JPH071446B2 - 適応制御装置 - Google Patents
適応制御装置Info
- Publication number
- JPH071446B2 JPH071446B2 JP25318985A JP25318985A JPH071446B2 JP H071446 B2 JPH071446 B2 JP H071446B2 JP 25318985 A JP25318985 A JP 25318985A JP 25318985 A JP25318985 A JP 25318985A JP H071446 B2 JPH071446 B2 JP H071446B2
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- JP
- Japan
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- controller
- control
- time
- state
- gain
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Description
【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、プロセスの被制御量を目標値に一致するよう
にフィードバック制御する制御装置、より詳細には、プ
ロセスの特性が運転状況に伴い変化した場合でもPI要素
を含む制御器のゲインおよび積分時間を自動的に調節し
て良好な制御状態を維持することの可能な適応制御装置
に関するものである。
にフィードバック制御する制御装置、より詳細には、プ
ロセスの特性が運転状況に伴い変化した場合でもPI要素
を含む制御器のゲインおよび積分時間を自動的に調節し
て良好な制御状態を維持することの可能な適応制御装置
に関するものである。
プロセスの制御に用いるPI要素を含む制御器、たとえば
PI制御器（比例積分制御器）のゲインおよび積分時間は
通常一定であり、一般にプロセスの定格運転状態で調整
・設定される。しかし、多くの物理現象は非線形特性を
持っており、プロセスの特性が運転状況に伴い変化する
ため、調整・設定された時の状態と異なる状態でプロセ
ス運転を行うとPI制御器の制御特性が悪化することがあ
る。このため、プロセスの特性変化に伴い、PI制御器の
ゲインおよび積分時間を自動的に調整する適応制御方式
が研究されている。しかし、従来の適応制御装置はプロ
セスの特性を表わす数学モデルによりプロセスの運転状
況を推定し、その推定結果に従ってゲインおよび積分時
間を調節する式をとっているため、予め数学モデルに組
込まれていないような特性の変化が生じた場合、最適な
ゲインおよび積分時間を演算することができなくなる。
また、推定に使用する数学モデルを設計するためには対
象となるプロセスごとにプロセス動特性の同定手法を用
いるなどの手順が必要であり、従来の適応制御装置は特
性の変化を十分に研究して設計する必要があるため適用
範囲が非常に限定されていた。
PI制御器（比例積分制御器）のゲインおよび積分時間は
通常一定であり、一般にプロセスの定格運転状態で調整
・設定される。しかし、多くの物理現象は非線形特性を
持っており、プロセスの特性が運転状況に伴い変化する
ため、調整・設定された時の状態と異なる状態でプロセ
ス運転を行うとPI制御器の制御特性が悪化することがあ
る。このため、プロセスの特性変化に伴い、PI制御器の
ゲインおよび積分時間を自動的に調整する適応制御方式
が研究されている。しかし、従来の適応制御装置はプロ
セスの特性を表わす数学モデルによりプロセスの運転状
況を推定し、その推定結果に従ってゲインおよび積分時
間を調節する式をとっているため、予め数学モデルに組
込まれていないような特性の変化が生じた場合、最適な
ゲインおよび積分時間を演算することができなくなる。
また、推定に使用する数学モデルを設計するためには対
象となるプロセスごとにプロセス動特性の同定手法を用
いるなどの手順が必要であり、従来の適応制御装置は特
性の変化を十分に研究して設計する必要があるため適用
範囲が非常に限定されていた。
本発明は以上の事情を考慮してなされたもので、特性が
十分に把握されていないプロセスの制御にも適用可能で
あって、プロセスの特性変化に伴い制御器のゲインおよ
び積分時間を自動的に調節することの可能な適応制御装
置を提供することを目的とするものである。
十分に把握されていないプロセスの制御にも適用可能で
あって、プロセスの特性変化に伴い制御器のゲインおよ
び積分時間を自動的に調節することの可能な適応制御装
置を提供することを目的とするものである。
上記目的を達成するために本発明の適応制御装置は、制
御偏差とその微分値の各正負別の平均値をプロセスの応
答時間より十分長い時間間隔ごとに算出し、これら平均
値に基づいて制御器の制御状態を論理判断し、その判断
結果に従い予め設定されている調節法則に基づいて制御
器のゲインおよび積分時間を前記時間間隔ごとに更新し
ながら調節するパラメータ調節手段を設けたことを特徴
とするものである。このパラメータ調節器を設けること
により常時適応PI制御を実現することができる。
御偏差とその微分値の各正負別の平均値をプロセスの応
答時間より十分長い時間間隔ごとに算出し、これら平均
値に基づいて制御器の制御状態を論理判断し、その判断
結果に従い予め設定されている調節法則に基づいて制御
器のゲインおよび積分時間を前記時間間隔ごとに更新し
ながら調節するパラメータ調節手段を設けたことを特徴
とするものである。このパラメータ調節器を設けること
により常時適応PI制御を実現することができる。
なお、プロセスを被制御対象としたとき、プロセスの特
性を表すパラメータとして制御工学の分野においては一
般にインディシャル応答（＝ステップ応答）が良く用い
られる。その場合、ステップ入力を与えたときの被制御
量出力は時間に対して一般にＳ字形応答の挙動を示し、
その立ち上がり時間の定義に「むだ時間」と「時定数」
の和が用いられる。本発明におけるプロセスの応答時間
というのは、その「むだ時間」と「時定数」の和を意味
している。プラントにPI制御器を付加して構成されたフ
ィードバック制御系の挙動に対して追従性・即応性・安
定性について評価するためには、制御偏差の瞬時的な過
渡特性では判断することができず、インディシャル応答
などに対してフィードバック制御系が十分に整定する時
間が必要である。このため、フィードバック制御系を代
表するプロセスの応答時間を考慮し、それより十分長い
時間間隔を制御器のゲインおよび積分時間の更新をする
ものとする。
性を表すパラメータとして制御工学の分野においては一
般にインディシャル応答（＝ステップ応答）が良く用い
られる。その場合、ステップ入力を与えたときの被制御
量出力は時間に対して一般にＳ字形応答の挙動を示し、
その立ち上がり時間の定義に「むだ時間」と「時定数」
の和が用いられる。本発明におけるプロセスの応答時間
というのは、その「むだ時間」と「時定数」の和を意味
している。プラントにPI制御器を付加して構成されたフ
ィードバック制御系の挙動に対して追従性・即応性・安
定性について評価するためには、制御偏差の瞬時的な過
渡特性では判断することができず、インディシャル応答
などに対してフィードバック制御系が十分に整定する時
間が必要である。このため、フィードバック制御系を代
表するプロセスの応答時間を考慮し、それより十分長い
時間間隔を制御器のゲインおよび積分時間の更新をする
ものとする。
以下、図面を参照して本発明をさらに詳細に説明する。
第１図は本発明による適応PI制御装置の一構成例を示す
もので、プラント３で代表されるプロセスの被制御量ｙ
をフィードバックし、目標値ｒとの間の偏差すなわち制
御偏差ｅを得、この制御偏差ｅを零にするようにPI制御
器２により制御出力ｕを得てプロセス３に与え被制御量
ｙを制御するフィードバック制御系を基本にしている。
PI制御器２は伝達関数表現で（Ｋ＋1/（TS））の特性を
持ち、制御偏差ｅに対してゲインＫ、積分時間ＴでPI演
算（比例積分演算）を行ない、制御出力ｕを決定する。
第１図の装置の特徴は、上述の基本フィードバック制御
系にパラメータ調節器４を設け、制御偏差ｅの応答性の
変化からプロセス特性の変化を推定してPI制御器２のゲ
インおよび積分時間の調節量ΔＫおよびΔＴを演算し、
加算器付きメモリ5,6を介してPI制御器２のゲインＫお
よび積分時間Ｔを更新するようにした点にある。
もので、プラント３で代表されるプロセスの被制御量ｙ
をフィードバックし、目標値ｒとの間の偏差すなわち制
御偏差ｅを得、この制御偏差ｅを零にするようにPI制御
器２により制御出力ｕを得てプロセス３に与え被制御量
ｙを制御するフィードバック制御系を基本にしている。
PI制御器２は伝達関数表現で（Ｋ＋1/（TS））の特性を
持ち、制御偏差ｅに対してゲインＫ、積分時間ＴでPI演
算（比例積分演算）を行ない、制御出力ｕを決定する。
第１図の装置の特徴は、上述の基本フィードバック制御
系にパラメータ調節器４を設け、制御偏差ｅの応答性の
変化からプロセス特性の変化を推定してPI制御器２のゲ
インおよび積分時間の調節量ΔＫおよびΔＴを演算し、
加算器付きメモリ5,6を介してPI制御器２のゲインＫお
よび積分時間Ｔを更新するようにした点にある。
パラメータ調節器４は、制御偏差ｅの応答性からプロセ
ス３の特性変化を制御システムとして、 「オフセットが残り、追従性の悪い状態」…（状態１） 「目標値ｒまたは外乱による被制御量ｙの変化に対して
即応性の悪い状態」…（状態２） 「被制御量ｙが振動し、安定性の悪い状態」 …（状態３） などの状態になっていることを判定し、その各状態に対
応して 「追従性が悪い時には、積分時間Ｔを小さくする」 …（法則１） 「即応性が悪い時には、ゲインＫを大きくする」 …（法則２） 「安定性が悪い時には、ゲインＫを小さくすると共に積
分時間Ｔを大きくする」…（法則３） などの制御技術上の調整原則に基づいてゲインおよび積
分時間の調節量ΔＫおよびΔＴを演算する機能を有する
ものであり、その具体例を第２図および第３図を参照し
て説明する。
ス３の特性変化を制御システムとして、 「オフセットが残り、追従性の悪い状態」…（状態１） 「目標値ｒまたは外乱による被制御量ｙの変化に対して
即応性の悪い状態」…（状態２） 「被制御量ｙが振動し、安定性の悪い状態」 …（状態３） などの状態になっていることを判定し、その各状態に対
応して 「追従性が悪い時には、積分時間Ｔを小さくする」 …（法則１） 「即応性が悪い時には、ゲインＫを大きくする」 …（法則２） 「安定性が悪い時には、ゲインＫを小さくすると共に積
分時間Ｔを大きくする」…（法則３） などの制御技術上の調整原則に基づいてゲインおよび積
分時間の調節量ΔＫおよびΔＴを演算する機能を有する
ものであり、その具体例を第２図および第３図を参照し
て説明する。
第２図は制御偏差ｅの応答性変化から前述の状態1,状態
2,状態３などの制御システムの状態を判定するための基
礎となるパラメーチタｅ＋,e−，＋，−を演算する
手段を示したものである。まずパラメータｅ＋は、制御
偏差ｅをマイナス信号リミッタ12Aと、プロセス３の応
答時間より十分に大きな積分時定数Ｔ′を有し時間Ｔ′
の間隔で積分結果をリセットして零とするリセット機能
付き積分器15Aとを通すことによって得られる。第２の
パラメータｅ−は、同様に制御偏差ｅをプラス信号リミ
ッタ13Aと、符号反転器14Aと、上記と同一特性のリセッ
ト機能付き積分器15Bを通すことによって得られる。以
下同様に、第３のパラメータ＋は、微分器11、マイナ
ス信号リミッタ12B、およびリセット機能付き積分器15C
によって得られる。最後に第４のパラメータ−は、微
分器11、プラス信号リミッタ13B、符号反転器14B、およ
びリセット機能付き積分器15Dによって得られる。両積
分器15C,15Dも積分器15A,15Bと同一の特性を持っている
ものとする。
2,状態３などの制御システムの状態を判定するための基
礎となるパラメーチタｅ＋,e−，＋，−を演算する
手段を示したものである。まずパラメータｅ＋は、制御
偏差ｅをマイナス信号リミッタ12Aと、プロセス３の応
答時間より十分に大きな積分時定数Ｔ′を有し時間Ｔ′
の間隔で積分結果をリセットして零とするリセット機能
付き積分器15Aとを通すことによって得られる。第２の
パラメータｅ−は、同様に制御偏差ｅをプラス信号リミ
ッタ13Aと、符号反転器14Aと、上記と同一特性のリセッ
ト機能付き積分器15Bを通すことによって得られる。以
下同様に、第３のパラメータ＋は、微分器11、マイナ
ス信号リミッタ12B、およびリセット機能付き積分器15C
によって得られる。最後に第４のパラメータ−は、微
分器11、プラス信号リミッタ13B、符号反転器14B、およ
びリセット機能付き積分器15Dによって得られる。両積
分器15C,15Dも積分器15A,15Bと同一の特性を持っている
ものとする。
第２図の構成による演算を実施することにより、各パラ
メータは次のような値を持つことになる。
メータは次のような値を持つことになる。
ｅ＋＝時間幅Ｔ′での制御偏差ｅのプラス側の平均値 ｅ−＝時間幅Ｔ′での制御偏差ｅのマイナス側の平均値
の絶対値 ＋＝時間幅Ｔ′での制御偏差ｅの微分値のプラス側の
平均値 −＝時間幅Ｔ′での制御偏差ｅの微分値のマイナス側
の平均値の絶対値 さて、ここで前述の状態1,2,3の各場合について制御偏
差ｅおよびその微分値の挙動について第３図を参照し
て説明する。第３図（ａ），（ｂ）は状態１すなわち
「オフセットが残り、追従性の悪い状態」のときの制御
偏差ｅおよびその微分値の応答を示し、同図（ｃ），
（ｄ）は状態２すなわち「即応性の悪い状態」のときの
制御偏差ｅおよびその微分値の応答を示し、同図
（ｅ）,f）は状態３すなわち「安定性の悪い状態」のと
きの制御偏差ｅおよびその微分値の応答を示してい
る。この第３図から分かることは、これを適切に調節さ
れている制御システムの応答と比較すると、状態１とい
うのは 「ｅ＋＝大」Λ「ｅ−＝０」Λ「＋＝０」Λ「−＝小」…（1A） または、逆方向の変動を考えて 「ｅ＋＝０」Λ「ｅ−＝大」Λ「＋＝小」Λ「−＝０」…（1B） ということであり、状態２というのは 「ｅ＋＝大」Λ「ｅ−＝０」Λ「＋＝０」Λ「−＝中」…（2A） または 「ｅ＋＝０」Λ「ｅ−＝大」Λ「＋＝中」Λ「−＝０」…（2B） ということであり、状態３というのは 「ｅ＋＝大」Λ「ｅ−＝大」Λ「＋＝大」Λ「−＝大」…（３） ということである、という論理関係が存在することであ
る。
の絶対値 ＋＝時間幅Ｔ′での制御偏差ｅの微分値のプラス側の
平均値 −＝時間幅Ｔ′での制御偏差ｅの微分値のマイナス側
の平均値の絶対値 さて、ここで前述の状態1,2,3の各場合について制御偏
差ｅおよびその微分値の挙動について第３図を参照し
て説明する。第３図（ａ），（ｂ）は状態１すなわち
「オフセットが残り、追従性の悪い状態」のときの制御
偏差ｅおよびその微分値の応答を示し、同図（ｃ），
（ｄ）は状態２すなわち「即応性の悪い状態」のときの
制御偏差ｅおよびその微分値の応答を示し、同図
（ｅ）,f）は状態３すなわち「安定性の悪い状態」のと
きの制御偏差ｅおよびその微分値の応答を示してい
る。この第３図から分かることは、これを適切に調節さ
れている制御システムの応答と比較すると、状態１とい
うのは 「ｅ＋＝大」Λ「ｅ−＝０」Λ「＋＝０」Λ「−＝小」…（1A） または、逆方向の変動を考えて 「ｅ＋＝０」Λ「ｅ−＝大」Λ「＋＝小」Λ「−＝０」…（1B） ということであり、状態２というのは 「ｅ＋＝大」Λ「ｅ−＝０」Λ「＋＝０」Λ「−＝中」…（2A） または 「ｅ＋＝０」Λ「ｅ−＝大」Λ「＋＝中」Λ「−＝０」…（2B） ということであり、状態３というのは 「ｅ＋＝大」Λ「ｅ−＝大」Λ「＋＝大」Λ「−＝大」…（３） ということである、という論理関係が存在することであ
る。
第２図の論理調節器16は各積分器15A〜15Dによって算出
されたパラメータｅ＋,e−，＋，−に基づいて（1
A）〜（３）式が成立するか否かの状態判定を時間Ｔ′
ごとに行ない、いずれかの式が成立すれば前述の法則１
または2,3を実施するためにゲイン調節信号または積分
時間調節信号を出力する。これをまとめると次のように
なる。
されたパラメータｅ＋,e−，＋，−に基づいて（1
A）〜（３）式が成立するか否かの状態判定を時間Ｔ′
ごとに行ない、いずれかの式が成立すれば前述の法則１
または2,3を実施するためにゲイン調節信号または積分
時間調節信号を出力する。これをまとめると次のように
なる。
式（1A）成立…Ｔを小さくする 式（1B）成立…Ｔを小さくする 式（2A）成立…Ｋを大きくする 式（2B）成立…Ｋを大きくする 式（３）成立…Ｔを大きく、Ｋを小さくする 論理調節器16の以上のアルゴリズムによる調節量ΔＴ、
ΔＫの具体的な演算方法を第４図により説明する。これ
までの説明においてｅ＋,e−，＋，−，ΔT,ΔＫな
どのパラメータの値が「大」「中」「小」であるなどの
表現は抽象的なものであり、あいまい性があるため、各
パラメータのとり得る範囲に対して速度分布μij（ｉ＝
１〜5,j＝１〜６）を与えて定義する。ｉ＝１をｅ＋
に、ｊ＝２をｅ−に、ｊ＝３を＋に、ｊ＝４を−
に、ｊ＝５をΔＫに、ｊ＝６をΔＴにそれぞれ対応さ
せ、また、ｉ＝１を法則（Ａ）に、ｉ＝２を法則（1B）
に、ｉ＝３を法則（2A）に、ｉ＝４を法則（2B）に、ｉ
＝５を法則（３）にそれぞれ対応させたときの速度分布
μijを第４図に示す。
ΔＫの具体的な演算方法を第４図により説明する。これ
までの説明においてｅ＋,e−，＋，−，ΔT,ΔＫな
どのパラメータの値が「大」「中」「小」であるなどの
表現は抽象的なものであり、あいまい性があるため、各
パラメータのとり得る範囲に対して速度分布μij（ｉ＝
１〜5,j＝１〜６）を与えて定義する。ｉ＝１をｅ＋
に、ｊ＝２をｅ−に、ｊ＝３を＋に、ｊ＝４を−
に、ｊ＝５をΔＫに、ｊ＝６をΔＴにそれぞれ対応さ
せ、また、ｉ＝１を法則（Ａ）に、ｉ＝２を法則（1B）
に、ｉ＝３を法則（2A）に、ｉ＝４を法則（2B）に、ｉ
＝５を法則（３）にそれぞれ対応させたときの速度分布
μijを第４図に示す。
実際に各パラメータの値ｅ＋0,e−0,＋0,−０が入
力されると、論理調節器16は第４図のμij（ｉ＝１〜5,
j＝１〜４）の測度分布から、入力された値に対応する
速度▲μ0 ij▼（ｉ＝１〜5,j＝１〜４）が決定され、入
力されたパラメータの値が各法則（1A）〜（３）に属す
る可能性として次式に従ってμmin（ｉ）を論理積とし
て演算する。
力されると、論理調節器16は第４図のμij（ｉ＝１〜5,
j＝１〜４）の測度分布から、入力された値に対応する
速度▲μ0 ij▼（ｉ＝１〜5,j＝１〜４）が決定され、入
力されたパラメータの値が各法則（1A）〜（３）に属す
る可能性として次式に従ってμmin（ｉ）を論理積とし
て演算する。
μmin（ｉ）＝Min｛▲μ0 ij▼｝ｊ＝１〜４ ＝Min｛μi1（ｅ＋０），μi2（ｅ−０） ，μi3（＋０），μi4（−０）｝ …（４） 次に法則（1A）〜（３）のμi5（ΔＫ），μi6（ΔＴ）
の測度分布を、（４）式のμmin（ｉ）以上の値をカッ
トし、▲μ0 i5▼（ΔＫ），▲μ0 i6▼（ΔＴ）としてと
り直すことにより、与えられたパラメータに対応して各
法則ごとに可能性のない状況をとり除く。
の測度分布を、（４）式のμmin（ｉ）以上の値をカッ
トし、▲μ0 i5▼（ΔＫ），▲μ0 i6▼（ΔＴ）としてと
り直すことにより、与えられたパラメータに対応して各
法則ごとに可能性のない状況をとり除く。
最後に各法則の▲μ0 i5▼（ΔＫ），▲μ0 i6▼（ΔＴ）
の測度分布の論理和として μmax（ΔＫ）＝Max｛▲μ0 i5▼（ΔＫ）｝ ｉ＝１〜５ …（５） μmax（ΔＫ）＝Max｛▲μ0 i6▼（ΔＫ）｝ ｉ＝１〜５ …（６） を演算し、この測度分布から重み付き平均としてΔK0,
ΔT0を求める。
の測度分布の論理和として μmax（ΔＫ）＝Max｛▲μ0 i5▼（ΔＫ）｝ ｉ＝１〜５ …（５） μmax（ΔＫ）＝Max｛▲μ0 i6▼（ΔＫ）｝ ｉ＝１〜５ …（６） を演算し、この測度分布から重み付き平均としてΔK0,
ΔT0を求める。
以上の論理調節器16の演算はサンプルタイムＴ′ごとに
積分器15A〜15Dのリセットタイミングと同期して実施さ
れ、第１図における加算器付きメモリ5,6に各調節量Δ
K,ΔＴ信号として出力される。加算器付きメモリ5,6で
は、これもサンプルタイムＴ′ごとに積分器15A〜15Dの
リセットタイミングと同期して調節量ΔK,ΔＴを、すで
に記憶している値に加算してメモリを更新し、PI制御器
２に新たなゲインＫ、積分時間Ｔとして与える。
積分器15A〜15Dのリセットタイミングと同期して実施さ
れ、第１図における加算器付きメモリ5,6に各調節量Δ
K,ΔＴ信号として出力される。加算器付きメモリ5,6で
は、これもサンプルタイムＴ′ごとに積分器15A〜15Dの
リセットタイミングと同期して調節量ΔK,ΔＴを、すで
に記憶している値に加算してメモリを更新し、PI制御器
２に新たなゲインＫ、積分時間Ｔとして与える。
以上述べたように本発明による適応制御装置は制御系の
状態を制御偏差の挙動のみから判定して制御器のゲイン
および積分時間を調整し、任意のプロセス状態または任
意のプロセス応答性の変化に対して適応制御を実現する
ことができる。その場合、目標とする制御性は論理調節
器の各パラメータの測度分布を更新することにより自由
かつ容易に更新することができる。
状態を制御偏差の挙動のみから判定して制御器のゲイン
および積分時間を調整し、任意のプロセス状態または任
意のプロセス応答性の変化に対して適応制御を実現する
ことができる。その場合、目標とする制御性は論理調節
器の各パラメータの測度分布を更新することにより自由
かつ容易に更新することができる。
なお、これまでPI制御器を中心に説明してきたが、本発
明はPI要素のほかにＤ（微分）要素をも含んだ制御器に
も拡大適用することができる。
明はPI要素のほかにＤ（微分）要素をも含んだ制御器に
も拡大適用することができる。
第１図は本発明の一実施例による適応制御装置のブロッ
ク図、第２図は第１図におけるパラメータ調節器の一具
体構成例を示すブロック図、第３図（ａ）〜（ｆ）はPI
制御器における制御偏差とその微分値の代表的な応答を
示す特性線図、第４図は第２図における論理調節器の論
理および測度分布を示す図である。 ２……PI制御器、３……プラント（プロセス）、４……
パラメータ調節器、5,6……加算器付きメモリ、ｒ……
目標値、ｙ……被制御量、ｅ……制御偏差、ｕ……制御
出力、Ｋ……制御器ゲイン、Ｔ……制御器積分時間、Δ
Ｋ……ゲイン調節量、ΔＴ……積分時間調節量。
ク図、第２図は第１図におけるパラメータ調節器の一具
体構成例を示すブロック図、第３図（ａ）〜（ｆ）はPI
制御器における制御偏差とその微分値の代表的な応答を
示す特性線図、第４図は第２図における論理調節器の論
理および測度分布を示す図である。 ２……PI制御器、３……プラント（プロセス）、４……
パラメータ調節器、5,6……加算器付きメモリ、ｒ……
目標値、ｙ……被制御量、ｅ……制御偏差、ｕ……制御
出力、Ｋ……制御器ゲイン、Ｔ……制御器積分時間、Δ
Ｋ……ゲイン調節量、ΔＴ……積分時間調節量。
Claims (1)
- 【請求項１】プロセスの被制御量をフィードバックし、
これを目標値との間の偏差すなわち制御偏差が零となる
ようにPI要素を含む制御器を介して制御する制御装置に
おいて、 前記制御偏差とその微分値の各正負別の平均値を前記プ
ロセスの応答時間より十分長い時間間隔ごとに算出し、
これら平均値に基づいて前記制御器の制御状態を論理判
断し、その判断結果に従い予め設定されている調節法則
に基づいて前記制御器のゲインおよび積分時間を前記時
間間隔ごとに更新しながら調節するパラメータ調節手段
を設けたことを特徴とする適応制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25318985A JPH071446B2 (ja) | 1985-11-12 | 1985-11-12 | 適応制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25318985A JPH071446B2 (ja) | 1985-11-12 | 1985-11-12 | 適応制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62113205A JPS62113205A (ja) | 1987-05-25 |
| JPH071446B2 true JPH071446B2 (ja) | 1995-01-11 |
Family
ID=17247781
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25318985A Expired - Lifetime JPH071446B2 (ja) | 1985-11-12 | 1985-11-12 | 適応制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH071446B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01296321A (ja) * | 1988-05-25 | 1989-11-29 | Matsushita Electric Works Ltd | 位置決め制御方法 |
| JP2680837B2 (ja) * | 1988-06-22 | 1997-11-19 | ファナック株式会社 | Ｎｃレーザ装置 |
| JP2835061B2 (ja) * | 1989-02-23 | 1998-12-14 | 株式会社東芝 | 適応制御装置 |
| JP2751128B2 (ja) * | 1990-11-15 | 1998-05-18 | キヤノン株式会社 | モータ制御装置 |
| US5209072A (en) * | 1991-01-15 | 1993-05-11 | Westinghouse Electric Corp. | Refrigeration temperature control system |
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-
1985
- 1985-11-12 JP JP25318985A patent/JPH071446B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62113205A (ja) | 1987-05-25 |
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