JPH0691131B2 - フィルムキャリァ - Google Patents

フィルムキャリァ

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JPH0691131B2
JPH0691131B2 JP63304392A JP30439288A JPH0691131B2 JP H0691131 B2 JPH0691131 B2 JP H0691131B2 JP 63304392 A JP63304392 A JP 63304392A JP 30439288 A JP30439288 A JP 30439288A JP H0691131 B2 JPH0691131 B2 JP H0691131B2
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JP
Japan
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copper foil
film carrier
film
positioning
accuracy
Prior art date
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JP63304392A
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JPH02150044A (ja
Inventor
和男 須江
美夫 常住
昇 内田
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Expired - Lifetime legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/0266Marks, test patterns or identification means
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/02Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
    • H05K3/06Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding the conductive material being removed chemically or electrolytically, e.g. by photo-etch process

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  • Wire Bonding (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、半導体ICチップの高密度実装技術において、
硬質基板の狭ピッチ電極とフィルムキャリアのリード電
極を多点同時接続する際の、硬質基板の電極に対する位
置決め精度を向上させることのできるフィルムキャリア
に関するものである。
従来の技術 従来のフィルムキャリアの位置決め方法を第3図につい
て説明する。第3図において、硬質基板であるパネル1
にフィルムキャリア2を一括接続する際に、パネル1を
パネル搭載治具パレット3にセットして真空吸着方式に
より固定し、一方、フィルムキャリア2を第3図の矢印
Aの方向にスライドできるスライドベース4から突出し
ている基準ピン5により位置決めし、パネル電極6と、
フィルムキャリア2にボンディングされた半導体ICチッ
プ7に接続されている銅箔リード電極8との位置合せを
行う。
第4図はパネル1とフィルムキャリア2との接続装置の
平面図である。第4図において、液晶ディスプレイなど
のパネル1はたとえば上下左の3辺からピッチ幅0.2m
m、電極幅0.1mmの数100本のパネル電極6が形成されて
おり、このパネル電極6にフィルムキャリア2の銅箔リ
ード電極8を重ね、電極の位置合せを実施する。このと
き、位置決め用の基準ピン5をフィルムキャリア2の位
置決め用の基準ピン5をフィルムキャリア2の位置決め
孔に差し込み、実態顕微鏡9をフィルムキャリア2の電
極8の位置まで矢印Aの方向にスライドさせ、パネル電
極6とフィルムキャリア2の電極8を拡大観察しながら
互いに位置合せをする。この位置合せ時の微調整はそれ
ぞれのスライドベース4に連結されたマイクロメーター
ヘッド10を回転させながらスライドベース4をガイドベ
ース11に沿って横方向に移動させて微調整する。
次に位置調整が終了すると、全体を載置したステージ12
を矢印Bの方向に移動させ、電極部が加圧・加熱ツール
13の下に位置したときに加圧・加熱ツール13を下降さ
せ、電極部の接続が終了すると、ステージ12を矢印Bと
反対方向に移動させ、接続の1サイクルを終了する。
第5図は第4図のX−X断面図である。第3図におい
て、ガイドベース11の上をスライドするスライドベース
4に基準ピン5が配置され、この基準ピン5が固定され
たブロック14はシリンダ15により上下駆動されるシャフ
ト16に連結されており、シリンダ15が上下することによ
り基準ピン5が上下し、フィルムキャリア2のフィルム
2aと銅箔2bを貫通してパンチングにより形成された位置
孔20を介して位置決めしたり、位置決めを解除する。ば
ね17はブロック14に固定されたピン18とスライドベース
4の間に介装されて、ブロック14に固定された基準ピン
5を上方に付勢する機能を有している。19はフィルムキ
ャリア押えで、基準ピン5の抜き差しをスムーズに実施
するためのものである。
発明が解決しようとする課題 このとき、電極ピッチが大きい場合は、たとえば0.5mm
以上であれば、フィルムキャリア2の孔径精度が±30μ
と多少大きくても、接続後のショート不良は発生せず、
電気的に導通さえしていれば問題はなかった。
ところが電極ピッチが0.2mm以下の狭ピッチで、しかも
電極幅が0.1mmの多点電極(たとえば数10本〜数100本)
を同時に一括接続する場合、従来のように基準ピン5と
フィルムキャリア2の位置決め精度において、フィルム
キャリア2の孔径寸法精度のばらつきを±30μ、また基
準ピン5の加工精度を±5μとして考慮すると、位置合
せ精度は狭ピッチであるため相対的に低下し、電極間で
ショートなどが発生するという不都合が生じる。このた
め、位置精度を出すために基準ピン5とフィルムキャリ
ア2の孔径精度を向上することが望ましい。基準ピン5
は機械加工精度を向上させることで解決できるが、フィ
ルムキャリア2の孔径精度はフィルム送りをしながら1
個づつパンチングするためフィルム送り精度の限界もあ
ることから±30μ以下にすることは不可能である。
本発明は上記問題を解決するものであり、フィルムキャ
リアの位置決め孔径の精度を従来の±30μの精度から±
2μまで向上させることのできるフィルムキャリアを提
供することを目的とするものである。
課題を解決するための手段 上記課題を解決するために、本発明は、フィルムキャリ
アの位置決め孔を従来のように打抜き金型でパンチング
により形成するのではなく、銅箔に電極銅箔パターンを
形成するときに同時に露光エッチングより銅箔に位置決
め孔を形成したものである。このとき、銅箔の位置決め
孔に対応するフィルム部分の孔は銅箔の位置決め孔より
もあらかじめ大きくして先に形成されており、このフィ
ルムに銅箔が裏打ちされた後に、フィルムの孔内の銅箔
部分に位置決め孔の露光エッチングが電極銅箔パターン
の露光エッチングと同時に行われる。
作用 上記構成により、フィルムキャリアの位置決め孔は電極
銅箔パターン成形と同時の露光エッチング加工により銅
箔に形成されるため、電極銅箔パターンと相関が取れて
孔径が形成されるので、±2μの精度を確保できる。ま
た、銅箔のみで位置決めするため、基準ピンと孔径のク
リアランスを0で設計し孔径精度が±2μのマイナス目
に孔径が形成されても、基準ピンが孔径に入らないこと
がなく、極めて作業性が良いアライメントが可能とな
る。
実施例 以下本発明の一実施例について図面を用いて説明する。
第1図は本発明の一実施例のフィルムキャリア位置決め
孔と基準ピンの関係を示す要部断面図である。第1図に
おいて、21はフィルムキャリアでポリイミドなどのフィ
ルム21aと銅箔21bとからなっており、フィルム21aの孔2
2は、位置決め孔が形成される位置に対応して、先に金
型で打抜かれた大きな孔径を有し、孔径精度は従来と同
じ±30μまたはそれ以上であってもよい。このフィルム
21aに29μ±6μの膜厚を有する銅箔21bが裏打ちされて
おり、電極銅箔パターン成形と同時の露光エッチングに
よりフィルム21aの孔22に対応する銅箔部分に銅箔21bの
孔23が形成されている。この銅箔21bの孔23の孔径精度
は、銅箔21bの孔23が電極銅箔パターン成形と同時の露
光エッチングにより銅箔21bに形成されたものであるか
ら、2μ以下の精度にすることができる。このときの露
光エッチングは紫外線を使用した露光エッチングが採用
される。24は位置決め孔23に挿通される基準ピンであ
る。
このフィルムキャリア21の製造は次のようにして行われ
る。先づ金型で打抜かれた大きな孔22を有するフィルム
21aに銅箔21bを裏打ちし、この銅箔21bにリード電極と
なる銅箔パターンを露光エッチングにより形成すると同
時に、フィルム21aの孔22内の銅箔21b部分に露光エッチ
ング加工による位置決め孔23を形成する。したがって、
位置決め孔23の孔径は電極銅箔パターンと相関が取れて
±2μの精度を確保できる。
これを従来のフィルムキャリア2の位置決め孔20と基準
ピン5との関係を示す第2図と比較すると、従来のもの
は、位置決め孔20がポリイミドなどのフィルム2aとこれ
に裏打ちされた銅箔2bとを同時に金型で打抜いて機械的
に形成されているため、孔径精度は±30μであり、ピッ
チ幅200μ以下のリード電極の孔径精度としては使用で
きない。しかし、第1図のものでは、基準ピン24に対応
する銅箔部分のみに位置決め孔23を露光エッチングによ
り形成しているため、前述のように±2μ以下にでき、
基準ピン24の機械加工精度を向上させておけば、位置決
め精度を十分に高めることができる。
発明の効果 以上のように本発明によれば、多点電極の接続を実施す
るに当り、電極の位置合せ用の位置決め孔精度を従来の
±30μから±2μ以下にすることができるため、電極の
位置合せに関する作業工数の短縮化および接続の歩留を
大幅に向上させることが可能である。
また、電極銅箔パターン成形と同時の露光エッチングに
よる銅箔の孔のみを位置決め孔としているため、フィル
ムキャリア作製の際の金型打抜きの孔径の精度を取るた
めの操作は全ったく必要としなくなり、フィルムキャリ
アのコストダウンを図ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のフィルムキャリアの要部断
面図、第2図は従来のフィルムキャリアの要部断面図、
第3図は基準ピンによる位置決め方法を説明する斜視
図、第4図はフィルムキャリアと硬質基板との接続装置
の平面図、第5図は第4図のX−X断面図である。 21……フィルムキャリア、21a……フィルム、21b……銅
箔、22……フィルムに先に金型で打抜かれた孔、23……
エッチング加工による銅箔の位置決め孔、24……基準ピ
ン。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体ICチップがボンディングされ、硬質
    基板の狭ピッチ電極に接続される電極を有するフィルム
    キャリアであって、電極の位置合せ精度を向上させるた
    めの位置決め孔を、電極銅箔パターン成形と同時に露光
    エッチングにより形成した銅箔の孔のみで構成したフィ
    ルムキャリア。
JP63304392A 1988-11-30 1988-11-30 フィルムキャリァ Expired - Lifetime JPH0691131B2 (ja)

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JPH02150044A JPH02150044A (ja) 1990-06-08
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