JPH0666377B2 - 処理装置および処理方法およびレジスト処理装置 - Google Patents
処理装置および処理方法およびレジスト処理装置Info
- Publication number
- JPH0666377B2 JPH0666377B2 JP28080090A JP28080090A JPH0666377B2 JP H0666377 B2 JPH0666377 B2 JP H0666377B2 JP 28080090 A JP28080090 A JP 28080090A JP 28080090 A JP28080090 A JP 28080090A JP H0666377 B2 JPH0666377 B2 JP H0666377B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- processing
- cassette mounting
- processed
- cassette
- processing unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、処理装置および処理方法およびレジスト処理
装置に関する。
装置に関する。
(従来の技術) 近年、半導体装置においては、急速に高集積化が進めら
れており、その回路パターンは微細化される傾向にあ
る。このため、半導体製造工程においては、クリーンル
ーム中の雰囲気の塵埃を従来にも増して低減し、さらに
クリーン化することが求められている。そこで、各工程
を自動化し無人化を図ることにより、クリーン化の要求
に対応することが行われている。
れており、その回路パターンは微細化される傾向にあ
る。このため、半導体製造工程においては、クリーンル
ーム中の雰囲気の塵埃を従来にも増して低減し、さらに
クリーン化することが求められている。そこで、各工程
を自動化し無人化を図ることにより、クリーン化の要求
に対応することが行われている。
ところで、一般に半導体製造工程においては、被処理物
としての半導体ウエハは、ウエハカセット等と称される
搬送用治具内に複数例えば25枚程度収容されて搬送され
る。そこで、上述した自動化の一つとして、このような
ウエハカセットを自動的に搬送するロボット搬送も取り
入れられつつある。
としての半導体ウエハは、ウエハカセット等と称される
搬送用治具内に複数例えば25枚程度収容されて搬送され
る。そこで、上述した自動化の一つとして、このような
ウエハカセットを自動的に搬送するロボット搬送も取り
入れられつつある。
(発明が解決しようとする課題) 上述したように、半導体製造工程においては、ロボット
搬送によるウエハカセット等の自動搬送が実施されてい
る。
搬送によるウエハカセット等の自動搬送が実施されてい
る。
しかしながら、このようなロボット搬送により、ウエハ
カセット等を各種半導体処理装置に搬送する場合、上記
各種半導体処理装置のウエハカセット搬入口の高さが装
置毎に異ると搬送が困難になる。このため、各種半導体
処理装置のウエハカセットの搬入口高さが一致するよう
に調節しなければならず、半導体処理装置によっては大
幅な設計変更等を必要とする場合があった。
カセット等を各種半導体処理装置に搬送する場合、上記
各種半導体処理装置のウエハカセット搬入口の高さが装
置毎に異ると搬送が困難になる。このため、各種半導体
処理装置のウエハカセットの搬入口高さが一致するよう
に調節しなければならず、半導体処理装置によっては大
幅な設計変更等を必要とする場合があった。
また、近年半導体ウエハは直径例えば8インチ等と大口
径化される傾向にあり、これに対応してウエハカセット
等の搬送用治具も大形化し、その重量も重くなる傾向に
あり、このような搬送用治具の大形化に対応することも
半導体製造装置として要求されている。
径化される傾向にあり、これに対応してウエハカセット
等の搬送用治具も大形化し、その重量も重くなる傾向に
あり、このような搬送用治具の大形化に対応することも
半導体製造装置として要求されている。
さらにウエハ径が変わると、クリーンルーム内の処理装
置の入れ換えを実行するが、クリーンルームの電源容量
は既設済みであり、特に8インチについては歩留まり等
の面から移行したいと言われ、夫々動力を大容量化する
ことは大工事となり問題とされていた。
置の入れ換えを実行するが、クリーンルームの電源容量
は既設済みであり、特に8インチについては歩留まり等
の面から移行したいと言われ、夫々動力を大容量化する
ことは大工事となり問題とされていた。
本発明は、かかる従来の事情に対処してなされたもの
で、プロセス処理部のクリーン度を高く維持でき、被処
理体に対するクリーン度の高い処理を行うことができ、
また、メンテナンス効率を向上させることのできる処理
装置および処理方法およびレジスト処理装置を提供しよ
うとするものである。
で、プロセス処理部のクリーン度を高く維持でき、被処
理体に対するクリーン度の高い処理を行うことができ、
また、メンテナンス効率を向上させることのできる処理
装置および処理方法およびレジスト処理装置を提供しよ
うとするものである。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) すなわち、本発明は、複数の被処理体を収容するカセッ
トを少なくとも1つ載置する載置面を有するカセット載
置台を備えたカセット載置部と、このカセット載置部に
設けられ前記カセットから前記被処理体を搬入搬出する
第1の搬送手段と、前記被処理体を処理する複数の処理
ユニットを具備する処理部と、この処理部に設けられ前
記複数の処理ユニットのうち所定の処理ユニットに対し
て前記被処理体を搬入搬出する第2の搬送手段と、前記
第2の搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬入搬
出される前記被処理体の本処理装置における高さ位置
を、前記カセット載置台のカセット載置面の本処理装置
における高さ位置より高い位置に設定する手段とを具備
してなることを特徴とする。
トを少なくとも1つ載置する載置面を有するカセット載
置台を備えたカセット載置部と、このカセット載置部に
設けられ前記カセットから前記被処理体を搬入搬出する
第1の搬送手段と、前記被処理体を処理する複数の処理
ユニットを具備する処理部と、この処理部に設けられ前
記複数の処理ユニットのうち所定の処理ユニットに対し
て前記被処理体を搬入搬出する第2の搬送手段と、前記
第2の搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬入搬
出される前記被処理体の本処理装置における高さ位置
を、前記カセット載置台のカセット載置面の本処理装置
における高さ位置より高い位置に設定する手段とを具備
してなることを特徴とする。
また、前記第1の搬送手段は、X,Y,θ方向に移動可
能に構成されていることを特徴とする。
能に構成されていることを特徴とする。
また、前記第2の搬送手段は、X,Y,Z,θ方向に移
動可能に構成されていることを特徴とする。
動可能に構成されていることを特徴とする。
また、前記カセット載置台は、上下方向に移動可能に構
成されていることを特徴とする。
成されていることを特徴とする。
また、複数の被処理体を収容するカセットを少なくとも
1つ載置する載置面を有するカセット載置台を備えたカ
セット載置部と、このカセット載置部に設けられ前記カ
セットから前記被処理体を搬入搬出する第1の搬送手段
と、前記被処理体を処理する複数の処理ユニットを具備
する処理部と、この処理部に設けられ前記複数の処理ユ
ニットのうち所定の処理ユニットに対して前記被処理体
を搬入搬出する第2の搬送手段と、前記第1の搬送手段
と前記第2の搬送手段との間で、前記被処理体を受け渡
す受渡し手段と、前記第2の搬送手段により前記複数の
処理ユニットに搬入排出される前記被処理体の本処理装
置における高さ位置を、前記カセット載置台のカセット
載置面の本処理装置における高さ位置より高い位置に設
定する手段とを具備してなることを特徴とする。
1つ載置する載置面を有するカセット載置台を備えたカ
セット載置部と、このカセット載置部に設けられ前記カ
セットから前記被処理体を搬入搬出する第1の搬送手段
と、前記被処理体を処理する複数の処理ユニットを具備
する処理部と、この処理部に設けられ前記複数の処理ユ
ニットのうち所定の処理ユニットに対して前記被処理体
を搬入搬出する第2の搬送手段と、前記第1の搬送手段
と前記第2の搬送手段との間で、前記被処理体を受け渡
す受渡し手段と、前記第2の搬送手段により前記複数の
処理ユニットに搬入排出される前記被処理体の本処理装
置における高さ位置を、前記カセット載置台のカセット
載置面の本処理装置における高さ位置より高い位置に設
定する手段とを具備してなることを特徴とする。
また、複数の被処理体を収容するカセットを少なくとも
1つ載置する載置面を有するカセット載置台を備えたカ
セット載置部と、このカセット載置部に設けられ前記カ
セットから前記被処理体を搬入搬出する第1の搬送手段
と、前記被処理体を処理する複数の処理ユニットを具備
する処理部と、この処理部に設けられ前記複数の処理ユ
ニットのうち所定の処理ユニットに対して前記被処理体
を搬入搬出する第2の搬送手段と、この第2の搬送手段
に設けられ前記複数の処理ユニットに対して前記被処理
体を搬入搬出する少なくとも2つの保持手段と、前記第
2の搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬入搬出
される前記被処理体の本処理装置における高さ位置を、
前記カセット載置台のカセット載置面の本処理装置にお
ける高さ位置より高い位置に設定する手段とを具備して
なることを特徴とする。
1つ載置する載置面を有するカセット載置台を備えたカ
セット載置部と、このカセット載置部に設けられ前記カ
セットから前記被処理体を搬入搬出する第1の搬送手段
と、前記被処理体を処理する複数の処理ユニットを具備
する処理部と、この処理部に設けられ前記複数の処理ユ
ニットのうち所定の処理ユニットに対して前記被処理体
を搬入搬出する第2の搬送手段と、この第2の搬送手段
に設けられ前記複数の処理ユニットに対して前記被処理
体を搬入搬出する少なくとも2つの保持手段と、前記第
2の搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬入搬出
される前記被処理体の本処理装置における高さ位置を、
前記カセット載置台のカセット載置面の本処理装置にお
ける高さ位置より高い位置に設定する手段とを具備して
なることを特徴とする。
また、複数の被処理体を収容するカセットを少なくとも
1つ載置する載置面を有するカセット載置台を備えたカ
セット載置部と、このカセット載置部に設けられ前記カ
セットから前記被処理体を搬入搬出する第1の搬送手段
と、前記被処理体をレジスト処理するレジスト塗布処理
ユニットおよびレジスト現像処理ユニットおよびベーキ
ング処理ユニットおよび冷却処理ユニット、またはこれ
らのうち少なくとも2つを具備する処理部と、この処理
部に設けられ前記レジスト塗布処理ユニットおよびレジ
スト現像処理ユニットおよびベーキング処理ユニットお
よび冷却処理ユニット、またはこれらのうち少なくとも
2つのいずれかのユニットに対して前記被処理体を搬入
搬出する第2の搬送手段と、前記第2の搬送手段により
前記複数の処理ユニットに搬入搬出される前記被処理体
の本処理装置における高さ位置を、前記カセット載置台
のカセット載置面の本処理装置における高さ位置より高
い位置に設定する手段とを具備してなることを特徴とす
る。
1つ載置する載置面を有するカセット載置台を備えたカ
セット載置部と、このカセット載置部に設けられ前記カ
セットから前記被処理体を搬入搬出する第1の搬送手段
と、前記被処理体をレジスト処理するレジスト塗布処理
ユニットおよびレジスト現像処理ユニットおよびベーキ
ング処理ユニットおよび冷却処理ユニット、またはこれ
らのうち少なくとも2つを具備する処理部と、この処理
部に設けられ前記レジスト塗布処理ユニットおよびレジ
スト現像処理ユニットおよびベーキング処理ユニットお
よび冷却処理ユニット、またはこれらのうち少なくとも
2つのいずれかのユニットに対して前記被処理体を搬入
搬出する第2の搬送手段と、前記第2の搬送手段により
前記複数の処理ユニットに搬入搬出される前記被処理体
の本処理装置における高さ位置を、前記カセット載置台
のカセット載置面の本処理装置における高さ位置より高
い位置に設定する手段とを具備してなることを特徴とす
る。
また、複数の被処理体を収容するカセットを少なくとも
1つ載置する載置面を有するカセット載置台を備えたカ
セット載置部と、このカセット載置部に設けられ前記カ
セットから前記被処理体を搬入搬出する第1の搬送手段
と、前記被処理体をレジスト処理するレジスト塗布処理
ユニットおよびレジスト現像処理ユニットおよびベーキ
ング処理ユニットおよび冷却処理ユニット、またはこれ
らのうち少なくとも2つを具備する処理部と、この処理
部に設けられ前記レジスト塗布処理ユニットおよびレジ
スト現像処理ユニットおよびベーキング処理ユニットお
よび冷却処理ユニット、またはこれらのうち少なくとも
2つのいずれかのユニットに対して前記被処理体の裏面
(下面)周縁部を支持して搬入搬出する第2の搬送手段
と、前記第2の搬送手段により前記複数の処理ユニット
に搬入搬出される前記被処理体の本処理装置における高
さ位置を、前記カセット載置台のカセット載置面の本処
理装置における高さ位置より高い位置に設定する手段と
を具備してなることを特徴とする。
1つ載置する載置面を有するカセット載置台を備えたカ
セット載置部と、このカセット載置部に設けられ前記カ
セットから前記被処理体を搬入搬出する第1の搬送手段
と、前記被処理体をレジスト処理するレジスト塗布処理
ユニットおよびレジスト現像処理ユニットおよびベーキ
ング処理ユニットおよび冷却処理ユニット、またはこれ
らのうち少なくとも2つを具備する処理部と、この処理
部に設けられ前記レジスト塗布処理ユニットおよびレジ
スト現像処理ユニットおよびベーキング処理ユニットお
よび冷却処理ユニット、またはこれらのうち少なくとも
2つのいずれかのユニットに対して前記被処理体の裏面
(下面)周縁部を支持して搬入搬出する第2の搬送手段
と、前記第2の搬送手段により前記複数の処理ユニット
に搬入搬出される前記被処理体の本処理装置における高
さ位置を、前記カセット載置台のカセット載置面の本処
理装置における高さ位置より高い位置に設定する手段と
を具備してなることを特徴とする。
また、複数の被処理体を収容するカセットを少なくとも
1つ載置するカセット載置台を備えたカセット載置部
と、このカセット載置部が設けられる第1の筐体と、こ
の第1の筐体に設けられ前記カセットから前記被処理体
を搬入搬出する第1の搬送手段と、前記被処理体を処理
する複数の処理ユニットを具備する処理部と、この処理
部が設けられる第2の筐体と、この第2の筐体に設けら
れ前記複数の処理ユニットのうち所定の処理ユニットに
前記被処理体を搬送する第2の搬送手段と、この第2の
搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬入搬出され
る前記被処理体の本処理装置における高さ位置を、前記
第1の筐体に設けられる前記カセット載置台のカセット
載置面の本処理装置における高さ位置より高い位置に設
定する手段とを具備してなることを特徴とする。
1つ載置するカセット載置台を備えたカセット載置部
と、このカセット載置部が設けられる第1の筐体と、こ
の第1の筐体に設けられ前記カセットから前記被処理体
を搬入搬出する第1の搬送手段と、前記被処理体を処理
する複数の処理ユニットを具備する処理部と、この処理
部が設けられる第2の筐体と、この第2の筐体に設けら
れ前記複数の処理ユニットのうち所定の処理ユニットに
前記被処理体を搬送する第2の搬送手段と、この第2の
搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬入搬出され
る前記被処理体の本処理装置における高さ位置を、前記
第1の筐体に設けられる前記カセット載置台のカセット
載置面の本処理装置における高さ位置より高い位置に設
定する手段とを具備してなることを特徴とする。
また、複数の被処理体を収容するカセットを少なくとも
1つ載置するカセット載置台を備えたカセット載置部
と、このカセット載置部が設けられる第1の筐体と、こ
の第1の筐体に設けられ前記カセットから前記被処理体
を搬入搬出する第1の搬送手段と、前記被処理体を処理
する複数の処理ユニットを具備する処理部と、この処理
部が設けられる第2の筐体と、この第2の筐体に設けら
れ前記複数の処理ユニットのうち所定の処理ユニットに
前記被処理体を搬送する第2の搬送手段と、前記第1の
筐体に設けられ前記第1の搬送手段と前記第2の搬送手
段との間で、前記被処理体を受け渡す受渡し手段と、こ
の第2の搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬入
搬出される前記被処理体の本処理装置における高さ位置
を、前記第1の筐体に設けられる前記カセット載置台の
カセット載置面の本処理装置における高さ位置より高い
位置に設定する手段とを具備してなることを特徴とす
る。
1つ載置するカセット載置台を備えたカセット載置部
と、このカセット載置部が設けられる第1の筐体と、こ
の第1の筐体に設けられ前記カセットから前記被処理体
を搬入搬出する第1の搬送手段と、前記被処理体を処理
する複数の処理ユニットを具備する処理部と、この処理
部が設けられる第2の筐体と、この第2の筐体に設けら
れ前記複数の処理ユニットのうち所定の処理ユニットに
前記被処理体を搬送する第2の搬送手段と、前記第1の
筐体に設けられ前記第1の搬送手段と前記第2の搬送手
段との間で、前記被処理体を受け渡す受渡し手段と、こ
の第2の搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬入
搬出される前記被処理体の本処理装置における高さ位置
を、前記第1の筐体に設けられる前記カセット載置台の
カセット載置面の本処理装置における高さ位置より高い
位置に設定する手段とを具備してなることを特徴とす
る。
また、複数の被処理体を収容するカセットを少なくとも
1つ載置する載置面を有するカセット載置台を備えたカ
セット載置部と、このカセット載置部に設けられ前記カ
セットから前記被処理体を搬入搬出する第1の搬送手段
と、前記被処理体を処理する複数の処理ユニットを具備
する処理部と、この処理部に設けられ前記複数の処理ユ
ニットのうち所定の処理ユニットに対して前記被処理体
を搬入搬出する第2の搬送手段と、前記第2の搬送手段
により前記複数の処理ユニットに搬入搬出される前記被
処理体の本処理装置における高さ位置を、前記カセット
載置台のカセット載置面の本処理装置における高さ位置
より高い位置に設定する手段とを具備してなる処理装置
において、前記複数の処理ユニットに搬入搬出される前
記被処理体の本処理装置における高さ位置を、前記カセ
ット載置台のカセット載置面の本処理装置における高さ
位置より高い位置で、前記第2の搬送手段により前記被
処理体を搬送することを特徴とする。
1つ載置する載置面を有するカセット載置台を備えたカ
セット載置部と、このカセット載置部に設けられ前記カ
セットから前記被処理体を搬入搬出する第1の搬送手段
と、前記被処理体を処理する複数の処理ユニットを具備
する処理部と、この処理部に設けられ前記複数の処理ユ
ニットのうち所定の処理ユニットに対して前記被処理体
を搬入搬出する第2の搬送手段と、前記第2の搬送手段
により前記複数の処理ユニットに搬入搬出される前記被
処理体の本処理装置における高さ位置を、前記カセット
載置台のカセット載置面の本処理装置における高さ位置
より高い位置に設定する手段とを具備してなる処理装置
において、前記複数の処理ユニットに搬入搬出される前
記被処理体の本処理装置における高さ位置を、前記カセ
ット載置台のカセット載置面の本処理装置における高さ
位置より高い位置で、前記第2の搬送手段により前記被
処理体を搬送することを特徴とする。
(作用) 本発明の処理装置および処理方法およびレジスト処理装
置では、被処理体を保持して処理ユニットに搬入搬出す
る保持手段が、カセット載置台のカセット載置面よりも
高い位置で、前記複数の処理ユニットに前記被処理体を
搬入搬出することができるので、プロセス処理部のクリ
ーン度を高く維持でき、被処理体に対するクリーン度の
高い処理を行うことができる。
置では、被処理体を保持して処理ユニットに搬入搬出す
る保持手段が、カセット載置台のカセット載置面よりも
高い位置で、前記複数の処理ユニットに前記被処理体を
搬入搬出することができるので、プロセス処理部のクリ
ーン度を高く維持でき、被処理体に対するクリーン度の
高い処理を行うことができる。
(実施例) 以下、本発明処理装置をレジスト塗布現像処理装置に適
用した実施例を図面を参照して説明する。
用した実施例を図面を参照して説明する。
第1図に示すように、レジスト塗布現像処理装置1は、
例えばそれぞれ別体の筐体で構成された処理部2および
ローダー部3を、水平方向(図示X方向)に配列し、こ
れらを接続して構成されている。
例えばそれぞれ別体の筐体で構成された処理部2および
ローダー部3を、水平方向(図示X方向)に配列し、こ
れらを接続して構成されている。
上記処理部2は、被処理体例えば半導体ウエハ10にフ
ォトリソグラフィーのための一連の処理を施す各処理ユ
ニット11a〜11fと、半導体ウエハ10をこれらの
処理ユニット11a〜11fに搬送するための搬送ユニ
ット12を組み合せて構成されている。
ォトリソグラフィーのための一連の処理を施す各処理ユ
ニット11a〜11fと、半導体ウエハ10をこれらの
処理ユニット11a〜11fに搬送するための搬送ユニ
ット12を組み合せて構成されている。
この実施例の場合は、搬送路ユニット12が筐体を中央
部を走行する如く設けられており、この搬送ユニット路
12によって分断された一方側(第1図の下方)には、
レジスト塗布処理ユニット11a、現像処理ユニット1
1bが並列して設けられ、また、他方側(第1図の上
方)には、ローダー部3側から複数の処理部例えばポス
トベーク処理ユニット11c、11d、および2段積み
する如く構成されたポストエクスポージャーベークユニ
ット11eと冷却温調処理ユニット11fが並列に設け
られている。
部を走行する如く設けられており、この搬送ユニット路
12によって分断された一方側(第1図の下方)には、
レジスト塗布処理ユニット11a、現像処理ユニット1
1bが並列して設けられ、また、他方側(第1図の上
方)には、ローダー部3側から複数の処理部例えばポス
トベーク処理ユニット11c、11d、および2段積み
する如く構成されたポストエクスポージャーベークユニ
ット11eと冷却温調処理ユニット11fが並列に設け
られている。
また、上記搬送路ユニット12には、第2図にも示すよ
うに、半導体ウエハ10を支持して搬送するためのウエ
ハピンセット12aが上下に重なる如く複数例えば2つ
設けられている。これらのウエハピンセット12aは、
円弧状に形成され、半導体ウエハ10の裏面周縁部を支
持するよう構成されており、図示しない駆動機構によ
り、X、Y、Z、θ方向に移動自在に構成されている。
ここで、上記2つのウエハピンセット12aは、例えば
一方が処理部2の各処理ユニット11a〜11fに半導
体ウエハ10を受け渡し、他方は処理が終了した半導体
ウエハ10を受け取るように構成されている。
うに、半導体ウエハ10を支持して搬送するためのウエ
ハピンセット12aが上下に重なる如く複数例えば2つ
設けられている。これらのウエハピンセット12aは、
円弧状に形成され、半導体ウエハ10の裏面周縁部を支
持するよう構成されており、図示しない駆動機構によ
り、X、Y、Z、θ方向に移動自在に構成されている。
ここで、上記2つのウエハピンセット12aは、例えば
一方が処理部2の各処理ユニット11a〜11fに半導
体ウエハ10を受け渡し、他方は処理が終了した半導体
ウエハ10を受け取るように構成されている。
一方、ローダー部3には、半導体ウエハ10が複数枚例
えば25枚収容可能に構成されたウエハカセット(搬送用
治具)13を載置して、上下方向(Z方向)に移動させ
るように構成された複数例えば4つのカセット載置部1
4が設けられている。また、このローダー部3には、
X、Y、θ方向に移動自在とされたウエハピンセット1
5aにより、上記ウエハカセット13に半導体ウエハ1
0を搬入・搬出するための搬送機構15が設けられてい
る。
えば25枚収容可能に構成されたウエハカセット(搬送用
治具)13を載置して、上下方向(Z方向)に移動させ
るように構成された複数例えば4つのカセット載置部1
4が設けられている。また、このローダー部3には、
X、Y、θ方向に移動自在とされたウエハピンセット1
5aにより、上記ウエハカセット13に半導体ウエハ1
0を搬入・搬出するための搬送機構15が設けられてい
る。
さらに、この実施例では、ローダー部3に、搬送機構1
5と搬送路ユニット12との間における半導体ウエハ1
0の受け渡しを行うウエハ受け渡し機構16として、図
示しない駆動機構例えばステッピングモータとボールネ
ジによって上下動可能に構成され、その上部に半導体ウ
エハ10を支持可能に構成された2本のステージピン1
6aが設けられている。なお、これらのステージピン1
6aは、図示しない駆動機構例えばエアシリンダにより
その間隔を変更可能に構成されている。
5と搬送路ユニット12との間における半導体ウエハ1
0の受け渡しを行うウエハ受け渡し機構16として、図
示しない駆動機構例えばステッピングモータとボールネ
ジによって上下動可能に構成され、その上部に半導体ウ
エハ10を支持可能に構成された2本のステージピン1
6aが設けられている。なお、これらのステージピン1
6aは、図示しない駆動機構例えばエアシリンダにより
その間隔を変更可能に構成されている。
また、これらのステージピン16aの上部位置には、半
導体ウエハ10の位置合せを行うための2本のセンタリ
ングガイド17が設けられている。このセンタリングガ
イド17は、半導体ウエハ10の外形に合せて内側が半
円状に形成されており、図示しない駆動機構例えばエア
シリンダにより開閉制御して半導体ウエハ10を挟持す
ることにより位置合せする如く構成されている。そし
て、開状態でこれらのセンタリングガイド17の間に半
導体ウエハ10を搬入し、これらのセンタリングガイド
17を閉じる操作(間隔を狭める方向に移動させる)こ
とにより、ステージピン16aの所定位置に半導体ウエ
ハ10を位置決めすることができるよう構成されてい
る。
導体ウエハ10の位置合せを行うための2本のセンタリ
ングガイド17が設けられている。このセンタリングガ
イド17は、半導体ウエハ10の外形に合せて内側が半
円状に形成されており、図示しない駆動機構例えばエア
シリンダにより開閉制御して半導体ウエハ10を挟持す
ることにより位置合せする如く構成されている。そし
て、開状態でこれらのセンタリングガイド17の間に半
導体ウエハ10を搬入し、これらのセンタリングガイド
17を閉じる操作(間隔を狭める方向に移動させる)こ
とにより、ステージピン16aの所定位置に半導体ウエ
ハ10を位置決めすることができるよう構成されてい
る。
次に、上記構成のレジスト処理装置1の動作(処理工
程)について説明する。
程)について説明する。
まず、クリーンルーム内を搬送する無塵ロボット搬送例
えばハンドリングアーム等で半導体ウエハ10が収容さ
れたウエハカセット13をローダ部3の予め定められ
た、カセット載置部14の載置台に載置する。載置され
た情報は自動的にコンピュータに入力される。
えばハンドリングアーム等で半導体ウエハ10が収容さ
れたウエハカセット13をローダ部3の予め定められ
た、カセット載置部14の載置台に載置する。載置され
た情報は自動的にコンピュータに入力される。
その後予め組まれたプログラムにより、搬送機構15の
ウエハピンセット15aを、例えばウエハカセット13
と位置対応させ、対応したウエハカセット13内の半導
体ウエハ10の下部に挿入し、この後、カセット載置部
14によって、上記ウエハカセット13を上記ピンセッ
ト15と相対的に所定ストローク降下させて、ウエハピ
ンセット15a上に半導体ウエハ10を載置する。な
お、ウエハピンセット15aは、例えば真空チェックに
より半導体ウエハ10の裏面を吸着仮固定する。
ウエハピンセット15aを、例えばウエハカセット13
と位置対応させ、対応したウエハカセット13内の半導
体ウエハ10の下部に挿入し、この後、カセット載置部
14によって、上記ウエハカセット13を上記ピンセッ
ト15と相対的に所定ストローク降下させて、ウエハピ
ンセット15a上に半導体ウエハ10を載置する。な
お、ウエハピンセット15aは、例えば真空チェックに
より半導体ウエハ10の裏面を吸着仮固定する。
次に、半導体ウエハ10を支持したウエハピンセット1
5aをX方向に移動させてウエハカセット13内から引
き抜き、この後ウエハピンセット15aをθ方向に回転
させてステージピン16上方に位置させる。なお、この
時ステージピン16は予め初期状態(下降位置でかつス
テージピン16の間隔が開となった状態)に設定され待
機している。
5aをX方向に移動させてウエハカセット13内から引
き抜き、この後ウエハピンセット15aをθ方向に回転
させてステージピン16上方に位置させる。なお、この
時ステージピン16は予め初期状態(下降位置でかつス
テージピン16の間隔が開となった状態)に設定され待
機している。
しかる後、ステージピン16aを上昇させ、ウエハピン
セット15aからステージピン16a上に半導体ウエハ
10を受け渡す。この時、2本のステージピン16aの
間をウエハピンセット15aが通り抜けるようにステー
ジピン16aとウエハピンセット15aとが上下方向に
すれ違う。
セット15aからステージピン16a上に半導体ウエハ
10を受け渡す。この時、2本のステージピン16aの
間をウエハピンセット15aが通り抜けるようにステー
ジピン16aとウエハピンセット15aとが上下方向に
すれ違う。
そして、さらに、ステージピン16aを上昇させて半導
体ウエハ10を、予め開とされたセンタリングガイド1
7の間に位置させ、ここで、センタリングガイド17を
閉とし、ステージピン16a上の所定位置に半導体ウエ
ハ10を位置決めする。
体ウエハ10を、予め開とされたセンタリングガイド1
7の間に位置させ、ここで、センタリングガイド17を
閉とし、ステージピン16a上の所定位置に半導体ウエ
ハ10を位置決めする。
なお、この時、ステージピン16aも同時に閉とする。
これは、この後受け渡しを行う搬送路ユニット12のウ
エハピンセット12aが、半導体ウエハ10の外周を保
持するようほぼ環状に形成され、その先端部に形成され
たステージピン16a挿入用開口が狭いので、ステージ
ピン16aとウエハピンセット12aが干渉することを
防止するためである。したがって、ウエハピンセット1
2aの形状(ステージピン16a挿入用開口の形状)に
よっては、上記ステージピン16の閉動作は行わなくて
よい。
これは、この後受け渡しを行う搬送路ユニット12のウ
エハピンセット12aが、半導体ウエハ10の外周を保
持するようほぼ環状に形成され、その先端部に形成され
たステージピン16a挿入用開口が狭いので、ステージ
ピン16aとウエハピンセット12aが干渉することを
防止するためである。したがって、ウエハピンセット1
2aの形状(ステージピン16a挿入用開口の形状)に
よっては、上記ステージピン16の閉動作は行わなくて
よい。
次に、ステージピン16aを、半導体ウエハ10のウエ
ハピンセット12aへの受け渡しが可能な予め定められ
た所定高さまで上昇させ、ここで待機する。
ハピンセット12aへの受け渡しが可能な予め定められ
た所定高さまで上昇させ、ここで待機する。
そして、半導体ウエハ10の下部にウエハピンセット1
2aが挿入されると、ステージピン16aを下降させ、
ステージピン16a上の半導体ウエハ10をウエハピン
セット12aに受け渡す。ウエハピンセット12aに受
け渡された半導体ウエハ10は、この後、予め定められ
たプログラムにより順次所定の処理ユニット11a〜1
1fに搬送し、夫々所定の処理が施される。
2aが挿入されると、ステージピン16aを下降させ、
ステージピン16a上の半導体ウエハ10をウエハピン
セット12aに受け渡す。ウエハピンセット12aに受
け渡された半導体ウエハ10は、この後、予め定められ
たプログラムにより順次所定の処理ユニット11a〜1
1fに搬送し、夫々所定の処理が施される。
また、上記受け渡し時に、上下2段に設けられたウエハ
ピンセット12aのどちらか一方に、処理済みの半導体
ウエハ10が支持されている場合は、上記受け渡しに続
いて、この処理済みの半導体ウエハ10をステージピン
16aに受け渡す。すなわち、このウエハピンセット1
2aを前進させてステージピン16a上に処理済みの半
導体ウエハ10を位置させ、この後、ステージピン16
aを上昇させてステージピン16a上にこの半導体ウエ
ハ10を支持し、ウエハピンセット12aを後退させる
ことにより、処理済みの半導体ウエハ10をステージピ
ン16aに受け渡す。
ピンセット12aのどちらか一方に、処理済みの半導体
ウエハ10が支持されている場合は、上記受け渡しに続
いて、この処理済みの半導体ウエハ10をステージピン
16aに受け渡す。すなわち、このウエハピンセット1
2aを前進させてステージピン16a上に処理済みの半
導体ウエハ10を位置させ、この後、ステージピン16
aを上昇させてステージピン16a上にこの半導体ウエ
ハ10を支持し、ウエハピンセット12aを後退させる
ことにより、処理済みの半導体ウエハ10をステージピ
ン16aに受け渡す。
ステージピン16aに受け渡された処理済みの半導体ウ
エハ10は、この後上述した動作とは反対の動作によ
り、センタリングガイド17によって位置決めされた
後、ステージピン16aから搬送機構15のウエハピン
セット15aに受け渡され、しかる後、所定のウエハカ
セット13内に収容される。
エハ10は、この後上述した動作とは反対の動作によ
り、センタリングガイド17によって位置決めされた
後、ステージピン16aから搬送機構15のウエハピン
セット15aに受け渡され、しかる後、所定のウエハカ
セット13内に収容される。
このような一連の動作を繰り返して行うことにより、ウ
エハカセット13内の各半導体ウエハ10に順次所定の
処理を施す。
エハカセット13内の各半導体ウエハ10に順次所定の
処理を施す。
そして、ウエハカセット13内の全ての半導体ウエハ1
0の処理が終了すると、このウエハカセット13が搬出
され、新たなウエハカセット13が搬入されるが、この
ようなウエハカセット13の搬入・搬出をロボット搬送
により自動的に行う場合、この実施例のレジスト処理装
置1では、ローダー部3の高さをロボット搬送による搬
送高さに調節することにより、容易に実施することがで
きる。
0の処理が終了すると、このウエハカセット13が搬出
され、新たなウエハカセット13が搬入されるが、この
ようなウエハカセット13の搬入・搬出をロボット搬送
により自動的に行う場合、この実施例のレジスト処理装
置1では、ローダー部3の高さをロボット搬送による搬
送高さに調節することにより、容易に実施することがで
きる。
すなわち、処理部2の高さを固定したまま、ローダー部
3の高さをロボット搬送による搬送高さに調節し、この
ローダー部3の高さによって、ステージピン16aによ
る上下方向の半導体ウエハ10の搬送距離を調節する。
したがって、装置全体の高さ等を調節したり、大幅な設
計変更等をする必要もなく、搬送高さの異なるロボット
に柔軟に対応することができる。
3の高さをロボット搬送による搬送高さに調節し、この
ローダー部3の高さによって、ステージピン16aによ
る上下方向の半導体ウエハ10の搬送距離を調節する。
したがって、装置全体の高さ等を調節したり、大幅な設
計変更等をする必要もなく、搬送高さの異なるロボット
に柔軟に対応することができる。
第3図は他の実施例のレジスト処理装置1aの構成を示
すもので、第1図および第2図に示した上述のレジスト
処理装置1と同一部分には同一符号が付してある。
すもので、第1図および第2図に示した上述のレジスト
処理装置1と同一部分には同一符号が付してある。
この実施例のレジスト処理装置1aでは、ローダー部3
のカセット載置部14が、処理部2の処理ユニット11
a〜11fに較べて低位置に設けられている。また、こ
のカセット載置部14は、駆動機構を備えておらず、搬
送機構15のウエハピンセット15aがX−Y−Z−θ
方向に移動可能に構成されている。
のカセット載置部14が、処理部2の処理ユニット11
a〜11fに較べて低位置に設けられている。また、こ
のカセット載置部14は、駆動機構を備えておらず、搬
送機構15のウエハピンセット15aがX−Y−Z−θ
方向に移動可能に構成されている。
そして、カセット載置部14に載置されたウエハカセッ
ト13からウエハピンセット15aによって半導体ウエ
ハ10を取り出し、このウエハピンセット15aによっ
て半導体ウエハ10を上部に搬送して、ステージピン1
6aに受け渡す。
ト13からウエハピンセット15aによって半導体ウエ
ハ10を取り出し、このウエハピンセット15aによっ
て半導体ウエハ10を上部に搬送して、ステージピン1
6aに受け渡す。
このように構成されたレジスト処理装置1aでは、カセ
ット載置部14へのウエハカセット13の搬入・搬出を
低位置で実施することができ、また、ウエハカセット1
3を上下動させないので、装置高さが高くなることも抑
制することができ、例えば8インチ径等大径の半導体ウ
エハ10の処理を行う場合等、ウエハカセット13が大
形の場合に好適である。
ット載置部14へのウエハカセット13の搬入・搬出を
低位置で実施することができ、また、ウエハカセット1
3を上下動させないので、装置高さが高くなることも抑
制することができ、例えば8インチ径等大径の半導体ウ
エハ10の処理を行う場合等、ウエハカセット13が大
形の場合に好適である。
なお、上記実施例では、本発明を半導体ウエハのレジス
ト処理装置に適用した例について説明したが、本発明は
かかる実施例に限定されるものではなく、あらゆる装置
例えば半導体ウエハ表面を洗浄する洗浄装置、エッチン
グ装置、レジスト塗布された半導体ウエハを露光する露
光処理装置、露光処理された半導体ウエハを現像処理す
る現像装置等に適用することができる。さらに被処理体
として半導体ウエハに限らずLCD基板プリント基板の
処理工程にも適用できる。
ト処理装置に適用した例について説明したが、本発明は
かかる実施例に限定されるものではなく、あらゆる装置
例えば半導体ウエハ表面を洗浄する洗浄装置、エッチン
グ装置、レジスト塗布された半導体ウエハを露光する露
光処理装置、露光処理された半導体ウエハを現像処理す
る現像装置等に適用することができる。さらに被処理体
として半導体ウエハに限らずLCD基板プリント基板の
処理工程にも適用できる。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明の処理装置および処理方法
およびレジスト処理装置によれば、プロセス処理部での
被処理体に対するクリーンな処理を行うことができる。
さらに、請求項9と請求項10の発明によれば、メンテ
ナンス効率を向上させることができる。
およびレジスト処理装置によれば、プロセス処理部での
被処理体に対するクリーンな処理を行うことができる。
さらに、請求項9と請求項10の発明によれば、メンテ
ナンス効率を向上させることができる。
第1図は本発明の一実施例のレジスト処理装置の構成を
示す図、第2図は第1図に示すレジスト処理装置の側面
図、第3図は他の実施例のレジスト処理装置の要部構成
を示す図である。 1……レジスト処理装置、2……処理部、3……ローダ
ー部、10……半導体ウエハ、11a〜11f……処理
ユニット、12……搬送路ユニット、12a……ウエハ
ピンセット、13……ウエハカセット、14……カセッ
ト載置部、15……搬送機構、15a……ウエハピンセ
ット、16……ウエハ受け渡し機構、16a……ステー
ジピン、17……センタリングガイド。
示す図、第2図は第1図に示すレジスト処理装置の側面
図、第3図は他の実施例のレジスト処理装置の要部構成
を示す図である。 1……レジスト処理装置、2……処理部、3……ローダ
ー部、10……半導体ウエハ、11a〜11f……処理
ユニット、12……搬送路ユニット、12a……ウエハ
ピンセット、13……ウエハカセット、14……カセッ
ト載置部、15……搬送機構、15a……ウエハピンセ
ット、16……ウエハ受け渡し機構、16a……ステー
ジピン、17……センタリングガイド。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 平河 修 熊本県菊池郡菊陽町津久礼2655番地 東京 エレクトロン九州株式会社内 (72)発明者 穴井 徳行 熊本県菊池郡菊陽町津久礼2655番地 東京 エレクトロン九州株式会社内 (56)参考文献 特開 平1−318247(JP,A) 特開 平1−227451(JP,A) 特開 昭63−28047(JP,A) 特開 昭62−181440(JP,A) 特開 平1−179413(JP,A)
Claims (11)
- 【請求項1】複数の被処理体を収容するカセットを少な
くとも1つ載置する載置面を有するカセット載置台を備
えたカセット載置部と、 このカセット載置部に設けられ前記カセットから前記被
処理体を搬入搬出する第1の搬送手段と、 前記被処理体を処理する複数の処理ユニットを具備する
処理部と、 この処理部に設けられ前記複数の処理ユニットのうち所
定の処理ユニットに対して前記被処理体を搬入搬出する
第2の搬送手段と、 前記第2の搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬
入搬出される前記被処理体の本処理装置における高さ位
置を、前記カセット載置台のカセット載置面の本処理装
置における高さ位置より高い位置に設定する手段とを具
備してなることを特徴とする処理装置。 - 【請求項2】前記第1の搬送手段は、X,Y,θ方向に
移動可能に構成されていることを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載の処理装置。 - 【請求項3】前記第2の搬送手段は、X,Y,Z,θ方
向に移動可能に構成されていることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載の処理装置。 - 【請求項4】前記カセット載置台は、上下方向に移動可
能に構成されていることを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載の処理装置。 - 【請求項5】複数の被処理体を収容するカセットを少な
くとも1つ載置する載置面を有するカセット載置台を備
えたカセット載置部と、 このカセット載置部に設けられ前記カセットから前記被
処理体を搬入搬出する第1の搬送手段と、 前記被処理体を処理する複数の処理ユニットを具備する
処理部と、 この処理部に設けられ前記複数の処理ユニットのうち所
定の処理ユニットに対して前記被処理体を搬入搬出する
第2の搬送手段と、 前記第1の搬送手段と前記第2の搬送手段との間で、前
記被処理体を受け渡す受渡し手段と、 前記第2の搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬
入搬出される前記被処理体の本処理装置における高さ位
置を、前記カセット載置台のカセット載置面の本処理装
置における高さ位置より高い位置に設定する手段とを具
備してなることを特徴とする処理装置。 - 【請求項6】複数の被処理体を収容するカセットを少な
くとも1つ載置する載置面を有するカセット載置台を備
えたカセット載置部と、 このカセット載置部に設けられ前記カセットから前記被
処理体を搬入搬出する第1の搬送手段と、 前記被処理体を処理する複数の処理ユニットを具備する
処理部と、 この処理部に設けられ前記複数の処理ユニットのうち所
定の処理ユニットに対して前記被処理体を搬入搬出する
第2の搬送手段と、 この第2の搬送手段に設けられ前記複数の処理ユニット
に対して前記被処理体を搬入搬出する少なくとも2つの
保持手段と、 前記第2の搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬
入搬出される前記被処理体の本処理装置における高さ位
置を、前記カセット載置台のカセット載置面の本処理装
置における高さ位置より高い位置に設定する手段とを具
備してなることを特徴とする処理装置。 - 【請求項7】複数の被処理体を収容するカセットを少な
くとも1つ載置する載置面を有するカセット載置台を備
えたカセット載置部と、 このカセット載置部に設けられ前記カセットから前記被
処理体を搬入搬出する第1の搬送手段と、 前記被処理体をレジスト処理するレジスト塗布処理ユニ
ットおよびレジスト現像処理ユニットおよびベーキング
処理ユニットおよび冷却処理ユニット、またはこれらの
うち少なくとも2つを具備する処理部と、 この処理部に設けられ前記レジスト塗布処理ユニットお
よびレジスト現像処理ユニットおよびベーキング処理ユ
ニットおよび冷却処理ユニット、またはこれらのうち少
なくとも2つのいずれかのユニットに対して前記被処理
体を搬入搬出する第2の搬送手段と、 前記第2の搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬
入搬出される前記被処理体の本処理装置における高さ位
置を、前記カセット載置台のカセット載置面の本処理装
置における高さ位置より高い位置に設定する手段とを具
備してなることを特徴とするレジスト処理装置。 - 【請求項8】複数の被処理体を収容するカセットを少な
くとも1つ載置する載置面を有するカセット載置台を備
えたカセット載置部と、 このカセット載置部に設けられ前記カセットから前記被
処理体を搬入搬出する第1の搬送手段と、 前記被処理体をレジスト処理するレジスト塗布処理ユニ
ットおよびレジスト現像処理ユニットおよびベーキング
処理ユニットおよび冷却処理ユニット、またはこれらの
うち少なくとも2つを具備する処理部と、 この処理部に設けられ前記レジスト塗布処理ユニットお
よびレジスト現像処理ユニットおよびベーキング処理ユ
ニットおよび冷却処理ユニット、またはこれらのうち少
なくとも2つのいずれかのユニットに対して前記被処理
体の裏面(下面)周縁部を支持して搬入搬出する第2の
搬送手段と、 前記第2の搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬
入搬出される前記被処理体の本処理装置における高さ位
置を、前記カセット載置台のカセット載置面の本処理装
置における高さ位置より高い位置に設定する手段とを具
備してなることを特徴とするレジスト処理装置。 - 【請求項9】複数の被処理体を収容するカセットを少な
くとも1つ載置するカセット載置台を備えたカセット載
置部と、 このカセット載置部が設けられる第1の筐体と、 この第1の筐体に設けられ前記カセットから前記被処理
体を搬入搬出する第1の搬送手段と、 前記被処理体を処理する複数の処理ユニットを具備する
処理部と、 この処理部が設けられる第2の筐体と、 この第2の筐体に設けられ前記複数の処理ユニットのう
ち所定の処理ユニットに前記被処理体を搬送する第2の
搬送手段と、 この第2の搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬
入搬出される前記被処理体の本処理装置における高さ位
置を、前記第1の筐体に設けられる前記カセット載置台
のカセット載置面の本処理装置における高さ位置より高
い位置に設定する手段とを具備してなることを特徴とす
る処理装置。 - 【請求項10】複数の被処理体を収容するカセットを少
なくとも1つ載置するカセット載置台を備えたカセット
載置部と、 このカセット載置部が設けられる第1の筐体と、 この第1の筐体に設けられ前記カセットから前記被処理
体を搬入搬出する第1の搬送手段と、 前記被処理体を処理する複数の処理ユニットを具備する
処理部と、 この処理部が設けられる第2の筐体と、 この第2の筐体に設けられ前記複数の処理ユニットのう
ち所定の処理ユニットに前記被処理体を搬送する第2の
搬送手段と、 前記第1の筐体に設けられ前記第1の搬送手段と前記第
2の搬送手段との間で、前記被処理体を受け渡す受渡し
手段と、 この第2の搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬
入搬出される前記被処理体の本処理装置における高さ位
置を、前記第1の筐体に設けられる前記カセット載置台
のカセット載置面の本処理装置における高さ位置より高
い位置に設定する手段とを具備してなることを特徴とす
る処理装置。 - 【請求項11】複数の被処理体を収容するカセットを少
なくとも1つ載置する載置面を有するカセット載置台を
備えたカセット載置部と、 このカセット載置部に設けられ前記カセットから前記被
処理体を搬入搬出する第1の搬送手段と、 前記被処理体を処理する複数の処理ユニットを具備する
処理部と、 この処理部に設けられ前記複数の処理ユニットのうち所
定の処理ユニットに対して前記被処理体を搬入搬出する
第2の搬送手段と、 前記第2の搬送手段により前記複数の処理ユニットに搬
入搬出される前記被処理体の本処理装置における高さ位
置を、前記カセット載置台のカセット載置面の本処理装
置における高さ位置より高い位置に設定する手段とを具
備してなる処理装置において、 前記複数の処理ユニットに搬入搬出される前記被処理体
の本処理装置における高さ位置を、前記カセット載置台
のカセット載置面の本処理装置における高さ位置より高
い位置で、前記第2の搬送手段により前記被処理体を搬
送することを特徴とする処理方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28080090A JPH0666377B2 (ja) | 1990-03-30 | 1990-10-19 | 処理装置および処理方法およびレジスト処理装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2-83237 | 1990-03-30 | ||
| JP8323790 | 1990-03-30 | ||
| JP28080090A JPH0666377B2 (ja) | 1990-03-30 | 1990-10-19 | 処理装置および処理方法およびレジスト処理装置 |
Related Child Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3260909A Division JPH0513551A (ja) | 1991-10-09 | 1991-10-09 | 処理装置 |
| JP7207257A Division JP2883888B2 (ja) | 1990-03-30 | 1995-08-14 | 処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03290946A JPH03290946A (ja) | 1991-12-20 |
| JPH0666377B2 true JPH0666377B2 (ja) | 1994-08-24 |
Family
ID=26424293
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28080090A Expired - Lifetime JPH0666377B2 (ja) | 1990-03-30 | 1990-10-19 | 処理装置および処理方法およびレジスト処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0666377B2 (ja) |
Family Cites Families (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5984540A (ja) * | 1982-11-08 | 1984-05-16 | Sony Corp | 熱処理装置 |
| JPS62139341A (ja) * | 1985-12-13 | 1987-06-23 | Plasma Syst:Kk | 基板及びウエハ表面の処理装置 |
| JPS62169341A (ja) * | 1986-01-21 | 1987-07-25 | Tokyo Electron Ltd | プロ−ブカ−ド自動交換プロ−バ |
| JPS6313332A (ja) * | 1986-07-04 | 1988-01-20 | Canon Inc | 半導体製造装置 |
| JPS6328047A (ja) * | 1986-07-22 | 1988-02-05 | Tdk Corp | クリ−ン搬送方法 |
| JPH0517885Y2 (ja) * | 1986-10-20 | 1993-05-13 | ||
| JP2742572B2 (ja) * | 1987-10-29 | 1998-04-22 | 東芝セラミックス株式会社 | 半導体ウェーハの縦型熱処理装置 |
| JP2526267B2 (ja) * | 1988-03-07 | 1996-08-21 | 東京エレクトロン株式会社 | 処理装置 |
| JP2845400B2 (ja) * | 1988-03-09 | 1999-01-13 | 東京エレクトロン株式会社 | レジスト処理装置及び処理装置 |
| JP2996299B2 (ja) * | 1988-05-09 | 1999-12-27 | 東京エレクトロン株式会社 | エッチング装置及びエッチング方法及び位置合わせ方法 |
| JPH0628278B2 (ja) * | 1988-06-17 | 1994-04-13 | 大日本スクリーン製造株式会社 | 基板搬送用エレベータ |
| JPH025520A (ja) * | 1988-06-24 | 1990-01-10 | Deisuko Haitetsuku:Kk | 縦型半導体熱処理装置 |
| JPH0268923A (ja) * | 1988-09-02 | 1990-03-08 | Tel Sagami Ltd | 縦形熱処理装置 |
-
1990
- 1990-10-19 JP JP28080090A patent/JPH0666377B2/ja not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03290946A (ja) | 1991-12-20 |
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