JPH0672796A - 低温用クヌ−ドセンセル - Google Patents
低温用クヌ−ドセンセルInfo
- Publication number
- JPH0672796A JPH0672796A JP25211092A JP25211092A JPH0672796A JP H0672796 A JPH0672796 A JP H0672796A JP 25211092 A JP25211092 A JP 25211092A JP 25211092 A JP25211092 A JP 25211092A JP H0672796 A JPH0672796 A JP H0672796A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- reservoir
- vacuum
- heater
- vacuum chamber
- chamber
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 78
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims description 15
- 238000001451 molecular beam epitaxy Methods 0.000 claims description 9
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 9
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 5
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 2
- 230000008021 deposition Effects 0.000 abstract 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 11
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 7
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 4
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- 238000005336 cracking Methods 0.000 description 3
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 3
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 239000000460 chlorine Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 2
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 2
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N Chlorine atom Chemical compound [Cl] ZAMOUSCENKQFHK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-N Sulfurous acid Chemical compound OS(O)=O LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052801 chlorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001805 chlorine compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 150000004820 halides Chemical class 0.000 description 1
- 150000004678 hydrides Chemical class 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000004615 ingredient Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910052755 nonmetal Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000002524 organometallic group Chemical group 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000000859 sublimation Methods 0.000 description 1
- 230000008022 sublimation Effects 0.000 description 1
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000013589 supplement Substances 0.000 description 1
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 従来のクヌ−ドセンセルは、分子線エピタキ
シ−装置の真空チャンバの内部にあったので、材料が枯
渇すると真空チャンバを開いてクヌ−ドセンセルの材料
を補填する必要があった。再度真空チャンバの真空度を
上げるのに時間が掛かって能率が悪い。低温でも蒸気圧
の低い材料の場合は真空チャンバのベ−キングが難しい
という欠点がある。これを解決するのが目的である。 【構成】 真空チャンバの外部に材料を収容できるリザ
−バ−8を設け、真空チャンバの内部とリザ−バ−8と
を導入パイプで連結する。導入パイプの途中に仕切りバ
ルブ7があり、中間部には独自のヒ−タを持つ。このヒ
−タは導入パイプ5中で材料が内壁に付着するのを防
ぐ。リザ−バ−8は独自の真空排気装置とヒ−タを持
つ。仕切りバルブ7を閉じて、真空チャンバ内部を超高
真空に維持しつつ、リザ−バ−8の内部を大気圧にして
材料を補填できる。低温で蒸気圧の高い材料であっても
ベ−キングの熱が加わらないからベ−キングを妨げな
い。
シ−装置の真空チャンバの内部にあったので、材料が枯
渇すると真空チャンバを開いてクヌ−ドセンセルの材料
を補填する必要があった。再度真空チャンバの真空度を
上げるのに時間が掛かって能率が悪い。低温でも蒸気圧
の低い材料の場合は真空チャンバのベ−キングが難しい
という欠点がある。これを解決するのが目的である。 【構成】 真空チャンバの外部に材料を収容できるリザ
−バ−8を設け、真空チャンバの内部とリザ−バ−8と
を導入パイプで連結する。導入パイプの途中に仕切りバ
ルブ7があり、中間部には独自のヒ−タを持つ。このヒ
−タは導入パイプ5中で材料が内壁に付着するのを防
ぐ。リザ−バ−8は独自の真空排気装置とヒ−タを持
つ。仕切りバルブ7を閉じて、真空チャンバ内部を超高
真空に維持しつつ、リザ−バ−8の内部を大気圧にして
材料を補填できる。低温で蒸気圧の高い材料であっても
ベ−キングの熱が加わらないからベ−キングを妨げな
い。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は分子線エピタキシ−装
置において用いられるクヌ−ドセンセルの改良に関す
る。これは分子線セルあるいは単にKセルということも
ある。発明者の名前をとってクヌ−ドセンセルというこ
ともある。いずれにしても材料をるつぼに入れて、ヒ−
タによって加熱し材料を蒸発または昇華させ分子線とす
るものである。
置において用いられるクヌ−ドセンセルの改良に関す
る。これは分子線セルあるいは単にKセルということも
ある。発明者の名前をとってクヌ−ドセンセルというこ
ともある。いずれにしても材料をるつぼに入れて、ヒ−
タによって加熱し材料を蒸発または昇華させ分子線とす
るものである。
【0002】分子線エピタキシ−装置は超高真空中で材
料を加熱するので蒸発または昇華したものは分子線とな
る。分子線エピタキシ−の材料は金属、非金属など様々
である。ここで低温用というのは、有機材料やいおう
S、セレンSe、塩素Clなどの低温でも蒸気圧の高い
物質を対象とするという意味である。
料を加熱するので蒸発または昇華したものは分子線とな
る。分子線エピタキシ−の材料は金属、非金属など様々
である。ここで低温用というのは、有機材料やいおう
S、セレンSe、塩素Clなどの低温でも蒸気圧の高い
物質を対象とするという意味である。
【0003】
【従来の技術】図2に従来例に係るクヌ−ドセンセルの
断面図を示す。これは低温用のものではなく金属などの
比較的蒸気圧の低い材料に対するものである。現在のと
ころ低温で蒸気圧の低い材料に対する適当なクヌ−ドセ
ンセルは存在しない。ここに示すセルは分子線エピタキ
シ−装置の一部分に設けられる。
断面図を示す。これは低温用のものではなく金属などの
比較的蒸気圧の低い材料に対するものである。現在のと
ころ低温で蒸気圧の低い材料に対する適当なクヌ−ドセ
ンセルは存在しない。ここに示すセルは分子線エピタキ
シ−装置の一部分に設けられる。
【0004】材料を収容したるつぼ1と、材料を加熱す
るヒ−タ2とを含むが、これらが液体窒素シュラウド4
の穴部に設けられる。これらの全体は真空チャンバ3の
内部にある。材料ごとにクヌ−ドセンセルが必要である
からこのようなクヌ−ドセンセルが複数個真空チャンバ
の内部に設けられる。
るヒ−タ2とを含むが、これらが液体窒素シュラウド4
の穴部に設けられる。これらの全体は真空チャンバ3の
内部にある。材料ごとにクヌ−ドセンセルが必要である
からこのようなクヌ−ドセンセルが複数個真空チャンバ
の内部に設けられる。
【0005】クヌ−ドセンセルはるつぼ1、ヒ−タ2の
他にヒ−タの熱を遮蔽するためのリフレクタ11と、リ
フレクタ11、るつぼ1、ヒ−タ2を支持する支柱12
を有する。支柱12は真空チャンバ3の開口部に固定さ
れる超高真空フランジ13に取り付けられる。ヒ−タの
電力を供給するヒ−タ電力線14、熱電対の端子等は超
高真空フランジを貫いて外部に取り出される。るつぼ1
は例えばPBNが用いられる。ヒ−タはW、Taのコイ
ル状のものあるいはリボン状のものが用いられる。ヒ−
タの温度は熱電対によってモニタされる。リフレクタは
Taの薄板を何枚も重ね合わせたものである。輻射熱を
外部に逃がさずるつぼの近傍に閉じ込めるものである。
この他るつぼの開口部を開閉するためにシャッタ(図示
しない)が設けられる。
他にヒ−タの熱を遮蔽するためのリフレクタ11と、リ
フレクタ11、るつぼ1、ヒ−タ2を支持する支柱12
を有する。支柱12は真空チャンバ3の開口部に固定さ
れる超高真空フランジ13に取り付けられる。ヒ−タの
電力を供給するヒ−タ電力線14、熱電対の端子等は超
高真空フランジを貫いて外部に取り出される。るつぼ1
は例えばPBNが用いられる。ヒ−タはW、Taのコイ
ル状のものあるいはリボン状のものが用いられる。ヒ−
タの温度は熱電対によってモニタされる。リフレクタは
Taの薄板を何枚も重ね合わせたものである。輻射熱を
外部に逃がさずるつぼの近傍に閉じ込めるものである。
この他るつぼの開口部を開閉するためにシャッタ(図示
しない)が設けられる。
【0006】真空チャンバ3の内部にはこの他にマニピ
ュレ−タ(図示しない)がありこれがホルダに固定され
た基板を支持している。マニピュレ−タは基板加熱用ヒ
−タを持ち多くの場合回転機構を持っている。エピタキ
シャル成長は基板を加熱しないと起こらないものが多い
からである。基板を回転させるのはエピタキシャル成長
を基板上で均一に起こさせるためである。さらに搬送機
構(図示しない)があって前段にある試料準備室や分析
室などとの間で試料ホルダを自動的に搬送できるように
なっている。
ュレ−タ(図示しない)がありこれがホルダに固定され
た基板を支持している。マニピュレ−タは基板加熱用ヒ
−タを持ち多くの場合回転機構を持っている。エピタキ
シャル成長は基板を加熱しないと起こらないものが多い
からである。基板を回転させるのはエピタキシャル成長
を基板上で均一に起こさせるためである。さらに搬送機
構(図示しない)があって前段にある試料準備室や分析
室などとの間で試料ホルダを自動的に搬送できるように
なっている。
【0007】このような分子線エピタキシ−装置はすで
に良く知られている。クヌ−ドセンセルに材料を充填し
てから真空チャンバを密閉し真空に引く。ベ−キングす
ることによりチャンバの内壁や、内部構造物についてい
るガスを除去しさらに真空に引くことにより、10-10
〜10-11 Torrの超高真空にする。基板の搬送は別
異の真空室を経由してなされるので基板の交換時も超高
真空は維持される。エピタキシャル成長を繰り返すとる
つぼの中へ入れた材料が枯渇する。この時は真空チャン
バ3の真空を破り、るつぼ1に材料を補填しなければな
らない。一旦大気圧にすると壁面にガスや不純物が付着
するので、全体をベ−キングして真空に引くという操作
を再び繰り返す必要がある。元の超高真空にするのに時
間がかかる。装置や条件によるが3日〜1週間かかる。
に良く知られている。クヌ−ドセンセルに材料を充填し
てから真空チャンバを密閉し真空に引く。ベ−キングす
ることによりチャンバの内壁や、内部構造物についてい
るガスを除去しさらに真空に引くことにより、10-10
〜10-11 Torrの超高真空にする。基板の搬送は別
異の真空室を経由してなされるので基板の交換時も超高
真空は維持される。エピタキシャル成長を繰り返すとる
つぼの中へ入れた材料が枯渇する。この時は真空チャン
バ3の真空を破り、るつぼ1に材料を補填しなければな
らない。一旦大気圧にすると壁面にガスや不純物が付着
するので、全体をベ−キングして真空に引くという操作
を再び繰り返す必要がある。元の超高真空にするのに時
間がかかる。装置や条件によるが3日〜1週間かかる。
【0008】材料補填のためのチャンバの開閉はエピタ
キシャル成長の種類によりさまざまであるが、半年に1
回、月に1回、あるいは1週間に1回ということもあ
る。真空の立ち上げに時間がかかり生産性を下げる原因
になるからチャンバの開閉はできるだけしない方が良
い。
キシャル成長の種類によりさまざまであるが、半年に1
回、月に1回、あるいは1週間に1回ということもあ
る。真空の立ち上げに時間がかかり生産性を下げる原因
になるからチャンバの開閉はできるだけしない方が良
い。
【0009】このような難点を解決するためにガスソ−
スセルが提案されている。これはチャンバ外部に置かれ
たガスボンベから材料となるガスをチャンバ内へ導入す
るものである。外部から材料が供給されるので材料が枯
渇するということはなく、超高真空を破る必要性が少な
くなる。また、分子線セルをチャンバの中心部から遠ざ
けて真空チャンバを開かず、材料の補充を行うようにし
たものもある。(特開昭63−310792号、特開昭
64−79095号)。
スセルが提案されている。これはチャンバ外部に置かれ
たガスボンベから材料となるガスをチャンバ内へ導入す
るものである。外部から材料が供給されるので材料が枯
渇するということはなく、超高真空を破る必要性が少な
くなる。また、分子線セルをチャンバの中心部から遠ざ
けて真空チャンバを開かず、材料の補充を行うようにし
たものもある。(特開昭63−310792号、特開昭
64−79095号)。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】従来の分子線エピタキ
シ−装置のようにチャンバの内部にあるクヌ−ドセンセ
ルに材料を充填するものは材料の補填のため真空を破る
必要がある。再び真空にするのに時間がかかり望ましく
ない。特に低温でも蒸気圧の高い物質を材料とするとき
はさらに問題がある。真空引きする際、チャンバの全体
をベ−キングするがこのとき蒸気圧の高い物質は加熱さ
れて蒸発昇華し減量してしまう。これを避けるためには
低温でベ−キングしなければならないということにな
る。できないことはないが真空度の高まりが遅くなる。
シ−装置のようにチャンバの内部にあるクヌ−ドセンセ
ルに材料を充填するものは材料の補填のため真空を破る
必要がある。再び真空にするのに時間がかかり望ましく
ない。特に低温でも蒸気圧の高い物質を材料とするとき
はさらに問題がある。真空引きする際、チャンバの全体
をベ−キングするがこのとき蒸気圧の高い物質は加熱さ
れて蒸発昇華し減量してしまう。これを避けるためには
低温でベ−キングしなければならないということにな
る。できないことはないが真空度の高まりが遅くなる。
【0011】外部から材料をガスとして供給するガスソ
−スセルはこのような欠点はない。しかし常温でガスで
ある材料は限られている。分子線エピタキシ−は単体を
材料にするので純度に優れた薄膜を成長させることがで
きるのである。単体でガスである材料はさらに少ない。
水素化物、塩化物、ハロゲン化物、有機金属としたもの
は常温近くでガス状であるものが多いのでこれら化合物
の材料を用いることもなされる。しかし必ずしもガス状
の化合物を作らない物質もある。
−スセルはこのような欠点はない。しかし常温でガスで
ある材料は限られている。分子線エピタキシ−は単体を
材料にするので純度に優れた薄膜を成長させることがで
きるのである。単体でガスである材料はさらに少ない。
水素化物、塩化物、ハロゲン化物、有機金属としたもの
は常温近くでガス状であるものが多いのでこれら化合物
の材料を用いることもなされる。しかし必ずしもガス状
の化合物を作らない物質もある。
【0012】また化合物の分子線であるから単体の分子
線とは異なる。薄膜の内部に不純物が含まれ易く組成の
制御が難しいという難点がある。本発明は低温でも蒸気
圧の高い材料を扱うクヌ−ドセンセルであって、ベ−キ
ングの妨げにならず、材料の補填の度に真空チャンバを
開閉する必要がなく、クラッカ−セルの作用も合わせ持
つクヌ−ドセンセルを提供することを目的とする。クラ
ッカ−セルについては、例えば実開平4−29664号
などがあるが、これは大がかりな装置であり、製造、使
用ともに容易でない。
線とは異なる。薄膜の内部に不純物が含まれ易く組成の
制御が難しいという難点がある。本発明は低温でも蒸気
圧の高い材料を扱うクヌ−ドセンセルであって、ベ−キ
ングの妨げにならず、材料の補填の度に真空チャンバを
開閉する必要がなく、クラッカ−セルの作用も合わせ持
つクヌ−ドセンセルを提供することを目的とする。クラ
ッカ−セルについては、例えば実開平4−29664号
などがあるが、これは大がかりな装置であり、製造、使
用ともに容易でない。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明のクヌ−ドセンセ
ルは、真空チャンバの外部に材料を充填するための開閉
可能なリザ−バ−を有し、リザ−バ−と真空チャンバの
内部とは導入パイプによって連結され、リザ−バ−は独
自のヒ−タと真空排気装置を持つ。導入パイプ5も中間
部と先端開口部に独自のヒ−タを持つ。リザ−バ−ヒ−
タによって材料を加熱して蒸気とし導入パイプを通って
真空チャンバの内部に蒸気を導入し分子線とする。リザ
−バ−は真空排気装置を持ちリザ−バ−だけを真空に引
くことができる。またリザ−バ−と真空チャンバの中間
には仕切りバルブがあってこれを閉じるとリザ−バ−と
真空チャンバとが遮断され、開くと蒸気がリザ−バ−か
ら真空チャンバへと導入される。
ルは、真空チャンバの外部に材料を充填するための開閉
可能なリザ−バ−を有し、リザ−バ−と真空チャンバの
内部とは導入パイプによって連結され、リザ−バ−は独
自のヒ−タと真空排気装置を持つ。導入パイプ5も中間
部と先端開口部に独自のヒ−タを持つ。リザ−バ−ヒ−
タによって材料を加熱して蒸気とし導入パイプを通って
真空チャンバの内部に蒸気を導入し分子線とする。リザ
−バ−は真空排気装置を持ちリザ−バ−だけを真空に引
くことができる。またリザ−バ−と真空チャンバの中間
には仕切りバルブがあってこれを閉じるとリザ−バ−と
真空チャンバとが遮断され、開くと蒸気がリザ−バ−か
ら真空チャンバへと導入される。
【0014】
【作用】リザ−バ−は真空チャンバの外部にあるから、
リザ−バ−に材料を充填する時、真空チャンバを開く必
要がない。仕切りバルブを閉じておきリザ−バ−の蓋を
開き、材料をリザ−バ−に補填する。この後リザ−バ−
を閉じて真空に排気し、十分な真空度に達したら仕切り
バルブを開いて、リザ−バ−と真空チャンバを接続させ
る。リザ−バ−から発生した材料の蒸気は真空チャンバ
に入り分子線となる。リザ−バ−ヒ−タと、導入パイプ
の中間連結部のヒ−タと先端開口部のヒ−タを制御して
これらの部分の温度を独立に制御することができる。
リザ−バ−に材料を充填する時、真空チャンバを開く必
要がない。仕切りバルブを閉じておきリザ−バ−の蓋を
開き、材料をリザ−バ−に補填する。この後リザ−バ−
を閉じて真空に排気し、十分な真空度に達したら仕切り
バルブを開いて、リザ−バ−と真空チャンバを接続させ
る。リザ−バ−から発生した材料の蒸気は真空チャンバ
に入り分子線となる。リザ−バ−ヒ−タと、導入パイプ
の中間連結部のヒ−タと先端開口部のヒ−タを制御して
これらの部分の温度を独立に制御することができる。
【0015】連結部ヒ−タは材料蒸気が導入パイプ5の
内部で冷却固化して内壁に付着するのを防ぐことができ
る。リザ−バ−を外部に設けたので途中で材料蒸気が固
化する可能性が生じた。従来の図2に示すようなもので
は不必要なものである。開口部ヒ−タは材料の蒸気が多
数分子の塊であって分子状でないとき、これを強熱して
小さい分子状にするクラッキング作用がある。
内部で冷却固化して内壁に付着するのを防ぐことができ
る。リザ−バ−を外部に設けたので途中で材料蒸気が固
化する可能性が生じた。従来の図2に示すようなもので
は不必要なものである。開口部ヒ−タは材料の蒸気が多
数分子の塊であって分子状でないとき、これを強熱して
小さい分子状にするクラッキング作用がある。
【0016】また材料は真空チャンバの外部にあるの
で、真空チャンバをベ−キングしたときベ−キングのた
めの熱が材料に伝わらず材料が蒸発昇華して減量しな
い。特に低温で蒸気圧の高い材料の場合は好適である。
で、真空チャンバをベ−キングしたときベ−キングのた
めの熱が材料に伝わらず材料が蒸発昇華して減量しな
い。特に低温で蒸気圧の高い材料の場合は好適である。
【0017】
【実施例】図1は本発明の実施例にかかるクヌ−ドセン
セルの概略の構造を示す。このクヌ−ドセンセルは、真
空チャンバ3の内部にはるつぼのような材料を充填する
容器を持たない。真空チャンバ3には材料の蒸気を導入
するための導入パイプ5が挿通されているだけである。
導入パイプ5は真空チャンバ3の外部にまで連通し、外
部の端でリザ−バ−8につながっている。外部のリザ−
バ−8は開閉できる容器であり、材料を収容することが
できる。真空チャンバ3の内部には液体窒素シュラウド
4が設けられるが、この穴の部分に前記の導入パイプ5
の先端が挿入される。
セルの概略の構造を示す。このクヌ−ドセンセルは、真
空チャンバ3の内部にはるつぼのような材料を充填する
容器を持たない。真空チャンバ3には材料の蒸気を導入
するための導入パイプ5が挿通されているだけである。
導入パイプ5は真空チャンバ3の外部にまで連通し、外
部の端でリザ−バ−8につながっている。外部のリザ−
バ−8は開閉できる容器であり、材料を収容することが
できる。真空チャンバ3の内部には液体窒素シュラウド
4が設けられるが、この穴の部分に前記の導入パイプ5
の先端が挿入される。
【0018】導入パイプ5の周囲には開口部ヒ−タ6が
ある。これは図2のるつぼ1の周囲のヒ−タ2に対応し
た位置にあるが機能は少し異なる。また開口部ヒ−タ6
を囲んでリフレクタ11が設置されている。超高真空フ
ランジ13に立てられた支柱12が開口部ヒ−タ6、リ
フレクタ11、ヒ−タの電力線、熱電対等を支持してい
る。導入パイプ5は超高真空フランジ13を貫き外部に
延長している。途中に仕切りバルブ7がありこれを介し
てリザ−バ−8につながる。
ある。これは図2のるつぼ1の周囲のヒ−タ2に対応し
た位置にあるが機能は少し異なる。また開口部ヒ−タ6
を囲んでリフレクタ11が設置されている。超高真空フ
ランジ13に立てられた支柱12が開口部ヒ−タ6、リ
フレクタ11、ヒ−タの電力線、熱電対等を支持してい
る。導入パイプ5は超高真空フランジ13を貫き外部に
延長している。途中に仕切りバルブ7がありこれを介し
てリザ−バ−8につながる。
【0019】リザ−バ−8は開閉する蓋(図示しない)
を独自に持っている。この蓋を開いて自由に材料を補填
することができる。またリザ−バ−8は外壁の周りに独
自のリザ−バ−ヒ−タ9を持っている。これはリザ−バ
−8内部の材料を加熱し蒸発昇華させるものである。
を独自に持っている。この蓋を開いて自由に材料を補填
することができる。またリザ−バ−8は外壁の周りに独
自のリザ−バ−ヒ−タ9を持っている。これはリザ−バ
−8内部の材料を加熱し蒸発昇華させるものである。
【0020】また導入パイプ5の中間の連結部には連結
部ヒ−タ16が設けられるこの発明が対象にするのは低
融点の材料であるが、それでも常温で固体であるものも
あり、導入パイプ5の中間部で冷却固化する可能性のあ
るものもある。連結部ヒ−タ16は、材料がここで冷却
されて導入パイプ5の内壁に付着するのを防ぐためのも
のである。リザ−バ−ヒ−タ9、開口部ヒ−タ6、連結
部ヒ−タ16はそれぞれ独立に作動することができる。
従ってリザ−バ−温度T1 、導入パイプ中間部温度T
2 、導入パイプT3 の開口部温度は独立して制御でき
る。これらの温度パラメ−タは材料の相違によって適当
に決定することができる。またリザ−バ−8は排気パイ
プ15を介して真空排気装置(図示せず)に接続されて
おり、この真空排気装置によって、真空チャンバ3とは
独立に真空に排気することができる。排気パイプ15の
途中には真空引きバルブ10が設けられる。
部ヒ−タ16が設けられるこの発明が対象にするのは低
融点の材料であるが、それでも常温で固体であるものも
あり、導入パイプ5の中間部で冷却固化する可能性のあ
るものもある。連結部ヒ−タ16は、材料がここで冷却
されて導入パイプ5の内壁に付着するのを防ぐためのも
のである。リザ−バ−ヒ−タ9、開口部ヒ−タ6、連結
部ヒ−タ16はそれぞれ独立に作動することができる。
従ってリザ−バ−温度T1 、導入パイプ中間部温度T
2 、導入パイプT3 の開口部温度は独立して制御でき
る。これらの温度パラメ−タは材料の相違によって適当
に決定することができる。またリザ−バ−8は排気パイ
プ15を介して真空排気装置(図示せず)に接続されて
おり、この真空排気装置によって、真空チャンバ3とは
独立に真空に排気することができる。排気パイプ15の
途中には真空引きバルブ10が設けられる。
【0021】仕切りバルブ7を閉じて、真空排気装置を
作動し、真空引きバルブ10を開くと、リザ−バ−8の
みを真空にひくことができる。仕切りバルブ7を閉じ、
真空引きバルブ10も閉じてリザ−バ−8に大気圧を導
入し蓋を開くことによって材料をリザ−バ−8の中へ補
填することができる。仕切りバルブ7は全開または全閉
状態が可能である。中間開度では前後の圧力差を再現性
よく厳密に制御できない。
作動し、真空引きバルブ10を開くと、リザ−バ−8の
みを真空にひくことができる。仕切りバルブ7を閉じ、
真空引きバルブ10も閉じてリザ−バ−8に大気圧を導
入し蓋を開くことによって材料をリザ−バ−8の中へ補
填することができる。仕切りバルブ7は全開または全閉
状態が可能である。中間開度では前後の圧力差を再現性
よく厳密に制御できない。
【0022】以上の構成においてその作用を説明する。
このクヌ−ドセンセルに材料を充填するには真空チャン
バ3を開く必要がない。仕切りバルブ7を閉じて、真空
引きバルブ10も閉じ、大気圧を導きリザ−バ−8の真
空状態を破る。リザ−バ−8の蓋を開く。材料を所要量
だけリザ−バ−8に充填する。この間真空チャンバ3の
超高真空は依然として維持されている。蓋を閉じて真空
引きバルブ10を開き真空排気装置を作動させる。リザ
−バ−8の内部が高真空に引かれる。リザ−バ−用ヒ−
タ8に通電しこれを加熱する。リザ−バ−8の材料が加
熱されて蒸発または昇華を開始する。仕切りバルブ7を
開く。蒸気が導入パイプ5を通って真空チャンバ3の導
入パイプ5の先端から真空チャンバ3の内部へ分子線と
して飛び出す。
このクヌ−ドセンセルに材料を充填するには真空チャン
バ3を開く必要がない。仕切りバルブ7を閉じて、真空
引きバルブ10も閉じ、大気圧を導きリザ−バ−8の真
空状態を破る。リザ−バ−8の蓋を開く。材料を所要量
だけリザ−バ−8に充填する。この間真空チャンバ3の
超高真空は依然として維持されている。蓋を閉じて真空
引きバルブ10を開き真空排気装置を作動させる。リザ
−バ−8の内部が高真空に引かれる。リザ−バ−用ヒ−
タ8に通電しこれを加熱する。リザ−バ−8の材料が加
熱されて蒸発または昇華を開始する。仕切りバルブ7を
開く。蒸気が導入パイプ5を通って真空チャンバ3の導
入パイプ5の先端から真空チャンバ3の内部へ分子線と
して飛び出す。
【0023】連結部ヒ−タ16は、材料の融点が常温よ
り高いものである場合に、導入パイプ5の内部で冷却さ
れて固化し内壁に付着するのを防ぐ作用がある。常温で
気体であるものであれば不必要である。
り高いものである場合に、導入パイプ5の内部で冷却さ
れて固化し内壁に付着するのを防ぐ作用がある。常温で
気体であるものであれば不必要である。
【0024】チャンバ内ヒ−タ6は導入パイプ5の先端
部で材料が固化するのを防ぐ作用がある。さらに材料に
よってはリザ−バ−ヒ−タ9のみによっては十分に活性
化されず多数の分子の塊にしかならないこともある。こ
れを真空チャンバ3に導入する直前に開口部ヒ−タ6に
よって加熱し細分化して分子とすることができる。つま
りクラッキング作用を開口部ヒ−タ6によって行わせる
ことができる。クラッキングに限らず開口部ヒ−タ6は
分子線のエネルギ−を制御するためにも利用できる。こ
れの近傍には液体窒素シュラウド4があるのでこれと相
待って導入パイプ5の先端開口部を任意の温度に制御で
きる。
部で材料が固化するのを防ぐ作用がある。さらに材料に
よってはリザ−バ−ヒ−タ9のみによっては十分に活性
化されず多数の分子の塊にしかならないこともある。こ
れを真空チャンバ3に導入する直前に開口部ヒ−タ6に
よって加熱し細分化して分子とすることができる。つま
りクラッキング作用を開口部ヒ−タ6によって行わせる
ことができる。クラッキングに限らず開口部ヒ−タ6は
分子線のエネルギ−を制御するためにも利用できる。こ
れの近傍には液体窒素シュラウド4があるのでこれと相
待って導入パイプ5の先端開口部を任意の温度に制御で
きる。
【0025】しかし分子線量を制御するのは第1にはリ
ザ−バ−用ヒ−タ9である。これの温度を高くすると分
子線量が増え、これの温度を下げると分子線量が減る。
このように材料の補填の際真空チャンバ3を高真空に保
持したまま行うことができるという長所がある。
ザ−バ−用ヒ−タ9である。これの温度を高くすると分
子線量が増え、これの温度を下げると分子線量が減る。
このように材料の補填の際真空チャンバ3を高真空に保
持したまま行うことができるという長所がある。
【0026】もうひとつの利点はより決定的である。真
空チャンバ3の真空を立ち上げる時にベ−キングを行う
必要があるが、低温で蒸気圧が高い材料が内部のクヌ−
ドセンセルの中にあるとベ−キングによって材料が失わ
れるので十分なベ−キングができない。しかし本発明の
場合は仕切りバルブ7を閉じて置いて、リザ−バ−8と
真空チャンバ3とを遮断しておいてから真空チャンバ3
のベ−キングを行うことができる。ベ−キングの熱がリ
ザ−バ−8に加わらない。ために自由にベ−キング温度
を上げることができベ−キングの目的を良く達成でき
る。
空チャンバ3の真空を立ち上げる時にベ−キングを行う
必要があるが、低温で蒸気圧が高い材料が内部のクヌ−
ドセンセルの中にあるとベ−キングによって材料が失わ
れるので十分なベ−キングができない。しかし本発明の
場合は仕切りバルブ7を閉じて置いて、リザ−バ−8と
真空チャンバ3とを遮断しておいてから真空チャンバ3
のベ−キングを行うことができる。ベ−キングの熱がリ
ザ−バ−8に加わらない。ために自由にベ−キング温度
を上げることができベ−キングの目的を良く達成でき
る。
【0027】低温での蒸気圧の高い材料に対して極めて
好都合のクヌ−ドセンセルを与えることができる。例え
ば、VI属のS、Se、有機材料などに適用することが
できる。
好都合のクヌ−ドセンセルを与えることができる。例え
ば、VI属のS、Se、有機材料などに適用することが
できる。
【0028】導入パイプの先端はこのように単なる開口
であっても良い。しかし真空チャンバの内部の真空度と
リザ−バ−8の真空度に差があり過ぎる場合は導入パイ
プ先端には流路抵抗を増やすための細頸部や多孔板を設
置して差圧を維持できるようにしても良い。
であっても良い。しかし真空チャンバの内部の真空度と
リザ−バ−8の真空度に差があり過ぎる場合は導入パイ
プ先端には流路抵抗を増やすための細頸部や多孔板を設
置して差圧を維持できるようにしても良い。
【0029】
【発明の効果】材料を収容しこれを蒸気とするためのリ
ザ−バ−を真空チャンバの外部に設け、両者を導入パイ
プで連結して、リザ−バ−で発生した蒸気を真空チャン
バ内に導くことができるようにしている。導入パイプの
中間には仕切りバルブを設けて気体の流通を遮断できる
ようにしている。また、導入パイプ5の中間部には連結
部ヒ−タ16を設け、材料の蒸気が内壁面に凝結しない
ようにしている。
ザ−バ−を真空チャンバの外部に設け、両者を導入パイ
プで連結して、リザ−バ−で発生した蒸気を真空チャン
バ内に導くことができるようにしている。導入パイプの
中間には仕切りバルブを設けて気体の流通を遮断できる
ようにしている。また、導入パイプ5の中間部には連結
部ヒ−タ16を設け、材料の蒸気が内壁面に凝結しない
ようにしている。
【0030】リザ−バ−に材料を充填する時は仕切りバ
ルブ7を閉じておいてリザ−バ−の蓋を開けて材料を補
填することができる。真空チャンバの超高真空に何ら影
響を及ぼさない。真空チャンバを一旦大気圧にすると次
に立ち上げるには3日〜1週間の長い時間と手数がかか
るが本発明はこのような時間と手間を節減することがで
きる。連続的にエピタキシャル成長でき分子線エピタキ
シ−の生産性を高揚できる。
ルブ7を閉じておいてリザ−バ−の蓋を開けて材料を補
填することができる。真空チャンバの超高真空に何ら影
響を及ぼさない。真空チャンバを一旦大気圧にすると次
に立ち上げるには3日〜1週間の長い時間と手数がかか
るが本発明はこのような時間と手間を節減することがで
きる。連続的にエピタキシャル成長でき分子線エピタキ
シ−の生産性を高揚できる。
【0031】また真空チャンバを開いて材料の交換をす
ると有害な物質が大気中に飛散して作業環境を悪化させ
ることがあるが、本発明はこのような危険を回避できる
ので作業衛生の向上という点でも優れている。
ると有害な物質が大気中に飛散して作業環境を悪化させ
ることがあるが、本発明はこのような危険を回避できる
ので作業衛生の向上という点でも優れている。
【0032】さらにまた真空チャンバのベ−キングの際
は、リザ−バ−が真空チャンバから切り放されているの
で、ベ−キングの熱がリザ−バ−内の材料に伝わらずこ
れを蒸発させないし減量させない。ベ−キングを自由に
行うことができるという利点があるし、低温で蒸気圧の
高い材料の損失を防ぐことができる。
は、リザ−バ−が真空チャンバから切り放されているの
で、ベ−キングの熱がリザ−バ−内の材料に伝わらずこ
れを蒸発させないし減量させない。ベ−キングを自由に
行うことができるという利点があるし、低温で蒸気圧の
高い材料の損失を防ぐことができる。
【図1】本発明の実施例にかかるクヌ−ドセンセルの概
略断面図。
略断面図。
【図2】従来例にかかるクヌ−ドセンセルの概略断面
図。
図。
【符号の説明】 1 るつぼ 2 ヒ−タ 3 真空チャンバ 4 液体窒素シュラウド 5 導入パイプ 6 ヒ−タ 7 仕切りバルブ 8 リザ−バ− 9 リザ−バ−用ヒ−タ 10 真空引きバルブ 11 リフレクタ 12 支柱 13 超高真空フランジ 14 ヒ−タ電力線 15 排気パイプ 16 連結部ヒ−タ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山本 高稔 京都府京都市右京区梅津高畝町47番地日新 電機株式会社内 (72)発明者 大橋 茂治 京都府京都市右京区梅津高畝町47番地日新 電機株式会社内
Claims (1)
- 【請求項1】 真空チャンバを超高真空中として、材料
を加熱し気化させ分子線として超高真空中にある基板に
照射し基板上にエピタキシャル成長を行う分子線エピタ
キシ−装置のクヌ−ドセンセルであって、真空チャンバ
の外部に設けられ開閉できる蓋を有し材料を収容できる
リザ−バ−と、リザ−バ−の材料を加熱するためのリザ
−バ−用ヒ−タと、リザ−バ−と真空チャンバとを連結
し真空チャンバの内部に分子線を導入する導入パイプ
と、導入パイプの真空チャンバ内での出口の近傍に設け
られた開口部ヒ−タと、導入パイプの途中に設けられた
仕切りバルブと、導入パイプの中間部を加熱するために
設けられた連結部ヒ−タと、リザ−バ−を真空に引くた
めの真空排気装置とを有することを特徴とする低温用ク
ヌ−ドセンセル。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25211092A JP2719282B2 (ja) | 1992-08-26 | 1992-08-26 | 低温用クヌ−ドセンセル |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25211092A JP2719282B2 (ja) | 1992-08-26 | 1992-08-26 | 低温用クヌ−ドセンセル |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0672796A true JPH0672796A (ja) | 1994-03-15 |
| JP2719282B2 JP2719282B2 (ja) | 1998-02-25 |
Family
ID=17232631
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25211092A Expired - Fee Related JP2719282B2 (ja) | 1992-08-26 | 1992-08-26 | 低温用クヌ−ドセンセル |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2719282B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115777027A (zh) * | 2020-07-08 | 2023-03-10 | 蒂森克虏伯钢铁欧洲股份公司 | 用于在基底上沉积涂层材料的涂层装置 |
-
1992
- 1992-08-26 JP JP25211092A patent/JP2719282B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN115777027A (zh) * | 2020-07-08 | 2023-03-10 | 蒂森克虏伯钢铁欧洲股份公司 | 用于在基底上沉积涂层材料的涂层装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2719282B2 (ja) | 1998-02-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4181544A (en) | Molecular beam method for processing a plurality of substrates | |
| EP1270768A1 (en) | Epitaxial growing method for growing aluminum nitride and growing chamber therefor | |
| US4137865A (en) | Molecular beam apparatus for processing a plurality of substrates | |
| JPH07300666A (ja) | シリコン蒸発用分子線源およびこれに用いるるつぼの製造方法 | |
| JP2719283B2 (ja) | 低温用クヌ−ドセンセル | |
| JP2719282B2 (ja) | 低温用クヌ−ドセンセル | |
| JP2719281B2 (ja) | 低温用クヌ−ドセンセル | |
| US3556732A (en) | Apparatus for the thermal treatment of a semiconductor material having a volatile component | |
| JP3725700B2 (ja) | 化合物単結晶の成長装置及び成長方法 | |
| JPH06298600A (ja) | SiC単結晶の成長方法 | |
| JP2004327534A (ja) | 有機金属原料気相成長装置 | |
| JPH0339040B2 (ja) | ||
| JPS6369219A (ja) | 分子線源用セル | |
| JPH0550479B2 (ja) | ||
| JPH051069Y2 (ja) | ||
| JPH11310499A (ja) | 化合物半導体単結晶の熱処理方法およびその装置 | |
| JPH07237992A (ja) | 化合物半導体単結晶の製造方法 | |
| JPS5895694A (ja) | 分子線結晶成長方法 | |
| JPH03218906A (ja) | 酸化物超伝導薄膜形成装置及びその装置を用いた酸化物超伝導薄膜形成方法 | |
| JPH0959083A (ja) | 化合物半導体の単結晶製造装置 | |
| Kaldis | High Temperature Crystal Growth from the Vapour | |
| JPS6396928A (ja) | 蒸着装置 | |
| JPH05294786A (ja) | 分子線発生装置及び薄膜原料の供給方法 | |
| JPS5946096B2 (ja) | 液相エピタキシヤル成長装置 | |
| JPH04164891A (ja) | エピタキシャル成長装置およびエピタキシャル成長方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |