JPH07141899A - 不揮発性記憶装置 - Google Patents
不揮発性記憶装置Info
- Publication number
- JPH07141899A JPH07141899A JP28477693A JP28477693A JPH07141899A JP H07141899 A JPH07141899 A JP H07141899A JP 28477693 A JP28477693 A JP 28477693A JP 28477693 A JP28477693 A JP 28477693A JP H07141899 A JPH07141899 A JP H07141899A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- checksum
- storing
- volatile memory
- data
- memory
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、書き込みが頻繁に行なわれる不揮発
性メモリの信頼性を保ちつつ、不揮発性メモリの破壊を
防止して寿命を延ばすことができ、また外観から寿命の
時期の目安をつけられることを最も主要な目的としてい
る。 【構成】データを収納するためのデータ収納用不揮発性
メモリと、データ収納用不揮発性メモリのチェックサム
を収納するためのチェックサム収納用不揮発性メモリ
と、各々の不揮発性メモリ内のデータの読み込み／書き
込みを制御する機能、およびデータ収納用不揮発性メモ
リからチェックサムを算出する機能を有する中央処理手
段と、チェックサムのエラー、書き込み回数、メモリの
寿命を表示する表示手段とを備え、中央処理手段により
算出されたチェックサムの下所定桁をチェックサム収納
用不揮発性メモリのチェックサム収納番地として、当該
チェックサム収納番地に書き込みマークまたは書き込み
回数を収納することを特徴としている。
性メモリの信頼性を保ちつつ、不揮発性メモリの破壊を
防止して寿命を延ばすことができ、また外観から寿命の
時期の目安をつけられることを最も主要な目的としてい
る。 【構成】データを収納するためのデータ収納用不揮発性
メモリと、データ収納用不揮発性メモリのチェックサム
を収納するためのチェックサム収納用不揮発性メモリ
と、各々の不揮発性メモリ内のデータの読み込み／書き
込みを制御する機能、およびデータ収納用不揮発性メモ
リからチェックサムを算出する機能を有する中央処理手
段と、チェックサムのエラー、書き込み回数、メモリの
寿命を表示する表示手段とを備え、中央処理手段により
算出されたチェックサムの下所定桁をチェックサム収納
用不揮発性メモリのチェックサム収納番地として、当該
チェックサム収納番地に書き込みマークまたは書き込み
回数を収納することを特徴としている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電源を落とした後もデ
ータを保持することが可能な不揮発性メモリを利用した
記憶装置に係り、特に不揮発性メモリの信頼性を保ちつ
つ、不揮発性メモリの破壊を防止して寿命を延ばすこと
ができ、また外観から寿命の時期の目安をつけられるよ
うにした不揮発性記憶装置に関するものである。
ータを保持することが可能な不揮発性メモリを利用した
記憶装置に係り、特に不揮発性メモリの信頼性を保ちつ
つ、不揮発性メモリの破壊を防止して寿命を延ばすこと
ができ、また外観から寿命の時期の目安をつけられるよ
うにした不揮発性記憶装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来から、例えばコンピュータシステム
に用いられる記憶装置の一つとして、電源を落とした後
もデータを保持することが可能な不揮発性メモリを利用
した不揮発性記憶装置がある。
に用いられる記憶装置の一つとして、電源を落とした後
もデータを保持することが可能な不揮発性メモリを利用
した不揮発性記憶装置がある。
【０００３】この種の不揮発性記憶装置においては、不
揮発性メモリを使用する際に、その信頼性を上げる目的
で、パリティチェックが行なわれている。そして、この
パリティチェックの一つとして、例えば図５に示すよう
に、データを合計した値を任意のアドレスに収納してチ
ェックする、チェックサムという方法がある。
揮発性メモリを使用する際に、その信頼性を上げる目的
で、パリティチェックが行なわれている。そして、この
パリティチェックの一つとして、例えば図５に示すよう
に、データを合計した値を任意のアドレスに収納してチ
ェックする、チェックサムという方法がある。
【０００４】しかしながら、従来のチェックサムの方法
では、図５に示すように、チェックサムを収納するアド
レスは１カ所であるため、不揮発性メモリの書き換えを
行なう度に、チェックサムを収納するアドレスの内容も
書き換わる。
では、図５に示すように、チェックサムを収納するアド
レスは１カ所であるため、不揮発性メモリの書き換えを
行なう度に、チェックサムを収納するアドレスの内容も
書き換わる。
【０００５】すなわち、より具体的に述べると、例えば
図６に示すように、縦、横共に８つのうちの１つでも変
化があると、それに対応した縦、横一対のチェックサム
も変化する。なお、図６中、縦の合計の下８ビット、横
の合計の下８ビットが、それぞれチェックサムである。
図６に示すように、縦、横共に８つのうちの１つでも変
化があると、それに対応した縦、横一対のチェックサム
も変化する。なお、図６中、縦の合計の下８ビット、横
の合計の下８ビットが、それぞれチェックサムである。
【０００６】この場合、不揮発性メモリには、その書き
換え回数に限りがあるため、不揮発性メモリの書き換え
が頻繁に行なわれると、このチェックサム収納用のアド
レスが最も早く寿命に達し、不揮発性メモリを破壊して
しまう。また、外観からは、不揮発性記憶装置の寿命の
時期の目安をつけることが不可能である。
換え回数に限りがあるため、不揮発性メモリの書き換え
が頻繁に行なわれると、このチェックサム収納用のアド
レスが最も早く寿命に達し、不揮発性メモリを破壊して
しまう。また、外観からは、不揮発性記憶装置の寿命の
時期の目安をつけることが不可能である。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】以上のように、従来の
不揮発性記憶装置においては、書き込みが頻繁に行なわ
れると、不揮発性メモリを破壊してしまうばかりでな
く、外観から不揮発性メモリの寿命の時期の目安をつけ
ることが不可能であるという問題があった。
不揮発性記憶装置においては、書き込みが頻繁に行なわ
れると、不揮発性メモリを破壊してしまうばかりでな
く、外観から不揮発性メモリの寿命の時期の目安をつけ
ることが不可能であるという問題があった。
【０００８】本発明の目的は、書き込みが頻繁に行なわ
れる不揮発性メモリの信頼性を保ちつつ、不揮発性メモ
リの破壊を防止して寿命を延ばすことができ、また外観
から寿命の時期の目安をつけることが可能な不揮発性記
憶装置を提供することにある。
れる不揮発性メモリの信頼性を保ちつつ、不揮発性メモ
リの破壊を防止して寿命を延ばすことができ、また外観
から寿命の時期の目安をつけることが可能な不揮発性記
憶装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、まず、請求項１に係る発明では、不揮発性メモリ
を利用した記憶装置において、データを収納するための
データ収納用不揮発性メモリと、データ収納用不揮発性
メモリのチェックサムを収納するためのチェックサム収
納用不揮発性メモリと、各々の不揮発性メモリ内のデー
タの読み込み／書き込みを制御する機能、およびデータ
収納用不揮発性メモリからチェックサムを算出する機能
を有する中央処理手段とを備え、中央処理手段により算
出されたチェックサムの下所定桁をチェックサム収納用
不揮発性メモリのチェックサム収納番地として、当該チ
ェックサム収納番地に書き込みマークまたは書き込み回
数を収納するようにしている。
めに、まず、請求項１に係る発明では、不揮発性メモリ
を利用した記憶装置において、データを収納するための
データ収納用不揮発性メモリと、データ収納用不揮発性
メモリのチェックサムを収納するためのチェックサム収
納用不揮発性メモリと、各々の不揮発性メモリ内のデー
タの読み込み／書き込みを制御する機能、およびデータ
収納用不揮発性メモリからチェックサムを算出する機能
を有する中央処理手段とを備え、中央処理手段により算
出されたチェックサムの下所定桁をチェックサム収納用
不揮発性メモリのチェックサム収納番地として、当該チ
ェックサム収納番地に書き込みマークまたは書き込み回
数を収納するようにしている。
【００１０】また、請求項２に係る発明では、不揮発性
メモリを利用した記憶装置において、データを収納する
ためのデータ収納用不揮発性メモリと、データ収納用不
揮発性メモリのチェックサムを収納するためのチェック
サム収納用不揮発性メモリと、各々の不揮発性メモリ内
のデータの読み込み／書き込みを制御する機能、および
データ収納用不揮発性メモリからチェックサムを算出す
る機能を有する中央処理手段と、チェックサムのエラ
ー、書き込み回数、メモリの寿命を表示する表示手段と
を備え、中央処理手段により算出されたチェックサムの
下所定桁をチェックサム収納用不揮発性メモリのチェッ
クサム収納番地として、当該チェックサム収納番地に書
き込みマークまたは書き込み回数を収納するようにして
いる。
メモリを利用した記憶装置において、データを収納する
ためのデータ収納用不揮発性メモリと、データ収納用不
揮発性メモリのチェックサムを収納するためのチェック
サム収納用不揮発性メモリと、各々の不揮発性メモリ内
のデータの読み込み／書き込みを制御する機能、および
データ収納用不揮発性メモリからチェックサムを算出す
る機能を有する中央処理手段と、チェックサムのエラ
ー、書き込み回数、メモリの寿命を表示する表示手段と
を備え、中央処理手段により算出されたチェックサムの
下所定桁をチェックサム収納用不揮発性メモリのチェッ
クサム収納番地として、当該チェックサム収納番地に書
き込みマークまたは書き込み回数を収納するようにして
いる。
【００１１】
【作用】従って、本発明の不揮発性記憶装置において
は、２個の不揮発性メモリを、データ収納用とチェック
サム収納用としてそれぞれ用い、データ収納用不揮発性
メモリから算出したチェックサムの下所定桁（例えば、
下２桁）をチェックサム収納用不揮発性メモリのチェッ
クサム収納番地として、そのチェックサム収納番地に書
き込みマークまたは書き込み回数を収納することによ
り、不揮発性メモリの信頼性を保つことができ、不揮発
性メモリの破壊を防止してその寿命を延ばすことができ
る。
は、２個の不揮発性メモリを、データ収納用とチェック
サム収納用としてそれぞれ用い、データ収納用不揮発性
メモリから算出したチェックサムの下所定桁（例えば、
下２桁）をチェックサム収納用不揮発性メモリのチェッ
クサム収納番地として、そのチェックサム収納番地に書
き込みマークまたは書き込み回数を収納することによ
り、不揮発性メモリの信頼性を保つことができ、不揮発
性メモリの破壊を防止してその寿命を延ばすことができ
る。
【００１２】また、請求項２に係る発明の不揮発性記憶
装置においては、チェックサムのエラー、書き込み回
数、メモリの寿命を表示する表示手段を備えることによ
り、外観から、寿命の時期の目安をつけることができ
る。
装置においては、チェックサムのエラー、書き込み回
数、メモリの寿命を表示する表示手段を備えることによ
り、外観から、寿命の時期の目安をつけることができ
る。
【００１３】
【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を参照
して詳細に説明する。図１は、本発明による不揮発性記
憶装置の構成例を示すブロック図である。すなわち、本
実施例の不揮発性記憶装置は、図１に示すように、デー
タを収納するためのデータ収納用不揮発性メモリ１と、
データ収納用不揮発性メモリ１のチェックサムを収納す
るためのチェックサム収納用不揮発性メモリ２と、各々
の不揮発性メモリ１，２内のデータの読み込み／書き込
みを制御する機能、およびデータ収納用不揮発性メモリ
１からチェックサムを算出する機能を有する中央処理装
置（以下、ＣＰＵと称する）３と、チェックサムのエラ
ー、書き込み回数、メモリの寿命を表示する表示器４と
から構成し、ＣＰＵ３により算出されたチェックサムの
下所定桁（例えば、下２桁）をチェックサム収納用不揮
発性メモリ２のチェックサム収納番地として、当該チェ
ックサム収納番地に書き込みマークまたは書き込み回数
を収納するようにしている。
して詳細に説明する。図１は、本発明による不揮発性記
憶装置の構成例を示すブロック図である。すなわち、本
実施例の不揮発性記憶装置は、図１に示すように、デー
タを収納するためのデータ収納用不揮発性メモリ１と、
データ収納用不揮発性メモリ１のチェックサムを収納す
るためのチェックサム収納用不揮発性メモリ２と、各々
の不揮発性メモリ１，２内のデータの読み込み／書き込
みを制御する機能、およびデータ収納用不揮発性メモリ
１からチェックサムを算出する機能を有する中央処理装
置（以下、ＣＰＵと称する）３と、チェックサムのエラ
ー、書き込み回数、メモリの寿命を表示する表示器４と
から構成し、ＣＰＵ３により算出されたチェックサムの
下所定桁（例えば、下２桁）をチェックサム収納用不揮
発性メモリ２のチェックサム収納番地として、当該チェ
ックサム収納番地に書き込みマークまたは書き込み回数
を収納するようにしている。
【００１４】次に、以上のように構成した本実施例の不
揮発性記憶装置の作用について、図２および図３を用い
て説明する。まず、図２に示すフロー図を用いて、書き
込み処理（書き込みマーク）の場合について述べる。
揮発性記憶装置の作用について、図２および図３を用い
て説明する。まず、図２に示すフロー図を用いて、書き
込み処理（書き込みマーク）の場合について述べる。
【００１５】書き込みが行なわれると、データ収納用不
揮発性メモリ１にデータが収納される。ＣＰＵ３によ
り、データ収納用不揮発性メモリ１からチェックサムが
算出され、チェックサム収納用不揮発性メモリ２の前回
のチェックサム収納番地内の書き込みマーク（例えば、
“１”）がクリアされ、上記算出されたチェックサムの
下２桁から得たチェックサム収納番地に書き込みマーク
（“１”）を収納する。
揮発性メモリ１にデータが収納される。ＣＰＵ３によ
り、データ収納用不揮発性メモリ１からチェックサムが
算出され、チェックサム収納用不揮発性メモリ２の前回
のチェックサム収納番地内の書き込みマーク（例えば、
“１”）がクリアされ、上記算出されたチェックサムの
下２桁から得たチェックサム収納番地に書き込みマーク
（“１”）を収納する。
【００１６】次に、図３に示すフロー図を用いて、チェ
ック処理の場合について述べる。ＣＰＵ３により、デー
タ収納用不揮発性メモリ１からチェックサムが算出さ
れ、この算出されたチェックサムの下２桁からチェック
サム収納番地の収納データを読み出す。
ック処理の場合について述べる。ＣＰＵ３により、デー
タ収納用不揮発性メモリ１からチェックサムが算出さ
れ、この算出されたチェックサムの下２桁からチェック
サム収納番地の収納データを読み出す。
【００１７】そして、チェックサム収納番地に“１”が
収納されていれば、演算処理が行なわれる。また、チェ
ックサム収納番地に“１”が収納されていなければ、エ
ラー処理が行なわれ、チェックサムのエラーが表示器４
に表示される。
収納されていれば、演算処理が行なわれる。また、チェ
ックサム収納番地に“１”が収納されていなければ、エ
ラー処理が行なわれ、チェックサムのエラーが表示器４
に表示される。
【００１８】上述したように、本実施例の不揮発性記憶
装置は、データを収納するためのデータ収納用不揮発性
メモリ１と、データ収納用不揮発性メモリ１のチェック
サムを収納するためのチェックサム収納用不揮発性メモ
リ２と、各々の不揮発性メモリ１，２内のデータの読み
込み／書き込みを制御する機能、およびデータ収納用不
揮発性メモリ１からチェックサムを算出する機能を有す
るＣＰＵ３と、チェックサムのエラー、書き込み回数、
メモリの寿命を表示する表示器４とから構成し、ＣＰＵ
３により算出されたチェックサムの下２桁をチェックサ
ム収納用不揮発性メモリ２のチェックサム収納番地とし
て、当該チェックサム収納番地に書き込みマークを収納
するようにしたものである。
装置は、データを収納するためのデータ収納用不揮発性
メモリ１と、データ収納用不揮発性メモリ１のチェック
サムを収納するためのチェックサム収納用不揮発性メモ
リ２と、各々の不揮発性メモリ１，２内のデータの読み
込み／書き込みを制御する機能、およびデータ収納用不
揮発性メモリ１からチェックサムを算出する機能を有す
るＣＰＵ３と、チェックサムのエラー、書き込み回数、
メモリの寿命を表示する表示器４とから構成し、ＣＰＵ
３により算出されたチェックサムの下２桁をチェックサ
ム収納用不揮発性メモリ２のチェックサム収納番地とし
て、当該チェックサム収納番地に書き込みマークを収納
するようにしたものである。
【００１９】従って、書き込みが頻繁に行なわれる不揮
発性メモリ１，２の信頼性を保ちつつ、不揮発性メモリ
１，２の破壊を防止して寿命を延ばすことが可能とな
る。また、不揮発性メモリ１，２の書き込み回数を表示
器４に表示するようにしているため、外観から寿命の時
期の目安をつけることが可能となる。
発性メモリ１，２の信頼性を保ちつつ、不揮発性メモリ
１，２の破壊を防止して寿命を延ばすことが可能とな
る。また、不揮発性メモリ１，２の書き込み回数を表示
器４に表示するようにしているため、外観から寿命の時
期の目安をつけることが可能となる。
【００２０】尚、本発明は上記実施例に限定されるもの
ではなく、次のようにしても同様に実施できるものであ
る。 （ａ）上記実施例では、チェックサム収納番地に書き込
みマーク（“１”）を収納する場合について説明した
が、これに限らず、チェックサム収納番地に書き込み回
数を収納するようにしてもよい。
ではなく、次のようにしても同様に実施できるものであ
る。 （ａ）上記実施例では、チェックサム収納番地に書き込
みマーク（“１”）を収納する場合について説明した
が、これに限らず、チェックサム収納番地に書き込み回
数を収納するようにしてもよい。
【００２１】図４は、この場合における書き込み処理の
一例を示すフロー図である。すなわち、図４に示すよう
に、チェックサム収納番地に、書き込みマーク“１”の
代わりに、書き込み回数を収納し、書き込みが行なわれ
る度にインクリメントする。そして、チェックサム収納
番地内のデータを読むことにより、書き込み回数が分か
る。また、寿命を所定値としてあらかじめ入れておき、
書き込み回数と比べることにより、表示器４を通して寿
命の警報を行なう。
一例を示すフロー図である。すなわち、図４に示すよう
に、チェックサム収納番地に、書き込みマーク“１”の
代わりに、書き込み回数を収納し、書き込みが行なわれ
る度にインクリメントする。そして、チェックサム収納
番地内のデータを読むことにより、書き込み回数が分か
る。また、寿命を所定値としてあらかじめ入れておき、
書き込み回数と比べることにより、表示器４を通して寿
命の警報を行なう。
【００２２】（ｂ）上記実施例において、表示器４は本
発明に必要不可欠なものではなく、必要に応じて備えれ
ばよいものである。 （ｃ）上記実施例では、チェックサムの下２桁をチェッ
クサム収納用不揮発性メモリ２のチェックサム収納番地
とする場合について説明したが、これに限らず、チェッ
クサムの下所定桁をチェックサム収納用不揮発性メモリ
２のチェックサム収納番地とするようにしてもよい。
発明に必要不可欠なものではなく、必要に応じて備えれ
ばよいものである。 （ｃ）上記実施例では、チェックサムの下２桁をチェッ
クサム収納用不揮発性メモリ２のチェックサム収納番地
とする場合について説明したが、これに限らず、チェッ
クサムの下所定桁をチェックサム収納用不揮発性メモリ
２のチェックサム収納番地とするようにしてもよい。
【００２３】（ｄ）上記実施例において、書き込み回数
を、２バイトデータ、もしくは３バイトデータとし、チ
ェックサム収納用不揮発性メモリ２を大容量にすること
によって、所定値を大きくすることができる。
を、２バイトデータ、もしくは３バイトデータとし、チ
ェックサム収納用不揮発性メモリ２を大容量にすること
によって、所定値を大きくすることができる。
【００２４】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、デ
ータを収納するためのデータ収納用不揮発性メモリと、
データ収納用不揮発性メモリのチェックサムを収納する
ためのチェックサム収納用不揮発性メモリと、各々の不
揮発性メモリ内のデータの読み込み／書き込みを制御す
る機能、およびデータ収納用不揮発性メモリからチェッ
クサムを算出する機能を有する中央処理手段と、必要に
応じて、チェックサムのエラー、書き込み回数、メモリ
の寿命を表示する表示手段とを備え、中央処理手段によ
り算出されたチェックサムの下所定桁をチェックサム収
納用不揮発性メモリのチェックサム収納番地として、当
該チェックサム収納番地に書き込みマークまたは書き込
み回数を収納するようにしたので、書き込みが頻繁に行
なわれる不揮発性メモリの信頼性を保ちつつ、不揮発性
メモリの破壊を防止して寿命を延ばすことができ、また
外観から寿命の時期の目安をつけることが可能な不揮発
性記憶装置が提供できる。
ータを収納するためのデータ収納用不揮発性メモリと、
データ収納用不揮発性メモリのチェックサムを収納する
ためのチェックサム収納用不揮発性メモリと、各々の不
揮発性メモリ内のデータの読み込み／書き込みを制御す
る機能、およびデータ収納用不揮発性メモリからチェッ
クサムを算出する機能を有する中央処理手段と、必要に
応じて、チェックサムのエラー、書き込み回数、メモリ
の寿命を表示する表示手段とを備え、中央処理手段によ
り算出されたチェックサムの下所定桁をチェックサム収
納用不揮発性メモリのチェックサム収納番地として、当
該チェックサム収納番地に書き込みマークまたは書き込
み回数を収納するようにしたので、書き込みが頻繁に行
なわれる不揮発性メモリの信頼性を保ちつつ、不揮発性
メモリの破壊を防止して寿命を延ばすことができ、また
外観から寿命の時期の目安をつけることが可能な不揮発
性記憶装置が提供できる。
【図１】本発明による不揮発性記憶装置の一実施例を示
すブロック図。
すブロック図。
【図２】同実施例における書き込み処理の一例（書き込
みマーク）を説明するためのフロー図。
みマーク）を説明するためのフロー図。
【図３】同実施例におけるチェック処理の一例を説明す
るためのフロー図。
るためのフロー図。
【図４】同実施例における書き込み処理の他の例（書き
込み回数）を説明するためのフロー図。
込み回数）を説明するためのフロー図。
【図５】従来のチェックサム方法を説明するための概念
図。
図。
【図６】従来のチェックサム方法の問題点を説明するた
めの概念図。
めの概念図。
１…データ収納用不揮発性メモリ、２…チェックサム収
納用不揮発性メモリ、３…ＣＰＵ、４…表示器。
納用不揮発性メモリ、３…ＣＰＵ、４…表示器。
Claims (2)
- 【請求項１】 不揮発性メモリを利用した記憶装置にお
いて、 データを収納するためのデータ収納用不揮発性メモリ
と、 前記データ収納用不揮発性メモリのチェックサムを収納
するためのチェックサム収納用不揮発性メモリと、 前記各々の不揮発性メモリ内のデータの読み込み／書き
込みを制御する機能、および前記データ収納用不揮発性
メモリからチェックサムを算出する機能を有する中央処
理手段とを備え、 前記中央処理手段により算出されたチェックサムの下所
定桁を前記チェックサム収納用不揮発性メモリのチェッ
クサム収納番地として、当該チェックサム収納番地に書
き込みマークまたは書き込み回数を収納するようにした
ことを特徴とする不揮発性記憶装置。 - 【請求項２】 不揮発性メモリを利用した記憶装置にお
いて、 データを収納するためのデータ収納用不揮発性メモリ
と、 前記データ収納用不揮発性メモリのチェックサムを収納
するためのチェックサム収納用不揮発性メモリと、 前記各々の不揮発性メモリ内のデータの読み込み／書き
込みを制御する機能、および前記データ収納用不揮発性
メモリからチェックサムを算出する機能を有する中央処
理手段と、 チェックサムのエラー、書き込み回数、メモリの寿命を
表示する表示手段とを備え、 前記中央処理手段により算出されたチェックサムの下所
定桁を前記チェックサム収納用不揮発性メモリのチェッ
クサム収納番地として、当該チェックサム収納番地に書
き込みマークまたは書き込み回数を収納するようにした
ことを特徴とする不揮発性記憶装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28477693A JPH07141899A (ja) | 1993-11-15 | 1993-11-15 | 不揮発性記憶装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28477693A JPH07141899A (ja) | 1993-11-15 | 1993-11-15 | 不揮発性記憶装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07141899A true JPH07141899A (ja) | 1995-06-02 |
Family
ID=17682871
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP28477693A Pending JPH07141899A (ja) | 1993-11-15 | 1993-11-15 | 不揮発性記憶装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07141899A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7921340B2 (en) | 2006-01-20 | 2011-04-05 | Panasonic Corporation | Nonvolatile memory device, nonvolatile memory system, and defect management method for nonvolatile memory device |
-
1993
- 1993-11-15 JP JP28477693A patent/JPH07141899A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7921340B2 (en) | 2006-01-20 | 2011-04-05 | Panasonic Corporation | Nonvolatile memory device, nonvolatile memory system, and defect management method for nonvolatile memory device |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5963970A (en) | Method and apparatus for tracking erase cycles utilizing active and inactive wear bar blocks having first and second count fields | |
| US20040015771A1 (en) | Error correction for non-volatile memory | |
| JP2606862B2 (ja) | 単−エラー検出・訂正方式 | |
| JP2003196165A (ja) | 不揮発性メモリ及びそのデータ更新方法 | |
| JPS6282600A (ja) | 電気的消去・書込み可能なメモリ装置 | |
| JPH09167120A (ja) | 記憶装置の誤り訂正装置 | |
| JP2661131B2 (ja) | 情報記憶読出方法とその装置 | |
| JP2865807B2 (ja) | 半導体記憶システム | |
| JPH0784894A (ja) | 不揮発性メモリの書き込み方法 | |
| US20110119433A1 (en) | Method and apparatus for emulating byte wise programmable functionality into sector wise erasable memory | |
| JPH06180674A (ja) | データ記憶装置 | |
| JP2697332B2 (ja) | 動作設定情報信頼性向上装置 | |
| JPH05325593A (ja) | フラッシュ型ｅｅｐｒｏｍの管理装置 | |
| JP4146581B2 (ja) | フラッシュメモリ | |
| JPH01213899A (ja) | データ保存方式 | |
| JPH04271098A (ja) | メモリカードにおけるデータ記録方法およびメモリカードシステム | |
| JP3178913B2 (ja) | 半導体ファイル装置 | |
| JPS6057381A (ja) | 表示方式 | |
| JPS63271555A (ja) | 記憶制御方式 | |
| JPH05134928A (ja) | メモリ装置 | |
| JPH04115398U (ja) | フラツシユ・メモリ | |
| JP2001118391A (ja) | メモリ装置 | |
| JP3433953B2 (ja) | Ｅｅ−ｐｒｏｍ自己診断方法 | |
| JP2538907B2 (ja) | Ｉｃカ―ド | |
| JPS636600U (ja) |