JPH0674941A

JPH0674941A - 金属缶内面被膜の欠陥検査方法と装置

Info

Publication number: JPH0674941A
Application number: JP4250491A
Authority: JP
Inventors: Yuji Konagaya; 裕二小長谷; Takeshi Ito; 健伊藤; Shuzo Nishida; 修三西田
Original assignee: Toyo Seikan Kaisha Ltd
Current assignee: Toyo Seikan Group Holdings Ltd
Priority date: 1992-08-27
Filing date: 1992-08-27
Publication date: 1994-03-18
Anticipated expiration: 2011-07-24
Also published as: JP2518128B2

Abstract

(57)【要約】【目的】全数検査に適用することが可能な、シームレス
金属缶の内面有機被膜層の欠陥検査方法、および自動的
に高速で全数検査を行なうことができる上記の欠陥検査
装置を提供する。【構成】シ−ムレス金属缶１１の全内面に先端部近傍が
接触可能の導電性ブラシを１０を金属缶１１内に挿入
し、金属缶の開口部端面１１ａに電極片３０を接触させ
る。導電性ブラシ１０と電極片３０間に高圧直流電圧を
印可しながら、導電性ブラシ１０と金属缶１１を相対回
転し、導電性ブラシ１０と電極片３０間に流れる電流に
基づいて内面有機被膜層の欠陥を判別する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ビール缶、炭酸飲料
缶、コーヒー飲料缶等の缶詰等に用いられる、内面にプ
ラスチックフィルム膜や塗膜等の有機被膜層を有するシ
ームレス金属缶の内面有機被膜層の欠陥検査方法および
装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】実開平２−５９１０９号公報（実願平１
−５５４５１号）に係る明細書には、両面に有機被膜層
を形成された、例えば缶内面となるべき面に厚さ３０μ
ｍのポリエチレンテレフタートフィルム、缶外面となる
べき面に厚さ２０μｍのポリエチレンテレフタートフィ
ルムを貼着された金属板、例えばティンフリースチール
（厚さは例えば０．１３ｍｍ）のブランクから絞り加工
ー再絞り加工ー底部ドーミング加工ーネックイン，フラ
ンジ加工により形成された、内外面に有機被膜層が被覆
されたシームレス金属缶が記載されている。

【０００３】このタイプのシームレス金属缶の内面有機
被膜層は、上記各加工工程において、傷付きや局部的な
剥離部等の欠陥を生ずることがある。欠陥は特にネック
イン部や底部の環状突出部の内面有機被膜層に生じ易
い。これらの欠陥は内容物による金属の腐蝕のため、金
属イオンの内容物中への溶出や、金属層の穿孔等を招く
ので好ましくない。

【０００４】この内面有機被膜層の欠陥検査法として、
従来より主としてエナメルレータ（Enamel Rater）法が
採用されている（例えば「包装技術便覧」、第１８４５
頁、昭和５８年７月２０日、日刊工業新聞社）。これは
有機被膜層を有する金属板側が正極となるようにして、
電解液（例えば１％NaCl水溶液）中に浸漬した電極（負
極）との間に一定電圧（通常６ボルト）を印可して、流
れる電解電流を測定する方法であって、この電解電流は
金属露出面積にほぼ比例するといわれる。

【０００５】このエナメルレータ法は、被検査体が電解
液によって汚染されるため、検査値が正常なものであっ
ても、その後の生産工程に流すことが困難であり、また
被検査体の試験装置への取付けにも、電解液の漏れ防止
などのため時間と手間を要するという問題がある。その
ためエナメルレータ法は、従来抜取り検査用としか採用
されていなかった。従って製品中に、欠陥製品が混入す
るおそれがあった。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】本発明は、全数検査に
適用することが可能な、シームレス金属缶の内面有機被
膜層の欠陥検査方法を提供することを目的とする。さら
に本発明は、自動的に高速で全数検査を行なうことが可
能な、シームレス金属缶の内面有機被膜層の欠陥検査装
置を提供することを目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明の、少なくとも内
面が有機被膜層で被覆されたシ−ムレス金属缶の内面有
機被膜層の欠陥検査方法は、実質的にシ−ムレス金属缶
の全内面に先端部近傍が接触可能の導電性ブラシをシ−
ムレス金属缶内に挿入し、シ−ムレス金属缶の開口部端
面に電極片を接触させて、導電性ブラシと電極片間に高
圧直流電圧を印可しながら、導電性ブラシと金属缶を相
対回転し、導電性ブラシと電極片間に流れる電流に基づ
いて内面有機被膜層の欠陥を判別することを特徴とす
る。シ−ムレス金属缶内に挿入するとき、およびシ−ム
レス金属缶より離脱するとき、導電性ブラシを収縮し、
相対回転中、導電性ブラシを拡張することが好ましい。

【０００８】本発明の、少なくとも内面が有機被膜層で
被覆されたシ−ムレス金属缶の内面有機被膜層の欠陥検
査装置は、導電性ブラシの保持体が固着されるスピンド
ルを複数個、周縁部に沿い軸着されたターレット盤；タ
ーレット盤を軸支するフレームに固着され、スピンドル
に着設されたギヤと歯合し、ターレット盤の回転に伴い
スピンドルを自転する太陽歯車；シ−ムレス金属缶を導
電性ブラシに外挿する手段；導電性ブラシが挿入された
シ−ムレス金属缶の開口部端面に接触可能な電極片；導
電性ブラシと電極片間に高圧直流電圧を印可する直流電
源；少なくともシ−ムレス金属缶が導電性ブラシに外挿
される期間および導電性ブラシより離脱する期間、導電
性ブラシを収縮し、少なくとも導電性ブラシと電極片間
に高圧直流電圧が印可されている期間、導電性ブラシを
拡張する手段；有機被膜層に欠陥があるとき、印可され
る高圧直流電圧に基づく放電により発生するパルス波を
検出する電気回路を備えることを特徴とする。

【０００９】

【作用】請求項１に係る発明は、少なくとも内面が有機
被膜層で被覆されたシ−ムレス金属缶（以下金属缶とよ
ぶ）の内面有機被膜層の全面に高圧直流電圧を印可し
て、その欠陥を検査するタイプの金属缶の内面有機被膜
層の欠陥検査法であるが、缶内面側の電極として導電性
ブラシを用いる。導電性ブラシは可撓性であるので、金
属缶と相対回転、すなわち金属缶を固定して導電性ブラ
シを回転するか、または導電性ブラシを固定して金属缶
を回転することにより、実質的に全内面に先端部近傍を
接触させることが容易である。

【００１０】金属缶の少なくとも内面が有機被膜層で被
覆されているが、開口部端面には金属が露出している。
従って金属缶の開口部端面に電極片を接触させて、導電
性ブラシと電極片間に高圧直流電圧を印可しながら、導
電性ブラシと金属缶を相対回転し、そのさい導電性ブラ
シと電極片間に流れる電流に基づいて内面有機被膜層の
欠陥を判別することができる。導電性ブラシとして比較
的軟らかく内面有機被膜層を傷付けないものを用いるこ
とによって、検査によって正常と判定された金属缶は、
製品としてそのまま出荷することができる。従って全数
検査が可能である。

【００１１】請求項２に係る発明は、金属缶内に挿入す
るとき、および金属缶より離脱するとき、導電性ブラシ
を収縮するので、開口部の内径が胴部本体の内径より小
さいネックイン缶の場合でも、収縮することによって容
易に導電性ブラシを金属缶に挿入したり、金属缶から離
脱することができる。相対回転中、導電性ブラシを拡張
することにより、導電性ブラシによって金属缶の実質的
に全内面を掃引することができるので、内面有機被膜層
に検査漏れ部分が生ずるのを防止できる。

【００１２】請求項３に係る発明は、導電性ブラシの保
持体が固着されるスピンドルを複数個、周縁部に沿い軸
着されたターレット盤、およびターレット盤を軸支する
フレームに固着され、スピンドルに着設されたギヤと歯
合し、ターレット盤の回転に伴いスピンドルを自転する
太陽歯車を備えているので、スピンドルの公転に伴い、
スピンドルを自動的に自転させることができる。また金
属缶を導電性ブラシに外挿する手段、および少なくとも
金属缶が導電性ブラシに外挿される期間および導電性ブ
ラシより離脱する期間、導電性ブラシを収縮する手段を
備えているので、金属缶がネックイン缶の場合であって
も、導電性ブラシを自動的に、容易に金属缶に挿入する
ことができる。

【００１３】導電性ブラシが挿入された金属缶の開口部
端面に接触可能な電極片、導電性ブラシと電極片間に高
圧直流電圧を印可する直流電源、少なくとも導電性ブラ
シと電極片間に高圧直流電圧が印可されている期間、導
電性ブラシを拡張する手段、および有機被膜層に欠陥が
あるとき、印可される高圧直流電圧に基づく放電により
発生するパルス波を検出する電気回路を備えているの
で、この電気回路により内面有機被膜層の傷付き又は局
部的な剥離等の欠陥を自動的に検出することができる。
電気回路による検出時間は極く短いので、ターレット盤
に配設されるスピンドルの数を多くし、かつターレット
盤の回転数を大きくすることによって、高速で全数検査
を行なうことができる。

【００１４】

【実施例】図１において、１ａ，１ｂは導電性ブラシ保
持体であり、２は自転および軸方向の往復動が可能の金
属スピンドルである。導電性ブラシ保持体１ａおよび１
ｂはそれぞれ、スライド５ａおよび５ｂに固着されてい
る。スライド５ａ，５ｂは、スピンドル２を包囲するス
リーブ１５（図６）の先端部に固着された、軸方向定位
置の筒体３に横架されるピン４ａ，４ｂに沿い摺動可能
に着設されている（図５）。

【００１５】スピンドル２の前端に、比較的薄肉の先端
部７ａ、および比較的厚肉の基部７ｂを有する突片７が
固着されている。スライド５ａおよび５ｂの後側にそれ
ぞれ、ロール６ａおよび６ｂが着設されている。ロール
６ａは突片７の上部に、ロール６ｂは突片７の下部に位
置するように配設されている。

【００１６】スピンドル２が前進位置にあるとき、図７
に示すように、基部７ｂがロール６ａ，６ｂの間に入っ
て、ロール６ａとロール６ｂの間隙幅が大きくなり、従
ってスライド５ａおよび５ｂの間隔が小さくなり、導電
性ブラシ１０が収縮する。スピンドル２が後退位置ある
とき、図１に示すように、先端部７ａがロール６ａ，６
ｂの間に入り、ロール６ａとロール６ｂの間隙幅が小さ
くなり（図２）、スプリング８（図５）の作用によっ
て、スライド５ａおよび５ｂがそれぞれ係止ピン９ａお
よび９ｂに当接するまで、両者の間隔が大きくなり、導
電性ブラシ１０が拡張する。

【００１７】導電性ブラシ保持体１ａおよび１ｂにはそ
れぞれ、金属缶１１の胴部掃引用の導電性ブラシ片１０
ａおよび１０ｂが、互いに対向して軸方向および半径方
向に延びるように固着されている（図１，図３）。導電
性ブラシ保持体１ａにはさらに、金属缶１１の底部掃引
用の導電性ブラシ片１０ｃが固着されている。各ブラシ
片１０ａ，１０ｂおよび１０ｃによって、導電性ブラシ
１０が構成される。

【００１８】各ブラシ片１０ａ，１０ｂ，１０ｃはナイ
ロン繊維（直径が例えば０．１５ｍｍの）にナイロン・
カーボン複合剤被膜を複合した導電性短繊維よりなる多
数の、比較的軟らかいブラシ素糸１２と、ブラシ素糸１
２の内側端部をかしめ止めする断面ｕ字形状の金属板片
よりなる保持具１３よりなっている（図１，図４）。ブ
ラシ素糸１２は、例えば約３ｍｍの厚さに保持具１３に
緻密に植毛されている。ブラシ素子１２の長さは、導電
性ブラシ片１０ａ，１０ｂおよび１０ｃがそれぞれ、導
電性ブラシ１０が拡張し、かつ回転した状態で、金属缶
１１の胴部１１ｂの全内面（フランジ部を除く）および
底部全内面に接触して（図１，図４）、その先端部が僅
かに折れ曲がる程度に定められている。図１の胴部下端
部１１ｂ₁の接地部近傍内面において、実線は導電性ブ
ラシ１０が停止している時の状態を、点線は導電性ブラ
シ１０が回転している時のブラシ１０の状態の変化を示
す。なお図１，図７において、ブラシ素糸１２は一部の
みを記載した。

【００１９】金属缶１１は、ティンフリースチール（厚
さは例えば０．１３ｍｍ）等の金属板の内外面に、例え
ば厚さ約２０〜３０μｍのポリエチレンテレフタートフ
ィルム等の有機被膜層を形成されてなるブランクから、
絞り加工ー再絞り加工ー底部ドーミング加工ー胴部外面
印刷，乾燥ーネックイン，フランジ加工により形成され
たものであり、フランジ部の端面１１ａ（図１）に金属
が露出している以外は、全面が原則的に電気絶縁性の有
機被膜層で被覆されている。

【００２０】図６に示すようにスピンドル２は、ＬＭボ
ール軸受１６およびブッシング１７を介してスリーブ１
５を挿通しており、スリーブ１５に対して、軸方向の移
動は可能であるが、回転は不可能になっている。スリー
ブ１５は、球軸受１８を介して主軸２０（図１１参照）
に固着された第１のターレット盤１９の周縁部に沿い設
けられた複数個（例えば１８個）のポケット１９ａに着
設されている。主軸２０は、図示されない駆動装置によ
って所定速度で回転される。球軸受１８とターレット盤
１９の主部は、電気絶縁体例えばＭＣナイロンよりなる
薄肉円筒体１９ｂによって電気絶縁されている。スピン
ドル２の後方部には、歯部２１ａが電気絶縁体、例えば
ＭＣナイロンよりなるギヤ２１が着設されており、ギヤ
２１はフレーム２３（図１１参照）に固着された太陽歯
車２２に歯合している。従ってターレット盤１９の回転
（回転速度は例えば８３ｒ．ｐ．ｍ．）に伴いスピンド
ル２は公転と同時に自転するようになっている。従って
導電性ブラシ１０は、常時自転している（例えば６００
ｒ．ｐ．ｍ．で）。

【００２１】スピンドル２の後端に、ＭＣナイロン・ス
リーブ２４ａにより電気絶縁された球軸受２４を介し
て、カム従導子２５が着設されている。カム従導子２５
は、フレーム２３に設けられた周カム溝２６に係合して
いる。周カム溝２６のプロフィルは、ターレット盤１９
の回転に伴い、スピンドル２が所定のタイミングで軸方
向に往復動するようになっている。

【００２２】スリーブ１５の前方部に、スリップリング
２５、およびスリップリング２５に接触するブラシ２６
が着設されている（図６）。導電性ブラシ１０は、導電
性ブラシ保持体１ａ，１ｂ、スライド５ａ，５ｂ、ピン
４ａ，４ｂ、筒体３、スリーブ１５、スリップリング２
５、ブラシ２６および主軸２０内の導孔（図示されな
い）を通る導線２７、ならびに主軸２０の後端部に着設
されたスリップリングおよびブラシ（何れも図示されな
い）を介して高圧直流電源６１（図１２；電圧は例えば
８００〜１０００ボルト）の負極に接続する。

【００２３】導電性ブラシ保持体１ａ，１ｂの基部近傍
を包囲してリング状体２８が主軸２０に固着された第２
のターレット盤２９に着設されている（図１，図８）。
リング状体２８の前面板２８ａの内径、すなわち内面２
８ａ₁の直径は、金属缶１１の胴部１１ｂが緩挿される
程度の大きさに定められている。

【００２４】前面板２８ａと後面板２８ｂの間に、円周
方向に等間隔に複数個（図８では３個）の電極片３０
（例えば不銹鋼よりなる）が、ピン３１の周りに揺動可
能に設けられている。電極片３０の前面側内面３０ａ
は、前面に向って開いた円錐台形をしており、後面側内
面３０ｂは短円筒形である。電極片３０の後面に突部３
０ｃが形成されており、突部３０ｃは、金属缶１１が挿
入されていない時は、後面板２８ｂの内面に形成された
凹部２８ｂ₁の底面とスプリング３２による押圧下に係
合している。この状態における後面側内面３０ｂの内径
は、金属缶１１のフランジ部端面１１ａの直径より僅か
に小さく定められている。電極片３０は、リング状体２
８，端子３３、および前記の主軸２０内の導孔を通り、
主軸２０の後端部に着設されたスリップリング（図示さ
れない）に接続する導線３４を介して、高圧直流電源６
１のアースされた正極に接続する（図１２）。

【００２５】図９，図１０に示す缶保持具３５は、金属
缶１１の底部１１ｃを真空吸着によって保持する底部保
持体３６および胴部１１ｂを保持する胴部保持体３７を
備えている。底部保持体３６には、真空吸引孔３８が形
成されており、真空吸引孔３８は真空パイプ３９，ター
レット盤２９および主軸２０内の導孔および真空弁装置
（何れも図示されない）を経て真空源（図示されない）
に接続する。真空弁装置は、主軸２０の前端面と接触す
る摺動面を有し、フレーム２３に固着されており、所定
のタイミングで真空を開閉するように構成されている。

【００２６】底部保持体３６および胴部保持体３７は、
共通の基板４０に固着されており、基板４０の下部には
２個の摺動部材４１が、上部には駆動具４３が固着され
ている。駆動具４３の右端（図９から見て）にカム従導
子（図示されない）が着設されており、カム従導子は、
フレーム２３に設けられた周カム溝（図示されない）に
係合している。この周カム溝のプロフィルは、ターレッ
ト盤２９の回転に伴い、カム従導子、従って駆動具４３
を介して、金属缶１１を保持する缶保持具３５が所定の
タイミングで、図９の実線で示す右方の位置Ｒと、１点
鎖線で示す左方の位置Ｌの間を往復動するように構成さ
れている。位置Ｌにおいて、金属缶１１は図１に示す位
置にあり、端面１１ａおよび底部１１ｃはそれぞれ、電
極片３０および導電性ブラシ片１０ｃに接触する。

【００２７】次に上記装置により、金属缶１１の内面有
機被膜の欠陥を検査する方法について説明する。図１１
に示すように、フィート゛ターレット４５により矢印方
向Ｘに送られ、ターレット４５とターレット１９，２９
が交接するステーションＡに達した金属缶１１は、ター
レット２９上の胴部保持体３７に載置された後、真空吸
着により底部保持体３６に吸着されて、缶保持具３５に
より位置Ｒ（図９）に保持される。金属缶１１は矢印方
向Ｙ（図１１）に移動しながら、ステーションＢに達す
るまでに、駆動具４３により矢印Ｐ方向に押されて図９
の位置Ｌに送られ、端面１１ａおよび底部１１ｃはそれ
ぞれ、電極片３０および導電性ブラシ片１０ｃに接触す
る。この時点で導電性ブラシ１０は収縮状態にあるの
で、金属缶１１は、回転している導電性ブラシ１０にス
ムースに外挿される。

【００２８】ステーションＢに達すると直ちに、スピン
ドル２、すなわち突片７が前進して、ステーションＣに
達するまでに導電性ブラシ１０は拡張する。ほぼ同時に
後記のように、各スピンドル２毎に主軸２０に着設され
たタイミングカム５５（図１２）の回転に伴い、近接ス
イッチ５６より出力される信号６２に基づいて、高圧直
流電源６１に電圧印可指令信号６４が入力して、金属缶
１１と導電性ブラシ１０の間に通電が行なわれる。拡張
した導電性ブラシ１０は、回転しながら金属缶１１のフ
ランジ部を除く全内面を掃引するので、直ちに内面有機
被膜層の欠陥検査が開始され、ステーションＤに達する
までに電圧印可指令信号６４がＯＦＦとなって検査が終
了する。

【００２９】ステーションＤとステーションＥの間を通
過中にスピンドル２が後退して、導電性ブラシ１０が収
縮する。ステーションＥからステーションＦに達するま
での間に駆動体４３が後退して、金属缶１１は位置Ｒに
達する。ステーションＦにおいて、底部保持体３６の真
空が解除され、金属缶１１はリジェクトターレット４６
に移行し、「欠陥有り」と判定された金属缶１１’はス
テーションＧにおいて排除される。「正常」と判定され
た金属缶１１は、送出ターレット４７に移行した後、製
品として送出される。

【００３０】図１２の６０は、欠陥検査のための電気回
路を示すものである。主軸２０に着設されたタイミング
カム５５の検出部５５ａが近接スイッチ５６の前面を通
過する間、近接スイッチ５６は矩形波パルス信号６２を
ラッチ回路６３に出力する。ラッチ回路６３がパルス信
号６２の立上りに基づいて電圧印可指令信号６４を高圧
直流電源６１に出力すると、直流電源６１により、導電
性ブラシ１０と金属缶１１の間に高圧直流電圧（電圧は
通常８００〜１０００ボルト）が印可され、抵抗６５を
流れる電流は電流ー電圧変換回路６６によって、電圧に
変換され、この電圧は絶縁増幅器６７で増幅されて電圧
Ｖとなる。

【００３１】図１３は、正常な金属缶１１（内面有機
被膜層は厚さ２５μｍのポリエチレンテレフタートフィ
ルムよりなる）の場合の、時間−電圧曲線の例を示すも
のである。電圧印可の初期に充電のため電圧Ｖはピーク
値Ｖsに達するが、以後次第に低下する。図１３は、
内面有機被膜層に欠陥がある金属缶１１が外挿された場
合の、時間−電圧曲線の例を示すものであり、初期電圧
ピーク値は図１３の場合のＶsとほぼ同じである。し
かし内面有機被膜層の欠陥部検出の時点ｔ3に、放電電
流が流れるため電圧Ｖが上昇し、電圧ピーク値がＶpの
パルス波５７が生ずる。図１３は、端面１１ａに有機
被膜が付着していたり、配線が外れたり、あるいは端面
１１ａと電極片３０との接触不良等のトラブル等で、通
電不良の場合の時間−電圧曲線の例を示すものであり、
初期充電による電圧ピーク値Ｖrは、電圧ピ−ク値Ｖsよ
り低く、かつ電圧Ｖは急速に低下する。

【００３２】図１２に戻って、電圧Ｖは被膜欠陥検出用
比較器６８および通電不良検出（端面１１ａが電極片３
０と接触しないのを検出する）用比較器６９に入力す
る。被膜欠陥検出用比較器６８には、被膜欠陥検出電圧
設定器７０により設定された電圧Ｖ1（図１３参照）
も入力する。電圧Ｖ1は、金属缶１１が正常の場合の電
圧Ｖがほぼ安定するのに要する時間ｔ2における電圧Ｖb
（図１３参照）より若干大きい値に定められる。電圧
Ｖが電圧Ｖ1より高い場合は、比較器６８よりＡＮＤ回
路７１にＯＮ信号が出力する。

【００３３】ＡＮＤ回路７１の入力端子には、被膜欠陥
検出開始タイマー７２も接続している。被膜欠陥検出開
始タイマー７２は、矩形波パルス信号６２の立上がり時
点（図１３の時間０）より時間ｔ2（例えば２０ｍｓｅ
ｃ）が経過した後にＯＮ信号をＡＮＤ回路７１に出力す
る。従って時点ｔ2以後の時間ｔ3に、ピーク値Ｖpが設
定電圧Ｖ1より高いパルス波５７（図１３）が発生す
ると、比較器６８よりＡＮＤ回路７１にＯＮ信号が入力
し、ＡＮＤ回路７１はラッチ回路７３をセットし、ラッ
チ回路７３は、「当該金属缶１１に内面被膜欠陥が有
る」との信号７５を出力する。信号７５は、コンピュー
タ（図示されない）に入力し、コンピュータは当該金属
缶１１がステーションＧ（図１１）に達したとき、リジ
ェクト信号を出力する。

【００３４】一方信号７５はＯＲ回路７６を経てワンシ
ョット回路７７に入力する。ワンショット回路７７より
出力するパルス波はＯＲ回路７８を経て、ラッチ回路６
３のＲ端子に入力し、ラッチ回路６３をリセットして、
電圧印可指令信号６４を解除する。従って直流電源６１
よりの金属缶１１および導電性ブラシ１０への電圧印可
は解除され、時点ｔ3より後の放電による導電性ブラシ
１０の損傷が防止される。またワンショット回路７７よ
りの信号はラッチ回路７３のＲ端子に入力して、ラッチ
回路７３もリセットする。

【００３５】通電不良検出用比較器６９は、電圧Ｖと、
通電不良検出電圧設定器７９により設定された電圧Ｖ2
（図１３参照）を比較し、Ｖ＜Ｖ2のときＯＦＦ信号
を反転器７４に出力し、そのＯＮ信号をＡＮＤ回路８０
に出力する。なお電圧Ｖ2は、金属缶１１が正常の場合
の、時間ｔ1（ｔ1≦ｔ2）における電圧Ｖa（図１３参
照）より小さい値に定められる。

【００３６】８３は通電不良検出時間設定タイマーであ
って、時間ｔ1が設定される。時間ｔ1に達すると、ワン
ショット回路８１からパルス波がＡＮＤ回路８０に出力
され、ラッチ回路８２をセットするので、ラッチ回路８
２から「通電不良」との信号８４が出力される。信号８
５は、コンピュータ（図示されない）に入力し、コンピ
ュータは当該金属缶１１がステーションＧに達したと
き、リジェクト信号を出力する。

【００３７】ラッチ回路８２よりのＯＮ信号は、ＯＲ回
路７６を経てワンショット回路７７に入力してパルス波
を発生させる。このパルス波は、ラッチ回路８２のＲ端
子に入力して、ラッチ回路８２をリセットし、同時にＯ
Ｒ回路７８を経て、ラッチ回路６３のＲ端子に入力し
て、ラッチ回路６３をリセットして、電圧印可指令信号
６４を解除する。従って直流電源６１よりの金属缶１１
および導電性ブラシ１０への電圧印可は解除され、時点
ｔ1より後の放電による導電性ブラシ１０の損傷が防止
される。金属缶１１の端面１１ａが電極片３０に接触す
る図１３、の場合は、Ｖ＞Ｖ2であるので、ラッチ
回路８２はセットされず、「通電不良信号」８４は出力
されない。

【００３８】金属缶１１が正常の場合は、矩形波パルス
信号６２の立下り検出回路８５がパルス信号６２の立下
り時間ｔ4（ｔ4＞ｔ2；ｔ4は例えばｔ2＋１００ｍｓｅ
ｃ）を検出してＯＮ信号をＯＲ回路７８に出力する。Ｏ
Ｒ回路７８よりの出力信号はラッチ回路６３のＲ端子に
入力して、ラッチ回路６３をリセットして、電圧印可指
令信号６４を解除する。

【００３９】本発明は、以上の実施例によって制約され
るものでない。例えば金属缶はネックイン部およびフラ
ンジ部が形成される前のもの、すなわち胴部が全体とし
て直筒状のものでもよい。また導電性ブラシを固定し、
金属缶を回転してもよい。さらに金属缶は、内面のみが
有機被膜層で被覆されたものであってもよい。

【００４０】

【発明の効果】請求項１に係る発明の方法は、金属缶の
内面有機被膜層の欠陥を全数検査により検出することが
できるという効果を奏する。請求項２に係る発明の方法
は、シ−ムレス金属缶がネックイン缶の場合であって
も、容易に内面有機被膜層の欠陥を全数検査により検出
することができるというメリットを有する。請求項３に
係る発明の装置は、金属缶の内面有機被膜層の欠陥を自
動的に高速で全数検査により検出することができるとい
う効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施例である装置の、導電性ブラシが
拡張した状態における導電性ブラシ近傍を示す要部縦断
面図である。

【図２】図１のＩＩーＩＩに沿う縦断面図である。

【図３】図１のＩＩＩーＩＩＩに沿う縦断面図である。

【図４】図１のＩＶーＩＶに沿う横断面図である。

【図５】図１のＶーＶに沿う縦断面図である。

【図６】図１の左方にある、スピンドル近傍を示す要部
縦断面図である。

【図７】導電性ブラシが収縮した状態を示す、図１に対
応する縦断面図である。

【図８】図１のＶＩＩＩ−ＶＩＩＩ線に沿う縦断面図で
ある。

【図９】図１に示す装置に、金属缶を送入するための装
置の例の要部正面図である。

【図１０】右側の部分は、図９のＸ−Ｘ線、左側の部分
は図９のＸ’−Ｘ’線に沿う縦断面図である。

【図１１】本発明の実施例である装置の機械的部分およ
びその付属装置の略正面図である。

【図１２】本発明の装置における電気回路の実施例の回
路図である。

【図１３】図１２に示す電気回路における、通電時間と
絶縁増幅器の出力電圧の関係を示す線図であって、図１
３は、内面有機被膜層に欠陥のない正常な金属缶の場
合、図１３は内面有機被膜層に欠陥がある金属缶の場
合、図１３は電極片と金属缶の開口部端面間の通電不
良の場合の線図である。

【符号の説明】

１ａ導電性ブラシ保持体１ｂ導電性ブラシ保持体２スピンドル６ａロール（導電性ブラシを拡張、収縮する手
段）６ｂロール（導電性ブラシを拡張、収縮する手
段）７突片（導電性ブラシを拡張、収縮する手段）１０導電性ブラシ１１シ−ムレス金属缶１９第１のターレット盤２２太陽歯車２３フレーム３０電極片３５缶保持具（金属缶に導電性ブラシを外挿する
手段）４３駆動具（金属缶に導電性ブラシを外挿する手
段）

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】少なくとも内面が有機被膜層で被覆され
たシ−ムレス金属缶の内面有機被膜層の欠陥検査方法に
おいて、実質的にシ−ムレス金属缶の全内面に先端部近
傍が接触可能の導電性ブラシをシ−ムレス金属缶内に挿
入し、金属缶の開口部端面に電極片を接触させて、導電
性ブラシと電極片間に高圧直流電圧を印可しながら、導
電性ブラシとシ−ムレス金属缶を相対回転し、導電性ブ
ラシと電極片間に流れる電流に基づいて内面有機被膜層
の欠陥を判別することを特徴とする、シ−ムレス金属缶
の内面有機被膜層の欠陥検査方法。
【請求項２】シ−ムレス金属缶内に挿入するとき、およ
びシ−ムレス金属缶より離脱するとき、導電性ブラシを
収縮し、相対回転中、導電性ブラシを拡張する請求項１
記載の欠陥検査方法。
【請求項３】少なくとも内面が有機被膜層で被覆された
シ−ムレス金属缶の内面有機被膜層の欠陥検査装置にお
いて、該装置は、導電性ブラシの保持体が固着されるス
ピンドルを複数個、周縁部に沿い軸着されたターレット
盤；ターレット盤を軸支するフレームに固着され、スピ
ンドルに着設されたギヤと歯合し、ターレット盤の回転
に伴いスピンドルを自転する太陽歯車；シ−ムレス金属
缶を導電性ブラシに外挿する手段；導電性ブラシが挿入
されたシ−ムレス金属缶の開口部端面に接触可能な電極
片；導電性ブラシと電極片間に高圧直流電圧を印可する
直流電源；少なくとも金属缶が導電性ブラシに外挿され
る期間および導電性ブラシより離脱する期間、導電性ブ
ラシを収縮し、少なくとも導電性ブラシと電極片間に高
圧直流電圧が印可されている期間、導電性ブラシを拡張
する手段；有機被膜層に欠陥があるとき、印可される高
圧直流電圧に基づく放電により発生するパルス波を検出
する電気回路を備えることを特徴とする、シームレス金
属缶の内面有機被膜層の欠陥検査装置。