JPH07121409A

JPH07121409A - 性能評価装置

Info

Publication number: JPH07121409A
Application number: JP5270133A
Authority: JP
Inventors: Mitsuo Akiyama; 満夫秋山
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1993-10-28
Filing date: 1993-10-28
Publication date: 1995-05-12

Abstract

(57)【要約】【目的】本発明は性能評価装置に関し、性能低下によ
る応答の遅延、或いは、性能に関する装置障害、例え
ば、素子劣化等のハードウェア障害や、リトライ多発等
の状態等も十分に検証できるようにすることを目的とす
る。【構成】被テスト装置に対し、テストプログラムによ
りテスト対象となるオペレーションを実行させ、その実
行時間を測定するテスト実行部１０と、テスト実行部１
０により、予め測定したテストプログラムの実行時間を
標準実行時間として記憶し保存しておく標準実行時間記
憶部１２と、テスト実行部１０が測定したデータを基
に、測定結果の評価を行う評価部１１を設け、テスト実
行部１０が、実行時間を測定した際、評価部１１では、
測定した実行時間を標準実行時間と比較して、ＧＯＯ
Ｄ、ＷＡＲＮＩＮＧ、ＥＲＲＯＲの３段階の評価を行
い、評価結果を表示するように構成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、コンピュータに接続さ
れる入出力装置（ＤＡＳＤ、磁気テープ装置、ＬＡＮ制
御装置、プリンタ等）の性能評価、例えば、工場出荷前
に行う設計検証、製造確認、或いはユーザ先でのメンテ
ナンス時に行う各種検証等に利用される性能評価装置に
関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、コンピュータに接続される入出力
装置、例えば、ＤＡＳＤ、磁気テープ装置、ＬＡＮ制御
装置、プリンタ等の性能評価を行う性能評価装置が知ら
れていた。

【０００３】この性能評価装置は、例えば、製品の工場
出荷前に行う設計検証、製造確認、或いはユーザ先での
メンテナンス時に行う各種検証等において、前記入出力
装置の性能評価を行うものである。以下、性能評価装置
による性能評価処理を説明する。

【０００４】一般に、コンピュータに接続される入出力
装置の評価を行うには、前記性能評価装置にロードされ
ているテストプログラムを使用して実施する。このテス
トプログラムは、命令セットの実行により実行結果を得
て、テストプログラムで用意している期待値データ、期
待状態とを比較することにより、正常に機能が働いてい
ることを検証して評価を行う（結果主義の評価）。

【０００５】この場合、前記命令セットの実行から、評
価対象となる入出力装置の動作が終了し、結果情報を応
答するまでには一定の時間を要する。従って、テストプ
ログラムでは、例えば、割込みタイムアウトによる時間
監視を行い、テストプログラムで定義してある一定時間
内に応答が無い場合はエラーとしていた。

【０００６】また、診断命令の実行により、強制的に入
出力装置へ疑似障害を設定して、前記入出力装置の動作
を検証することも行われていた。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】上記のような従来のも
のにおいては、次のような課題があった。：前記時間監視による評価処理では、監視時間の時間
幅は大きい値を設定する場合が多い（結果主義の評価で
あるため）。このため、装置の性能低下（例えば、素子
劣化）による応答の遅延が発生しても、エラーとして判
断しないという問題があった。

【０００８】：従来の性能評価処理での時間監視は、
割込みタイムアウトによるものである。従って、例え
ば、リトライ多発状態、素子劣化状態等のハードウェア
障害が発生していても、リトライの結果、割込みが発生
すれば、エラーとは判定しなかった。

【０００９】：前記疑似障害の設定による評価処理で
は、定義した一定時間内に応答が返れば良いとするた
め、性能に関する入出力装置の障害は検出することが出
来なかった。

【００１０】本発明は、このような従来の課題を解決
し、性能低下による応答の遅延、或いは、素子劣化等の
ハードウェア障害、リトライ多発状態等の性能に関する
装置障害も十分に検証できるようにすることを目的とす
る。

【００１１】

【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理説明
図であり、図１Ａは装置構成図、図１Ｂは実行時間許容
範囲を示した図である。図１中、１は性能評価装置、８
は入出力装置（被テスト装置）、１０はテスト実行部、
１１は評価部、１２は標準実行時間記憶部、１３は実行
時間記憶部、１４は入力部、１５は出力部を示す。

【００１２】本発明は前記の課題を解決するため、次の
ように構成した。：コンピュータの入出力装置８を被テスト装置として
テストを行い、その性能を評価する性能評価装置におい
て、前記被テスト装置に対し、テストプログラムによ
り、テスト対象となるオペレーション（入出力動作）を
実行させ、その「実行時間」を測定するテスト実行部１
０と、テスト実行部１０により、予め測定したテストプ
ログラムの「実行時間」を「標準実行時間」として記憶
し、保存しておく標準実行時間記憶部１２と、テスト実
行部１０が測定したデータを基に、測定結果の評価を行
う評価部１１を設け、テスト実行部１０が、評価対象の
被テスト装置に対し、テストプログラムにより、テスト
対象となるオペレーションを実行させて、その「実行時
間」を測定した際、評価部１１では、前記測定した「実
行時間」を、保存されている前記「標準実行時間」と比
較して評価を行う性能評価装置。

【００１３】：構成において、評価部１１では、前
記「実行時間」に対し、予め入力されたパラメータか
ら、許容の安全値内に納まっている場合（ＧＯＯＤ）、
許容範囲ではあるが、安全値を越えている場合（ＷＡＲ
ＮＩＮＧ）、及び許容範囲を越えている場合（ＥＲＲＯ
Ｒ）の３段階の「実行時間許容範囲」を設定し、実行時
間の評価を行う際、前記３段階の「実行時間許容範囲」
に従って評価を行い、それぞれの評価結果を出力する評
価装置。

【００１４】：構成において、前記３段階の「実行
時間許容範囲」は、それぞれ、プラス側の％の値と、マ
イナス側の％の値で指示されたパラメータにより設定す
る評価装置。

【００１５】

【作用】前記構成に基づく本発明の作用を、図１に基づ
いて説明する。 (1) ：本発明では、性能評価装置１によりコンピュータ
に接続される入出力装置８（被テスト装置）の性能評価
テストを行う。この場合、予め、テスト実行部１０によ
り、テストプログラムの「実行時間」を測定し、測定結
果のデータを「標準実行時間」として、標準実行時間記
憶部１２（磁気テープ等）に記憶し、保存しておく。

【００１６】(2) ：評価部１１による「実行時間許容範
囲」の設定は、予め入力部１４からオペレータ等により
入力されたパラメータを用い、プラス側に何％、マイナ
ス側に何％と設定する。

【００１７】そして、許容の安全値内に納まっている場
合（ＧＯＯＤ）、許容範囲ではあるが、安全値を越えて
いる場合（ＷＡＲＮＩＮＧ）、及び許容範囲を越えてい
る場合（ＥＲＲＯＲ）の３段階の「実行時間許容範囲」
を設定し、実行時間の評価を行う。

【００１８】(3) ：評価対象の入出力装置８に対して性
能評価を行う場合は、テスト実行部１０がテストプログ
ラムにより、被テスト装置である入出力装置８に対し
て、テスト対象のオペレーション（入出力動作）を実行
させる。

【００１９】この時、テスト実行部１０では、テストプ
ログラムの「実行時間」を測定し、実行時間記憶部１３
に格納する。その後、評価部１１は、実行時間記憶部１
３に格納されている「実行時間」を取り出し、標準実行
時間記憶部１２に保持していた「標準実行時間」と比較
することにより、前記「実行時間許容範囲」の設定に従
って、性能低下が発生したか否かを評価する。

【００２０】そして、評価部１１では、前記「ＧＯＯ
Ｄ」、「ＷＡＲＮＩＮＧ」、及び「ＥＲＲＯＲ」の３段
階に分類することで評価を行い、その評価結果を出力部
１５に送り出力（例えば、表示）する。

【００２１】以上のようにして、「実行時間」に基づく
評価を行うことにより、性能低下による応答の遅延、或
いは、素子劣化等のハードウェア障害、リトライ多発状
態等の性能に関する装置障害も十分に検証することが可
能となる。

【００２２】

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図２〜図７は、本発明の実施例を示した図であ
り、図２〜図７中、図１と同じものは、同一符号で示し
てある。

【００２３】また、２はＣＰＵ（中央処理装置）、３は
チャネル（ＣＨ）、４はオペレータコンソール装置、５
は磁気テープ装置（ＭＴ装置）、６はメモリ、７はタイ
マ、８は入出力装置を示す。

【００２４】§１：性能評価装置の構成の説明・・・図
２参照図２は実施例の装置構成図である。以下、図２に基づい
て、性能評価装置の構成を説明する。

【００２５】図示のように、性能評価装置１は、ＣＰＵ
２、チャネル（ＣＨ）３、オペレータコンソール装置
４、磁気テープ装置５等で構成されており、ＣＰＵ２に
は、メモリ６、タイマ７が設けてある。前記各部の機能
等は次の通りである。

【００２６】：メモリ６は、テストプログラムをロー
ドしたり、或いは、時間テーブル１、時間テーブル２を
設定したりするためのメモリであり、ＣＰＵ２がアクセ
スする。

【００２７】：また、タイマ７は、テスト時に時間の
測定を行うためのもの（時刻機構）である。：オペレータコンソール装置４は、表示装置やキーボ
ード等を具備しており、オペレータとの会話によりデー
タを入力したり、或いは出力データを表示したりするも
のである。

【００２８】：磁気テープ装置５は、磁気テープ（媒
体）を駆動する装置であり、この磁気テープには、テス
トプログラム、標準実行時間のデータ等を格納する。被
テスト装置の性能評価を行う場合には、前記性能評価装
置１に、被テスト装置である入出力装置８を接続する。
そして、メモリ６にロードしたテストプログラムを実行
することにより、入出力装置の性能評価テストを実施す
る。

【００２９】前記入出力装置としては、ＤＡＳＤ、磁気
テープ装置、プリンタ、ＬＡＮ制御装置等である。 §２：性能評価テストの概要と、実行時間許容範囲の説
明・・・図３参照図３は実行時間許容範囲の説明図である。以下、図３に
基づいて、性能評価テストの概要と、実行時間許容範囲
について説明する。

【００３０】(1) ：前記性能評価装置１によりコンピュ
ータに接続される入出力装置８の性能評価テストを行う
が、その際先ず、入出力装置８（標準の装置とする）を
使用し、テストプログラムの「実行時間」を測定する。
そして、測定結果のデータを、例えば、磁気テープに保
持することによって「標準実行時間」を設定する。

【００３１】その後、評価対象の入出力装置８（被テス
ト装置）に対してテストを実施し、その際測定した「実
行時間」を、前記「標準実行時間」と比較することによ
り、性能評価を行う。

【００３２】(2) ：この場合、以下に説明する「実行時
間許容範囲」を設定して評価を行う。この「実行時間許
容範囲」の設定は、プラス側に何％（＋ａ％）、マイナ
ス側に何％（−ｂ％）と設定する。

【００３３】そして、以下の３つの判定基準に従い、
「ＧＯＯＤ」条件の許容範囲、「ＷＡＲＮＩＮＧ」条件
の許容範囲を設定する。この設定は、オペレータコンソ
ール装置４で、プログラムとオペレータの会話により、
必要なパラメータを入力して行う。

【００３４】前記判定基準は次の通りである。すなわ
ち、：許容範囲の安全値内に収まっている場合、「Ｇ
ＯＯＤ」条件の許容範囲とする。：許容範囲ではある
が、安全値を超えている場合、「ＷＡＲＮＩＮＧ」条件
の許容範囲とする。：許容範囲を超えている場合、
「ＥＲＲＯＲ」とする。

【００３５】(3) ：前記のように、被テスト装置の性能
評価時には、評価の対象となる入出力装置８に対して、
テストプログラムの「実行時間」を測定する。そして、
保持していた「標準実行時間」と比較し、前記「実行時
間許容範囲」の設定に従い、性能低下が発生したか否か
を判定する。

【００３６】「実行時間許容範囲」は、前記のように、
プラス側、マイナス側と設定を行い、この範囲に実行時
間があるか否かを判定する。判定は、前記「ＧＯＯ
Ｄ」、「ＷＡＲＮＩＮＧ」、「ＥＲＲＯＲ」の結果情報
で示す。

【００３７】この場合、複数の測定ポイントを設定する
ことにより、一連の入出力動作の実行時間測定と性能の
判定を行う。評価の対象とする装置は、「正常動作系」
と「異常動作系」とに分けてテストプログラムを実行す
る。

【００３８】正常系の場合は、装置に何ら手を加えるこ
となく、当該装置の動作を検証する。また、異常系の場
合は、診断命令の実行により、強制的に装置へ疑似障害
を設定して、当該装置の動作を検証する。

【００３９】(4) ：例えば、前記「実行時間」の測定値
が５００ミリ秒だった時に、必要なパラメータを次のよ
うに設定した場合の「実行時間許容範囲」は図３に示し
た通りである。

【００４０】この例では、「ＧＯＯＤ」条件の許容範囲
はプラス２％、マイナス１％までの範囲であり、「ＷＡ
ＲＮＩＮＧ」条件の許容範囲は「ＧＯＯＤ」条件を越え
て、プラス５％、マイナス２％までである。そして、前
記範囲以外は「ＥＲＲＯＲ」とする。

【００４１】§３：メモリ及び磁気テープの説明・・・
図４参照図４はメモリ及び磁気テープの説明図であり、図４Ａは
時間テーブルとポインタの関係、図４Ｂは磁気テープの
格納形式を示す。

【００４２】：時間テーブルとポインタの関係説明・
・・図４Ａ参照前記メモリ６に設定した「時間テーブル１」には、前記
「標準実行時間」を格納し、「時間テーブル２」には、
前記評価対象の入出力装置に対してテストプログラムを
実行した時の「実行時間」を格納する。

【００４３】この場合、複数のテスト項目についてテス
トを実施し、各テスト項目毎にデータを格納する。例え
ば、図示のように「テスト項目１の実行時間」、「テス
ト項目２の実行時間」、「テスト項目３の実行時間」・
・・「テスト項目ｎの実行時間」のように、テストした
順番にデータを格納する。

【００４４】各時間テーブルからデータを読み出す時
は、ポインタＰ１、Ｐ２を先頭に指定することで初期値
にし、その後、ポインタＰ１、Ｐ２を歩進させること
で、順次データを読み出す。

【００４５】なお、前記ポインタＰ１は時間テーブル１
のポインタ（アドレスポインタ）であり、ポインタＰ２
は時間テーブル２のポインタ（アドレスポインタ）であ
る。これらのポインタは、ＣＰＵ２の制御により連動し
て歩進させることで、前記のように順次データを読み出
す。

【００４６】：磁気テープの格納形式説明・・・図４
Ｂ参照前記磁気テープ装置５の磁気テープ（媒体）には、先頭
に「ＩＰＬプログラム」が格納され、続いて「テストプ
ログラム」が格納される。そして、最後には、「標準実
行時間」が格納される。

【００４７】§４：標準実行時間の測定と保存処理の説
明・・・図５参照図５は標準実行時間の測定、保存処理フローチャートで
ある。以下、図５に基づいて、標準実行時間の測定、保
存処理を説明する。なお、Ｓ１〜Ｓ１２は処理ステップ
を示す。

【００４８】Ｓ１：先ず、ＣＰＵ２の制御（ＩＰＬプロ
グラム実行）により、磁気テープ装置５内の磁気テープ
（媒体）に格納されている「テストプログラム」を読み
出し、メモリ６の所定領域にローディングする。

【００４９】Ｓ２：次に、オペレータコンソール装置４
を介して、オペレータとの会話により、テスト実行に必
要なパラメータを入力する。Ｓ３：Ｓ２の処理終了後、テスト対象となるオペレーシ
ョン（入出力動作）の実行に先立ち、ＣＰＵ２は、タイ
マ７をリセットする。なお、タイマ７はリセット後、タ
イマ値０からタイムアップを開始する。

【００５０】Ｓ４：Ｓ３の処理終了後、ＣＰＵ２は、入
出力装置８（標準の装置とする）を対象装置として、テ
ストプログラムにより、テスト対象のオペレーション
（入出力動作）を実行する。

【００５１】この場合、入出力装置８では、前記オペレ
ーションが終了すると、ＣＰＵ２に対して終了割込みに
より処理終了ステータスを報告する。Ｓ５：Ｓ４の処理でオペレーション実行開始後、ＣＰＵ
２は、タイマ７による時間経過の監視を行うと共に、前
記入出力装置８からの終了割込みが有ったか否かを判定
する。

【００５２】Ｓ１０：前記Ｓ５の処理で終了割込みが発
生しないと判定した場合、ＣＰＵ２は、タイマ７による
時間監視で、タイムアウトか否かを判定する。その結
果、タイムアウトでなければ、前記Ｓ５の処理を行う。

【００５３】Ｓ１１：前記Ｓ１０の処理で、終了割込み
が発生せず、所定時間が経過してタイムアウトになった
と判定した場合、ＣＰＵ２は処理を打ち切る。Ｓ６：前記Ｓ５の処理で、入出力装置８からの終了割込
みが発生し、終了ステータスを受信したと判定した場
合、ＣＰＵ２は、タイマ７のタイマ値を読み「実行時
間」を測定する。

【００５４】Ｓ７：ＣＰＵ２は、Ｓ６の処理で測定した
「実行時間」を、「標準実行時間」としてメモリ６の時
間テーブル１に書き込む。Ｓ８：Ｓ７の処理終了後、ＣＰＵ２は、全てのテスト項
目の実行を終了したか否かを判定する。

【００５５】Ｓ１２：Ｓ８の処理で、全てのテスト項目
が終了していないと判定した場合、ＣＰＵ２はテスト項
目を更新し、前記Ｓ３の処理から繰り返して行う。Ｓ９：Ｓ８の処理で、全てのテスト項目についてテスト
が終了したと判定した場合、ＣＰＵ２は、前記メモリ６
に格納してある「標準実行時間」を磁気テープ装置５の
磁気テープに格納して保存して処理を終了する。

【００５６】§５：実行時間の評価処理説明・・・図
６、図７参照図６は実行時間の評価処理フローチャート１、図７は実
行時間の評価処理フローチャート２である。以下、図
６、図７に基づいて、評価対象装置に対する実行時間の
評価処理を説明する。なお、Ｓ３１〜Ｓ５３は処理ステ
ップを示す。

【００５７】Ｓ３１：先ず、ＣＰＵ２の制御により、磁
気テープ装置５内の磁気テープ（媒体）に格納されてい
る「テストプログラム」を読み出し、メモリ６の所定領
域にローディングする。

【００５８】Ｓ３２：次にＣＰＵ２は、磁気テープに格
納されている「標準実行時間」を読み出し、「時間テー
ブル１」に書き込む。Ｓ３３：Ｓ３２の処理終了後、オペレータコンソール装
置４を介して、オペレータとの会話により、テストの実
行に必要なパラメータと、「実行時間許容範囲」を設定
するためのパラメータを入力する。

【００５９】Ｓ３４：次に、テストの対象となるオペレ
ーション（入出力動作）の実行に先立ち、ＣＰＵ２は、
タイマ７をリセットする。なお、タイマ７はリセット
後、タイマ値０からタイムアップを開始する。

【００６０】Ｓ３５：Ｓ３４の処理終了後、ＣＰＵ２
は、評価対象装置である入出力装置８を対象とし、テス
トプログラムによりテスト対象のオペレーション（入出
力動作）を実行（テストの実行）する。

【００６１】この場合、入出力装置８では、前記オペレ
ーションが終了すると、ＣＰＵ２に対して、終了割込み
により処理終了ステータスを報告する。Ｓ３６：Ｓ３５でのテスト実行開始後、ＣＰＵ２は、タ
イマ７による時間経過の監視を行うと共に、前記入出力
装置８からの終了割込みが有ったか否かを判定する。

【００６２】Ｓ４０：Ｓ３６の処理で、終了割込みが発
生しないと判定した場合、ＣＰＵ２はタイマ７による時
間監視でタイムアウトか否かを判定する。その結果、タ
イムアウトでなければ前記Ｓ３６の処理を行う。

【００６３】Ｓ４１：前記Ｓ４０の処理で、タイムアウ
トになったと判定した場合、ＣＰＵ２はタイムアウトの
発生をメモリ６の「時間テーブル２」に書き込む。Ｓ３７：前記Ｓ３６の処理で終了割込みが発生し、ＣＰ
Ｕ２が入出力装置８からの終了ステータスを受信したと
判定した場合、ＣＰＵ２はタイマ７のタイマ値を読み実
行時間を測定する。

【００６４】Ｓ３８：ＣＰＵ２は、前記Ｓ３７の処理で
測定した「実行時間」を「時間テーブル２」に書き込
む。Ｓ３９：前記Ｓ３８、及びＳ４１の処理終了後、ＣＰＵ
２は、全てのテスト項目が終了したか否かを判定する。

【００６５】Ｓ４２：Ｓ３９の処理で、もし、全てのテ
スト項目が終了していないと判定した場合には、ＣＰＵ
２はテスト項目を更新し、前記Ｓ３４の処理から繰り返
して行う。

【００６６】Ｓ４３：前記Ｓ３９の処理で、全てのテス
ト項目が終了していると判定した場合、ＣＰＵ２は「時
間テーブル１」、及び「時間テーブル２」のポインタＰ
１、Ｐ２を先頭に戻し、初期値を設定する。

【００６７】Ｓ４４：ＣＰＵ２は、メモリ６の「時間テ
ーブル１」から「標準実行時間」を読み出す。Ｓ４５：ＣＰＵ２は、メモリ６の「時間テーブル２」か
ら「実行時間」を読み出す。

【００６８】Ｓ４６：ＣＰＵ２は、入力したパラメータ
から「実行時間許容範囲」を算出し、「ＧＯＯＤ」、
「ＷＡＲＮＩＮＧ」、「ＥＲＲＯＲ」の範囲を設定す
る。そして、ＣＰＵ２は、前記「時間テーブル１」の
「標準実行時間」と「時間テーブル２」の「実行時間」
を比較し、「ＧＯＯＤ」、「ＷＡＲＮＩＮＧ」、「ＥＲ
ＲＯＲ」に分類する。

【００６９】Ｓ４７：Ｓ４６の処理の結果、先ず、ＣＰ
Ｕ２は「ＧＯＯＤ」条件か否かを判定する。Ｓ４８：前記Ｓ４７の処理で「ＧＯＯＤ」条件と判定し
た場合、ＣＰＵ２は、その情報をオペレータコンソール
装置４へ送り、表示画面で「ＧＯＯＤ」を表示する。

【００７０】Ｓ５０：Ｓ４７の処理で「ＧＯＯＤ」条件
でないと判定した場合、ＣＰＵ２は「ＷＡＲＮＩＮＧ」
条件か否かを判定する。Ｓ５１：Ｓ５０の処理で「ＷＡＲＮＩＮＧ」条件と判定
した場合、ＣＰＵ２は、その情報をオペレータコンソー
ル装置４へ送り、表示画面で「ＷＡＲＮＩＮＧ」を表示
する。

【００７１】Ｓ５２：Ｓ５０の処理で「ＷＡＲＮＩＮ
Ｇ」条件でないと判定した場合は、「ＥＲＲＯＲ」であ
ると判定し、ＣＰＵ２は、その情報をオペレータコンソ
ール装置４へ送り、表示画面で「ＥＲＲＯＲ」を表示す
る。

【００７２】Ｓ４９：前記の表示が終了したら、ＣＰＵ
２は全ての時間テーブルの比較を終了したか否かを判定
する。その結果、全ての時間テーブルの比較を終了した
らテストを終了する。

【００７３】Ｓ５３：しかし、Ｓ４９の処理で、全ての
時間テーブルの比較が終了していないと判定した場合、
ＣＰＵ２は前記ポインタＰ１、Ｐ２を更新し、前記Ｓ４
４の処理から繰り返して行う。

【００７４】（他の実施例）以上実施例について説明し
たが、本発明は次のようにしても実施可能である。：前記評価結果のデータは、表示するだけでなく、プ
リンタにより印刷して出力しても良い。

【００７５】：「ＧＯＯＤ」、「ＷＡＲＮＩＮＧ」、
「ＥＲＲＯＲ」の表示は、他の同様な表示情報で置き換
えても実施可能である。：前記磁気テープに格納したプログラム、或いは実行
時間等のデータは、磁気ディスク等の他の媒体に格納す
ることも可能である。

【００７６】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば次
のような効果がある。：本発明の性能評価処理では、測定したテストプログ
ラムの実行時間を基に、性能評価をしている。従って、
製品の工場出荷テストでは、標準ハードウェアとの差を
比較検証することにより、製品、素子のバラツキ等を高
精度でチェックアウトすることが可能となる。

【００７７】：また、フィールド保守では、論理的に
正しい性能が低下しているハードウェアや、リトライ多
発で、かろうじて動作しているシステムを検証し、これ
らの状態を確実にたたき出し、評価することが可能であ
る。

【００７８】：評価時の比較値である標準実行時間
は、実際に被テスト装置に対し、テスト対象のオペレー
ションを実行させた結果測定した値なので、極めて高精
度の性能評価が可能である。

【００７９】：「ＧＯＯＤ」、「ＷＡＲＮＩＮＧ」、
「ＥＲＲＯＲ」の３段階に分けて評価を行うため、例え
ば、故障直前の状態や、素子の性能低下状態等、各種状
態を正確に検証することが可能である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理説明図である。

【図２】実施例の装置構成図である。

【図３】実施例の実行時間許容範囲の説明図である。

【図４】実施例のメモリ及び磁気テープの説明図であ
る。

【図５】実施例の標準実行時間の測定、保存処理フロー
チャートである。

【図６】実施例の実行時間の評価処理フローチャート１
である。

【図７】実施例の実行時間の評価処理フローチャート２
である。

【符号の説明】

１性能評価装置８入出力装置（被テスト装置）１０テスト実行部１１評価部１２標準実行時間記憶部１３実行時間記憶部１４入力部１５出力部

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】コンピュータの入出力装置（８）を被テ
スト装置としてテストを行い、その性能を評価する性能
評価装置において、被テスト装置に対し、テストプログラムにより、テスト
対象となるオペレーション（入出力動作）を実行させ、
その「実行時間」を測定するテスト実行部（１０）と、テスト実行部（１０）により、予め測定したテストプロ
グラムの「実行時間」を、「標準実行時間」として記憶
し保存しておく標準実行時間記憶部（１２）と、テスト実行部（１０）が測定したデータを基に、測定結
果の評価を行う評価部（１１）を設け、テスト実行部（１０）が、評価対象の被テスト装置に対
し、テストプログラムにより、テスト対象となるオペレ
ーションを実行させて、その「実行時間」を測定した
際、評価部（１１）では、前記測定した「実行時間」を、保
存されている前記「標準実行時間」と比較して評価を行
うことを特徴とした性能評価装置。
【請求項２】請求項１記載の性能評価装置において、評価部（１１）では、前記「実行時間」に対し、予め入
力されたパラメータから、許容の安全値内に納まってい
る場合（ＧＯＯＤ）、許容範囲ではあるが、安全値を越
えている場合（ＷＡＲＮＩＮＧ）、及び許容範囲を越え
ている場合（ＥＲＲＯＲ）の３段階の「実行時間許容範
囲」を設定し、実行時間の評価を行う際、前記３段階の「実行時間許容
範囲」に従って評価を行い、それぞれの評価結果を出力
することを特徴とした性能評価装置。
【請求項３】請求項２記載の性能評価装置において、前記３段階の「実行時間許容範囲」は、それぞれ、プラ
ス側の％の値と、マイナス側の％の値で指示されたパラ
メータにより設定することを特徴とした性能評価装置。