JPH07101575B2 - 開閉器の故障検出装置 - Google Patents
開閉器の故障検出装置Info
- Publication number
- JPH07101575B2 JPH07101575B2 JP60061341A JP6134185A JPH07101575B2 JP H07101575 B2 JPH07101575 B2 JP H07101575B2 JP 60061341 A JP60061341 A JP 60061341A JP 6134185 A JP6134185 A JP 6134185A JP H07101575 B2 JPH07101575 B2 JP H07101575B2
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- load
- voltage
- control
- switch
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、開閉器と組合せて開閉器の故障状態を検出
する装置に関するものである。
する装置に関するものである。
従来、開閉器にはサイリスタ，トランジスタ又はダイオ
ードなどの半導体素子が用いられており、今後さらに電
子化の傾向にある。
ードなどの半導体素子が用いられており、今後さらに電
子化の傾向にある。
しかしながら、半導体を使った開閉器はその素子の故障
時に導通状態となることが多く、この場合には停止信号
時にも負荷に電力が供給されつづけ負荷の停止不能とい
う状態が発生する問題点があった。
時に導通状態となることが多く、この場合には停止信号
時にも負荷に電力が供給されつづけ負荷の停止不能とい
う状態が発生する問題点があった。
又逆に開閉器に動作信号を印加してもその開閉器が非導
通状態を維持し，負荷に電力を供給したくても電力を供
給できないという状態が発生する問題点があつた。
通状態を維持し，負荷に電力を供給したくても電力を供
給できないという状態が発生する問題点があつた。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので，開閉器における導通，非導通のいずれの故障
でも検出できる装置を得ることを目的とする。
たもので，開閉器における導通，非導通のいずれの故障
でも検出できる装置を得ることを目的とする。
この発明に係る開閉器の故障検出装置は、主回路電圧と
負荷との間に介在して負荷を開閉する開閉素子と、制御
電圧を印加して、上記開閉素子を開閉動作させる制御回
路と、上記制御電圧が上記制御回路に印加されたとき、
この制御電圧を検出して出力する制御回路検出回路と、
上記主回路電圧が負荷に印加されたとき負荷の電圧を検
出して出力する負荷電圧検出回路と、上記制御回路検出
回路からの出力と、上記負荷電圧検出回路からの出力の
２つの信号を入力して不一致状態になった時から一定の
時間経過後に出力信号を発する不一致検出回路とを備
え、上記不一致検出回路の電源を上記制御回路検出回路
からの出力と、上記負荷電圧検出回路からの出力の２つ
の出力から供給することを特徴とするものである。
負荷との間に介在して負荷を開閉する開閉素子と、制御
電圧を印加して、上記開閉素子を開閉動作させる制御回
路と、上記制御電圧が上記制御回路に印加されたとき、
この制御電圧を検出して出力する制御回路検出回路と、
上記主回路電圧が負荷に印加されたとき負荷の電圧を検
出して出力する負荷電圧検出回路と、上記制御回路検出
回路からの出力と、上記負荷電圧検出回路からの出力の
２つの信号を入力して不一致状態になった時から一定の
時間経過後に出力信号を発する不一致検出回路とを備
え、上記不一致検出回路の電源を上記制御回路検出回路
からの出力と、上記負荷電圧検出回路からの出力の２つ
の出力から供給することを特徴とするものである。
この発明の不一致回路は、制御回路検出回路および負荷
電圧検出回路からの２つの出力から電源が供給され、開
閉器の負荷側電圧と制御電圧とを比較し、上記それぞれ
が不一致であれば出力信号を発する。
電圧検出回路からの２つの出力から電源が供給され、開
閉器の負荷側電圧と制御電圧とを比較し、上記それぞれ
が不一致であれば出力信号を発する。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第１
図において（１）は半導体素子を使った開閉器、（1a）
は、開閉素子となる電流開閉を行なうトライアック（米
国GE社商品名）素子、（1b）は開閉器（１）を駆動する
ための制御信号接点（３）の動作によりトライアック素
子（1a）にゲート信号を与える制御回路、（２）は負荷
機器、（４）は三相電圧を整流する三相ブリッジ構成の
ダイオード、（５），（６）は信号電圧レベル変換用の
分圧抵抗で、ダイオード（４）、分圧抵抗（５）（６）
によって負荷電圧検出回路となる。（７）は不一致回路
で、排他的OR回路から成り、レベル変換回路（12）およ
び負荷電圧検出回路の２つの出力が排他的OR回路の入力
に接続されると共に、この排他的OR回路の電源にもレベ
ル変換回路（12）および負荷電圧検出回路の２つの出力
が接続されている。（８）は故障検出出力、（９）は主
回路の三相電源電圧、（10）は開閉器駆動用と不一致検
出回路（７）の入力信号の制御電圧、（12）は制御電圧
を不一致検出回路（７）入力レベルに変換するための制
御回路検出回路としてのレベル変換回路である。
図において（１）は半導体素子を使った開閉器、（1a）
は、開閉素子となる電流開閉を行なうトライアック（米
国GE社商品名）素子、（1b）は開閉器（１）を駆動する
ための制御信号接点（３）の動作によりトライアック素
子（1a）にゲート信号を与える制御回路、（２）は負荷
機器、（４）は三相電圧を整流する三相ブリッジ構成の
ダイオード、（５），（６）は信号電圧レベル変換用の
分圧抵抗で、ダイオード（４）、分圧抵抗（５）（６）
によって負荷電圧検出回路となる。（７）は不一致回路
で、排他的OR回路から成り、レベル変換回路（12）およ
び負荷電圧検出回路の２つの出力が排他的OR回路の入力
に接続されると共に、この排他的OR回路の電源にもレベ
ル変換回路（12）および負荷電圧検出回路の２つの出力
が接続されている。（８）は故障検出出力、（９）は主
回路の三相電源電圧、（10）は開閉器駆動用と不一致検
出回路（７）の入力信号の制御電圧、（12）は制御電圧
を不一致検出回路（７）入力レベルに変換するための制
御回路検出回路としてのレベル変換回路である。
次に、動作について説明する。
第１図において、制御信号接点（３）のオンにより、開
閉器（１）の制御回路（1b）に電圧が印加されトライア
ック素子（1a）は導通状態となり負荷（２）に電力が供
給される。この時負荷（２）の端子には三相電圧が印加
され、これがダイオード（４）により全波整流されて分
圧抵抗（５）（６）を通り、不一致検出回路（７）に入
力される。同時に開閉器（１）の駆動用電圧はレベル変
換回路（12）を経由して不一致検出回路（７）の他の入
力端子に印加される。この時は２つの入力信号が共に
“Ｈレベル”であり、不一致検出回路（７）は動作せず
出力は“Ｌレベル”となる。負荷停止時には同様に不一
致検出回路（７）の入力信号は共に“Ｌレベル”となり
その出力も“Ｌレベル”となる。
閉器（１）の制御回路（1b）に電圧が印加されトライア
ック素子（1a）は導通状態となり負荷（２）に電力が供
給される。この時負荷（２）の端子には三相電圧が印加
され、これがダイオード（４）により全波整流されて分
圧抵抗（５）（６）を通り、不一致検出回路（７）に入
力される。同時に開閉器（１）の駆動用電圧はレベル変
換回路（12）を経由して不一致検出回路（７）の他の入
力端子に印加される。この時は２つの入力信号が共に
“Ｈレベル”であり、不一致検出回路（７）は動作せず
出力は“Ｌレベル”となる。負荷停止時には同様に不一
致検出回路（７）の入力信号は共に“Ｌレベル”となり
その出力も“Ｌレベル”となる。
以上のように開閉器（１）が正常な状態では出力（８）
は“L"状態となる。また、主回路のトライアック素子
（1a）が２台故障し二相のみ導通状態となった場合には
制御信号接点（３）がオフ状態であっても、導通状態の
素子を通し負荷（２）には単相電力が印加される。
は“L"状態となる。また、主回路のトライアック素子
（1a）が２台故障し二相のみ導通状態となった場合には
制御信号接点（３）がオフ状態であっても、導通状態の
素子を通し負荷（２）には単相電力が印加される。
この時、主回路側から入力される信号レベルは“Ｈレベ
ル”で、制御回路（1b）からの信号は“Ｌレベル”であ
り、この信号が不一致検出回路（７）に入力されて出力
信号を発し、この結果開閉器（１）の故障を検出する。
更に、開閉器（１）の制御回路（1b）又はトライアック
素子（1a）の故障で制御信号（３）がオン状態にあって
も開閉器（１）が導通せず、負荷が始動できない場合に
は、同様に主回路からの信号は“Ｌレベル”で、制御回
路（1b）からは“Ｈレベル”が印加される。この場合に
も不一致検出回路（７）の出力は“Ｈレベル”となるの
で出力信号を発して故障検出を行う。なお、排他的OR回
路７の入力のいづれかが“Ｈレベル”であれば、排他的
OR回路７に電源が供給される。以上のようにして開閉器
（１）の不動作又は接点導通故障を検出することができ
るのである。
ル”で、制御回路（1b）からの信号は“Ｌレベル”であ
り、この信号が不一致検出回路（７）に入力されて出力
信号を発し、この結果開閉器（１）の故障を検出する。
更に、開閉器（１）の制御回路（1b）又はトライアック
素子（1a）の故障で制御信号（３）がオン状態にあって
も開閉器（１）が導通せず、負荷が始動できない場合に
は、同様に主回路からの信号は“Ｌレベル”で、制御回
路（1b）からは“Ｈレベル”が印加される。この場合に
も不一致検出回路（７）の出力は“Ｈレベル”となるの
で出力信号を発して故障検出を行う。なお、排他的OR回
路７の入力のいづれかが“Ｈレベル”であれば、排他的
OR回路７に電源が供給される。以上のようにして開閉器
（１）の不動作又は接点導通故障を検出することができ
るのである。
なお、第２図は第１図の回路の不一致検出回路（７）か
ら時限回路（11）を介して出力する回路である。例えば
モータ（13）等の負荷では断路時に残留電圧が発生する
が、このような負荷においては負荷開閉直後に不一致検
出を行なうと開閉器（１）の負荷端子に電圧が発生して
おり誤検出を行なうことになる。したがって、残留電圧
が減衰してから故障出力を行なうために残留電圧持続時
間よりも長い時限の時限回路（11）を介して故障検出の
出力を行なうものである。
ら時限回路（11）を介して出力する回路である。例えば
モータ（13）等の負荷では断路時に残留電圧が発生する
が、このような負荷においては負荷開閉直後に不一致検
出を行なうと開閉器（１）の負荷端子に電圧が発生して
おり誤検出を行なうことになる。したがって、残留電圧
が減衰してから故障出力を行なうために残留電圧持続時
間よりも長い時限の時限回路（11）を介して故障検出の
出力を行なうものである。
これにより、モータ（13）などの残留電圧の発生する負
荷の場合でも誤検出を行うことなく、開閉器（１）の故
障検出が可能となる。
荷の場合でも誤検出を行うことなく、開閉器（１）の故
障検出が可能となる。
ところで、上記実施例では開閉器に半導体素子を使った
ものを示したが、電磁開閉器と組合せても同様の効果が
得られることはいうまでもない。
ものを示したが、電磁開閉器と組合せても同様の効果が
得られることはいうまでもない。
以上のように、制御回路検出回路および負荷電圧検出回
路からの２つの出力から電源が供給されると共に、開閉
器の負荷側電圧と制御電圧とを比較し、上記それぞれが
不一致であれば出力信号を発する不一致検出回路を設け
たので、開閉器の半導体素子の故障を検出して、負荷の
暴走を防止することができる開閉器の故障検出装置が得
られる効果がある。
路からの２つの出力から電源が供給されると共に、開閉
器の負荷側電圧と制御電圧とを比較し、上記それぞれが
不一致であれば出力信号を発する不一致検出回路を設け
たので、開閉器の半導体素子の故障を検出して、負荷の
暴走を防止することができる開閉器の故障検出装置が得
られる効果がある。
第１図はこの発明の一実施例を示す回路図、第２図はこ
の発明の他の実施例を示す回路図である。 図において、（１）は開閉器、（２）は負荷、（７）は
不一致検出回路、（８）は出力、（10）は制御電圧、
（11）は時限回路である。 なお、図中、同一符号は同一部分を示す。
の発明の他の実施例を示す回路図である。 図において、（１）は開閉器、（２）は負荷、（７）は
不一致検出回路、（８）は出力、（10）は制御電圧、
（11）は時限回路である。 なお、図中、同一符号は同一部分を示す。
Claims (1)
- 【請求項１】主回路電圧と負荷との間に介在して負荷を
開閉する開閉素子と、制御電圧を印加して、上記開閉素
子を開閉動作させる制御回路と、上記制御電圧が上記制
御回路に印加されたとき、この制御電圧を検出して出力
する制御回路検出回路と、上記主回路電圧が負荷に印加
されたとき負荷の電圧を検出して出力する負荷電圧検出
回路と、上記制御回路検出回路からの出力と、上記負荷
電圧検出回路からの出力の２つの信号を入力として不一
致状態になった時から一定の時間経過後に出力信号を発
する不一致検出回路とを備え、 上記不一致検出回路の電源を上記制御回路検出回路から
の出力と、上記負荷電圧検出回路からの出力の２つの出
力から供給することを特徴とする開閉器の故障検出装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60061341A JPH07101575B2 (ja) | 1985-03-26 | 1985-03-26 | 開閉器の故障検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60061341A JPH07101575B2 (ja) | 1985-03-26 | 1985-03-26 | 開閉器の故障検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61220221A JPS61220221A (ja) | 1986-09-30 |
| JPH07101575B2 true JPH07101575B2 (ja) | 1995-11-01 |
Family
ID=13168329
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60061341A Expired - Lifetime JPH07101575B2 (ja) | 1985-03-26 | 1985-03-26 | 開閉器の故障検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07101575B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2656532B2 (ja) * | 1988-03-11 | 1997-09-24 | 株式会社日立製作所 | 電路状態検出装置およびそれを用いた電気装置 |
| JPH0644623Y2 (ja) * | 1988-04-27 | 1994-11-16 | 三菱重工業株式会社 | 産業用ロボットの安全装置 |
| JP2527261B2 (ja) * | 1990-07-27 | 1996-08-21 | 三菱電機株式会社 | 電磁接触器 |
| JP6746247B2 (ja) * | 2018-07-11 | 2020-08-26 | 株式会社日本製鋼所 | 産業機械の電磁開閉器の検査方法および産業機械 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56153620A (en) * | 1980-04-30 | 1981-11-27 | Tokyo Shibaura Electric Co | Breaker malfunction detector |
| JPH0531788U (ja) * | 1991-09-27 | 1993-04-27 | 品川化成株式会社 | ドライクリーニング装置の清浄機 |
-
1985
- 1985-03-26 JP JP60061341A patent/JPH07101575B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61220221A (ja) | 1986-09-30 |
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