JPH07147293A - 半導体装置の製造方法 - Google Patents
半導体装置の製造方法Info
- Publication number
- JPH07147293A JPH07147293A JP6191484A JP19148494A JPH07147293A JP H07147293 A JPH07147293 A JP H07147293A JP 6191484 A JP6191484 A JP 6191484A JP 19148494 A JP19148494 A JP 19148494A JP H07147293 A JPH07147293 A JP H07147293A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 半導体チップを搭載する搭載面上に半田材に
より半導体チップを搭載して形成する半導体装置の製造
方法において、半導体チップの搭載位置のばらつきを簡
明な手段で防止した技術を提供する。 【構成】 半導体チップ1を搭載する搭載面12上に半
田材を供給した後、ケガキ手段により該半田材を区画し
て、半導体チップにほぼ対応する搭載領域の半田材12
aをその他の部分の半田材12bと不連続にして独立さ
せ、該独立させた半田材により半導体チップを搭載する
ことにより、半田材が搭載領域より大きい場合に生ずる
半導体チップの搭載位置のばらつきをなくする。
より半導体チップを搭載して形成する半導体装置の製造
方法において、半導体チップの搭載位置のばらつきを簡
明な手段で防止した技術を提供する。 【構成】 半導体チップ1を搭載する搭載面12上に半
田材を供給した後、ケガキ手段により該半田材を区画し
て、半導体チップにほぼ対応する搭載領域の半田材12
aをその他の部分の半田材12bと不連続にして独立さ
せ、該独立させた半田材により半導体チップを搭載する
ことにより、半田材が搭載領域より大きい場合に生ずる
半導体チップの搭載位置のばらつきをなくする。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置の製造方法
に関する。特に、半導体チップを搭載する搭載面上に半
田材により半導体チップを搭載して形成する半導体装置
の製造方法において、半導体チップが搭載される搭載面
における半導体チップの搭載位置のばらつきを抑制する
ようにした半導体装置の製造方法を提供するものであ
る。
に関する。特に、半導体チップを搭載する搭載面上に半
田材により半導体チップを搭載して形成する半導体装置
の製造方法において、半導体チップが搭載される搭載面
における半導体チップの搭載位置のばらつきを抑制する
ようにした半導体装置の製造方法を提供するものであ
る。
【0002】
【発明の概要】本発明は、半導体チップを搭載する搭載
面上に半田材により半導体チップを搭載して形成する半
導体装置の製造方法において、半導体チップを搭載する
搭載面上に半田材を供給した後、ケガキ手段により該半
田材を区画して、半導体チップにほぼ対応する搭載領域
の半田材をその他の部分の半田材と不連続にして独立さ
せ、該独立させた半田材により半導体チップを搭載する
ことにより、半田材が搭載領域より大きい場合に生ずる
半導体チップの搭載位置のばらつきをなくすようにした
ものである。
面上に半田材により半導体チップを搭載して形成する半
導体装置の製造方法において、半導体チップを搭載する
搭載面上に半田材を供給した後、ケガキ手段により該半
田材を区画して、半導体チップにほぼ対応する搭載領域
の半田材をその他の部分の半田材と不連続にして独立さ
せ、該独立させた半田材により半導体チップを搭載する
ことにより、半田材が搭載領域より大きい場合に生ずる
半導体チップの搭載位置のばらつきをなくすようにした
ものである。
【0003】
【従来の技術】従来より半導体チップを半田材を用いて
搭載することが行われている。例えば半導体装置の組立
てダイボンド工程において、ヒートシンクや、サブマウ
ント部に半導体チップを半田材により搭載することが行
われている。これは、半導体レーザー装置においてよく
みられる。
搭載することが行われている。例えば半導体装置の組立
てダイボンド工程において、ヒートシンクや、サブマウ
ント部に半導体チップを半田材により搭載することが行
われている。これは、半導体レーザー装置においてよく
みられる。
【0004】
【発明が解決しようとする問題点】一般に、上記のよう
にヒートシンクやサブマウント部に半田材により半導体
チップを搭載しようとする場合、半田面は搭載すべき半
導体チップのサイズに対して、大きいのが普通である。
にヒートシンクやサブマウント部に半田材により半導体
チップを搭載しようとする場合、半田面は搭載すべき半
導体チップのサイズに対して、大きいのが普通である。
【0005】例えば、図9に示すのは、レーザ半導体な
どの半導体チップを搭載するヒートシンク10である
が、該ヒートシンク10の半導体チップを搭載すべき搭
載面12の内、半導体チップを実際に搭載する搭載領域
13(特に斜線を施して示す)は、半導体チップの大き
さに対応して、図示の如く搭載面12の全体からみると
極めて小さい。
どの半導体チップを搭載するヒートシンク10である
が、該ヒートシンク10の半導体チップを搭載すべき搭
載面12の内、半導体チップを実際に搭載する搭載領域
13(特に斜線を施して示す)は、半導体チップの大き
さに対応して、図示の如く搭載面12の全体からみると
極めて小さい。
【0006】このため、半導体チップを半田材により取
付けようとする場合、半田材は搭載面12の全体に付着
するので、半導体チップを搭載領域13に正確に搭載し
ようとしても、半田量のバラツキや表面張力の作用によ
り、所定の位置からずれてしまうことがある。
付けようとする場合、半田材は搭載面12の全体に付着
するので、半導体チップを搭載領域13に正確に搭載し
ようとしても、半田量のバラツキや表面張力の作用によ
り、所定の位置からずれてしまうことがある。
【0007】即ち、一般に半導体チップ1の搭載に当た
っては、スズ半田等の半田材を搭載面12に蒸着し、図
10に示すように半導体チップ1を載せ、加熱して半田
材を溶融して、半導体チップ1を搭載領域13に半田付
けする。ところが、半田材は図10に細点を付して示す
ように、搭載面12の全面に付着しているので、溶融し
た半田材による毛細管現象や表面張力の作用により、半
導体チップが所定位置からずれることがある。例えば、
溶融した半田材が、半導体チップ1の裏面の材料、例え
ば金の作用で吸い上げられるような形になり、これによ
り位置ずれが生じたり、溶融した半田材の表面張力によ
り半導体チップ1が中央にずれたりすることがある。こ
の結果、半導体チップ1の搭載位置にばらつきが生じる
という問題がある。
っては、スズ半田等の半田材を搭載面12に蒸着し、図
10に示すように半導体チップ1を載せ、加熱して半田
材を溶融して、半導体チップ1を搭載領域13に半田付
けする。ところが、半田材は図10に細点を付して示す
ように、搭載面12の全面に付着しているので、溶融し
た半田材による毛細管現象や表面張力の作用により、半
導体チップが所定位置からずれることがある。例えば、
溶融した半田材が、半導体チップ1の裏面の材料、例え
ば金の作用で吸い上げられるような形になり、これによ
り位置ずれが生じたり、溶融した半田材の表面張力によ
り半導体チップ1が中央にずれたりすることがある。こ
の結果、半導体チップ1の搭載位置にばらつきが生じる
という問題がある。
【0008】半導体チップ1が例えば図10の矢印Aの
如く図の上方にずれると、放熱が悪くなる等の問題が生
じ、矢印Bの如く図の下方にずれると、半導体チップが
レーザ半導体の場合など、反射等での広がりにより所望
の集光がなされず、適正に作動できなくなることがあ
る。
如く図の上方にずれると、放熱が悪くなる等の問題が生
じ、矢印Bの如く図の下方にずれると、半導体チップが
レーザ半導体の場合など、反射等での広がりにより所望
の集光がなされず、適正に作動できなくなることがあ
る。
【0009】従来は、かかるずれを防止したい場合、半
導体チップをおさえる手段を別に設けておくか、あるい
はシリコンをサブマウントに使うなどのことが行われて
いるが、いずれも完全にばらつきを解決することはでき
ないし、手間や装置などが煩雑になって、抜本的な解決
にはならない。
導体チップをおさえる手段を別に設けておくか、あるい
はシリコンをサブマウントに使うなどのことが行われて
いるが、いずれも完全にばらつきを解決することはでき
ないし、手間や装置などが煩雑になって、抜本的な解決
にはならない。
【0010】一方、実開昭59−145055号公報に
は、半田材の這い上がりによるショート防止を目的とし
て、また実開昭62−142865号公報には、半田の
広がり防止を目的として、溝を形成した後に半田材を形
成する技術が開示されているが、これを適用して、溝に
より半導体チップの搭載領域を区画しようとすると、搭
載面に溝加工を予め施すという煩雑な工程を要し、手間
や装置が上記従来のずれ防止より更に一層煩瑣になって
しまって、実用的でない。とりわけ、ヒートシンクへ精
密に溝加工を行おうとすると、その工程はきわめて困難
である。
は、半田材の這い上がりによるショート防止を目的とし
て、また実開昭62−142865号公報には、半田の
広がり防止を目的として、溝を形成した後に半田材を形
成する技術が開示されているが、これを適用して、溝に
より半導体チップの搭載領域を区画しようとすると、搭
載面に溝加工を予め施すという煩雑な工程を要し、手間
や装置が上記従来のずれ防止より更に一層煩瑣になって
しまって、実用的でない。とりわけ、ヒートシンクへ精
密に溝加工を行おうとすると、その工程はきわめて困難
である。
【0011】本発明は上記問題点を解決して、半導体チ
ップの搭載位置のばらつきを簡明な手段で防止した半導
体装置の製造方法を提供せんとするものである。
ップの搭載位置のばらつきを簡明な手段で防止した半導
体装置の製造方法を提供せんとするものである。
【0012】
【問題点を解決するための手段】上記問題点を解決する
ため、本発明は、半導体チップを搭載する搭載面上に半
田材により半導体チップを搭載して形成する半導体装置
の製造方法において、半導体チップを搭載する搭載面上
に半田材を供給した後、ケガキ手段により該半田材を区
画して、半導体チップにほぼ対応する搭載領域の半田材
をその他の部分の半田材と不連続にして独立させ、該独
立させた半田材により半導体チップを搭載する技術手段
を採る。
ため、本発明は、半導体チップを搭載する搭載面上に半
田材により半導体チップを搭載して形成する半導体装置
の製造方法において、半導体チップを搭載する搭載面上
に半田材を供給した後、ケガキ手段により該半田材を区
画して、半導体チップにほぼ対応する搭載領域の半田材
をその他の部分の半田材と不連続にして独立させ、該独
立させた半田材により半導体チップを搭載する技術手段
を採る。
【0013】
【作用】上記のような構成であるから、本発明において
は、半導体チップにほぼ対応する搭載領域に、その領域
で半田材が独立して存在する部分が形成され、ここで半
田付けがなされるので、半田材を有する面が大きすぎる
ことに伴う従来の上記のような問題点は解決される。
は、半導体チップにほぼ対応する搭載領域に、その領域
で半田材が独立して存在する部分が形成され、ここで半
田付けがなされるので、半田材を有する面が大きすぎる
ことに伴う従来の上記のような問題点は解決される。
【0014】かつ、この搭載領域の区画は、半田材を供
給した後に、ケガキ手段によってケガくことにより行う
ので、柔らかい半田上にわずかに溝を形成するのみで半
田の区画ができ、その操作は容易である。かつ半田を溶
解させて半導体チップを接着させるとき、独立した各領
域、特に半導体チップ搭載領域で半田が独立してその半
田の表面張力によりきれいに領域がわかれ、良好に半導
体チップを接着できる。
給した後に、ケガキ手段によってケガくことにより行う
ので、柔らかい半田上にわずかに溝を形成するのみで半
田の区画ができ、その操作は容易である。かつ半田を溶
解させて半導体チップを接着させるとき、独立した各領
域、特に半導体チップ搭載領域で半田が独立してその半
田の表面張力によりきれいに領域がわかれ、良好に半導
体チップを接着できる。
【0015】
【実施例】以下本発明の実施例について説明する。
【0016】図1〜図8を参照して、本発明の一実施例
を説明する。この例は、特に、本発明を半導体レーザー
装置に適用したものである。
を説明する。この例は、特に、本発明を半導体レーザー
装置に適用したものである。
【0017】図1に示すように、本実施例においては、
ヒートシンク10の半導体チップ搭載面12上の所定の
領域、つまり該搭載面12の上部中央の搭載領域13
(斜線を付して示す)に半導体チップを搭載するもので
ある。
ヒートシンク10の半導体チップ搭載面12上の所定の
領域、つまり該搭載面12の上部中央の搭載領域13
(斜線を付して示す)に半導体チップを搭載するもので
ある。
【0018】本実施例においては、上記搭載面12の全
面に半田材を供給し、ケガキ手段により該半田材を区画
する。図1中、符号2で示すのがケガキにより形成され
たケガキ線である。ケガキ手段による区画により、半導
体チップにほぼ対応する搭載領域13にあたる部分の半
田材12aを、その他の部分の半田材12bと不連続に
独立させる。この半田材12aにより半導体チップを半
田付けする。
面に半田材を供給し、ケガキ手段により該半田材を区画
する。図1中、符号2で示すのがケガキにより形成され
たケガキ線である。ケガキ手段による区画により、半導
体チップにほぼ対応する搭載領域13にあたる部分の半
田材12aを、その他の部分の半田材12bと不連続に
独立させる。この半田材12aにより半導体チップを半
田付けする。
【0019】従って、半田付けに供される半田は、半導
体チップをに対して過大にはならず、よって半田材の表
面張力等による位置ずれの問題は生じない。
体チップをに対して過大にはならず、よって半田材の表
面張力等による位置ずれの問題は生じない。
【0020】図1の例では、ケガキ手段により搭載面1
2を上下に2分割して区画したが、図2に示すように、
ケガキ手段によりケガキ線を横方向の1本21及び縦方
向の2本22,23の3本形成するようにして、丁度半
導体チップに対応する搭載領域13のみの半田材12a
を独立させるようにしてもよい。図2の構造であると、
ケガキを行う手間は図1の構造より多くなるが、搭載に
用いる部分の半田材12aを半導体チップの大きさにほ
ぼ対応させることができるので、半田付け位置のばらつ
きの防止の効果は大きい。なお図2は、サブマウント材
10’に半導体チップを搭載するようにした例である。
2を上下に2分割して区画したが、図2に示すように、
ケガキ手段によりケガキ線を横方向の1本21及び縦方
向の2本22,23の3本形成するようにして、丁度半
導体チップに対応する搭載領域13のみの半田材12a
を独立させるようにしてもよい。図2の構造であると、
ケガキを行う手間は図1の構造より多くなるが、搭載に
用いる部分の半田材12aを半導体チップの大きさにほ
ぼ対応させることができるので、半田付け位置のばらつ
きの防止の効果は大きい。なお図2は、サブマウント材
10’に半導体チップを搭載するようにした例である。
【0021】本実施例は、例えば図3に示すレーザモニ
タ装置として用いることができる。図中、10はヒート
シンクであり、ここに半導体チップ1であるレーザ半導
体素子が搭載されている。3はウィンドウキャップであ
り、ここにはレーザ光を透過するウィンドウ31が形成
されている。4はフォトディテクタであり、レーザディ
テクタである半導体チップ1をモニタしている。5は支
持体をなすステムであり、51,52はワイヤボンディ
ングである。
タ装置として用いることができる。図中、10はヒート
シンクであり、ここに半導体チップ1であるレーザ半導
体素子が搭載されている。3はウィンドウキャップであ
り、ここにはレーザ光を透過するウィンドウ31が形成
されている。4はフォトディテクタであり、レーザディ
テクタである半導体チップ1をモニタしている。5は支
持体をなすステムであり、51,52はワイヤボンディ
ングである。
【0022】ケガキ手段としては、図4、図5に示すも
のを用いることができる。図4に示すのは、ケガキ用の
刃6が、これを支持する支持体61と一体化構造になっ
ているもので、ヒートシンク10のエッジcの基準で、
図示の寸法aの位置でケガキを容易に行うことができ
る。寸法bはヒートシンク10の搭載面を有する部分の
幅である。図5に示すのは、刃6をブロック62に押し
当てながらケガキを行うものである。これによると、他
の部分の精度に関係なく、図示aの幅で精度良くケガキ
を行うことができる。
のを用いることができる。図4に示すのは、ケガキ用の
刃6が、これを支持する支持体61と一体化構造になっ
ているもので、ヒートシンク10のエッジcの基準で、
図示の寸法aの位置でケガキを容易に行うことができ
る。寸法bはヒートシンク10の搭載面を有する部分の
幅である。図5に示すのは、刃6をブロック62に押し
当てながらケガキを行うものである。これによると、他
の部分の精度に関係なく、図示aの幅で精度良くケガキ
を行うことができる。
【0023】ケガキ用の刃6としては、図6(a)
(b)に示すような、切刃角度30゜のものを用いるこ
とができる。
(b)に示すような、切刃角度30゜のものを用いるこ
とができる。
【0024】ケガキを行うには、図7の装置63を用
い、図8に示すようにケガキ用の刃6を支持して、所望
のケガキを達成できる。
い、図8に示すようにケガキ用の刃6を支持して、所望
のケガキを達成できる。
【0025】上記実施例は、半導体チップの搭載位置
や、半田厚等を厳密にコントロールする必要のある装置
に、有効に利用することができる。かかる厳密なコント
ロールを要するものとして、例えばハイパワーレーザ装
置などがあり、このようなものに本発明は有効である。
や、半田厚等を厳密にコントロールする必要のある装置
に、有効に利用することができる。かかる厳密なコント
ロールを要するものとして、例えばハイパワーレーザ装
置などがあり、このようなものに本発明は有効である。
【0026】
【発明の効果】上述の如く、本発明の半導体装置の製造
方法は、半導体チップの搭載位置のばらつきを簡便な手
法によって防止できるという効果を有するものである。
方法は、半導体チップの搭載位置のばらつきを簡便な手
法によって防止できるという効果を有するものである。
【図1】本発明の一実施例の要部斜視図である。
【図2】この例の変形例の要部斜視図である。
【図3】この実施例をレーザモニタ装置に適用した場合
の構成図である。
の構成図である。
【図4】この実施例に用いることができるケガキ手段の
例を示す図である。
例を示す図である。
【図5】この実施例に用いることができるケガキ手段の
例を示す図である。
例を示す図である。
【図6】ケガキ刃の例を示す。
【図7】ケガキ装置の例を示す図である。
【図8】ケガキ装置の例を示す図である。
【図9】従来例を示す図である。
【図10】従来技術の問題点を説明する図である。
1 半導体チップ 12 半導体チップ搭載面 13 搭載領域 2,21〜23 ケガキ部分(ケガキ線) 7 溝 12a,12b,13a,13’ 半田材。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 坪井 邦夫 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内 (72)発明者 川内 武人 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内
Claims (1)
- 【請求項1】半導体チップを搭載する搭載面上に半田材
により半導体チップを搭載して形成する半導体装置の製
造方法において、 半導体チップを搭載する搭載面上に半田材を供給した
後、ケガキ手段により該半田材を区画して、半導体チッ
プにほぼ対応する搭載領域の半田材をその他の部分の半
田材と不連続にして独立させ、該独立させた半田材によ
り半導体チップを搭載することを特徴とする半導体装置
の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19148494A JP2500669B2 (ja) | 1994-08-15 | 1994-08-15 | 半導体装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19148494A JP2500669B2 (ja) | 1994-08-15 | 1994-08-15 | 半導体装置の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07147293A true JPH07147293A (ja) | 1995-06-06 |
| JP2500669B2 JP2500669B2 (ja) | 1996-05-29 |
Family
ID=16275418
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19148494A Expired - Fee Related JP2500669B2 (ja) | 1994-08-15 | 1994-08-15 | 半導体装置の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2500669B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6379815B2 (ja) | 2014-07-31 | 2018-08-29 | 富士電機株式会社 | 半導体装置およびその製造方法 |
-
1994
- 1994-08-15 JP JP19148494A patent/JP2500669B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2500669B2 (ja) | 1996-05-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |