JPH0714862Y2 - 粒径分布測定装置 - Google Patents
粒径分布測定装置Info
- Publication number
- JPH0714862Y2 JPH0714862Y2 JP1987113611U JP11361187U JPH0714862Y2 JP H0714862 Y2 JPH0714862 Y2 JP H0714862Y2 JP 1987113611 U JP1987113611 U JP 1987113611U JP 11361187 U JP11361187 U JP 11361187U JP H0714862 Y2 JPH0714862 Y2 JP H0714862Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measuring device
- particle size
- size distribution
- cell
- measurement sample
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本考案は、光散乱により粒径分布測定を行う粒径分布測
定装置の改良に関するものである。
定装置の改良に関するものである。
［従来の技術］ 光散乱による粒径分布測定法は、ミクロン乃至サブミク
ロンの大きさをもつ微粒子の粒径、粒径分布、高分子
量、形状等を測定することを目的として用いられ、分散
質（粒子）は、種類・形状に関係なく、ミクロンからサ
ブミクロンの粒径範囲のものであれば、どのような物質
にも適用しうる。そして、この方法は流体を取扱う工
業、即ち、食品や医薬品をはじめとする化学工業や鉄鋼
業、鉱業などにおいて、製品の粒径管理や製造工程の状
況検査等に広く用いられている。
ロンの大きさをもつ微粒子の粒径、粒径分布、高分子
量、形状等を測定することを目的として用いられ、分散
質（粒子）は、種類・形状に関係なく、ミクロンからサ
ブミクロンの粒径範囲のものであれば、どのような物質
にも適用しうる。そして、この方法は流体を取扱う工
業、即ち、食品や医薬品をはじめとする化学工業や鉄鋼
業、鉱業などにおいて、製品の粒径管理や製造工程の状
況検査等に広く用いられている。
この光散乱による粒径分布測定法は、基本的には、微粒
子の分散している溶液にレーザー光を入射させ、粒子に
より散乱した光の強度変化を、フォトンカウンティング
により測定し、強度分布より粒径並びに粒径分布を求め
るものである。
子の分散している溶液にレーザー光を入射させ、粒子に
より散乱した光の強度変化を、フォトンカウンティング
により測定し、強度分布より粒径並びに粒径分布を求め
るものである。
この方法は、再現性のあるデータが得られる、測定
者に起因する誤差がない、短時間で測定できる、など
の点から、簡便な粒径分布測定方法として利用されてい
る。
者に起因する誤差がない、短時間で測定できる、など
の点から、簡便な粒径分布測定方法として利用されてい
る。
しかるに、従来から用いられている粒径分布測定装置で
は、乳濁液または懸濁液等の測定試料を収容するセルに
集光レンズを通して水平方向からレーザー光を投射し、
測定試料中の粒子からの散乱光を、上記レーザー光の光
路と同じ水平面内に光軸が位置するように配置した光電
子増倍管で受光するため、次のような問題点があった。
は、乳濁液または懸濁液等の測定試料を収容するセルに
集光レンズを通して水平方向からレーザー光を投射し、
測定試料中の粒子からの散乱光を、上記レーザー光の光
路と同じ水平面内に光軸が位置するように配置した光電
子増倍管で受光するため、次のような問題点があった。
即ち、上記従来の測定装置においては、（１）機械的な
振動が加わったときなどに、光電子増倍管に至る反射光
の光軸にずれが生じると共に、それによる測定誤差が発
生し、また、（２）光電子増倍管により散乱光を任意の
角度で受光するため、回転駆動系によって光電子増倍管
を測定装置本体の周りに回転可能にするが、その回転の
ために測定装置本体の周囲に広い空間を必要とする。
振動が加わったときなどに、光電子増倍管に至る反射光
の光軸にずれが生じると共に、それによる測定誤差が発
生し、また、（２）光電子増倍管により散乱光を任意の
角度で受光するため、回転駆動系によって光電子増倍管
を測定装置本体の周りに回転可能にするが、その回転の
ために測定装置本体の周囲に広い空間を必要とする。
［考案が解決しようとする問題点］ 本考案が解決しようとする課題は、セル内の測定試料に
より散乱した光を鉛直上方に誘導するという簡易な手段
により、光散乱による粒径分布の測定装置を著しく狭い
範囲で測定可能にすると同時に、光電子増倍管の重量に
よる機器の撓みや振動等に起因する光軸のずれを最小限
に抑制可能にすることにある。
より散乱した光を鉛直上方に誘導するという簡易な手段
により、光散乱による粒径分布の測定装置を著しく狭い
範囲で測定可能にすると同時に、光電子増倍管の重量に
よる機器の撓みや振動等に起因する光軸のずれを最小限
に抑制可能にすることにある。
［問題点を解決するための手段］ 上記課題を解決するため、本考案は、乳濁液または懸濁
液等の測定試料を収容するセルを備えた測定装置本体
と、このセルに集光レンズを通して水平方向からレーザ
ー光を投射するレーザー光源と、上記測定試料中の粒子
からの散乱光を受光する光電子増倍管とを備えた粒径分
布測定装置において、上記測定装置本体に、セル内の測
定試料からの散乱光を鉛直上方に向ける反射面を設け、
該反射面と上記光電子増倍管との間に複数のピンホール
スリットを備えた導光筒を介装し、該導光筒及びこれに
連接される上記光電子増倍管を、上記測定装置本体上に
鉛直に、且つ上記反射面と共にセルの周りに回転可能に
配設するという技術的手段を採用している。
液等の測定試料を収容するセルを備えた測定装置本体
と、このセルに集光レンズを通して水平方向からレーザ
ー光を投射するレーザー光源と、上記測定試料中の粒子
からの散乱光を受光する光電子増倍管とを備えた粒径分
布測定装置において、上記測定装置本体に、セル内の測
定試料からの散乱光を鉛直上方に向ける反射面を設け、
該反射面と上記光電子増倍管との間に複数のピンホール
スリットを備えた導光筒を介装し、該導光筒及びこれに
連接される上記光電子増倍管を、上記測定装置本体上に
鉛直に、且つ上記反射面と共にセルの周りに回転可能に
配設するという技術的手段を採用している。
［作用］ 試料の粒径分布を測定するに際しては、セル内に乳濁液
または懸濁液等の測定試料を充填し、レーザー光源から
投射したレーザー光をセル内の測定試料に投射する。測
定試料からの散乱光は、予め所定の回転位置にセットさ
れた反射面により鉛直上方に向けられ、導光筒に設けら
れた複数のピンホールスリットを通して光電子増倍管に
入射し、検出される。
または懸濁液等の測定試料を充填し、レーザー光源から
投射したレーザー光をセル内の測定試料に投射する。測
定試料からの散乱光は、予め所定の回転位置にセットさ
れた反射面により鉛直上方に向けられ、導光筒に設けら
れた複数のピンホールスリットを通して光電子増倍管に
入射し、検出される。
［実施例］ 第１図は本考案の粒径分布測定装置の実施例を示してい
る。
る。
上記粒径分布測定装置は、乳濁液または懸濁液等の測定
試料を収容する石英セル２を備えた測定装置本体１と、
このセル２に集光レンズ４を通して水平方向からレーザ
ー光を投射するレーザー光源３とを備え、さらに、上記
測定装置本体１上に、測定試料中の粒子からの散乱光を
受光する光電子増倍管６を備えた導光筒５が立設されて
いる。
試料を収容する石英セル２を備えた測定装置本体１と、
このセル２に集光レンズ４を通して水平方向からレーザ
ー光を投射するレーザー光源３とを備え、さらに、上記
測定装置本体１上に、測定試料中の粒子からの散乱光を
受光する光電子増倍管６を備えた導光筒５が立設されて
いる。
レーザー光源３は、測定装置本体１とは完全に切放した
状態にある基台10上に設置され、従って、測定装置本体
１を主体とする装置全体の保守、点検をレーザー光源３
とは全く無関係に容易に行うことができる。
状態にある基台10上に設置され、従って、測定装置本体
１を主体とする装置全体の保守、点検をレーザー光源３
とは全く無関係に容易に行うことができる。
上記測定装置本体１は、基台11上に設置した短円筒状の
機枠12におけるレーザー光源３との対向位置に、その機
枠12内にレーザー光を導入するための導光孔13を設ける
と共に、その機枠12の中心に、乳濁液または懸濁液等の
測定試料を収容するセル２を配置するための台座14を設
けている。また。該機枠12上には、その中心に配置した
セル２の中心軸線の周りで回転するように軸受16で支持
された回転台17が載置され、この回転台17に取付けた支
持筒18に、セル２内の測定試料からの散乱光を鉛直上方
に向ける反射面21を持ったプリズム20を支持させると共
に、それによって反射した散乱光を上方に導く導光筒５
が立設されている。この導光筒５内には、その下部及び
中間部にピンホールスリット22,23を設けると共に、上
部に上記反射光を検出する光電子増倍管６を取付けてい
る。この光電子増倍管６には、図示していないが、その
出力信号を処理する光子相関計が接続される。導光筒５
の下部及び中間部に設けた調製ねじ27は、ピンホールス
リット22,23の光軸を調整するためのものである。
機枠12におけるレーザー光源３との対向位置に、その機
枠12内にレーザー光を導入するための導光孔13を設ける
と共に、その機枠12の中心に、乳濁液または懸濁液等の
測定試料を収容するセル２を配置するための台座14を設
けている。また。該機枠12上には、その中心に配置した
セル２の中心軸線の周りで回転するように軸受16で支持
された回転台17が載置され、この回転台17に取付けた支
持筒18に、セル２内の測定試料からの散乱光を鉛直上方
に向ける反射面21を持ったプリズム20を支持させると共
に、それによって反射した散乱光を上方に導く導光筒５
が立設されている。この導光筒５内には、その下部及び
中間部にピンホールスリット22,23を設けると共に、上
部に上記反射光を検出する光電子増倍管６を取付けてい
る。この光電子増倍管６には、図示していないが、その
出力信号を処理する光子相関計が接続される。導光筒５
の下部及び中間部に設けた調製ねじ27は、ピンホールス
リット22,23の光軸を調整するためのものである。
上記回転台17は、反射面21を持ったプリズム20及び光電
子増倍管６を取付けた導光筒５と共にセルの周りで回転
せしめられるが、その回転のために、回転台17にはその
周辺の一部にウォームホイール30を固定し、そのウォー
ムホイール30に、散乱角設定用ハンドル33により回転駆
動されるウォーム32を噛合させている。
子増倍管６を取付けた導光筒５と共にセルの周りで回転
せしめられるが、その回転のために、回転台17にはその
周辺の一部にウォームホイール30を固定し、そのウォー
ムホイール30に、散乱角設定用ハンドル33により回転駆
動されるウォーム32を噛合させている。
また、上記測定装置本体１の各部、例えば回転台17、支
持筒18、導光筒５等はねじにより分解可能とし、各部の
調整を容易ならしめている。
持筒18、導光筒５等はねじにより分解可能とし、各部の
調整を容易ならしめている。
なお、図中、35はセル２上に被着した蓋を示している。
上記構成を有する粒径分布測定装置により試料の粒径分
布を測定するに際しては、セル２内に乳濁液または懸濁
液等の測定試料を充填し、レーザー光源３から投射した
レーザー光を導光孔13を通して機枠12内に導入し、セル
２内の測定試料に投射する。セル２内の測定試料からの
散乱光を鉛直上方に向ける反射面21を持ったプリズム20
及び光電子増倍管６を取付けた導光筒５は、予め散乱角
設定用ハンドル33により回転駆動して所定の位置にセッ
トされ、従って上記測定試料から所定の方向に反射した
散乱光は、プリズム20の反射面21で反射して上方に導か
れ、光電子増倍管６に入射することにより検出される。
布を測定するに際しては、セル２内に乳濁液または懸濁
液等の測定試料を充填し、レーザー光源３から投射した
レーザー光を導光孔13を通して機枠12内に導入し、セル
２内の測定試料に投射する。セル２内の測定試料からの
散乱光を鉛直上方に向ける反射面21を持ったプリズム20
及び光電子増倍管６を取付けた導光筒５は、予め散乱角
設定用ハンドル33により回転駆動して所定の位置にセッ
トされ、従って上記測定試料から所定の方向に反射した
散乱光は、プリズム20の反射面21で反射して上方に導か
れ、光電子増倍管６に入射することにより検出される。
プリズム20から光電子増倍管６に至る光路に設けた二つ
のピンホールスリット22,23は、従来の水平方向に設け
た場合に比べ、光電子増倍管６の重量等による導光筒５
のたわみの影響を受けないので、全体的に構造を簡素と
することができ、しかも調整が容易になる。また、光電
子増倍管６に至る光路が鉛直方向に構成されるので、散
乱光を任意の角度で受光するための装置が回転する空間
が著しく狭くなり、狭い範囲で測定を行うことができ
る。
のピンホールスリット22,23は、従来の水平方向に設け
た場合に比べ、光電子増倍管６の重量等による導光筒５
のたわみの影響を受けないので、全体的に構造を簡素と
することができ、しかも調整が容易になる。また、光電
子増倍管６に至る光路が鉛直方向に構成されるので、散
乱光を任意の角度で受光するための装置が回転する空間
が著しく狭くなり、狭い範囲で測定を行うことができ
る。
［考案の効果］ 以上に詳述した本考案によれば、従来の粒径分布測定装
置がレーザー光源及び光電子増倍管を水平方向に配置し
ていたのに対し、セルからの散乱光をプリズムを介して
鉛直方向に導くようにしているので、粒径分布の測定装
置が著しく狭い範囲で使用可能となり、しかも光電子増
倍管の重量による機器の撓みや振動等に起因する光軸の
ずれを最小限に抑制することができ、さらに、これらを
セル内の測定試料により散乱した光を鉛直上方に誘導す
るという極めて簡易な手段により実現することができ
る。
置がレーザー光源及び光電子増倍管を水平方向に配置し
ていたのに対し、セルからの散乱光をプリズムを介して
鉛直方向に導くようにしているので、粒径分布の測定装
置が著しく狭い範囲で使用可能となり、しかも光電子増
倍管の重量による機器の撓みや振動等に起因する光軸の
ずれを最小限に抑制することができ、さらに、これらを
セル内の測定試料により散乱した光を鉛直上方に誘導す
るという極めて簡易な手段により実現することができ
る。
第１図は本考案の実施例の全体的な構成を示す側面図、
第２図は動平面図、第３図は測定装置本体の拡大断面
図、第４図は同一部破断平面図である。 １……測定装置本体、２……セル、３……レーザー光
源、４……集光レンズ、６……光電子増倍管、21……反
射面。
第２図は動平面図、第３図は測定装置本体の拡大断面
図、第４図は同一部破断平面図である。 １……測定装置本体、２……セル、３……レーザー光
源、４……集光レンズ、６……光電子増倍管、21……反
射面。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 木村 孝良 茨城県稲敷郡阿見町吉原3586 株式会社津 村順天堂技術部内 (72)考案者 古閑 二郎 埼玉県浦和市下大久保255 (72)考案者 斉藤 始三 埼玉県和光市広沢２番１号 理化学研究所 内 (72)考案者 加藤 博 埼玉県和光市広沢２番１号 理化学研究所 内 (56)参考文献 特開 昭61−155839（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−70735（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】乳濁液または懸濁液等の測定試料を収容す
るセルを備えた測定装置本体と、このセルに集光レンズ
を通して水平方向からレーザー光を投射するレーザー光
源と、上記測定試料中の粒子からの散乱光を受光する光
電子増倍管とを備えた粒径分布測定装置において、 上記測定装置本体に、セル内の測定試料からの散乱光を
鉛直上方に向ける反射面を設け、該反射面と上記光電子
増倍管との間に複数のピンホールスリットを備えた導光
筒を介装し、該導光筒及びこれに連接される上記光電子
増倍管を、上記測定装置本体上に鉛直に、且つ上記反射
面と共にセルの周りに回転可能に配設した、 ことを特徴とする粒径分布測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987113611U JPH0714862Y2 (ja) | 1987-07-24 | 1987-07-24 | 粒径分布測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1987113611U JPH0714862Y2 (ja) | 1987-07-24 | 1987-07-24 | 粒径分布測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6419155U JPS6419155U (ja) | 1989-01-31 |
| JPH0714862Y2 true JPH0714862Y2 (ja) | 1995-04-10 |
Family
ID=31353601
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1987113611U Expired - Lifetime JPH0714862Y2 (ja) | 1987-07-24 | 1987-07-24 | 粒径分布測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0714862Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4660266B2 (ja) * | 2005-04-25 | 2011-03-30 | 株式会社東芝 | 水質検査装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61155839A (ja) * | 1984-12-28 | 1986-07-15 | Toshiba Corp | 粒径測定装置 |
| JPS6270735A (ja) * | 1985-09-24 | 1987-04-01 | Shimadzu Corp | ゴニオホトメ−タ |
-
1987
- 1987-07-24 JP JP1987113611U patent/JPH0714862Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6419155U (ja) | 1989-01-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US3966332A (en) | Method and apparatus for inspecting liquids in transparent containers | |
| US6344656B1 (en) | Surface measuring apparatus having relative displacement between a probe and its carriage | |
| KR960043072A (ko) | 반도체 웨이퍼 에지 검사용 장치 및 방법 | |
| US4541718A (en) | Plasma monitoring method and plasma monitor | |
| ES2031640T3 (es) | Aparato para comprobar las dimensiones de las piezas. | |
| CN112255150B (zh) | 一种实现全方位测量的激光粒度仪及测量方法 | |
| JPH0714862Y2 (ja) | 粒径分布測定装置 | |
| US4815857A (en) | Method and apparatus for measuring an object | |
| US4099884A (en) | Optical inspection systems | |
| JPH07128038A (ja) | コンクリートテストピース型枠底面平面度測定装置 | |
| CN202471626U (zh) | 一种遮挡杂散x光和直通x光的装置 | |
| US6873412B2 (en) | Method and device for suppressing multiple scattering when examining turbid media by means of three-dimensional cross-correlation technique | |
| JP2000230816A (ja) | 角度測定装置 | |
| JP3190723B2 (ja) | ローラ偏心量測定装置 | |
| Bacon et al. | Some Mechanical Features of a Double-Crystal Neutron Spectrometer | |
| JPS62147306A (ja) | 丸軸状部材の形状測定装置 | |
| JP3462910B2 (ja) | 微小角入射ｘ線装置のｘ線入射角設定方法及びその機構 | |
| EP0100446A1 (en) | High resolution electronic automatic imaging and inspecting system | |
| US3211049A (en) | Ultraviolet monochromator | |
| CN219223677U (zh) | 一种用于制动盘毂的检测装置 | |
| US3914604A (en) | Measurement of absorption of radiation | |
| JPH0445761B2 (ja) | ||
| SU885801A1 (ru) | Устройство дл проверки углов установки управл емых колес транспортного средства | |
| JPH0528536Y2 (ja) | ||
| JPH05126760A (ja) | 光学式探傷装置 |