JPH0659937A - ロードモジュール単体テスト支援装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 コンピュータプログラムのテストに関して、
複数にロードモジュールを分割させるような大規模なプ
ログラムの単体テストを支援する。 【構成】 入力装置１−１は、各装置が必要とする情報
の入力を行う。ソースプログラム記憶装置１−２は、一
時記憶装置の記述がされているソースを記憶する。デー
タ情報解析装置１−３は、一時記憶装置に対する記述内
容を解析する。データ情報記憶装置１−４は、データ情
報解析装置１−３の解析内容を記憶する。プログラム作
成装置１−５は、ドライバープログラムの自動コーディ
ングを行う。テストデータ入力装置１−６は、テストデ
ータ値の入力を行う。ドライバープログラム記憶装置１
−７は、ドライバープログラムを記憶する。テストデー
タ記憶装置１−８は、テストデータ入力装置によって入
力されたテストデータ値を記憶する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はコンピュータプログラム
のテストに関し、特に複数にＬＭを分割させるような大
規模なプログラムの単体テスト支援に関するものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】複数にＬＭを分割させる大規模なプログ
ラムでは、データの受け渡しは一時記憶装置によって行
われる。従来、このＬＭ一つ一つのテストを行う際に
は、ＬＭが単体で動くように、一時記憶装置の定義記述
を持ち、受け渡されるデータを一時記憶装置へ書き込む
処理を行うドライバープログラムを新規にコーディング
しなければならなかった。

【０００３】また、一時記憶装置のデータはドライバー
プログラム中で初期値として与えられている場合が多
く、色々なパターンのデータテストを行う場合、ＬＭ単
体で行うことは手間がかかるので、全ＬＭの完成後に行
っていた。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の技術
で、各ＬＭ単体の開発者は新規にドライバープログラム
を作成するので時間がかかるという問題点があった。ま
た、それぞれのＬＭ単体で色々なパターンのデータでテ
ストを充分行わないと各ＬＭの品質が十分でないため、
全ＬＭを結びつけた後のテストの段階でバグの発生率が
高い。さらにどのＬＭからそのバグが発生したのか発見
しにくいため、テスト及びプログラムの修正に膨大な手
間がかかるという問題点があった。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明のロードモジュー
ル単体テスト支援装置は、ＬＭ各単体間のデータの受け
渡しに使用する一時記憶装置の識別子、作成するプログ
ラムの識別子などを入力する入力装置と、ソースプログ
ラムのデータ記述部分の解析を行って一時記憶装置の詳
細情報、データの情報を抽出するデータ情報解析装置
と、データ情報解析装置の解析した情報を記憶しておく
データ情報記憶装置と、ドライバープログラムの作成を
行うプログラム作成装置と、テストデータの繰り返し入
力と入力終了の判断を行うテストデータ入力装置と、作
成されたドライバープログラムを記憶しておくドライバ
ープログラム記憶装置と、入力されたテストデータを記
憶しておくテストデータ記憶装置を有している。

【０００６】

【実施例】次に、本発明について図面を参照して説明す
る。

【０００７】図１は本発明の一実施例の機能構成を示す
ブロック図である。

【０００８】なお、これ以後ではＣＯＢＯＬ８５言語で
記述されたソースプログラムを例に説明する。

【０００９】入力装置１−１は、解析対象のソースプロ
グラム記憶装置１−２の識別子や、作成するドライバー
プログラムの識別子や、データ情報記憶装置１−４から
参照する一時記憶装置の識別子や、テストで使用するデ
ータ値の入力を行う。

【００１０】ソースプログラム記憶装置１−２は、一つ
のＬＭに対する各ソースプログラムの中で一時記憶装置
に対する定義が記述されているソースが記憶されている
装置である。

【００１１】データ情報解析装置１−３は、入力装置１
−１によって指定されたソースプログラム記憶装置１−
２の識別子が示す内容を読み取って一時記憶装置の詳細
情報（例えばファイル編成，ブロック化係数，レコード
長）や、各データの情報（例えばデータ名，データ長）
を調べ、解析結果をデータ情報記憶装置１−４へ記憶さ
せる装置である。

【００１２】データ情報記憶装置１−４は、データ情報
解析装置１−３によって解析された一時記憶装置の詳細
情報や、各データの情報を記憶しておく装置である。

【００１３】プログラム作成装置１−５は、入力装置１
−１からの指示及び、データ情報記憶装置１−４に記憶
されている一時記憶装置の詳細や各データの情報を参照
してドライバープログラムを自動的に作成し、作成され
たドライバープログラムをドライバープログラム記憶装
置１−７へ記憶させる装置である。

【００１４】テストデータ入力装置１−６は、データ情
報記憶装置１−４に記憶されている一時記憶装置の詳細
情報を参照して、テストデータ記憶装置１−８上に一時
記憶装置と同様の領域を確保し、入力装置１−１により
テストデータ値の入力を行い、テストデータ記憶装置１
−８へ記憶させる処理を繰り返し行い、ＬＭ中の一時記
憶装置についてすべて、テストデータの定義が行われた
かを入力終了時に確認する装置である。

【００１５】ドライバープログラム記憶装置１−７は、
プログラム作成装置１−５によって作成されたドライバ
ープログラムを記憶しておくための記憶装置である。

【００１６】テストデータ記憶装置１−８は、テストデ
ータ入力装置１−６で入力されたテストデータの値を記
憶しておくための記憶装置である。

【００１７】以下に、ドライバー部分のプログラムが自
動生成され、それにともなってテストデータを作成して
いくまでの一連の動作を図２〜図４にそって説明してい
く。

【００１８】まず、図２の手順に従い、必要とされる一
時記憶装置（例えば磁気ディスク上のテンポラリーファ
イル）の情報（例えばファイル編成，ブロック化係数，
レコード長，データ名，データ長）をとりこむ。入力装
置１−１（例えばＣＲＴやキーボード）でＬＭ間でデー
タの受け渡しに使用しているすべての一時記憶装置の識
別子及び、これらの定義を行っているソースプログラム
記憶装置１−２を指定する（２−１の処理）。

【００１９】データ情報解析装置１−３で一時記憶装置
についての記述部分（例えばＩＮＰＵＴ−ＯＵＴＰＵＴ
ＳＥＣＴＩＯＮや、ＦＩＬＥ ＳＥＣＴＩＯＮ）をソ
ースプログラム記憶装置１−２から探して（２−２の処
理）、一時ファイルの詳細情報（例えばファイル編成，
ブロック化係数，レコード長）や、そこで使用するデー
タの情報（例えばデータ名，データ長）を解析する（２
−３の処理）。そしてこれらの解析結果の情報をデータ
情報記憶装置１−４（例えばメモリ）へ記憶させる（２
−４の処理）。

【００２０】次に、図３の手順に従い、ドライバー部の
プログラムを自動生成する。

【００２１】入力装置１−１でＬＭ中のメインＣＵ識別
子と、作成するドライバープログラムの識別子を指定す
る（３−１の処理）。

【００２２】プログラム作成装置１−５で、一時記憶装
置の詳細情報とデータの情報をデータ情報記憶装置１−
４から読み込み（３−２の処理）、一時記憶装置、それ
と同様の領域をとるテストデータ記憶装置１−８（例え
ば磁気ディスク）上のテストデータ領域（例えばパーマ
ネントファイル）を定義する部分のコーディングを自動
生成する（３−３の処理）。そして、指定されたＣＵ識
別子の情報からメインＣＵをコールする処理及び、指定
されたテストデータ領域識別子（例えばファイル名のこ
と、以後、単にテストデータ識別子と呼ぶ）から一時記
憶装置へ複写する処理及び、入力装置１−１で指定する
テストデータ識別子の入力処理のコーディングを生成し
てドライバープログラムを完成させ（３−４の処理）、
指定されたプログラム識別子でドライバープログラム記
憶装置１−７（例えば磁気ディスク）へ記憶させる（３
−５の処理）。

【００２３】次に、図４の手順に従い、テストデータの
入力を行う。

【００２４】入力装置１−１でデータを定義したい一時
記憶装置識別子，作成するテストデータ識別子を入力す
る（４−１の処理）。

【００２５】テストデータ入力装置１−６で、データ情
報記憶装置１−４から一時記憶装置の詳細情報を参照
し、同様の領域をテストデータ記憶装置１−８上に指定
されたテストデータ識別子をつけて確保する（４−２の
処理、例えば磁気ディスク上にパーマネントファイルを
アロケートするような動作のことをいう）。

【００２６】次に、データ情報記憶装置１−４から、各
データの情報を順に参照し（４−３の処理）、入力装置
１−１（例えばＣＲＴ）上に表示し、それに対応して各
データの値を入力していく（４−４の処理）。入力され
たデータ値はテストデータ記憶装置１−８へ入力装置１
−１で入力されたテストデータ識別子をつけて記憶され
る（４−５の処理、例えばファイルへデータを書き込む
動作）。これらの動作をすべてのデータに対して値が入
力されるまで行う（４−６の処理）。

【００２７】一つの一時記憶装置に対するテストデータ
の入力が終了すると、テストデータ入力装置１−１によ
って、また次の一時記憶装置識別子とテストデータ識別
子の入力要求となるので、ＬＭで使用する各一時記憶装
置ごとにテストしたいテストデータの数だけ入力処理を
繰り返し行う（４−７の処理）。

【００２８】そしてすべてのテストデータの作成後、テ
ストデータ入力装置１−６によって、テストデータ記憶
装置１−８の各テストデータとデータ情報記憶装置１−
４の各一時ファイルの定義情報を比較して、ＬＭで使用
するすべての一時記憶装置についてテストデータが定義
されているか確認して終了する（４−８の処理）。もし
このときテストデータを定義されていない一時記憶装置
があるなら、テストデータ入力処理をふたたび行う。

【００２９】ドライバー部分のプログラムを作成し、使
用する各テストデータを作成した後で、ドライバープロ
グラムをコンパイルしＣＵとした後、テストしたいＬＭ
をＣＵとしてリンクする。できあがったドライバープロ
グラムを組み込んだＬＭを実行するとテストに使用する
テストデータ識別子を指定できるので、本装置で作成し
たテストデータの識別子を指定する。このようにして、
色々なテストデータを用いてＬＭ単体でテストを行うこ
とができる。

【００３０】図５はソースプログラム記憶装置１−２の
構成図の一例である。

【００３１】図６はデータ情報記憶装置の構成図１−４
の一例である。ファイル情報記憶部には、ファイル名，
ファイル編成，キー名などの情報が、データ情報記憶部
には、各データのレベル，名前，属性タイプ，桁数，繰
り返し指定などの情報がそれぞれ記憶されている。

【００３２】図７はドライバープログラム記憶装置１−
７の構成図の一例である。

【００３３】作成されたドライバープログラムは、テス
トを行うテストデータ識別子の入力装置１−１による選
択処理，一時記憶装置と同様の領域をもつテストデータ
記憶装置１−８上の各テストデータの値を読みとって一
時記憶装置へ複写を行う処理（例えばパーマネントファ
イルの内容をすべて一時ファイルへ複写するような処
理），ＬＭのメインＣＵを呼び出す処理を含んでいる。

【００３４】図８はテストデータ記憶装置１−８の一例
である。８−１の領域には識別子“ＴＥＳＴ−１”のテ
ストデータが、８−２の領域には識別子“ＴＥＳＴ−
２”のテストデータがそれぞれ記憶されている。これら
は、ＬＭ中で使用する一時記憶装置（例えばテンポラリ
ーファイル）と同様の領域の大きさをもっている。

【００３５】

【発明の効果】以上説明したように本発明は、ＬＭを複
数もつ大規模なプログラム開発における各ＬＭ単体での
テストにおいて、ＬＭをそれぞれ単体で動かすためのド
ライバー部分のプログラムを自動生成することでドライ
バープログラムの作成時間を短縮させる。

【００３６】また、色々なパターンを定義したテストデ
ータを一度に作成することができるので、テスト時にデ
ータの受け渡しを行う一時記憶装置のデータの内容を簡
単に変化させることができ、より効率的なテストを行う
ことができる。

【００３７】そして、単体テストの段階で品質の高いＬ
Ｍにすることができるので、その後の各ＬＭを結びつけ
たプログラム全体のテストにおいてバグの発生と修正を
減少させることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の全体の構成を示すブロック図である。

【図２】各一時記憶装置のデータ情報の解析の流れを示
す作業手順の図である。

【図３】ドライバープログラムの自動生成の流れを示す
作業手順の図である。

【図４】テストデータの作成の流れを示す作業手順の図
である。

【図５】ソースプログラム記憶装置１−２の構成図の一
例である。

【図６】データ情報記憶装置１−４の構成図の一例であ
る。

【図７】ドライバープログラム記憶装置１−７の構成図
の一例である。

【図８】テストデータ記憶装置１−８の構成図の一例で
ある。

【符号の説明】

１−１ 入力装置 １−２ ソースプログラム記憶装置 １−３ データ情報解析装置 １−４ データ情報記憶装置 １−５ プログラム作成装置 １−６ テストデータ入力装置 １−７ ドライバープログラム記憶装置 １−８ テストデータ記憶装置 ８−１ 識別子“ＴＥＳＴ−１”のテストデータが記
憶されている領域 ８−２ 識別子“ＴＥＳＴ−２”のテストデータが記
憶されている領域

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数にロードモジュール（以下ＬＭと称
   す）を分割させるような大規模なプログラムの各ＬＭ単
   体のテストを行うために、ＬＭが単体で動けるようにす
   るために必要なプログラム（ドライバープログラム）の
   作成において、ＬＭ各単体間のデータの受け渡しに使用
   する一時記憶装置の識別子、作成するプログラムの識別
   子などを入力する入力装置と、ソースプログラムのデー
   タ記述部分の解析を行って一時記憶装置の詳細情報、デ
   ータの情報を抽出するデータ情報解析装置と、データ情
   報解析装置の解析した情報を記憶しておくデータ情報記
   憶装置と、ドライバープログラムの作成を行うプログラ
   ム作成装置と、テストデータの繰り返し入力と入力終了
   の判断を行うテストデータ入力装置と、作成されたドラ
   イバープログラムを記憶しておくドライバープログラム
   記憶装置と、入力されたテストデータを記憶しておくテ
   ストデータ記憶装置を備えていることを特徴とするロー
   ドモジュール単体テスト支援装置。