63114321A Expired - Lifetime JPH0658675B2 (ja) | 1988-05-10 | 1988-05-10 | 構文検査方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0658675B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7545064B2 (ja) | 2022-06-24 | 2024-09-04 | ダイキン工業株式会社 | 電極材料用表面処理剤、正極活物質、集電箔、負極活物質、導電助剤、電極、正極活物質の製造方法、集電箔の製造方法、負極活物質の製造方法、導電助剤の製造方法、及び、電極の製造方法 |
-
1988
- 1988-05-10 JP JP63114321A patent/JPH0658675B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01283669A (ja) | 1989-11-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070803 Year of fee payment: 13 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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